「control testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

In an ultrasonic probe diagnosing apparatus to diagnose an ultrasonic probe 200, a control section 1011 acquires a prescribed characteristic value of a reflection ultrasonic signal received by the ultrasonic probe 200 from a testing object.例文帳に追加

超音波プローブ２００を診断する超音波プローブ診断装置において、制御部１０１１は、超音波プローブ２００がテスト物体から受信した反射超音波信号における所定の特徴値を求める。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation.例文帳に追加

通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること - 特許庁

To provide a method for restoring the state of algorithmic control at that by returning a branch to a proper position in a test program when an error occurs within a DUT during testing the DUT by a memory tester.例文帳に追加

メモリテスタでのＤＵＴの試験中にＤＵＴ内でエラーが生じた場合に、テストプログラム中の適正な位置に分岐を戻し、アルゴリズム的制御のその時点の状態を回復するための方法を提供する。 - 特許庁

This running testing device 50 for a railway vehicle is equipped with a rail wheel 16, a rail wheel motor 7, a rail wheel hydraulic shaker, a truck hydraulic shaker, a car body hydraulic shaker 36, a hydraulic system, a flywheel device and a control means.例文帳に追加

鉄道車両用走行試験装置５０は、軌条輪１６、軌条輪電動機７、軌条輪油圧加振機、台車油圧加振機、車体油圧加振機３６、油圧システム、フライホイール装置、制御手段を備える。 - 特許庁

The adaptive control system 10 for adaptively controlling a material vibration testing machine 12 is provided with a desired value signal generation part 18, an adaptive digital filter 20 and a filter coefficient adaptation part 30.例文帳に追加

材料振動試験機１２を適応制御するための適応制御システム１０は、目標値信号発生部１８と、適応ディジタルフィルタ２０と、実測値信号発生部２２と、フィルタ係数適応部３０とを備える。 - 特許庁

To provide a test apparatus which eliminates the necessity of use of a plant simulator apparatus when testing a plant control apparatus and reduces influence of testers' knowledge on the evaluation accuracy of test results.例文帳に追加

本発明は、プラント制御装置の試験の際にプラントシミュレータ装置を用いる必要がなく、また、試験者の知識量によって試験結果の評価精度が左右されることの少ない試験装置を提供する。 - 特許庁

A remote tester 1 is connected to the repeater 2 by a connector, and a remote test is performed for testing/alarming the fire sensors 16-1 to 16-n by sending a test signal or spriously opening/closing a control valve 65 of sprinkler type fire extinguishing facilities.例文帳に追加

中継器２に遠隔試験器１をコネクタ接続し、試験信号を送出して火災感知器16-1〜16-nを試験発報し、またはスプリンクラー消火設備の制御弁６５を擬似的に開閉させる遠隔試験を行う。 - 特許庁

A control circuit generates a block scan clock signal including a shift clock at the same timing when a control signal shows a scan shift period for inputting and outputting data in the scan chain, and generates a block scan clock signal including pulses at different timing for each of the plurality of circuit blocks when the control signal shows a capture period for testing a logic operation of the combination circuit.例文帳に追加

制御回路は、制御信号がスキャンチェーンにデータを入出力するスキャンシフト期間を示すときに、同じタイミングのシフトクロックを含むブロックスキャンクロック信号を生成し、組み合わせ回路の論理動作をテストするキャプチャ期間を示すときは複数の回路ブロック毎に異なるタイミングのパルスを含むブロックスキャンクロック信号を生成する。 - 特許庁

When the components are installed in the working machine 40, the actual performance of each component is grasped from its performance testing data by a controller 30 in the working machine 40, and according to its nature, the control setting of the control constant or control function is optimized in conformity to the prescribed optimization rule, and the performance of the working machine 40 is regulated to the standard performance.例文帳に追加

各コンポーネントが作業機械４０に組込まれると、作業機械４０内のコントローラ３０で、各コンポーネントの性能試験データから各コンポーネンの実性能が把握され、その性格に応じ所定の最適化ルールに従い、制御定数や制御関数などの制御セッティングが最適化され、作業機械４０の性能が標準的性能にレギュレートされる。 - 特許庁

