「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The defects of the wafer W are observed by the defect observation apparatus 3 based on the defect positioning data so as to identify defects, and the identified result is stored in a memory as an initial defect identification data.例文帳に追加

次いで、欠陥観察装置３により欠陥位置データを基にしてウェハＷの欠陥を観察し、欠陥の識別を行い、その識別結果を初期欠陥識別データとしてメモリに記憶する。 - 特許庁

MARKET DEFECT DATA COUNTING METHOD, SERVICE LIFE PREDICTION LINE CREATING METHOD, MARKET DEFECT DATA COUNTING DEVICE, SERVICE LIFE PREDICTION LINE CREATING DEVICE, MARKET DEFECT DATA COUNTING PROGRAM, SERVICE LIFE PREDICTION LINE CREATING PROGRAM AND RECORDING MEDIA RECORDING PROGRAM例文帳に追加

市場不良データ集計方法、寿命予測線作成方法、市場不良データ集計装置、寿命予測線作成装置、市場不良データ集計プログラム、寿命予測線作成プロラム、及び該プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

When a defect is detected, a defect contour is extracted from the generated image data, the extracted defect contour is reflected in the pattern data of a semiconductor integrated circuit, and a first drop recipe is prepared based on the pattern data which has the defect contour reflected therein.例文帳に追加

欠陥が検出されたとき、前記生成された画像データから欠陥輪郭を抽出して、前記抽出した欠陥輪郭を前記半導体集積回路のパターンデータに反映させ、前記欠陥輪郭が反映されたパターンデータに基づいて第１ドロップレシピを生成する。 - 特許庁

DATA PROCESSOR, SYSTEM AND METHOD FOR DATA PROCESSING, DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

データ処理装置、欠陥検査装置、データ処理システム、データ処理方法、欠陥検査方法、及び記憶媒体 - 特許庁

To transfer data accurately even when a defect occurs on a nonvolatile storage element for storing a data.例文帳に追加

データを記憶する不揮発性記憶素子に不良が発生した場合でも正確にデータを転送する。 - 特許庁

To provide a defect extraction device and a defect extraction method capable of improving the reliability of defect inspection, and reducing the data amount of inspection result.例文帳に追加

欠陥検査の信頼性を向上させることと、検査結果のデータ量を低減させることができる欠陥抽出装置及び欠陥抽出方法を提供すること。 - 特許庁

A defect generation date and time, the defect item, and an image data and an inspection result correlated with information thereof are stored, when inspection is carried out and when a defect is determined.例文帳に追加

検査を実行し、不良判定がなされた場合、不良発生日時、不良項目、さらにこれらの情報に関連付けて、画像データ、検査計測結果を記憶する。 - 特許庁

(E) The defect cross-section and the defect width of the defective portion of the inspected body are estimated based on the first and second groups of data for defect quantity estimation and on the first and second amplitudes.例文帳に追加

（Ｅ）第１および第２の欠損量推定用データと、第１および第２の振幅とに基づいて、欠損部分の欠損断面積および欠損幅を推定する。 - 特許庁

By this defect classifier, a plurality of defect factors are specified from image data in an inspection area on a substrate to acquire coordinate values of representative points of the respective defect factors.例文帳に追加

欠陥分類装置では、基板上の検査領域の画像データから複数の欠陥要素が特定され、各欠陥要素の代表点の座標値が取得される。 - 特許庁

Since the reception defect is checked on the basis of the attribute data, the need of newly adding data for checking to the read data is eliminated.例文帳に追加

受信不良のチェックを属性データに基づいて行うため、読取データに新たにチェック用のデータを追加せずに済む。 - 特許庁

RECORDING MEDIUM FOR STORING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION FOR RECORDING REAL TIME DATA例文帳に追加

リアルタイムデータを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体 - 特許庁

To overcome a conventional defect by effectively controlling a request for data retransmission.例文帳に追加

データ再送信の要求を効果的に管理し、従来の欠陥を克服する。 - 特許庁

METHOD FOR SORTING DEFECT, DEVICE THEREFOR AND METHOD FOR GENERATING DATA FOR INSTRUCTION例文帳に追加

欠陥の分類方法およびその装置並びに教示用データ作成方法 - 特許庁

METHOD OF GENERATING FALSE SEM IMAGE DATA AND METHOD OF EXAMINING DEFECT OF PHOTOMASK例文帳に追加

擬似ＳＥＭ画像データの生成方法およびフォトマスクの欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING LINE DEFECT OF PICTURE, AND METHOD FOR CORRECTING IMAGE DATA例文帳に追加

画面の線欠陥検出方法及び装置並びに画像データの補正方法 - 特許庁

A wafer, test object, is inspected by a wafer defect inspection part 11, and coordinate value data S11 are outputted from the wafer defect inspection part 11.例文帳に追加

