「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

When inspection is performed, the defect of the data line is judged by output of the logical circuit obtained by applying a driving signal for inspection corresponding to a prescribed logical value to the data line.例文帳に追加

検査のときには、所定の論理値に対応する検査用駆動信号をデータ線に印加し、このときに得られる論理回路の出力によりデータ線の欠陥を判定する。 - 特許庁

One method includes classifying defects on a specimen using inspection data generated for the specimen combined with defect review data generated for the specimen.例文帳に追加

一方法は、試料のために生み出された検査データを、この試料のために生み出された欠陥レビューデータと組み合わせたものを使用して、この試料上の欠陥を分類することを含む。 - 特許庁

To the compact memory 14, defect information indicating that a tested memory 62 has a defective part, is written according to failure data written in a divided address space of the data storage memory 12.例文帳に追加

コンパクトメモリ１４には、データ格納メモリ１２の分割アドレス空間に書き込まれたフェイルデータに基づいて、被試験メモリ６２に不良箇所があることを示す不良情報が書き込まれる。 - 特許庁

In a control block 31, the presence or absence of a defect of the inspecting pattern is detected based on the comparison result of the data for pattern inspection with preset pattern reference data.例文帳に追加

そして、制御ブロック３１にて、予め設定されているパターン基準データと前記パターン検査用データとの比較結果に基づき前記被検査パターンの欠陥の有無を検出する。 - 特許庁

To provide a defect pixel replacement system where pixel data of a defective pixel are replaced with a weight mean of pixel data of a normal pixel when there is a defect in a pixel being a configuration unit of a video input section and to provide a video display device.例文帳に追加

欠陥画素置換方式及び映像表示装置に関し、映像入力部の構成単位である画素に欠陥がある場合に、欠陥画素の画素データを正常画素の画素データの荷重平均で置換する欠陥画素置換方式及び映像表示装置を提供する。 - 特許庁

A defect address storage unit 46 comprises first and second defect address storage units 46a and 46b which store the address of a longitudinal line flaw of image data outputted during long-time exposure of 1/30 sec., and the address of a longitudinal line flaw of image data outputted during the short-time exposure of 1/60 sec.例文帳に追加

欠陥アドレス格納部４６は、１／３０秒の長時間露光時に出力された画像データの縦線キズのアドレスと、１／６０秒の短時間露光時に出力された画像データの縦線キズのアドレスとをそれぞれ格納する第１及び第２欠陥アドレス格納部４６ａ，４６ｂからなる。 - 特許庁

Defect position data is acquired from a plurality of kinds of examination devices such as a bus line resistance device or an electric characteristic examination device 4 and a defect examination device 3 for appearance examination and is collated in a collation part 9 to generate data obtained by narrowing down the correction objects more.例文帳に追加

バスライン抵抗装置もしくは電気的特性検査装置４、および外観検査による欠陥検査装置３など、複数種類の検査装置から欠陥位置データを取得して、照合部９にて照合することによって、修正対象をより絞り込んだデータを作成する。 - 特許庁

Radiation transmitted through a subject is radiated on the imaging panel 11, which is developed as a second image data and written in the image memory part 20, and the image data of the position indicated in the defect information memorized in the defect information memory part 26 is corrected to acquire the preferable radiation image.例文帳に追加

被写体を透過した放射線を撮像パネル１１に照射して作成した第２の画像データを画像メモリ部２０に書き込み、欠陥情報メモリ部２６に記憶されている欠陥情報で示された位置の画像データを補正して良好な放射線画像を得る。 - 特許庁

A plurality of thresholds determined by a pixel value of each pixel of the region image data or one of a plurality of defect determination processing methods is used to compare the optical image data within the region indicated by the region image data with the reference image data and determine defects for each pixel.例文帳に追加

領域画像データの各画素の画素値によって定まる複数の閾値または複数の欠陥判定処理方法の１つを用いて、領域画像データが示す領域内の光学画像データと参照画像データとを比較して画素毎に欠陥判定する。 - 特許庁

Data different from data outputted by a demodulator when the amplitude of reproduction signal is lost, are arranged on the unused part of data of the 2nd error correction code, and the constitution is made so that the unused data part of the 2nd error correction code surely becomes error in the occurrence of the defect.例文帳に追加

第２のエラー訂正符号のデータ未使用部には、再生信号振幅が失われた場合に復調器が出力するデータとは異なったデータを配し、デフェクト発生時に第２のエラー訂正符号の未使用データ部が確実にエラーとなるように構成する。 - 特許庁