The image display device comprises a program ROM 414 for storing an image control program CP for displaying images based on image data and a test program TP for testing whether the image display device is normally operated or not independently; and a control part capable of executing the image control program CP and the test program TP.例文帳に追加

画像表示装置は、画像データに基づく画像を表示するための画像制御プログラムＣＰと、画像表示装置が正常に動作するか否かを検査するための検査プログラムＴＰとを互いに独立した状態で格納したプログラムＲＯＭ４１４と、画像制御プログラムＣＰおよび検査プログラムＴＰを実行可能な制御部とを備える。 - 特許庁

This semiconductor testing device 100 stores data acquired by executing processing to DUT in preservation registers 135, 145, keeps an open collector output through a monitoring line 121 at a low level in a control module 140 for a fixed period, and removes restriction in the control module 140 when the open collector output is set at the low level in a master control module 130.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、ＤＵＴに対して処理を実行させて得られたデータを保存レジスタ１３５、１４５に記憶し、制御モジュール１４０内で監視ライン１２１を介したオープンコレクタ出力を一定期間ローレベルとし、マスタ制御モジュール１３０内でオープンコレクタ出力をローレベルとした時点で制御モジュール１４０内での制限を解除する。 - 特許庁

The test emulation apparatus 190 emulates the testing device on the basis of a test control program stored in a system controller, a test program and test data, and conducts a simulated test on a DUT while using a simulation model 200 of the DUT.例文帳に追加

試験エミュレート装置１９０は、システム制御装置に格納された試験制御プログラム、試験プログラム及び試験データに基いて試験装置をエミュレートし、ＤＵＴのシミュレーションモデル２００を用いてＤＵＴの試験を擬似的に行う。 - 特許庁

This material testing machine carries out a material test consisting of a main process applying a target load to a material test piece 1 by automatic control, a pretreatment process before the main process, and a post-treatment process following the main process.例文帳に追加

材料試験装置は、材料試験片（１）に目標負荷を自動制御によりかける本工程と、この本工程より前の前処理工程と、前記本工程より後の後処理工程とからなる材料試験を行っている。 - 特許庁

The circuit for testing cores consisting of a control means 1, a decoding means 2 and a downloading means 3 and to transit states of elements to constitute a logical circuit and a memory circuit of the core 4, is mounted on an LSI as a peripheral logical circuit of the core 4.例文帳に追加

制御手段１、デコード手段２、ダウンロード手段３から成り、コア４の論理回路およびメモリ回路を構成する素子の状態を遷移させるコアテスト回路をコア４の周辺論理回路としてＬＳＩに搭載する。 - 特許庁

To remove a moisture content mixed in engine oil during test by installing an oil moisture content removing device in a system of an engine oil temperature control device and switching a system during completion of a text, in a low temperature environment testing device for an internal combustion engine.例文帳に追加

内燃機関の低温環境試験装置において、エンジンオイル温調装置の系内に油内水分除去装置を増設し、試験終了時に系統を切り替えて、試験中にエンジンオイルに混入した水分を除去する。 - 特許庁

To solve the problem wherein a phenomenon in which load distribution is different from a design value occurs when executing evaluation of constant velocity and synchronization on the basis of statistical methods in a testing device executing synchronous control of front and rear wheels by being separated for the front and rear wheels.例文帳に追加

前後輪用に分離して前後輪の同期制御を実行する試験装置では、統計的手法に基づいて等速性・同期性の評価を実行すると、負荷分配が設計値と異なる現象が発生する。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts holder preventing the dew condensation of tested parts, shortening an normal temperature return time, enhancing the control accuracy of the temperature of parts to be tested and achieving the enhancement of throughput.例文帳に追加

供試験済部品の結露防止、常温復帰時間の短縮または試験前部品の温度制御の精度向上を図り、しかもスループットの向上を図ることができる部品試験装置および部品保持装置を提供するすること。 - 特許庁

The testing apparatus (100) further comprises an overload protector (160) connected between the power coupler (120) and the receiver (140) to reduce or maintain the signal intensity of the receiving signal of the receiver in accordance with a control signal (180).例文帳に追加

