「control testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

In the deposition amount stabilizing process, a plurality of primary color toner images for testing are formed by image forming means, and control parameters of the image forming means are corrected so as to bring the results of the detection of the amount of toner deposited on the primary color toner images for testing closer to a corresponding target value of a deposition amount.例文帳に追加

また、付着量安定化処理では、複数のテスト用１次色トナー像を作像手段によって形成し、それらテスト用１次色トナー像に対するトナー付着量を検知した結果をそれぞれに対応する付着量目標値に近づけるように、作像手段の制御パラメータを補正する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit is provided with a plurality of I/O cells 9, and each of the I/O cells 9 is provided therein with at least part of a test circuit comprising a selector 2 for testing and the like so that test information such as control signals for testing can be supplied in parallel through signal wires 10 to the I/O cells 9.例文帳に追加

複数のＩ／Ｏセル９を備えた半導体集積回路において、各Ｉ／Ｏセル９内部にテスト用セレクタ２等からなるテスト回路の少なくとも一部を設け、各Ｉ／Ｏセル９へ信号線１０を介してテスト用制御信号等のテスト情報を並列に供給し得るように構成した。 - 特許庁

To provide an absolute humidity-based temperature and humidity adjusting control system and a testing apparatus pertaining to acceleration or deterioration of substances that can help enhance the working efficiency by eliminating mistaken setting of temperature and humidity in a testing tank and increase the stability of humidity by accelerating humidity transition.例文帳に追加

この発明は、物質の劣化、促進に関わる試験装置において、試験槽内の温度及び湿度の設定値の設定ミスを無くして作業効率を向上し、湿度移行を早めて湿度安定性を向上することができる絶対湿度による温湿度調整コントロールシステム及び試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁

The output 13 of a boundary scan adaptive device 1 for testing is put to LO to control the outputs of the buffers 7 and 8 to enable so that the outputs 23 and 24 of the adaptive device 2 are connected to the inputs 13 and 14 of the adaptive device 1, thereby accomplishing the testing of the connection state of the outputs 23 and 24.例文帳に追加

試験用バウンダリースキャン対応デバイス１の出力１３をＬＯとしバッファ７及び８の出力をイネーブルに制御することで、対応デバイス２の出力２３及び２４と、対応デバイス１の入力１３及び１４が接続し、出力２３及び２４の接続状態の試験を行うことができる。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus is configured such that measurement data of a large number of objects to be measured are taken in the control unit 12 through a large number of pin electronics cards 11 which are controlled by the control unit 12, wherein each pin electronics card 11 is configured to directly write corresponding measurement data in the control unit 12.例文帳に追加

制御ユニット１２により制御される多数のピンエレクトロニクスカード１１を介して、多数の被測定対象の測定データを前記制御ユニット１２に取り込むように構成された半導体試験装置において、前記各ピンエレクトロニクスカード１１は、それぞれの測定データを前記制御ユニット１２に直接書き込む。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

The monitor/method also has a control part for emitting the light signal with the second condition applied, from the testing device, when the attenuation amount determining part determines the presence of the terminal device of which the reflected light intensity is attenuated.例文帳に追加

また、反射光強度が減衰している終端装置があると減衰量判定部が判定した場合に、第２の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。 - 特許庁

The biosubstance-inspecting device is constituted by separating chip components for individual testing specimens each loading reagents/solution-sending elements, and control/detection components as inspection main bodies.例文帳に追加

本発明の生体物質検査デバイスは、試薬類・送液系用のエレメントを搭載した、検体ごとのチップコンポーネントと、検査デバイス本体として、制御・検出コンポーネントとを別個にするシステム構成である。 - 特許庁

The testing apparatus is equipped with a synchronization control means 2 which synchronizes the output timings of respective test results in matching with the slowest timing, in the test result output timings of the plurality of semiconductor integrated circuits.例文帳に追加

複数の半導体集積回路の各テスト結果の出力タイミングの内の最も遅いタイミングに合わせて、各テスト結果の出力タイミングを同期させる同期化制御手段２を備える。 - 特許庁

