「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A defect signal and defect position data are input to an FPGA-B 57.例文帳に追加

欠陥信号、欠陥位置データはＦＰＧＡ−Ｂ５７に入力される。 - 特許庁

The pseudo-defect information used for retrieval of the pseudo-defect includes position data of the pseudo-defect and intensity data of the pseudo-defects.例文帳に追加

疑欠陥の検索に用いる疑欠陥情報は、疑欠陥の位置データと疑欠陥の強度データを含む。 - 特許庁

To put it concretely, defect data stored in a defect data storing part 31 are classified based on a defect parameter value.例文帳に追加

具体的には、欠陥データ記憶部３１に記憶されている欠陥データを欠陥パラメータ値に基づいて分類する。 - 特許庁

CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA FORMING METHOD FOR TERMINAL CRIMPING DEFECT DETECTION DEVICE, AND CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA INSPECTION METHOD例文帳に追加

端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法および圧着不良判定データ検査方法 - 特許庁

Then, a good/bad map data read step 14 is executed, and in a fatal defect rate calculation step 15, the defect map data and the good/bad map data are checked to calculate a fatal defect rate in the defect map data.例文帳に追加

次に，良品・不良品マップデータ読込みステップ１４を行い，致命率計算ステップ１５で，欠陥マップデータと良品・不良品マップデータを照合して，欠陥マップデータの致命率を計算する。 - 特許庁

The statistically based variance data can include Pooled Polymer De-protection Variance (PPDV) data that is used to determine micro-bridging defect data, LER defect data, and LWR defect data.例文帳に追加

前記統計に基づく分散データは、マイクロブリッジ形成欠陥データ、LER欠陥データ、及びLWR欠陥データの決定に用いることのできる共有されたポリマー脱保護分散(PPDV)データを有して良い。 - 特許庁

Defect map data are read in a defect map data read processing 11 and failure probability data are read in a failure probability data read processing 12.例文帳に追加

欠陥マップデータを欠陥マップデータ読出し処理１１で読み出し、不良確率データを不良確率データ読出し処理１２で読み出す。 - 特許庁

CORRECTION DEVICE FOR DEFECT PIXEL DATA FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥画素データ補正装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTION SYSTEM AND DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加

表面欠陥検出システム及びデータ処理方法 - 特許庁

According to this, the part which is newly taken as defect pixel data is corrected similarly to other defect pixel data.例文帳に追加

これにより、新たに欠陥画素データとされた部分も他の欠陥画素データと同様に補正する。 - 特許庁

REFERENCE DATA GENERATION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND REFERENCE DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加

参照データ生成方法、パターン欠陥検査装置、パターン欠陥検査方法、及び参照データ生成プログラム - 特許庁

Then, in a failure probability calculation processing 13 for each defect, the failure probability of each defect in the defect map data is calculated and the defect map data with the failure probability are prepared.例文帳に追加

次に、欠陥別不良確率算出処理１３で、欠陥マップデータ中の各欠陥の不良確率を算出し、不良確率付き欠陥マップデータを作成する。 - 特許庁

To realize defect inspection data processing by which the TAT reduction of a defect inspection process is possible and the precise defect coordinate data of a defect position can be obtained.例文帳に追加

欠陥検査工程のＴＡＴ短縮が可能で、また欠陥位置の高精度な欠陥座標データを得ることができる欠陥検査データ処理を可能とする。 - 特許庁

The retrieval is performed under the condition of two agreements, namely, the agreement between both position data of the position data of the defect data and the position data of the pseudo-defects in the pseudo-defect information, and agreement between both intensity data of the intensity data of the defect data and the intensity data of the pseudo-defects in the pseudo-defect information.例文帳に追加

検索では、欠陥データの位置データと疑欠陥情報の疑欠陥の位置データの両位置データの合致、および、欠陥データの強度データと疑欠陥情報の疑欠陥の強度データの両強度データの合致の２つの合致を条件として行う。 - 特許庁

An image defect is detected by a defect detecting part 50 based on the image data to store defect information indicating the position of the image defect into a defect information memory area 44a.例文帳に追加

この画像データに基づき欠陥検出部５０で画像欠陥を検出し、画像欠陥の位置を示す欠陥情報を欠陥情報記憶領域４４ａに記憶する。 - 特許庁

It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

DATA MANAGEMENT DEVICE, INSPECTION SYSTEM AND DEFECT REVIEWING APPARATUS例文帳に追加

データ管理装置、検査システムおよび欠陥レビュー装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING SURFACE DEFECT OF DATA RECORDING DISK例文帳に追加

情報記録用ディスクの表面欠陥検出方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC DEVICE AND PROGRAM FOR ANALYZING DEFECT DATA例文帳に追加

電子デバイスの製造方法と欠陥データ解析プログラム - 特許庁

DEFECT DETECTOR IN DATA REPRODUCING DEVICE AND THE DATA REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

データ再生装置における欠陥検出装置及びそのデータ再生装置 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a defect inspection system and a defect inspection method that use defect data for analysis without lowering the number of samples of a defect with a high killer rate.例文帳に追加

キラー率が高い欠陥のサンプリング数を低下させずに欠陥データを解析に用いることが可能な欠陥検査装置、欠陥検査システム及び欠陥データ処理方法を提供する。 - 特許庁

The non-reviewed defect is supplied with the defect class having the identical definition, by using a defect data set which relates to defects of an inspection apparatus at a defect detection event, and the defect class of the reviewed defect given by an ADC of a review system.例文帳に追加

欠陥検出時の検査装置の欠陥に関する欠陥データとレビュー済み欠陥のレビュー装置のADCで与えられた欠陥クラスを用いて，レビューしていない欠陥に対して同じ定義の欠陥クラスを付与する。 - 特許庁