検査の対象となるウエハがウエハ欠陥検査部11で検査され、該ウエハ欠陥検査部11から座標値データS11 が出力される。 - 特許庁

A scan start position of CCD data is set to zero, the number of pixels up to a defect is counted, and a defect detection position is retained in a memory.例文帳に追加

ＣＣＤデータのスキャン開始位置をゼロとして欠点までの画素数をカウントし、欠点検出位置をメモリに保持する。 - 特許庁

To improve yield by relieving defect even when defect exists in a latch circuit section latching data.例文帳に追加

データをラッチするラッチ回路部に不良が存在する場合においてもその不良を仲裁することにより歩留まりを改善する。 - 特許庁

While reading out the image data from the image memory 20 and detecting image defects by a defect detector 24, a defect information that displays the position of the detected defect is generated, and is memorized by a defect information memory 26.例文帳に追加

画像メモリ部２０から画像データを読み出して欠陥検出部２４で画像欠陥を検出するとともに、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成して欠陥情報メモリ部２６に記憶する。 - 特許庁

Not only the feature variable data but also image data are added as defect data by the inspection apparatus, and the image data can be, for exampled, searched for by an external result confirmation apparatus.例文帳に追加

検査装置で欠陥データとして特徴量データのみならず、画像データを付加し、外部の結果確認装置で画像データの検索等を可能とする。 - 特許庁

When a defect, matching a criterion exists, the image processing section 24 generates display image data for displaying the defect matching the criterion, by using the image data of the defect, and outputs them to a display section 25.例文帳に追加

条件に合致する欠陥が存在した場合、画像処理部２４は、欠陥の画像データを用いて、条件に合致した欠陥を表示するための表示画像データを生成し、表示部２５へ出力する。 - 特許庁

The 'defect compensation processing for detection' is performed for the purpose of excluding a defective pixel registered as initial defect data from a detecting object of a defect detecting operation and an interpolation processing by the closest pixels with the same color is performed based on the initial defect data.例文帳に追加

「検出用欠陥補償処理」は、初期欠陥データとして登録されている欠陥画素を欠陥検出動作の検出対象から除外する目的で行われるものであり、初期欠陥データに基づいて最近接同色画素による補間処理が行われる。 - 特許庁

The detection sensitivity for a mask defect is inspected by using a mask for inspection of defect detection sensitivity having a basic pattern region where a pattern is formed based on the design data of a basic pattern and a defect pattern region where a pattern is formed based on the design data of a defect pattern prepared by adding a specified defect to the basic pattern.例文帳に追加

基本パターンの設計データを基づきパターンが形成された基本パターン領域と、基本パターンに、所定の欠陥を加えた欠陥パターンの設計データを元にパターンが形成された欠陥パターン領域とを備える欠陥検出感度検査用マスクを用いて、マスク欠陥検出感度の検査を行う。 - 特許庁

Receiving means 21, 21 of the receiving apparatus 2 receive the two defect compensation data superimposed on the respective carrier waves, a collection means 22 collects the received defect compensation data, and a decoding means 23 applies decode processing to the collected defect compensation data to restore the transmission data.例文帳に追加

受信装置２は、受信手段２１，２１にて夫々の搬送波に重畳された二の欠損補償データを受信し、受信した欠損補償データを収集手段２２にて収集し、収集した欠損補償データに対し、復号手段２３の復号処理にて送信データを復元する。 - 特許庁

When an image signal of the paper money sheet the image of which is picked up by a line sensor camera 13 is converted into image data in an image input part 35, changed quantity of the image data is calculated in the horizontal and vertical directions by a filter part 37 and minute defect data and defect data like irregularity defect, etc., are obtained by the inspecting device.例文帳に追加

ラインセンサカメラ１３によって撮像された紙幣用紙の画像信号が画像入力部３５で画像データに変換されると、フィルタ部３７によって画像データの変化量を水平方向及び垂直方向について求め、微細欠陥データ及びムラ欠陥等の欠陥データを得る。 - 特許庁

To prevent a defect of data fragmentation caused by a defective sector of a hard disc device.例文帳に追加

ハードディスク装置の不良セクタに起因するデータ断片化の不具合を回避する。 - 特許庁

Thereafter, pattern data optimized for the defect inspecting machine are generated from the pattern data according to the divided region determined according to a defect inspecting machine file format.例文帳に追加

その後、この図形データから欠陥検査機用のファイルフォーマットで決まる分割領域に合わせて、改めて、前記欠陥検査機用に最適化した図形データを生成する。 - 特許庁

PROCESSING METHOD FOR DIGITAL PHOTO IMAGE DATA INCLUDING METHOD OF AUTOMATIC DETECTION OF RED EYE DEFECT例文帳に追加

赤目欠陥の自動識別方法を含むデジタル写真画像データの処理方法 - 特許庁

When a defect detection means 10 detects a data defect in image data, an output means 11 outputs, to a display part 50, information representing an error.例文帳に追加