To provide an electronic component testing apparatus which can correctly control a temperature of an electronic part even when the electronic component generates heat by itself at a test time, and can test the electronic component at a desired test temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a subscriber circuit testing system which can reduce labor- hours and manhours when a test is performed to complaint call and enables quick acquisition and unified control of test results.例文帳に追加

苦情呼に対して試験を行う際の手間や工数を低減することができ、試験結果の迅速な入手や統一的な管理を行うことができる加入者回線試験システムを提供すること。 - 特許庁

A load testing device 9 independently sets call processing signaling to a node B device 4 and a load of user data communication by a radio control part 9a and a user data preparation/inspection part 9b.例文帳に追加

負荷試験装置９では無線制御部９ａ及びユーザデータ生成／検査部９ｂによって、ノードＢ装置４に対する呼処理シグナリング及びユーザデータ通信の負荷を独立に設定する。 - 特許庁

To provide a subject control method capable of holding the vertical stress applied to the shearing surface of a material test piece vertically to an almost constant state and a material testing device.例文帳に追加

材料試験片の剪断面に垂直に加わる垂直応力を略一定な状態に保つことができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

In a dynamometer for controlling to drive a testing machine body, a shape of a test piece (round bar, rectangle, pipe) is selected from a panel face of an operation display panel part 1 of a control part 20c and a size is input.例文帳に追加

試験機本体を駆動制御する動力計において、制御部２０ｃの操作表示パネル部１のパネル面から試験片の形状（丸棒、矩形、パイプ）を選択し、寸法を入力する。 - 特許庁

To obtain a mobile object radio system such as a train radio system capable of testing a state of communication to be performed by a control line and a sound line between communication equipment and radio equipment provided in a moving object such as a train and outputting a test result to a user.例文帳に追加

通信装置と移動体に備えられた無線装置とが基地局装置を介して制御回線及び音声回線により通信する移動体無線システムで通信状態を試験する。 - 特許庁

To precisely and easily control the temperature of water discharged into a waste liquid processing tank, by automatically controlling the temperature of water discharged from dump pipes of a reactor-cooling water purifying system during pressure tightness leakage testing and the like.例文帳に追加

耐圧漏洩検査等の際に原子炉冷却水浄化系ダンプ配管から排出される水温を自動的に制御し、廃液処理タンク内への排水温度管理を的確かつ容易に行うこと。 - 特許庁

To provide a command transmission control device for transmitting a command to a sound reproduction device at optional timing, and to provide an integrated circuit device, a sound reproduction evaluation system and a testing method of the sound reproduction device.例文帳に追加

音再生装置に対して、任意のタイミングでコマンドを送信することが可能なコマンド送信制御装置、集積回路装置、音再生評価システム及び音再生装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for accelerated wheathering testing specimens having discharge lamps as a concentrated light source for accelerating fading, and deteriorating of composition and structure of specimens and also having an improved control, calibration structure, and operations method.例文帳に追加

試料の退色、組成、構造の劣化を促進する集中光源である放電ランプを有し、制御、較正構造及び動作方法の改良された耐候性試料促進装置の提供。 - 特許庁

To provide a test method which improves a test method performed in an atmosphere in which siloxane gas gets mixed and enables a stable control even with respect to humidity, and testing equipment.例文帳に追加

シロキサンガスが混入された雰囲気中で行う試験方法を改良し、湿度についても安定して制御することができる試験方法及び試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The control device is configured to receive the value, to convert the value into a real value by using a function having a plurality of predetermined coefficients and to dispatch the value through the data interface to the testing device.例文帳に追加

制御装置は前記値を受信し、複数の所定の係数を有する関数を用いてその値を実際の値に変換し、その値をデータインタフェースを介して試験装置へ渡すように構成される。 - 特許庁

To provide a tracking function automatic generation system of a process control which realizes creation of a tracking function program, decreasing number of man-hours for testing, leveling of a generation program level and improvement of maintenanability of an automatic generation program.例文帳に追加

トラッキング機能プログラムの製作、試験工数削減、作成プログラムレベルの平準化、自動生成プログラムの保守性向上を実現したプロセス制御のトラッキング機能自動生成システムを得る。 - 特許庁

