「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

In each arithmetic processing part 41-43, the photographic data are image-processed for 100 lines to perform specifying a detection range, elicitation by binarization of the image data with a defect threshold, bleb processing for taking, the elicited defect images, when they are vertically and laterally continued, as a mass of bleb, and defect determination and defect kind determination based on the area of bleb.例文帳に追加

各演算処理部４１〜４３で１００ライン毎に画像処理して、検出範囲の特定、欠陥しきい値による画像データの２値化による顕在化、顕在化された欠陥画像が上下左右で連続しているときにこれを１かたまりのブレブとするブレブ処理、ブレブの面積に基づく欠陥判別及び欠陥種別判別を行う。 - 特許庁

A market defect analyzing part 223 extracts a specific keyword from a data extracting part (not shown in drawing) on the basis of defect causes or processing contents of all of defect records of a radio device X stored in the market defect database 21, when analyzing conditions are designated, and the number of the keywords are counted by a data counting part (not shown in drawing).例文帳に追加

市場不良解析部２２３は、解析条件が指定されると、市場不良データベース２１に記憶されている無線装置Ｘの全ての不良カルテの不良原因又は処置内容を参照し、その中から特定のキーワードをデータ抽出部（不図示）により抽出し、そのキーワードの数をデータ集計部（不図示）により集計する。 - 特許庁

The semiconductor device 100A is provided with a memory controller 2 for reading each of the plurality of program data from the storage region 201 and a defect determination circuit 33A for determing the defect of the read program data.例文帳に追加

半導体装置１００Ａは、格納領域２０１から複数のプログラムデータの各々を読み出すメモリコントローラ２と、読み出されたプログラムデータの不良判定を行う不良判定回路３３Ａとを具備する。 - 特許庁

The method includes a step to electronically access position data specifying a place of defect on a composite structure, and a step to make the material stationing machine automatically returning to the place of defect specified by the position data.例文帳に追加

方法は、複合構造上の欠陥の場所を規定する位置データに電子的にアクセスするステップと、材料配置機械が位置データによって規定された欠陥の場所に自動的に戻るようにさせるステップとを含む。 - 特許庁

To continue a recording operation beyond a defect portion by suppressing temporal omission of recording data even in the situation wherein data are continuously inputted, if a recording error occurs in the defect portion.例文帳に追加

ディフェクト部分で記録エラーが発生した場合、連続してデータが入力される状況であっても、記録データの時間的な欠落を抑制し、ディフェクト部分を越えて記録動作を継続することを可能とする。 - 特許庁

To improve the efficiency of the management (deletion, retrieval and display, etc.) of image data while defect image data gathered every day in a semiconductor mass production line become extensive by the throughput improvement of a review SEM (defect observation apparatus).例文帳に追加

レビューＳＥＭのスループット向上により、半導体量産ラインにおいて日々収集される欠陥画像データが大量になってきており、それらの画像データの管理（削除、検索、表示等）の効率化が望まれている． - 特許庁

In this recording medium, an information showing whether a linear substitution defect control substituting data on the excess area for a defect on the recording medium is used or not, is stored for recording the real time data in the recording area.例文帳に追加

本発明の記録媒体は記録領域にリアルタイムデータを記録するために、記録媒体上の欠陥を余裕領域のデータに置換する線形置換欠陥管理を使用するかどうかを示す情報を貯蔵する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INSPECTING APPARATUS, SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZER, SEMICONDUCTOR DESIGN DATA CORRECTING APPARATUS, SEMICONDUCTOR INSPECTION METHOD, SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING METHOD, SEMICONDUCTOR DESIGN DATA CORRECTING METHOD, AND COMPUTE-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体検査装置、半導体欠陥解析装置、半導体設計データ修正装置、半導体検査方法、半導体欠陥解析方法、半導体設計データ修正方法およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

The optical recording medium has: a lead-in area; a data region; a lead-out area; a temporary defect management region for storing temporary defect information and a temporary disk definition structure for managing the temporary defect information; and a defect management region for storing the final temporary defect information and the final temporary disk definition structure when finalizing the optical recording medium.例文帳に追加

