「dark defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To detect a defect in a mask with high sensitivity by acquisition of a dark field image without generating a pseudo defect.例文帳に追加

疑似欠陥を発生させることなく、暗視野像の取得によりマスクの欠陥を高い感度で検出する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detection device improving sensitivity of defect detection of an inspection object, even when a bright defect and a dark defect are mixed together.例文帳に追加

明欠陥と暗欠陥とが混在する場合にも被検査物の欠陥検出の感度を向上することができる欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To make a pixel dot defect by a light emitting element becoming a dark dot inconspicuous.例文帳に追加

滅点となった発光素子による画素の点欠陥を視認させ難くする。 - 特許庁

This defect detection device is constituted by using the dark field illumination device.例文帳に追加

また、このような暗視野照明装置を用いて、欠陥検出装置を構成する。 - 特許庁

Each photovoltaic cell defect is classified according to defect types and a shape of the dark region is compared with the defect types (S50), and the presence or absence of the defect is determined to determine whether the photovoltaice cells are good or not.例文帳に追加

太陽電池セルの欠陥をタイプごとに分け、暗部の形状を各タイプと比較して解析し（Ｓ５０）欠陥の有無を判定し、太陽電池セルの良否判断を行う。 - 特許庁

To detect both of a light defect and a dark defect and reduce a process time for detecting the defects.例文帳に追加

明欠陥に限らず暗欠陥も検出でき、さらに欠陥を検出する際の処理時間を短くすることを目的とする。 - 特許庁

Also, when short circuit parts are produced in the auxiliary capacitance part 13 between adjacent pixel electrodes 11, a luminous-dot defect can be made to be a dark-dot defect similarly.例文帳に追加

隣接する画素電極11間の補助容量部13に短絡部が発生した場合も同様に暗点欠陥にできる。 - 特許庁

Furthermore, the semiconductor photo detector 1 is reduced in dark current defect, resulting in an increase in yield.例文帳に追加

また、半導体受光素子１は暗電流不良が低減されているので、歩留りが良い。 - 特許庁

The defect classification means (36) includes first classification means (50) for identifying a defect image having a specific shape and second classification means (51) for identifying a punctate low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁

The defect classification means includes: a first classification means (50) of identifying an image of the defect having a specific shape; and a second classification means (51) of identifying the image of a punctate low-brightness defect and an image of a light-dark brightness defect.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁

The defect classifying means includes first classifying means (50) for identifying a defect image having a specific shape, and second classifying means (51) for identifying a punctiform low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁

Furthermore, when the measured amount of dark current is greater than a set level, white defect correction process is performed, and when the measured amount of dark current is not greater than the set level, the white defect correction process is not performed.例文帳に追加

更に、測定した暗電流量が設定レベルを超えている場合は白キズ補正処理を実施し、測定した暗電流量が設定レベルを超えている場合は白キズ補正処理を実施しない。 - 特許庁

To provide a dark field illumination device and a defect detection device capable of observing and detecting a defect in preferable conditions by a simple adjustment corresponding to the kind of an inspection sample or the direction of the defect.例文帳に追加

検査試料の種類や欠陥の方向に応じて、簡単な調整でその欠陥を好条件で観察、検出できる暗視野照明装置、及び、欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

Such dark defect making is carried out, for instance, by discharging an ink from an ink jet head (530) at the bright defect after lighting inspection thereof.例文帳に追加

このような黒点化は、例えば、点燈検査により輝点を検出後に、これに向けてインクジェットヘッド（５３０）からインクを吐出することで実施する。 - 特許庁

To improve the display quality of an E-ink display device by repairing a pixel unit of the E-ink display device, which has a bright point defect or a dark point defect.例文帳に追加

輝点欠陥又は暗点欠陥を有する電子インク表示装置の画素ユニットを修復し、電子インク表示装置の表示品質を向上させる。 - 特許庁

To repair the pixel unit of an electronic ink display device, which has a white spot defect or a dark spot defect, and to improve the display quality of the electronic ink display device.例文帳に追加

輝点欠陥又は暗点欠陥を有する電子インク表示装置の画素ユニットを修復し、電子インク表示装置の表示品質を向上させる。 - 特許庁

The projecting defect Wi of the measuring object W is detected as a white defect image in the image of the dark field section W_b imaged by the line sensor camera 2, but the recessed defect is not detected.例文帳に追加

被測定物Ｗの凸状欠陥Ｗｉは、ラインセンサカメラ２によって撮像された暗視野部Ｗ_b の画像の中に白い欠陥画像として検出されるが、凹状欠陥は検出されない。 - 特許庁

A defect detector is optically coupled to the dark field optical unit to generate the angle distribution of scattered light.例文帳に追加

欠陥検出器が光学的に暗視野光学ユニットに結合されており、散乱光の角度分布を生成する。 - 特許庁

To provide a technology of obtaining an image with high image quality without lateral stripes or the like and being affected by variations in a dark output and pixels with a particularly greater dark output called a defect.例文帳に追加

