「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目)

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defect dataの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 958件

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例文

As for each defective memory cell (unit bit defect) by a so-called random defect without providing any redundant cell array, data to be stored in the defective memory cell is held by a latch circuit 22 disposed between column data 12 and an I/O buffer 21, and the held data is output in place of the data of the defective memory cell.例文帳に追加

冗長セルアレイを持たず、所謂ランダム欠陥による各個の欠陥メモリセル（単ビット欠陥）に関して、この欠陥メモリセルに格納されようとするデータを、列データ１２と入出力バッファ２１との間に設けられたラッチ回路２２によってデータを保持し、また、該保持されたデータを欠陥メモリセルのデータに替えて出力するようにした。 - 特許庁

When user data are recorded after the optical disk is initialized, the defect determination reference used for determination is selected and set from a plurally prepared defect determination references in accordance with the control information for selecting and setting the defect determination reference to determine the existence of the defective sector.例文帳に追加

前記光ディスクを初期化した後ユーザデータを記録する時、前記欠陥セクタの有無を判定するための欠陥判定基準を選択して設定するための制御情報に応じて、複数設ける欠陥判定基準から前記判定に使用する欠陥判定基準を選択して設定する。 - 特許庁

When the image data are acquired by the image acquisition section, the image display section displays a corrected image after the defect is corrected by the correction section, so that the detected defect and the corrected defect are confirmed simultaneously at one time by the corrected image.例文帳に追加

画像表示部が、画像取得部によって画像データが取得されたときに、修正部により不具合が修正された後の修正後画像を表示することによって、検出された不具合と修正された不具合とをその修正後画像によって同時に１回で確認することができる。 - 特許庁

This optical recording medium can record and reproduce data by means of a laser beam and has a defect management prevent flag that is previously recorded in the prescribed area of a read-in area to show whether a defect management or the alternation processing is needed or not.例文帳に追加

レーザ光を用いてデータの記録、再生を行なえる光学的記録媒体たる光ディスクであって、予めリードイン領域の所定の領域に、ディフェクトマネージメント若しくは交替処理が必要であるか否かを示すディフェクマネージメントプリベントフラグ（Defect Management Prevent Flag）が記録されてなる光ディスク。 - 特許庁

例文

A temporary defect management area 14 is set up between a control information recording area 12 and a data area 11 of the write-once type recording medium 10, and in a stage before finalizing the recording medium 10, defect management information is temporarily recorded in the temporary defect management area 14.例文帳に追加

追記型記録媒体１０の制御情報記録エリア１２とデータエリア１１との間に一時的ディフェクト管理エリア１４を設け、記録媒体１０をファイナライズする前の段階では、一時的ディフェクト管理エリア１４にディフェクト管理情報を一時的に記録しておく。 - 特許庁

例文

When the determination unit 220 determines the recovery of the defect portion, the communication control unit 210 requests the data distribution server 10 to retransmit the defect portion by using the communication wave transmission/reception function and receives the defect portion transmitted from the data distribution server 10 based on the retransmission request by using the communication wave transmission/reception function.例文帳に追加

通信制御部２１０は、判断部２２０が欠損部分を修復すると判断した場合に、通信波送受信機能を用いて、データ配信サーバ１０に欠損部分を再送するように要求し、且つ当該再送要求に基づいてデータ配信サーバ１０から送信される欠損部分を通信波送受信機能を用いて受信する。 - 特許庁

A unit for controlling color panels (R, G, and B panel modules 31, 32, and 33), connected optically in series and a luminance panel (luminance panel module 50), includes a defect correction data storing part 103 for storing information specifying defective pixels of color panels and a defect correction circuit 102 for controlling the luminance panel according to the defects of defective pixels stored in the defect correction data storage part 103.例文帳に追加