LIQUID PRESSURE CONTROL METHOD FOR MATERIAL TESTING DEVICE BY CAVITATION JET FLOW, MECHANISM FOR CONTROLLING PRESSURE INSIDE LIQUID TANK, JET PRESSURE CONTROL MECHANISM, MECHANISM FOR AUTOMATICALLY CONTROLLING PRESSURE INSIDE LIQUID TANK AND/OR JET PRESSURE, AND MECHANISM FOR SUPPLYING AND EXHAUSTING LIQUID INTO LIQUID TANK IN SHORT TIME例文帳に追加

キャビテーション噴流による材料試験装置の液体圧力制御方法、液体槽内圧力制御機構、噴射圧力制御機構、液体槽内圧力および／または噴射圧力の自動制御機構及び液体槽内への短時間液体給排機構 - 特許庁

To provide a sequence control circuit that can perform a higher speed operation as compared with the conventional practice and to provide a pattern generating device capable of generating a high speed pattern by providing the sequence control circuit to it, and a semiconductor testing device provided with the pattern generating device.例文帳に追加

従来よりも高速動作が可能なシーケンス制御回路を提供するとともに、当該シーケンス制御回路を備えることで高速なパターン発生が可能なパターン発生装置、及び当該パターン発生装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The charge and discharge control terminal and a testing fuse are used to select one of voltage levels "L", "H", and "M" input to the charge and discharge control terminal so as to switch among the normal application state, charge and discharge inhibiting state and the test state.例文帳に追加

充放電制御用端子とテスト用ヒューズを用いて、該制御端子に入力された電圧のレベル「Ｌ」、「Ｈ」、「Ｍ」のいずれかを選択することによって、通常応用状態、充放電禁止状態とテスト状態のいずれかに切り替えを可能になる。 - 特許庁

The testing system includes a functional block 31 for monitoring the fluctuations in the power supply voltage, in the internal region of the semiconductor device, and a control timing adjusting function for adjusting the control timing of a load current-correcting means 15, based on the fluctuation monitored by the block.例文帳に追加

半導体装置内部領域の電源電圧変動をモニタするための機能ブロック３１と、機能ブロックによりモニタした電源電圧変動に基づいて負荷電流補正手段１５を制御するタイミングを調整する制御タイミング調整機能とを有する。 - 特許庁

This tester has a memory part for storing a test program for testing the tested object, and a control means for conducting control by the per-pin system and the shared system by the test program stored in the memory part, based on the per-pin system and the shared system.例文帳に追加

本装置は、被試験対象を試験するテストプログラムを記憶する記憶部と、パーピン方式、シェアード方式に基づいて、記憶部のテストプログラムにより、パーピン方式またはシェアード方式で制御を行う制御手段を有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

A semiconductor test apparatus for testing a DUT 1 includes a tester section 2 provided with a plurality of test channels to be connected to the DUT 1 for testing, and a tester control section 3 provided with a hardware control section 21 for switching a connection to an unused and normal one of the test channels connectible to a faulty test channel when any one of the test channels becomes faulty.例文帳に追加

ＤＵＴ１の試験を行うための半導体試験装置であって、ＤＵＴ１に接続して試験を行うためのテストチャネルを複数備えるテスタ部２と、テストチャネルのうち何れかのテストチャネルが故障したときに、故障したテストチャネルに接続可能なテストチャネルのうち未使用且つ正常なテストチャネルに接続を切り替える制御を行うハードウェア制御部２１を備えるテスタ管理部３とを備えている。 - 特許庁

A comparative determining part 6 stores the command data supplied from the main control part 1 to the pattern control part 4, compares the stored command data with command data outputted to the testing terminal 5 from the pattern control part 4, and when both data are discordant, outputs a retransmission request signal for requesting the retransmission of the same command data, to the main control part 1.例文帳に追加