To provide a microcomputer allowing more reliable inspection of data reading delay associated with a wiring defect inside a ROM, and to provide a method of the inspection.例文帳に追加

ROM内の配線不良に伴うデータ読出遅延を、より確実に検査することが可能なマイクロコンピュータ及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To stably record/reproduce data by executing stable servo control even for a recording medium having a defect.例文帳に追加

欠陥部がある記録媒体に対しても安定したサーボ制御を行えるようにし、その結果安定したデータの記録と再生を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a memory evaluating system which can obtain FBM required for defect analyzing and write-in data in a memory mat at the time of fail.例文帳に追加

不良解析に必要なＦＢＭおよびフェイル時のメモリマット内書き込みデータを取得することができるメモリ評価システムを提供する。 - 特許庁

When such a defect is found out, a write gate of the sector becomes impracticable and the burst signal data is ignored for the purpose of tracking.例文帳に追加

そのような欠陥が見つかった時，セクタの書込みゲートは不能になり，そのバースト信号データはトラック追従目的のために無視される。 - 特許庁

To obtain fail pattern data in a spare area on a must repair line without spending much time in the process of the defect relief and analysis processing of a memory.例文帳に追加

メモリの不良救済解析処理の過程において、マストリペアライン上のスペア領域のフェイルパターンデータを時間を掛けることなく取得する。 - 特許庁

To enable detection/registration of acquired defects of detection while avoiding destruction of initial defect data in a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリの初期欠陥データが破壊される危険を回避しつつ、後発性の検出欠陥についても検出・登録できるようにする。 - 特許庁

To rapidly evaluate a defect based on measurement data even in cases where a measurement place of eddy-current flaw detection is apart from an evaluation place therefor.例文帳に追加

渦電電流探傷の測定場所と評価場所が離れている場合においても、測定データから迅速に欠陥評価を可能とする。 - 特許庁

In the normal mode, when a defect is detected in verify-operation after data is written in the flash memory, subsequent use of the flash memory is stopped.例文帳に追加

ノーマルモードでは、フラッシュメモリにデータを書き込んだ後のベリファイ動作において不良を検出すると、以降のフラッシュメモリの使用は停止される。 - 特許庁

Here, if there is no defect, the alternate current signal VAC follows a route of 'pixel electrodes 118 → transistors → data lines → sampling switches →image signal lines'.例文帳に追加

ここで、欠陥がなければ、交流信号ＶＡＣは、画素電極１１８→トランジスタ→データ線→サンプリングスイッチ→画像信号線という経路を辿る。 - 特許庁

To provide an imaging device which can correct noise or a clear defect using light shielding data and can shorten a shooting interval.例文帳に追加

遮光データを用いてノイズや白キズの補正を行う撮像装置であって、撮影間隔を短くすることができる撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique which can detect a defect in run-length data to be used for drawing of a figure before the execution of drawing, with a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成で、図形の描画に供されるランレングスデータの欠陥を描画の実行前に検出することができる技術を提供する。 - 特許庁

To correct the defect of data outputted from an image sensor in real time without needing a conventionally required frame memory.例文帳に追加

従来必要とされたフレームメモリを必要とせず、リアルタイムでイメージセンサから出力されるデータの欠陥補正を行うことができるようにする。 - 特許庁

A defect information list 122a provided for the memory 122 stores a page including defective data and the state of the page.例文帳に追加

メモリ１２２が備える欠陥情報リスト１２２ａは、欠陥情報リスト１２２ａは、データに欠陥のあるページとそのページの状態を保存する。 - 特許庁

To solve the defect of losing the information of an overhead in the case of exchanging data traffic between a SONET network and an SDH network.例文帳に追加

ＳＯＮＥＴネットワークとＳＤＨネットワークとの間でデータ・トラフィックを交換する場合、オーバーヘッドの情報が失われる欠点を解決する。 - 特許庁

Therefore, composite processing device 4 compositely processes the binarization data, and can detect a defect on the surface of the inspecting object by light-dark detection.例文帳に追加

このため、複合処理装置４は、前記２値化データを複合処理し、明暗検出により、前記被検査物の表面の欠陥を検出できる。 - 特許庁

When a defect is not detected, the adjacent sector is not replaced, but as rewriting is performed, reliability of data of the adjacent sector is improved.例文帳に追加

欠陥を検出できなければ隣接セクタの交替をしないが、先に再ライトをしているので、隣接セクタのデータの信頼性が向上している。 - 特許庁

To reliably detect a defect detection signal changing in short times in a high speed line via a low-cost device by reducing a load on data processing.例文帳に追加