光学的に直列につながれた色パネル（R、G、Bパネルモジュール31、32、33）と輝度パネル（輝度パネルモジュール50）を制御する装置であって、色パネルの欠陥画素を特定する情報を記憶する欠陥補正用データ記憶部103と、欠陥補正用データ記憶部103に記憶されている欠陥画素の欠陥に応じて輝度パネルを制御する欠陥補正回路102とを備えている。 - 特許庁

In the method for applying the defect correction and the calibration to image data (100) in the image system using a plane spatial optical modulator (146), a tone correction LUT (148') is applied to the image data (100) and the calibration correction is applied before the defect correction of using a defect map (122) and an associated gain table (124).例文帳に追加

面空間光変調器（１４６）を使う画像システムにおいて画像データ（１００）に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、画像データ（１００）にトーン修正ＬＵＴ（１４８’）を適用し、欠陥マップ（１２２）及び関連する利得テーブル（１２４）を使う欠陥修正を適用する前に、較正修正を適用する。 - 特許庁

A data defect probability estimating part 13 estimates the probability that a block under consideration causes data defect by errors based on the estimated value of the code quantity of the block under consideration obtained in the preceeding procedure and the code quantity from the latest synchronous code up to just before the block under consideration.例文帳に追加

データ欠損確率推定部１３は、その際に得られる注目ブロックの符号量の予測値および最新の同期符号から注目ブロックの直前までの符号量から、注目ブロックが誤りによってデータ欠損を起こす確率を推定する。 - 特許庁

例文

Consequently, even when, for example, replacement of batteries, etc., is performed when writing the defect data in the second storage area of the EEPROM 118, generation of an event that the initial defect data in the first storage area is destructed by the replacement of the batteries is prevented.例文帳に追加

よって、ＥＥＰＲＯＭ１１８の第２の記憶領域への欠陥データの書き込み中に例えば電池交換などが行われた場合であっても、それによって第１の記憶領域の初期欠陥データが破壊されるという事態の発生を防止することができる。 - 特許庁

例文

When presence of defect in the read objective storage area is determined by the defect discriminating circuit 2 at the reading access to the memory section 1, the data written into the scan flip-flop SFF 5 are outputted from a selection circuit 7 as the read data of the memory section 1.例文帳に追加

メモリ部１への読み出しアクセスの際に、欠陥判定回路２において読み出し対象の記憶領域に欠陥があると判定されると、選択回路７からは、スキャンフリップフロップＳＦＦ５に書き込まれたデータがメモリ部１の読み出しデータとして出力される。 - 特許庁

Thus, as this circuit has such constitution that read-out data is compared with read-out data of preceding address, a marching test for detecting uncoincidence of both data as defect can be preformed efficiently by writing previously the same data in all bits.例文帳に追加

このように、読み出しデータと１アドレス前の読み出しデータとを比較する構成となっているので、予め全ビットに同一のデータを書き込んでおくことにより両者の不一致として不良を検出するマーチングテストを効率よく実行できる。 - 特許庁

To provide a dater recorder and a data recording method which can stably reproduce data recorded in a user data area by suppressing DC components and low-frequency components even in areas other than the user data are and a defect area.例文帳に追加

ユーザデータ領域以外の領域や、ディフェクト領域においても直流成分及び低周波成分を抑制することで、ユーザデータ領域に記録されたデータを安定に再生することができるデータ記録装置およびデータ記録方法を提供する。 - 特許庁

The defect testing method comprises the following steps for preparing a design data set for forming the photomask, searching the sub-ground rule features out of the design data set, removing the sub-ground rule features out of the design data set to form a check data set, and checking the photomask formed according to the design data set by using the check data set.例文帳に追加

本発明の方法は、フォトマスク作製用のデザインデータセットを作製し、デザインデータセット中のサブ・グラウンドルールフィーチャを検索し、デザインデータセットからサブ・グラウンドルールフィーチャを除去して検査データセットを作成し、デザインデータセットに従って作製されたフォトマスクを検査データセットを使用して検査するステップを有する。 - 特許庁