光記録媒体はリードイン領域と、データ領域と、リードアウト領域と、臨時欠陥情報と前記臨時欠陥情報を管理する臨時ディスク定義構造とを格納する臨時欠陥管理領域と、光記録媒体の最終化の時に最終の臨時欠陥情報と最終の臨時ディスク定義構造とを格納する欠陥管理領域とを有する。 - 特許庁

To improve throughput without increasing the time required for wafer alignment when the data concerning defect position obtained from a plurality of defect inspection devices with different offsets of stage coordinate are used to sense an enlarged image of defect.例文帳に追加

ステージ座標のオフセット量が異なる複数の欠陥検査装置からの欠陥位置データを用いて欠陥の拡大像を撮像する場合に、ウェーハのアライメントに要する時間を増大させることなくスループットを向上させる。 - 特許庁

A macro-image having a plurality of macro-defect parts G_1-G_8 and point display are displayed at the portion on a display screen corresponding to the coordinates (X, Y) of micro-defect parts S_1-S_n in micro-defect map data.例文帳に追加

複数のマクロ欠陥部分Ｇ_１〜Ｇ_８を有するマクロ画像と、ミクロ欠陥マップデータにおけるミクロ欠陥部分Ｓ_１〜Ｓｎの座標（Ｘ，Ｙ）に対応するディスプレイ画面上の部分にポイント表示とを重ね合わせて表示する。 - 特許庁

And the defect detecting operation to select a pixel with large dark output level as the defective pixel is carried out by analyzing image information after compensating the defect based on the initial defect data by the digital process 108.例文帳に追加

そして、初期欠陥データに基づいて欠陥補償された後の画像情報をディジタルプロセス１０８で解析することにより、暗出力レベルの大きい画素を欠陥画素として選択するための欠陥検出動作が実行される。 - 特許庁

The reticle is transferred into a pattern defect correcting device and only the black defect on the reticle is extracted and, for example, the defect coordinate data obtained during the reticle pattern inspection and the coordinates within the defective device are opposed, by which a processing size is defined.例文帳に追加

レチクルをパターン欠的修正装置内に搬送し、レチクル上の黒欠陥のみを抽出し、例えば、レチクルパターン検査時に得た欠陥座標データと欠陥装置内の座標とを相対させて、加工サイズを定義する。 - 特許庁

In this case, the image data for inspection is converted in correspondence with the image state of the image for defect detection, and thus it is discriminated whether the abnormal position detected from the image for defect detection is a true defect or not.例文帳に追加

その際、検査用画像データを欠陥検出用画像の画像状態に対応させて変換することにより、欠陥検出用画像から検出される異常個所が、真の欠陥であるか否かを判定することができる。 - 特許庁

To detect the synchronization defect between received serial data and a reproduced clock signal by the reproduced clock signal whose frequency is lower than that of the received serial data.例文帳に追加

受信シリアルデータより低い周波数の再生クロック信号によって、受信シリアルデータと再生クロック信号との同期不良を検出する。 - 特許庁

With a disconnection defect caused on the data line 2, voltage application is maintained to the data line 2 by bypassing the disconnected part by means of the auxiliary line 5.例文帳に追加

データ線２に断線不良が生じたときには、予備線５により断線箇所を迂回してデータ線２への電圧印加が維持される。 - 特許庁

To provide a pattern inspecting device capable of preventing the occurrence of a pseudo defect by complementing the difference between fine design data and sensor data.例文帳に追加

微細な設計データとセンサデータとの差異を補完することで、擬似欠陥の発生を防止することができるパターン検査装置を提供すること。 - 特許庁

A defect analysis memory 8 writes an output of the OR circuit 7 corresponding to the input data S1 to an address corresponding to the input data S1.例文帳に追加

不良解析メモリ８は入力データＳ１に対応するオア回路７の出力を、入力データＳ１に対応するアドレスに書き込む。 - 特許庁

When the noise or clear defect for shot data is corrected, the light shielding data stored in the memory 107 is used.例文帳に追加

そして、撮像データのノイズや白キズの補正を行う場合には、遮光データ記憶部１０７に記憶している遮光データを用いるようにする。 - 特許庁

Thereafter, analysis of the digital data TD comprising only the digital data D2 externally outputted discriminates a defect of the pulse selector 6.例文帳に追加