暗出力のばらつきや、キズと称される特別に暗出力の大きい画素の影響を受けず、横筋等のない高画質の画像を得ることを課題とする。 - 特許庁

In the image exposure data, the defect or distortion of images is corrected by using the dark image offset data provided from the dark image and the reference data provided from the reference area.例文帳に追加

このとき、前記画像露光データは、暗画像から得られた暗画像オフセットデータと、基準領域から得られた基準データとを用いて、画像の欠陥や乱れが補正される。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting mask blank, that improve detection sensitivity to and detection reliability of a phase defect and an amplitude defect which are too high in defect height to detect only through dark field detection.例文帳に追加

暗視野検出だけでは困難であった欠陥高さの高い位相欠陥や振幅欠陥に対する検出感度や検出信頼性を向上できるマスクブランク検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

The dark current component 130 caused by the defect is added to signal charges 134 to 135 by this vertical transfer.例文帳に追加

この垂直転送により、信号電荷１３４〜１３５には、欠陥に起因した暗電流成分１３０が加算される。 - 特許庁

The surface defect detecting method and device is constituted so that whether it is defect or not is discriminated by using an optical system constituted of a belt like light source 1 used for both dark field lighting and bright field lighting and a light receiving element 3 for detecting the defect in the dark field and bright field and comparing the taken image with a prescribed value.例文帳に追加

暗視野照明及び明視野照明を兼用する帯状光源１と、暗視野及び明視野で欠陥を検出する受光素子３とから構成した光学系を用い、取り込んだ画像を所定値と比較して欠陥か否かを判定するようにした表面欠陥検出方法及び装置。 - 特許庁

And the defect detecting operation to select a pixel with large dark output level as the defective pixel is carried out by analyzing image information after compensating the defect based on the initial defect data by the digital process 108.例文帳に追加

そして、初期欠陥データに基づいて欠陥補償された後の画像情報をディジタルプロセス１０８で解析することにより、暗出力レベルの大きい画素を欠陥画素として選択するための欠陥検出動作が実行される。 - 特許庁

Meanwhile, if the defect of the material different from the object 12 by mixing, for example, a foreign matter, exists at the examining point, the light is shielded by the foreign matter, and hence the defect is detected as a dark defect having a low light intensity.例文帳に追加

これに対して、例えば異物混入等の、被検査物１２の材質とは異なる材質の欠点が検査点に存在する場合は、それら異物によって光が遮られるため、光強度の低い暗欠点として検出される。 - 特許庁

An SEM scanning of the region provides defect information (determining whether open or short, positions of the defect electrode) of the electrode patterns based on an SEM image light-dark arrangement state of the respective extension wirings.例文帳に追加

この領域をＳＥＭ走査して、各延伸配線のＳＥＭ像明暗配列状態から、電極パターンの欠陥情報（オープン・ショートの判定、欠陥電極の位置など）を得る。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an organic EL (electroluminescent) device suppressing generation of defect such as dark spots and reduction of luminance and service life to increase reliability.例文帳に追加

ダークスポット等の不具合の発生や輝度、寿命低下を抑え信頼性がより高い有機ＥＬ装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

Therefore, composite processing device 4 compositely processes the binarization data, and can detect a defect on the surface of the inspecting object by light-dark detection.例文帳に追加

このため、複合処理装置４は、前記２値化データを複合処理し、明暗検出により、前記被検査物の表面の欠陥を検出できる。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device having such an excellent feature that a problem of a bright point defect due to an electric short circuit between a display electrode and a common electrode on an array substrate to be used for the liquid crystal display device is solved to turn the bright defect to a dark defect.例文帳に追加

液晶表示装置に用いられるアレー基板における表示電極と共通電極との電気的短絡による明点欠陥を解決し、暗点欠陥にできる優れた特徴をもつ液晶表示装置、およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

If the other normal elements are used for display, an effect that the dark spot does not apparently look as a spot defect can be enjoyed, and one pixel can be prevented from fully becoming a dark spot element, and therefore, the yield in fabrication can be improved.例文帳に追加

他の正常素子で表示すれば、見かけ上、点欠陥として見えないという効果を享受でき、１画素が完全に滅点化することを防ぐことができるので、製造歩留まりを向上できる。 - 特許庁

By using the dark image data captured by the dark data capturing processing and conducting correction arithmetic processing, the photographed image data can be corrected with respect to image quality deterioration such as a dark current noise generated from an image pickup element and a pixel defect due to a flaw specific to the image pickup element.例文帳に追加

このダーク取り込み処理で取り込んだダーク画像データを用いて補正演算処理を行うことにより、撮像素子の発生する暗電流ノイズや撮像素子固有のキズによる画素欠損等の画質劣化に関して、撮影した画像データを補正することができる。 - 特許庁

This method for preventing the seed from causing the defect in germination and the rosette formation comprises leaving the seed of plant causing the defect in germination or the rosette formation when growing in a high-moisture content state in a low-temperature and dark condition and then carrying out drying treatment.例文帳に追加