Then a predetermined conversion process is performed on at least one of the input CAD data D1 and the run-length data D2 to make the data formats of both data comparable, and then both data are compared with each other to detect an area having a difference as a defect area in the run-length data D2.例文帳に追加

そして、入力ＣＡＤデータＤ１とランレングスデータＤ２とのうちの少なくとも一方のデータに対して所定の変換処理を実行して互いに比較可能なデータ形式に揃えた上で、両データを比較し、差異がある領域をランレングスデータＤ２における欠陥領域として検出する。 - 特許庁

Defect inspection based upon whether data synchronism can be detected is carried out by using a data synchronizing signal 52 which is longer by fluctuation in rotation before and after a data synchronizing signal 52 in normal reproduction of recording information including its retrial.例文帳に追加

リトライを含む通常の記録情報の再生時のデータ同期信号５２よりも前後に回転変動分だけ長いデータ同期信号５７を使用してデータ同期検出の可否に基づく欠陥検査を実施する。 - 特許庁

To provide a highly reliable and convenient data transfer apparatus capable of exchanging a data area where any defect is generated and backing up stored data without affecting the operating time of a host apparatus.例文帳に追加

上位装置の運用時間に影響を及ぼさず、欠陥が発生したデータ領域を交替できるとともに、保存データをバックアップすることができる信頼性ならびに利便性の高いデータ転送装置を提供する。 - 特許庁

To prevent the occurrence of waste of resources and time by determining whether image data having a data defect are printed or not, in an image processing device and a program for displaying, on a display part, the image data to be printed.例文帳に追加

印刷する画像データを表示部に表示させる画像処理装置およびプログラムにおいて、データ欠損を有する画像データについて、印刷するか否かの判断して資源および時間の無駄の発生を防止する。 - 特許庁

Subsequently, the CPU 32 designates the 1st address, reads data from the RAM 36 and detects the existence/absence of a defect about address setting by comparing the written data with the read data.例文帳に追加

その後、ＣＰＵ３２は、第１のアドレスを指定してＲＡＭ３６からデータの読み出しを行い、書き込んだデータとこの読み出したデータとを比較することにより、アドレス設定に関する不良の有無を検出する。 - 特許庁

A defect position input unit 3a reads out numerical data of positions from a defect position storing unit 1 for indicating the place of a defective memory element from a given original position in an IC memory.例文帳に追加

不良位置データ入力部３ａは、ＩＣメモリに発生した不良メモリ素子が予め決められた原点から何番目のメモリ素子であるかを示す不良位置のデータを不良位置記憶装置１から読み込む。 - 特許庁

A flat panel inspection system 100 as the defect detection apparatus is provided with an image processing section 104 for identifying a defect region in the flat panel 200, based on image data obtained by imaging the flat panel 200.例文帳に追加

欠陥検出装置としてのフラットパネル検査システム１００は、フラットパネル２００を撮像して得られた画像データに基づいてフラットパネル２００の欠陥領域を特定する画像処理部１０４を備えている。 - 特許庁

Thus, the image signal processor performs processing of making an address of the defect information in matching with the image signal without changing the data sequence of the image signal read from the CMOS image sensor 200 so as to smoothly correct the defect.例文帳に追加

これにより、ＣＭＯＳイメージセンサ２００から読み出された画像信号のデータ順を変えることなく、画像信号と欠陥情報とのアドレスを一致させるような処理を行い、円滑な欠陥補正を行う。 - 特許庁

Similarly, an automatic test pattern generation tool may use the defect location information to generate test data custom-tailored to check for faults corresponding to the identified defect in the specified portions of the microcircuit.例文帳に追加

同様に、自動試験パターン生成ツールは、欠陥位置情報を用い、微小回路の指定部分内の同定された欠陥に対応する故障を検査するために特別に作成された試験データを生成し得る。 - 特許庁