欠損検出手段１０が画像データの中からデータ欠損を検出したときに、出力手段１１が表示部５０に表示部にエラーであることを出力する。 - 特許庁

Each piece of data from the inspection data storage part 38 is inputted, judged based on each threshold and recognized as the defect by a defect judgment processing part 45.例文帳に追加

欠陥判定処理部４５は、検査データ蓄積部３８からの各データを入力し、それぞれのデータが各々の閾値を基準として判定され欠陥と認識する。 - 特許庁

In addition, additional write of the defect data newly detected by a defect data detecting part 112c to the EEPROM 118 is performed by every application of power.例文帳に追加

また、欠陥データ検出部１１２ｃによって新たに検出された欠陥データのＥＥＰＲＯＭ１１８への追加書き込みは、毎回の電源投入のたびに行われる。 - 特許庁

Thereby, the data are corrected to a correct expected value within the defect of the cell data of 1 bit per 1 word line.例文帳に追加

これにより、通常１ワード線あたり１ビットの本セルデータの不良までなら、正しい期待値に訂正される。 - 特許庁

In a wafer-inspecting and a sampling system, wafer defects are detected and are stored in a data store as defect data.例文帳に追加

ウェハ検査及びサンプリングシステムにおいて、ウェハ欠陥が検出され、欠陥データとしてデータストアに保存される。 - 特許庁

To avoid defect of data transfer caused by discontinuity by eliminating a data line from a wire bundle cable in a non-magnification scanner.例文帳に追加

等倍型スキャナにおいて、束線ケーブルからデータラインを削除し、断線によるデータ転送不良を回避する。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING DATA FOR DEFECT ANALYSIS IN EXAMINATION OF ELECTRONIC DEVICE AND SYSTEM FOR ANALYZING EXAMINATION DATA FOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスの検査における欠陥解析用データ作成方法、および、電子デバイスの検査データ解析システム - 特許庁

If the surface defect inspecting device detects a surface defect of the wafer, sensor data associated with the processing of the wafer are evaluated.例文帳に追加

表面欠陥検査装置によりウェハの表面欠陥が検出された場合には、当該ウェハの処理に関するセンサデータを評価する。 - 特許庁

To enhance the efficiency of a matching processing between a defect image obtained by a defect review device or the like and a layout image based upon design data.例文帳に追加

欠陥レビュー装置などで取得された欠陥画像と設計データに基づくレイアウト画像とのマッチング処理の効率向上を図る。 - 特許庁

The image processing part 20 extracts a defect (crack, peeling) of the object for evaluation from the image data, and computes the size of each defect.例文帳に追加

画像処理部２０は、その画像データから評価対象物の欠陥（ひび割れ、剥離）を抽出して、各欠陥の大きさを算定する。 - 特許庁

The classification support unit forms separated defect parts data for setting or changing the defect detection parameters and forming the knowledge base.例文帳に追加

分類支援装置は、上記欠陥検出パラメータの設定や変更、上記知識ベース作成のための分離欠陥部分データを作成する。 - 特許庁

To specify a color component of a color causing a defect, even when a defect of an image formed based on an image data is an achromatic color.例文帳に追加

画像データに基づいて形成された画像の欠陥が、無彩色の場合でも、欠陥の原因色となる色成分を特定する。 - 特許庁

After that, according to the calibrated image data, a defect of the sample wafer is detected by the defect extract part 40 and the result is displayed.例文帳に追加

その後、較正された画像データに基づいて欠陥抽出部４０で試料ウエハの欠陥検出を行い、結果を表示する。 - 特許庁

A main camera detects the defect when it is necessary and additionally registers the defect data in an EEPROM 118 based on its result.例文帳に追加

本カメラは必要時に欠陥検出を行ない、その結果に基づき上記欠陥データをＥＥＰＲＯＭ１１８に追加登録する。 - 特許庁

A part 9 for inspecting recording defect inspects the recording defect in recording processing to the back surface of the recording medium on the basis of the reference image data, the first inspection image data and the second inspection image data.例文帳に追加

記録不良検査部９は、基準画像データ、第一の検査画像データ、及び第二の検査画像データに基づいて、当該記録媒体の裏面に対する記録処理での記録不良を検査する。 - 特許庁

A decision is made by a defect deciding means as to whether the measured data recorded by the data-recording means 13 receiving the output refer to the internal defect, and its result is output, e.g. as image data.例文帳に追加

出力を受けたデータ記録手段１３が記録した計測データは、欠陥判断手段によって内部欠陥か否かの判定を行い、その結果を、例えば画像データとして出力する。 - 特許庁

Consequently, an external image processor which has acquired the image data can perform defect pixel correction accurately for the image data GD using the defect pixel information outputted in association with the image data.例文帳に追加

この結果、画像データを取得した外部の画像処理装置は、関連付けて出力された欠陥画素情報を用いて、画像データＧＤに対して正確に欠陥画素補正を実行できる。 - 特許庁