比較判定部６は、主制御部１から図柄制御部４に供給されるコマンドデータを記憶するとともに、この記憶するコマンドデータと、図柄制御部４から試験端子５に出力されるコマンドデータとを比較し、その両者が不一致の場合に、その同一のコマンドデータの再送を要求する再送要求信号を、主制御部１に対して出力する。 - 特許庁

Based on a first start signal Ss1 and a first halt signal Sh1, a clock signal control circuit 11a outputs a clock signal CK from a testing device, as a first internal clock signal ICK1, to an internal circuit 12a, a BIST circuit 13a and a delay control circuit 14a.例文帳に追加

クロック信号制御回路１１ａは、第１開始信号Ｓｓ１及び第１休止信号Ｓｈ１に基づいて、試験装置からのクロック信号ＣＫを第１内部クロック信号ＩＣＫ１として内部回路１２ａ、ＢＩＳＴ回路１３ａ、遅延制御回路１４ａに出力する。 - 特許庁

To provide a circuit with a control function in which a circuit to be controlled operates only when a predetermined environment meets a specific condition, and which is capable of testing whether or not the circuit with a control function operates normally under any predetermined environment, and to provide a test method thereof.例文帳に追加

所定環境が特定条件を満たす場合に限り被制御回路が作動する制御機能付き回路であって、いずれの所定環境下でも、当該制御機能付き回路が正常に作動するか否かを検査できる制御機能付き回路、及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

The composite deterioration testing apparatus 1 for performing the deterioration test of a test target is equipped with an expansion and contraction control unit 3 for imparting expansion and contraction force to the test target 2 and a weather factor control unit for imparting the deterioration factor caused by the weather to the test target 2.例文帳に追加

試験対象物の劣化試験を行う複合劣化試験装置において、試験対象物に伸縮力を付与する伸縮制御装置と、試験対象物に天候に起因する劣化因子を付与する天候因子制御装置と、を備えている、複合劣化試験装置 - 特許庁

To provide an aircraft actuator control device which can restrain an increase in the number of sensors while inhibiting a mechanism for testing the commissioning of a control system for controlling an actuator from becoming too complicated, and can improve reliability on the results of the test.例文帳に追加

センサ点数の増大を抑制できるとともに、アクチュエータを制御する制御系統の作動の検査を行うための機構が複雑化してしまうことを抑制でき、更に、検査結果の信頼性も向上させることができる、航空機アクチュエータの制御装置を提供する。 - 特許庁

The testing device 31 for the arbitration circuit 9 has an access test register 22 which falsely outputs an access type INST [2:0] to be output by a look-ahead mechanism control circuit 7 to an arbitration control circuit 9 when the CPUs 2, 3 access ROMs 5, 6.例文帳に追加

調停制御回路９のテスト装置３１によれば、アクセステストレジスタ２２は、ＣＰＵ２，３がＲＯＭ５，６に対して夫々アクセスを行う場合に、先読み機構制御回路７により調停制御回路９に対して出力されるアクセスタイプＩＮＳＴ［２：０］を夫々擬似的に出力する。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of always performing an accurate material test without requiring skills, without performing trial and error, or without requiring a long time when setting a control gain, and dispensing with setting of initial speed of a load mechanism at a test starting time, concerning the materials testing machine using a motor as a driving source of the load mechanism.例文帳に追加

モータを負荷機構の駆動源とする材料試験機において、制御ゲインの設定に際して熟練を要したり、試行錯誤を行ったり、あるいは長時間を要することなく、常に正確な材料試験を行うことができ、しかも、試験開始時における負荷機構の初期速度の設定をも不要とした材料試験機を提供する。 - 特許庁

The semiconductor-testing device includes: a test board including a plurality of test pins, where the semiconductor device to be tested is mounted; a test part for testing continuity between the plurality of test pins and a plurality of device pins; and a control part for identifying test pins continuous to the device pins from among the plurality of test pins to allocate test pins connected to the device pins by referring to coordinates of the device pins.例文帳に追加

試験対象の半導体装置が搭載される、複数のテストピンを含むテストボードと、複数のテストピンと複数のデバイスピンとの導通を試験するテスト部と、複数のテストピンのうち、デバイスピンと導通するテストピンを特定し、デバイスピンの座標を参照してデバイスピンに接続するテストピンを割り当てる制御部とを有する。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