試験装置(100)は、前記電力結合器(120)と前記レシーバ(140)の間に接続され、前記レシーバにおける受信信号の信号強度を制御信号(180)に基づいて低下させ、又は維持するための過負荷保護装置(160)を更に含む。 - 特許庁

To provide an IC testing device with improved IC test reliability and productivity, its control method, and a storage medium by combining a plurality of ICs under an optional judgement criterion for performing the test.例文帳に追加

本発明の課題は、任意の判定基準下で複数のＩＣを組み合わせて試験を行うことにより、ＩＣ試験の信頼性と生産性を向上したＩＣ試験装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

To carry out the compensation of a resonance mode of an object to be controlled such as a moving head and the adjustment of the loop gain of a control system without using a testing signal anew nor impairing convenience on the product user side.例文帳に追加

移動ヘッドなどの被制御対象の共振モードの補償や制御系のループゲインの調整を、テスト用信号を新たに用いることなしに、また製品使用者側の利便性をそこなうことなしに実行することを目的とする。 - 特許庁

When the control data for checking data are set, the testing data stored in data ROMs 124-1 to 3 are read out to check to see whether or not the data contents of the data ROMs 124-1 to 3 are correct using the read out data and the data for confirmation.例文帳に追加

データチェック用の制御データが設定されると、データＲＯＭ１２４−１〜３に記憶されたテストデータが読み出され、これと確認用データとを用いて、データＲＯＭ１２４−１〜３のデータ内容が正しいか否かがチェックされる。 - 特許庁

To provide a pattern control device for a game machine, for which the variable configurations of patterns of a pattern display means can be easily and inexpensively changed, and at the same time, the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加

図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する。 - 特許庁

Thus, it is possible to perform the diversion of an equipment side cable 11 or a case body itself at the time of updating the monitor controller main body 30, and to reduce any design work, job site installing work, or control testing work or the like.例文帳に追加

これにより、監視制御装置本体３０の更新時における機器側ケーブル１１や筐体そのものの流用を可能すると共に、設計作業、現地据付け作業及び調整試験作業等が削減できるようにする。 - 特許庁

To provide a pattern control device for a game machine, which can easily and inexpensively change variation configurations of a pattern of a pattern display means, and at the same time, for which the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加

図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する - 特許庁

To control the temperature of an electronic part testing socket such as an IC socket without adding a noise to a test signal applied to electronic parts such as an IC device or to a response signal read out from the electronic parts such as the IC device.例文帳に追加

ＩＣデバイスなどの電子部品に印加されるテスト信号や、ＩＣデバイスなどの電子部品から読み出される応答信号にノイズを入れることなく、ＩＣソケットなどの電子部品試験用ソケットの温度を制御する。 - 特許庁

At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.例文帳に追加

被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing a processing time for collecting measurement data of all pin electronics cards into a control unit, without increasing the memory area in which the measurement data of the pin electronics cards are stored.例文帳に追加

ピンエレクトロニクスカードの測定データを格納するメモリ領域を増大させることなく制御ユニットに全ピンエレクトロニクスカードの測定データを収集するための処理時間を短縮できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

When shifted to the emergency control, a gear change stage formation testing means 64 outputs an engagement command to a clutch C-1 and a clutch C-3 forming three forward speed stages, for example, and tests whether a speed change stage is formed.例文帳に追加

エマージェンシー制御に移行すると、変速段形成試験手段６４は、例えば前進３速段を形成するクラッチＣ−１及びクラッチＣ−３に係合指令を出力し、何れの変速段が形成されるかを試験する。 - 特許庁

The cache control is configured to cause first information to be provided from the first cache to the processor in response to receiving a read transaction, from the processor, that includes an address in the portion of the memory during testing of the portion.例文帳に追加

キャッシュ制御部は、メモリの上記部分のテスト中にその部分のアドレスを含む読出しトランザクションをプロセッサから受け取ると、それに応じて、第１の情報が第１のキャッシュからプロセッサに提供されるようにするように構成される。 - 特許庁

During testing, while applying an alternate current signal VAC to pixel electrodes 118 via an electro-conductive rubber 200, scanning signals are supplied successively to scanning lines as well as sampling control signals are supplied successively to the sampling switches.例文帳に追加