データ処理の負荷を軽減して、安価な装置により、高速ラインで短時間に変化する欠陥検出信号を確実に検出可能とする。 - 特許庁

To provide a board for a display device that comprises wiring for repair to restore disconnection defect occurring in a data bus line, actualizes a repaired data bus line when the wiring for repair is short-circuited, and easily performs discrimination with line defect occurring due to another cause, and to provide a liquid crystal display panel and device as well as a defect inspection method of wiring for repair.例文帳に追加

本発明は、データバスラインに生じた断線欠陥を修復するリペア用配線を備え、リペア用配線が短絡した場合にはリペア処理を施したデータバスラインを顕在化させ、他の原因で生じる線欠陥との識別を容易に行える表示装置用基板、液晶表示パネル及び液晶表示装置並びにリペア用配線の欠陥検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The recording medium has a temporary defect management region including a bit map indicating a region in which data is recorded and a space region in which data is not recorded out of the user data regions of the recording medium using different bit values each other.例文帳に追加

記録媒体は、当該記録媒体のユーザーデータ領域のうちデータが記録された領域と記録されていない空き領域とを相異なるビット値を利用して示したビットマップを含む臨時欠陥管理領域を有する。 - 特許庁

To provide a sensitivity table data creation device which creates sensitivity data required for creating a sensitivity table giving proper defect detection ratio of a product mask, a mask inspection system and a sensitivity table data creation method.例文帳に追加

製品マスクの欠陥検出率を適正に把握することが可能な感度表を作成するために必要な感度表データを作成する感度表データ作成装置、マスク検査システム及び感度表データ作成方法を提供する。 - 特許庁

Image data representing a light emission defect part for reference is acquired by a reference defect acquiring means 60 when irradiating an erased radiation image transformation panel 10 from which remaining radiation energy has already been erased with stimulating light Le.例文帳に追加

残存する放射線エネルギが消去された消去済の放射線像変換パネル１０へ励起光Ｌｅを照射したときに、参照欠陥取得手段６０により参照用の発光欠陥部位を表す画像データを取得する。 - 特許庁

When the hard disk drive system (50) receives a defect data read command sent by a host processor (30), the hard disk drive system (50) returns time correlated growth defect information to the host processor (30).例文帳に追加

ハードディスク・ドライブ・システム（５０）がホスト処理装置（３０）から送信された欠陥データ読み取りコマンドを受信した場合、ハードディスク・ドライブ・システム（５０）は時間と関連付けられた成長欠陥の情報をホスト処理装置（３０）に返信する。 - 特許庁

The detection rack part calculates the incidence of defect and operates in a restriction mode which suppresses (does not pass to the data processing part 23) an output of the defect information consisting of the image information, if the calculated incidence is higher than a determination value.例文帳に追加

検出ラック部は、欠陥の発生頻度を求め、その求めた発生頻度が、判定値より大きい場合には、画像情報からなる欠陥情報の出力を抑制する（データ処理部２３に渡さない）制限モードで動作する。 - 特許庁

Thereafter, the image data expressing the light emission defect part for detection is acquired by a detection defect acquiring means 65 when irradiating the panel 10 exposed by radiation through an object with the stimulating light Le.例文帳に追加

その後、被写体を通して放射線が曝射された上記放射線像変換パネル１０へ励起光Ｌｅを照射したときに、検出欠陥取得手段６５により検出用の発光欠陥部位を表す画像データを取得する。 - 特許庁

The image processing device 1 detects defect pixels by performing image processing on image data, and performs quality determination on the inspection target based on a first inspection condition C1 set based on either the number or positions of defect pixels.例文帳に追加

画像処理装置１は、画像データを画像処理することで欠陥画素を検出し、欠陥画素数または位置の何れか一方に基づいて設定された第１の検査条件Ｃ１によって、検査対象物の良否判定を行う。 - 特許庁

The diagnostics engine includes an analysis module to determine features of the signals captured by the data acquisition device and a decision module for determining whether the pulse represents a defect in the wire and the location of the defect.例文帳に追加

診断エンジンは、データ収集装置によって捕捉された信号の特徴を判定する解析モジュールと、パルスがワイヤにおける欠陥及び該欠陥の位置を表しているか否かを決定するための判定モジュールとを含む。 - 特許庁

To provide a method by which an operator can select defects having the possibility of exerting a fatal influence upon the operation of an integrated circuit from many pieces of defect data of a wafer surface by his or her easy operation so as to display defect images of the selected defects.例文帳に追加