発芽不良、または、生育時にロゼット化を起こす植物体種子を、高水分状態で低温・暗黒条件下に放置したのち、乾燥処理する種子の発芽不良・ロゼット化防止方法。 - 特許庁

Among a plurality of the pixels corresponding to a plurality of the pixel electrodes, at least a part of defective pixels as a bright defect (903) or the like is made to be a dark defect by covering it with a non-transparent material (910).例文帳に追加

複数の画素電極に対応する複数の画素のうち、輝点（９０３）等となる不良化した画素の少なくとも一部については、不透明材料（９１０）で覆われることによって黒点化されている。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection apparatus and a surface defect inspection method capable of performing a detection of LPDs on a wafer surface and a detection of a dark field image in parallel with each other and having an improved detection sensitivity of the LPDs.例文帳に追加

ウェーハ表面のＬＰＤの検出と暗視野像の検出とを並行して行うことができ、且つ、ＬＰＤの検出感度を高めた表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical element that allows a non-light-emitting defect such as a dark spot to be made inconspicuous, and an organic EL device including the optical element.例文帳に追加

ダークスポット等の非発光欠陥を目立たなくすることが可能な光学素子及びその光学素子を備えた有機ＥＬ装置を提供する。 - 特許庁

Namely, a defect detection reliability judging part 112e calculates the average value of outputs (dark electric charge level) of 64×64 pixels at a center part of an image pickup area.例文帳に追加

すなわち、欠陥検出信頼性判定部１１２ｅは、「撮像エリアの中央部６４×６４画素の出力（暗電荷レベル）の平均値を求める。 - 特許庁

According to algorithm for discriminating the kind of defect on a wafer, if the size of defect measured with a wafer inspection device containing a plurality of dark field part detectors is smaller than a limit value indicating the maximum size of COPs, the kind of defect is decided as being not particles.例文帳に追加

ウェーハ上の欠陥の種類を判別するためのアルゴリズムによれば、複数の暗視野部検出器を含むウェーハ検査装置によって測定されたウェーハ上の欠陥のサイズがＣＯＰの最大サイズを表わす限界値よりも小さければ前記欠陥の種類がパーチクルでないと判定する。 - 特許庁

In the optical disk having an image forming layer on which a visible image can be drawn by irradiation of laser light, a ratio (B/A) of the maximum length (B) of a maximum bright defect to the maximum length (A) of a maximum dark defect is <1.例文帳に追加

レーザ光の照射により可視画像の描画が可能な画像記録層を有する光ディスクであって、最大暗欠陥の最大長（Ａ）と最大明欠陥の最大長（Ｂ）との比（Ｂ／Ａ）が１未満である光ディスクである。 - 特許庁

To make a luminous-dot defect by a short circuit to be an inconspicuous dark-dot defect by separating and opening short-circuited parts when the short circuit parts are generated in a liquid crystal display device having a matrix type array substrate using thin film transistors(TFT).例文帳に追加

薄膜トランジスタ(TFT)を用いたマトリクス型のアレイ基板の液晶表示装置において、短絡部が発生した場合にその短絡部を切り離して開放し、短絡による明点欠陥を目立たない暗点欠陥にする。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for detecting a linear defect of bright and dark lines and correcting a pixel signal of the detected linear defect when the operating temperature of a solid-state image sensor is high, and to provide a correction method of the pixel signal.例文帳に追加

固体撮像素子の動作温度が高い場合、明線および暗線の線状欠陥を検出し、検出された線状欠陥の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法を提供するにある。 - 特許庁

Upper 32 pixels are selected in an order from the one with the largest dark output level by analyzing the dark output level of the image pickup signal and judged as new defective pixels by the digital process 108 under control of a defect data detecting part 112c.例文帳に追加

欠陥データ検出部１１２ｃの制御の下、ディジタルプロセス１０８では撮像信号の暗出力レベルを解析する事により、暗出力レベルが大きいものから順に上位３２個の画素を選択し、それを新規欠陥画素として判定する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an organic EL display of high definition and high manufacturing throughput to form a color conversion layer with a high yield which does not become a supply source of moisture to cause the generation of a dark area and a dark spot being a pixel defect.例文帳に追加

画素欠陥となるダークエリアやダークスポット発生の原因となる水分の供給源とならない色変換層を高い歩留まりで形成する、高精細で製造スループットの高い有機ＥＬディスプレイの製造方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate accurate dark current components even when performing exposure for a long time and even if there is shortage, a defect, etc., in light shielding properties of a shielding film.例文帳に追加

長時間露光を行う場合であっても、また遮光膜の遮光特性不足や欠陥等があっても、正確な暗電流成分の除去を行うことを可能にする。 - 特許庁

Because of this idle transfer, an area from a defective pixel 13b-3 to a pixel at an end portion of the vertical transfer path becomes a state in which a dark current component 130 caused by defect exists.例文帳に追加

この空転送により、欠陥画素１３ｂ−３から垂直転送路の終端の画素まで、欠陥に起因した暗電流成分１３０が存在する状態となる。 - 特許庁

The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