検査時には、画素電極１１８に、導電性ゴム２００を介して交流信号ＶＡＣを印加する一方、走査線に走査信号を順次供給するとともに、サンプリングスイッチにサンプリング制御信号を順次供給する。 - 特許庁

When testing operation is assigned by a mode signal MD, a clock signal CK of an input terminal 14 is selected by a selector 23 and supplied as a clock signal CLK to internal circuits of a control part 21 and each functional block 31.例文帳に追加

モード信号ＭＤで試験動作が指定されると、セレクタ２３によって入力端子１４のクロック信号ＣＫが選択され、クロック信号ＣＬＫとして制御部２１、各機能ブロック３１等の内部回路に供給される。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by testing condition setting means for setting the testing conditions and execution instruction means for giving instructions for executing the test; and a converter section 21 serving as converting means by which the first data thus collected is converted into second data low in redundancy.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０と、収集された第１のデータを冗長度が少ない第２のデータに変換する変換手段としてのコンバータ部２１とを備える。 - 特許庁

This system changeover test system for the duplex system having an active-system and a standby-system information processor has: a testing communication adapter different from a communication adapter performing communication in time of normal changeover generation inside the single information processor; and a system changeover control means performing the active-system or the standby-system changeover communication processing in a pseudo manner through the testing communication adapter.例文帳に追加

運用系と待機系の情報処理装置を持つ二重化システムの系切替試験システムにおいて、１台の情報処理装置内に通常切替発生時に通信を行う通信アダプタとは別の試験用通信アダプタと、その試験用通信アダプタを介して、運用系または待機系の切替通信処理を擬似的に行う系切替制御手段を有する。 - 特許庁

This automatic testing system 10 for a receiver device 20 for receiving a positioning signal has a simulation signal generating means for generating a simulation signal transmitted to the receiver device 20, based on a signal generation scenario, and a control means 44 for controlling the simulation signal generating means and the receiver device 20, based on an automatic test scenario, and for securing time synchronization as the whole automatic testing system.例文帳に追加

測位用信号を受信する受信装置２０の自動試験システム１０であって、受信装置２０に送信する模擬信号を信号生成シナリオに基づいて生成する模擬信号生成手段と、模擬信号生成手段及び受信装置２０を自動テストシナリオに基づいて制御し、かつ、自動試験システム全体の時刻同期を確保する制御手段４４と、を有する。 - 特許庁

(2) With regard to an application for testing as set forth in Article 21, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act (including the case where it is applied mutatis mutandis pursuant to Article 23, paragraph (2) or Article 25-3, paragraph (2) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act; the same shall apply in the following paragraph) which was filed prior to the enforcement of Article 10 and for which a disposition of success or failure in passing said testing had not been made at the time of enforcement of the relevant provisions, the provisions then in force shall remain applicable to the disposition on such application. 例文帳に追加

２　第十条の規定の施行前にされた旧電気用品取締法第二十一条第一項（旧電気用品取締法第二十三条第二項又は第二十五条の三第二項において準用する場合を含む。次項において同じ。）の試験の申請であって、第十条の規定の施行の際、合格又は不合格の判定がされていないものについての合格又は不合格の判定については、なお従前の例による。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In the subscriber line testing system, an IP converter 6 provided with a test connection control part 61 for receiving a test request from a subscriber terminal 2 is connected through an IP network to a new test reception board system 1B, and the IP converter 6 includes a test command conversion part 62 for converting control information by the IP network to control signals using a speech channel (B channel).例文帳に追加

加入者端末２から試験依頼を受け付ける試験接続制御部６１を備えたＩＰ変換装置６が、ＩＰ網を介して新試験受付台システム１Ｂを接続される加入者線試験システムであって、ＩＰ変換装置６は、さらにＩＰ網による制御情報を通話チャネル（Ｂチャネル）を用いた制御信号に変換する試験コマンド変換部６２を備える。 - 特許庁

To provide a real time automatic monitoring control system for an artificial satellite test capable of performing data evaluation on a real time basis and improving safety/reliability for a ground test without requiring personnel involved in the ground test to go to the execution place for testing.例文帳に追加