When the existent data and the update data do not match, a write defect occurs, and the update data is written to a new rewrite card.例文帳に追加

不一致であれば書込み不良であり、新たなリライトカードに更新データを書込む。 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION METHOD AND MASK DESIGN DATA FORMING METHOD例文帳に追加

マスク欠陥検査方法及びマスク設計データ作成方法 - 特許庁

DATA STRUCTURE OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION IN OPTICAL RECORDING MEDIUM例文帳に追加

光記録媒体における欠陥管理情報のデータ構造 - 特許庁

DEFECT DATA ANALYTIC METHOD, APPARATUS FOR THE SAME AND REVIEW SYSTEM例文帳に追加

欠陥データ解析方法及びその装置並びにレビューシステム - 特許庁

Meanwhile, the output data of a defect are generated by using fundamental defect data 114, the material constant data 113 and the device parameter 115 (123A).例文帳に追加

一方、基本欠陥データ１１４、材料定数データ１１３、装置パラメータデータ１１５を用いて欠陥の出力データを作成する（１２３Ａ）。 - 特許庁

When a defect is observed during the defect inspection, defect information such as a position, a size and a shape of the defect is recorded, and a data such as the number of the defects is displayed.例文帳に追加

欠陥検査中に欠陥を発見した場合、その欠陥の位置や大きさ、形状などの欠陥情報を記録し欠陥数などのデータを表示する。 - 特許庁

An irregular defect is detected in image data wherein the point/strain defect is repaired in the point/strain defect repair process ST200 (irregular defect detection process ST300).例文帳に追加

点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００にて点欠陥・シミ欠陥が修補された画像データにおいてムラ欠陥を検出する（ムラ欠陥検出工程ＳＴ３００）。 - 特許庁

A data processing part 10 performs a defect analytical processing operation based on the two data.例文帳に追加

データ処理部１０はこれら２つのデータに基づく不良解析処理を行う。 - 特許庁

A processing unit detects a defect on a wafer surface, on the basis of image data, and stores the defect information in the defect information storage area.例文帳に追加

処理装置が、画像データに基づいて、ウエハ表面上の欠陥を検出し、欠陥の情報を、欠陥情報記憶部に記憶させる。 - 特許庁

In inspecting defects of a wafer W, the defect observation apparatus 3 inputs defect position data obtained from a defect detector 2.例文帳に追加

ウェハＷの欠陥検査を行う場合、まず欠陥観察装置３は、欠陥検出装置２からの欠陥位置データを入力する。 - 特許庁

The data structures include space bit map and defect management structures.例文帳に追加

データ構造は、空間ビットマップ及び欠陥管理構造を含む。 - 特許庁

To reduce an amount of processing data in detecting discharge defect.例文帳に追加

吐出不良検出における処理データの量を削減する。 - 特許庁

METHOD FOR AUTOMATIC DETECTION OF RED-EYE DEFECT IN PHOTOGRAPHIC IMAGE DATA例文帳に追加

写真画像データにおける赤目欠陥の自動識別方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING DEFECT DATA, INSPECTION EQUIPMENT AND REVIEW SYSTEM例文帳に追加

欠陥データ解析方法および検査装置並びにレビューシステム - 特許庁

DEFECT MANAGING METHOD FOR RECORDING MEDIUM AND REAL TIME DATA RECORDING METHOD例文帳に追加

記録媒体の欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法 - 特許庁

QUALITY DEFECT DATA REFERENCE SUPPORT APPARATUS IN DESIGNING CIRCUIT BLOCK例文帳に追加

回路ブロック設計における品質不良データ参照支援装置 - 特許庁

Quality determination between a micro defect and a macro defect is performed relative to the data by a data processing device 12, to thereby perform substrate quality determination.例文帳に追加

このデータをデータ処理装置１２により、ミクロ欠陥及びマクロ欠陥の良否判定を行い、基板良否判定を行う。 - 特許庁

An image data operating processor 17 compares image data to be subjected to comparing inspection among the image data, detects the different data and acquires the detected data as the defect data.例文帳に追加

画像データ演算処理部１７は、画像データ中の比較検査すべき画像データについて比較して、異なるデータを検出し欠陥データとして取得する。 - 特許庁

The defect map 19 and the defect histogram 21 are displayed, based on the extracted inspection data.例文帳に追加

この抽出された検査データを基にした欠陥マップ１９や欠陥ヒストグラム２１が表示される。 - 特許庁

A control device determines whether or not the same defect is registered repeatedly into at least two defect detection data, based on position information of each defect registered in the defect detection data respectively, and acknowledges that a defect acknowledged to be registered repeatedly is a repeated defect.例文帳に追加

制御装置が、欠陥検出データの各々に登録されている欠陥の位置情報に基づいて、同一の欠陥が少なくとも２つの欠陥検出データに重複して登録されているか否かを判定し、重複して登録されていると認定される欠陥を重複欠陥と認定する。 - 特許庁

The data structure on the recording medium includes a temporary defect management area storing a data block.例文帳に追加

記録媒体上のデータ構造は、データブロックを格納する仮欠陥管理領域を含む。 - 特許庁

Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200).例文帳に追加

検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。 - 特許庁

Erroneous defect data are removed and selected from inside the beam data acquired from the plurality of data detection domains of the pixel, and the intensity value of one pixel portion is calculated by using the selected beam data, and thereby the influence of the erroneous defect data is reduced from an intensity value, and defect determination by the influence of the erroneous defect data is prevented.例文帳に追加

画素の複数のデータ検出領域から取得したビームデータの中から誤欠陥データを排除して選択し、選択したビームデータを用いて一画素分の強度値を算出することによって、強度値から誤欠陥データの影響を低減し、誤欠陥データの影響による欠陥判定を防ぐ。 - 特許庁