Further, region combination is performed on once detected defects by a defect detecting part 202, and if the defects are close-packed, they are detected as defects even if the defects are minute, and defect data 105 is produced.例文帳に追加

さらに、欠陥検出部２０２が、一旦、検出した欠陥について領域結合処理を行い、微小欠陥であっても、密集している場合には欠陥として検出し、欠陥データ１０５を生成する。 - 特許庁

The work station (WS) 4 executes defect examination and defect analysis by segments, with respect to failure information on semiconductor memories measured by a memory tester 1, segment-classified prior to testing, and stored in the data storage part 3.例文帳に追加

ワークステーション（ＷＳ）４は、テスト前にセグメント分類され、データ格納部３に格納されているメモリテスタ１で測定した半導体メモリのフェイル情報をセグメントごとに不良調査及び不良解析を実行する。 - 特許庁

The control system for the printer is such that a color control sub system and a defect detection sub system are integrated, and thereby the color control system and the defect detection sub system are made to commonly have data obtained from the printer.例文帳に追加

色制御サブシステムおよび欠陥検出サブシステムを統合し、かくして前記色制御システムおよび前記欠陥検出サブシステムが印刷機から得たデータを共有するようにされている印刷機用制御システム。 - 特許庁

In this invention, a circumferential flaw is detected in a totalized track domain exceeding a standard deviation value on a defect detection amount (the number of detected defects) classified by radius in defect number histogram data classified by radius.例文帳に追加

この発明は、半径別の欠陥数ヒストグラムデータにおける半径別の欠陥検出量（欠陥検出個数）についての標準偏差値を越える集計トラック領域において、円周疵の検出をする。 - 特許庁

A pseudo defect is relieved by dividing a pattern into a stitching part and the other pattern portion on comparing the mask image to mask data and by decreasing the defect detection sensitivity in the stitching part than that in the pattern portion.例文帳に追加

マスク画像とマスクデータとの比較検査を行う際に、ステッチング部とそれ以外のパターン部とに分割して、ステッチング部の欠陥検出感度をパターン部よりも低くすることで、上記擬似欠陥を救済する。 - 特許庁

Since the more significant redundant memory cells only require 1 bit, the redundant memory cells of only 3 bits are required by storing, in the more significant redundant memory cells, information indicating whether a defect exists or not as well as positional information of the defect with respect to the least significant bit data.例文帳に追加

その際、上位の冗長メモリセルは１ビットのみでよいため、上位の冗長メモリセルに最下位の不良の有無／不良位置情報を格納させることで、冗長メモリセルとしては３ビットで済む。 - 特許庁

When presence of defect in the write-in objective storage area is determined by a defect determination circuit 2 at the writing access to the memory section 1, the write data to the memory section 1 are written into the scan flip-flop SFF 5.例文帳に追加

メモリ部１への書き込みアクセスの際に、欠陥判定回路２において書き込み対象の記憶領域に欠陥があると判定されると、メモリ部１への書き込みデータはスキャンフリップフロップＳＦＦ５に書き込まれる。 - 特許庁

This cutter defect detecting method for the numerical control machine tool is characterized in that a distance detecting means measures a distance d to the cutter 3, while rotating the cutter 3 having multiple blade parts 3a, compares the measured data with similar measured data obtained from the blade 3 having no defect, and detects presence/absence of the defect of the blade 3 by difference from the both measured data.例文帳に追加

数値制御工作機械の刃物欠損検出方法において、複数の刃部３ａを有する刃物３を回転させながら、距離検出手段により前記刃物３までの距離ｄを測定し、その測定データと欠損の無い刃物３に対して得られた同様な測定データと比較して、両測定データの相違の有無により刃物３の欠損の有無を検出することを特徴とするものである。 - 特許庁

To improve safety of data recorded on a magnetic disk by conducting an alternation processing from the sector having large defect in an automatic alternation process.例文帳に追加