To provide an optical disk device control program capable of obtaining an optimum write setting value by testing recording quality and adding a user's arrangement to the obtained write setting value by allowing a user to set conditions, or the like for testing the recording quality and calculating the write setting value, and to provide a host computer therefor.例文帳に追加

記録品位テストを行うことで、より最適な書き込み設定値を求めることができ、なおかつ、ユーザーの手によって、記録品位テストや書き込み設定値の算出の条件等を設定できることで、求められる書き込み設定値にユーザーのアレンジを加えることができる、光ディスク装置制御プログラムおよびホストコンピュータを提供する。 - 特許庁

To provide a forming method of a deflecting voltage can copy with both of PVC mode and NVC mode, and to provide a testing device can improve detection sensitivity by reducing scanning deviation of an electron beam caused by noises of a deflection control circuit in an electron beam type testing device based on an electrostatic deflector system of a multi-stage and multi-pole constitution.例文帳に追加

複数段多極構成の静電偏向器方式に基づいた電子ビーム式検査装置において、ＰＶＣモードとＮＶＣモードのいずれにも対応できる偏向電圧生成方法を提供すると共に、偏向制御回路のノイズに起因する電子ビームの走査ずれを低減して検出感度を向上できる検査装置を提供する。 - 特許庁

A control part 33 finds an accurate temperature of a testing solution 42 based on a signal which a heat radiation detector 17 receives a heat radiation (infrared ray) emitted from a liquid face of a testing solution 42 to output, and a current flowing amount to a heater 16 built in a blade body 122 of a paddle 12 is controlled to maintain the temperature within a specified range.例文帳に追加

制御部３３は、熱放射検出器１７が試験溶液４２の液面から放出される熱放射（赤外線）を受けて出力する信号に基づいて試験溶液４２の正確な温度を求め、その温度が規定範囲内に維持されるようにパドル１２の翼体１２２に内蔵された発熱体１６への通電量を制御する。 - 特許庁

The control part 21 incorporates a testing command and expected value data from input terminals 11, 12 and outputs a command to the functional block 31 or the like, and the expected value data to a determining part 40 through an internal bus 30.例文帳に追加

制御部２１では、入力端子１１，１２から試験用のコマンドと期待値データが取り込まれ、内部バス３０を介してコマンドが機能ブロック３１等に、期待値データが判定部４０に出力される。 - 特許庁

The adaptive control system 10 for adaptively controlling a material vibration testing machine 12 is provided with a desired value signal generation part 18, an adaptive digital filter 20 and a filter coefficient adaptation part 30.例文帳に追加

材料振動試験機１２を適応制御するための適応制御システム１０は、目標値信号発生部１８と、適応ディジタルフィルタ２０と、実測値信号発生部２２と、フィルタ係数適応部３０とを備える。 - 特許庁

Since a control means is assigned to the sound-sending systems 6, the sound-sending systems can be controlled so as to substantially produce one-dimensional sound field directed toward the object of testing 4.例文帳に追加

制御手段が音響送出装置６に割り当てられており、音響送出装置は、試験対象物４に向かって方向付けられた実質的に一次元の音場を生じさせるように制御可能である。 - 特許庁

To provide a control device for machine tool for easily achieving the debug of a working program by avoiding a workload to make an operator to input the order of execution of working programs before testing a machine tool.例文帳に追加

工作機械を試験する前に作業者に加工プログラムの実行順を入力させる作業負担を回避して簡便に加工プログラムのデバッグを実現する工作機械用制御装置を提供すること。 - 特許庁

The specimen testing device is provided with a dispensing mechanism 40 which dispenses the liquid such as the reagent or the like to a plurality of recesses U1, for liquid dispensing, formed on a microplate U and a control part which controls the operation of the dispensing mechanism 40.例文帳に追加

マイクロプレートＵに形成された複数の液体分注用凹部Ｕ１に試薬等の液体の分注を行う分注機構４０と、この分注機構４０の動作を制御する制御部とを備える。 - 特許庁