この後、外部に出力させたデジタルデータＤ２のみで構成されるデジタルデータＴＤを解析することにより、パルスセレクタ６の不具合を判定する。 - 特許庁

The method for inspecting a mask defect includes a process of generating referential data from the corrected mask design data D2 obtained by correcting (S10) data according to the exposure transfer pattern, and a process of measuring the actual pattern of the mask based on the corrected mask design data D2 to generate sensor data.例文帳に追加

露光転写パタンに基づき補正した（Ｓ１０）補正後マスク設計データＤ２から、参照データを作成し、補正後マスク設計データＤ２に基づくマスクの形状を実測してセンサデータを作成するマスク欠陥検査方法。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging device and data processing apparatus the memory defect of which can be effectively detected.例文帳に追加

効果的にメモリ欠陥の検出を行うことができる固体撮像装置及びデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

To lighten adverse influence such as noise and defect during reproduction of an address and to detect timing synchronized with data.例文帳に追加

アドレス再生時におけるノイズ、欠陥等の影響を軽減し、また、データに同期したタイミングを検出する。 - 特許庁

MEDIA APPARATUS FOR CORRECTING MEDIA DATA HAVING DEFECT USING NETWORK, METHOD EXECUTABLE BY COMPUTER, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ネットワークを使用して傷のあるメディア・データを訂正するメディア装置、コンピュータで実現可能な方法、コンピュータ・プログラム - 特許庁

To provide an image/data recording apparatus preventing the printing defect caused by dust and having dust excluding function.例文帳に追加

塵埃による印画不良を防止し、塵埃排除機能を備えた画像・情報記録装置を提供すること。 - 特許庁

To reduce the footprint of a incorporated test circuit detecting the defect of the output data bit of a built-in memory circuit.例文帳に追加

内蔵メモリ回路の出力データビットの不良を検出する組込テスト回路の占有面積を低減する。 - 特許庁

To provide a display device capable of easily discriminating the existence of a defect in a data line on a VI test stage.例文帳に追加

ＶＩテスト段階でデータ線の不良の有無を容易に判別することができる表示装置を提供する。 - 特許庁

A 1st inspection screen 524 is constituted of a production data display part 520 and a defect breakdown display part 522.例文帳に追加

第１の検査画面５２４は、生産データ表示部５２０と欠陥内訳表示部５２２とで構成されている。 - 特許庁

To provide a radio communication system which suppresses a defect of data and shortens the latency time of a radio communication.例文帳に追加

データの欠落を抑制し、かつ、無線通信の待ち時間を短縮可能な無線通信システムを提供する。 - 特許庁

To perform efficiently ECC-decode for data recorded in a place in which defect on a recording medium exists.例文帳に追加

記録媒体上のディフェクトが存在する箇所に記録されたデータに対するＥＣＣデコードを効率的に行う。 - 特許庁

After performing skew correction of the inspection image data, image collation is performed, and thereby a print defect is extracted (S204, S205).例文帳に追加

検査画像データをスキュー補正した後に、画像照合して印刷欠陥を抽出する（Ｓ２０４，Ｓ２０５）。 - 特許庁

Pixel data of effective pixels are inputted to a defect correcting calculation section 25 in accordance with the scanning order of an imaging element.例文帳に追加

撮像素子の走査順序に従って有効画素の画素データを欠陥補正演算部２５に入力する。 - 特許庁

Measuring pattern data for acquiring measured pattern data of the pattern of the sample to be inspected is compared with developing pattern data for generating the developing pattern data corresponding to the measuring pattern data from design data of the sample to be inspected, so as to detect the defect of the pattern of the sample to be inspected.例文帳に追加

被検査試料のパターンの測定パターンデータを取得する測定パターンデータと、被検査試料の設計データから測定パターンデータに対応した展開パターンデータを生成する展開パターンデータとを比較して被検査試料のパターンの欠陥を検出する。 - 特許庁

Then, by setting an AV data area as a specific area and by setting a PC data area as a defect management area, the continuity of data recorded in the AV data area is achieved, and the reliability of data recorded in the PC data area is ensured.例文帳に追加