地上試験に関わる人員が試験実施場所に赴むくことなく、リアルタイムでのデータ評価を行い、地上試験の安全性／信頼性の向上を図ることが可能な人工衛星試験リアルタイム自動監視制御システムを提供する。 - 特許庁

In a control method in a material testing device, a material test piece 1 is housed in a chamber 2, and the pressure in the chamber is made higher than atmospheric pressure and compression load is applied to the material test piece by a compression actuator 9.例文帳に追加

材料試験装置における制御方法は、材料試験片（１）をチャンバー（２）内に収納するとともに、チャンバー内の圧力を大気圧よりも高くし、かつ、前記材料試験片に圧縮用アクチュエータ（９）で圧縮荷重を加えている。 - 特許庁

To provide an in-situ permeability testing device which can measure in-situ coefficients of permeability of a rolled ground stratum quickly, easily, and at multiple points, and can control water permeability necessary for earth materials with good accuracy, and to provide an in-situ permeability measuring system.例文帳に追加

圧地盤層の透水係数を原位置で迅速・簡易かつ多点的に計測することができ、材料の要求される透水性能を精度良く管理することができる原位置透水試験装置および原位置透水性計測システムを提供する。 - 特許庁

In a material testing machine body 100, a load is applied to a specimen by a load device 101a, and a test force or a displacement at that time is detected by a load cell 101b and a displacement gage 101c, and the detection result is outputted to a control device 103.例文帳に追加

材料試験機本体１００は、負荷装置１０１ａによって供試体に負荷を与え、そのときの試験力あるいは変位量をロードセル１０１ｂおよび変位計１０１ｃで検出し、検出結果を制御装置１０３へ出力する。 - 特許庁

To provide a control device for an automatic transmission, which prevents the incorrect determination of shifting to a neutral state, even when a line pressure is in minimum during testing whether a gear change stage is formed by outputting a formation command in a predetermined gear change stage.例文帳に追加

所定変速段の形成指令を出力して何れの変速段が形成されるかの試験中に、ライン圧が最低圧状態であっても、ニュートラル状態として誤判定することがない自動変速機の制御装置を提供する。 - 特許庁

To enable the operation timing in connection to inside to be guaranteed without addition of an extra terminal and function to a macro cell itself by enabling the testing precise timing relation between a clock signal and an input/output data signal or the other control signal to be performed.例文帳に追加

マクロセル自身に余分な端子や機能を付加することなくクロック信号と入出力データ信号や他の制御信号との正確なタイミング関係をテスト可能とすることにより、内部との接続における動作タイミングの保証可能とする。 - 特許庁

When the control data for checking data are set, the testing data stored in data ROMs 124-1 to 3 are read out to check to see whether the data ROMs 124-1 to 3 are placed at the correct positions using the read out data and the data for confirmation.例文帳に追加

データチェック用の制御データが設定されると、データＲＯＭ１２４−１〜３に記憶されたテストデータが読み出され、これと確認用データとを用いて、データＲＯＭ１２４−１〜３が正しい位置に搭載されているか否かをチェックする。 - 特許庁

By supplying the DC voltages to the first and second terminals, the signal for allowing the testing control circuit and the inner circuit to operate is generated so that it is possible to perform the burn-in of the plurality of semiconductor circuits that operate by receiving the high frequency signals.例文帳に追加

直流電圧を第１および第２端子に供給することで、テスト制御回路が内部回路を動作させる信号を生成するため、高周波信号を受けて動作する複数の半導体集積回路のバーンインを同時に実施できる。 - 特許庁

The circuit 124 sets up the data pattern of diagnosis testing data in each of an address output register 115, a data output register 117 and a bus control output register 119 and instructs the output of the data pattern to respective buses 101 to 103.例文帳に追加

バスインターフェース制御回路１２４は診断試験用データのデータパターンをアドレス出力レジスタ１１５と、データ出力レジスタ１１７と、バス制御出力レジスタ１１９とのそれぞれにセットし、各バス１０１，１０２，１０３への出力を指示する。 - 特許庁