ウェーハ上の多数の欠陥データの中から集積回路の動作に致命的な影響を与える可能性のある欠陥を、オペレータの容易な操作で選択し、選択した欠陥の欠陥画像を表示できる方法の提供。 - 特許庁

Hereby, since defect detection processing of the circumferential flaw or the island defect can be performed stepwise separately from other defects, even if the number of defects to be detected is increased, a processing load of a data processing device can be reduced.例文帳に追加

これにより円周疵あるいは島状欠陥を他の欠陥と分離して欠陥検出処理を段階的に行うことができるので、検出される欠陥数が増加してもデータ処理装置の処理ロードを低減することができる。 - 特許庁

This defect inspection system for inspecting defects of an inspection object comprises a data generation means for generating inspection information for specifying an inspection and inspection result information containing defect information showing the details of the defect detected by inspection in a predetermined united format, and registering the generated inspection result information in a database.例文帳に追加

検査対象の欠陥を検査する欠陥検査システムにおいて、検査を特定する検査情報と、検査で検出した欠陥の詳細を示す欠陥情報を含む検査結果情報を所定の統一フォーマットで生成し、生成した検査結果情報をデータベースに登録するデータ生成手段とを有する。 - 特許庁

A defect is detected which is generated in a wafer on which a pattern is formed, and positional relationships between a coordination system for indicating a defect position used by an inspection equipment 1 for outputting the position where the detected defect is generated and a coordination system used in the design data of the pattern are set in multiple ways (steps S3 and S4).例文帳に追加

パターンが形成されたウェハに発生した欠陥を検出し、検出した欠陥の発生位置を出力する検査装置１が使用する欠陥位置を指し示すための座標系と、パターンの設計データにおいて使用される座標系と、の間の位置関係を複数設定する（ステップＳ３、Ｓ４）。 - 特許庁

To provide a master disk defect measuring device which can be easily installed in a master disk cutting machine and can acquire, store and process a position and a scale of the defect generated in a rugged pattern of an optical master disk as data of a small amount of information and to provide an master disk defect measuring method.例文帳に追加

原盤カッティング機への設置が容易で、且つ光ディスク原盤の凹凸パターンに生じたディフェクトの位置及び大きさを情報量の少ないデータで取得、格納、及び処理することが可能な原盤ディフェクト測定装置、及び原盤ディフェクト測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an outside development information practical use method of a steel strip and a collection/display program of defect data on the steel strip, when an operator inputs an outside inspection result of a defect in a one's own process onto an outside development displayed on a screen of a defect recording device and records it when processing the steel strip in a plurality of processes.例文帳に追加

鋼帯を複数の工程で処理するに際し、オペレータが自工程での欠陥の外観検査結果を、欠陥記録装置の画面上に表示された外観展開図上に入力して記録を行う際の鋼帯の外観展開図情報活用方法および鋼帯の欠陥データの収集・表示プログラムに関する。 - 特許庁

To provide an appearance inspecting apparatus having the function of detecting an uneven defect and the function of detecting a pattern defect (minute defect) in a color filter or the like, from image data acquired by photographing a substrate such as the color filter or the like having a pattern shape by using an optics and a photographing system with high resolutions.例文帳に追加

カラーフィルタ等のパターン形状を有する基板を解像度の高い光学系と撮像系を用いて撮像した画像データより、カラーフィルタ等のパターン欠陥（微細欠陥）を検出する機能とムラ欠陥を検出する機能とを兼ね備えた外観検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since data is divided into blocks having a predetermined size and is repeatedly recorded the predetermined number of times when recorded on a recording medium, data which cannot be recovered due to a defect in one block can be recovered by using another block, so that recorded data has a robust defect resistance.例文帳に追加

これにより、記録方法は記録媒体にデータを記録するに当って所定サイズを有するブロック単位に分割し、これを所定回数だけ反復して記録することによって、１ブロックで欠陥によりデータが復旧できなくなっても、他のブロックにより復旧可能にし、記録されたデータが強靭な欠陥抵抗性を有するようにする。 - 特許庁

To provide a method capable of performing defect detection even when design data can not be obtained since importance of a defect can be determined by prior art while taking relative relation with a formation such as wiring on a wafer into consideration by using design data, but the determination can not be made without the design data.例文帳に追加

従来の技術においては、設計データを用いることにより、ウェーハ上の配線等の構成物との相対関係を考慮し、欠陥の重要度の判定は可能であるが、設計データが無い場合は、判定ができなかったので、設計データが入手できない場合についても欠陥検出の実施を可能とする方法を提供する。 - 特許庁