そこで、ＡＶデータ領域を特定領域、ＰＣデータ領域を欠陥管理領域とすることにより、ＡＶデータ領域に記録される情報はデータの連続性が確保され、ＰＣデータ領域に記録される情報はデータの信頼性が確保されることとなる。 - 特許庁

In this device equipped with an illumination spot illuminance distribution data table for storing the illuminance distribution in the illumination spot, the coordinate position and the particle size calculation of the foreign matter or the defect are performed based on detection light intensity data from the foreign matter or the defect and the illumination spot illuminance distribution data table.例文帳に追加

照明スポット内の照度分布を格納する照明スポット照度分布データテーブルを備え、異物・欠陥からの検出光強度データと、この照明スポット照度分布データテーブルに基づいて異物・欠陥の座標位置および粒径算出を行う。 - 特許庁

The crimping defect determination data forming method for determining acceptability of crimping treatment has non-defective product processing data and defective product generated processing data, stored beforehand in a terminal crimping device 21.例文帳に追加

圧着処理の良否を判定するための圧着不良判定データ作成方法は、端子圧着装置２１に良品用加工データと不良品発生用加工データが予め記憶される。 - 特許庁

A mask defect inspecting machine obtains EB data 3 (after SUB) corresponding to OPC pattern parts by SUB-calculating the EB data 1 before OPC from the EB data 2 after optical proximity effect correction (OPC).例文帳に追加

光学近接効果補正（ＯＰＣ）後のＥＢデータ２からＯＰＣ前のＥＢデータ１をＳＵＢ演算して、ＯＰＣパターン部分に対応するＥＢデータ（ＳＵＢ後）３を得る。 - 特許庁

An image comparison part 124 compares, in each pixel in an inspection image data 120, a correspondence of an inspection image data 120 in the pixel to a reference image data 121 with a judgment threshold 141 acquired in each region comprising the computed slit pixel group, and judges defects or defect candidates.例文帳に追加

次に、検査画像の各画素毎にその画素の階調値と、その画素と対応する参照画像内の画素の画素値との第２の相関関係を求める。 - 特許庁

In this defect checking device, first an electron beam is applied to the wafer having the mirror polished surface to obtain image data, and the image data is stored in a first area of a first storing part 20 of an image data processor 12.例文帳に追加

欠陥検査装置において、まず、鏡面研磨面のウエハに電子ビームを照射して画像データを得、画像データ処理装置１２の第１記憶部２０の第１領域に記憶する。 - 特許庁

Image data of a pattern, etc., which is continuously present are erased by differentiating the image data in the fixed direction to detect only an image of the defect.例文帳に追加

画像データを一定方向に微分計算することにより、連続的に存在するパターン等の画像データを消去して、欠陥の画像のみを検出できる。 - 特許庁

It is judged whether a defect occurs in a part including EL elements and drivers 2 and 3 or not by data stored in the data register 6.例文帳に追加

データレジスタ６に格納されたデータにより、各ＥＬ素子および各ドライバ２，３を含む一部の箇所に欠陥が発生しているか否かが判定される。 - 特許庁

To provide an alignment apparatus which easily and promptly implements alignment of design data and measurement data, a defect detection device and an alignment method.例文帳に追加

容易に、かつ迅速に設計データと計測データとの位置合わせを実施する位置合わせ装置、欠陥検出装置、および位置合わせ方法を提供する。 - 特許庁

When the first receiving filter has received waveform data of reflected echoes (S205), the memory stores the waveform data to evaluate the degree of the defect caused by corrosion (S301).例文帳に追加

第１受信フィルタで反射エコーの波形データを受信したら（Ｓ２０５）、メモリに波形データを記憶して、腐食による欠陥の程度を評価する（Ｓ３０１）。 - 特許庁

Thus, even when there is irregularity of the gradation value between the inspection image data and the reference image data, it is possible to correctly judge the defects or defect candidates.例文帳に追加

検査画像内の各画素について、第１の相関関係と第２の相関関係を基にその画素が欠陥を構成しているか否かを判定する。 - 特許庁

On the basis of the kind of the file, whether or not it is required to retransmit the data of the file when a data defect is generated is judged (F103).例文帳に追加

ファイルの種類に基づき、データ欠損が生じたときにそのファイルのデータを再送することが必要であるか否かが判定される（Ｆ１０３）。 - 特許庁