「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

When the read program data are determined to be defective by a defect decision circuit 33A, the memory controller 2 reads the program data corresponding to the program data determined to be defective from the storage region 201 different from the storage region 201 in which the program data determined to be defective are stored.例文帳に追加

メモリコントローラ２は、読み出されたプログラムデータが不良判定回路３３Ａにおいて不良と判定される場合、不良と判定されたプログラムデータが格納された格納領域２０１とは異なる格納領域２０１から、不良と判定されたプログラムデータに対応するプログラムデータを読み出す。 - 特許庁

Information on the defect generated in the component supplied to the market is received and stored as temporary registration data, and formal registration is made with a registration data base after specified processing is performed.例文帳に追加

市場に供給した部品に発生した不具合に関する情報を受信し、前記情報を仮登録データとして格納し、所定の処理を実行した後に本登録データベースに本登録を行う。 - 特許庁

A mechanism which increases redundancy of data in the storage network system by duplicately storing the same data in a plurality of devices has the defect that the convenience is spoiled in exchange for reliability improvement.例文帳に追加

ストレージネットワークシステムにおいて同じデータを複数の機器に重複して保存し、データの冗長度を高める仕組みは、信頼性向上と引き替えに利便性を損なうという欠点があった。 - 特許庁

To provide an image reader for acquiring suitable shading correction reference data free of an image defect having a density difference in a width direction of an image formed from image data after shading correction.例文帳に追加

シェーディング補正後の画像データから形成される画像の幅方向に濃度差が表れる画像不良が発生しない、適正なシェーディング補正基準データを取得できる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

Even when a defective printing occurs during printing in a preceding step (during printing a fixed data), the paper sheet is fed to printing in a post step (printing of a variable data) instead of discarding if the defect is lower than a specified level.例文帳に追加

前工程の印刷時（固定データの印刷時）に印刷不良が発生した場合であっても、規定以下の不良であればその用紙を廃棄せずに後工程の印刷（可変データの印刷）へまわす。 - 特許庁

To provide the technique for avoiding a malfunction in a device by a data transfer defect caused by a meta stable state without enlarging a circuit scale in a boundary between an analog data processing part and a digital signal processing part.例文帳に追加

アナログデータ処理部とデジタル信号処理部の境界において、回路規模を増大をさせることなく、メタ・ステーブルによるデータ転送不良による装置の誤動作を回避する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a data erasing method of a nonvolatile semiconductor memory apparatus in which the occurrence of an infinitive loop in which erasure and write-in are repeated at the time of erasing data can be prevented and a products defect rate can be reduced.例文帳に追加

データ消去時に、消去と書き込みを繰り返す無限ループの発生を防止でき、製品不良率を低減できる不揮発性半導体記憶装置のデータ消去方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus having a document reader and a recording device, in which garbled data due to noise of a data system wiring between the document reader and recording device and a wiring defect due to contact are prevented.例文帳に追加

原稿読み取り装置と記録装置を有する画像形成装置において、原稿読み取り装置と記録装置間のデータ系配線のノイズによるデータ化けや、接触による配線不良を防止する。 - 特許庁

To provide a correction acceptance processing system of an instrument output data which is operationally efficient, which can quickly see output data of a system at a management department, and which promptly directs to correct a defect if it were.例文帳に追加

システムの出力データを管理部門で即座に見ることができ、問題があれば迅速に修正を指示できる、作業効率の高い、計器出力データ校正承認処理システムなどを提供すること。 - 特許庁

To provide a device for detecting a flaw by an ultrasonic wave, capable of facilitating display-alignment of three-dimensional detection data and three-dimensional shape data and of quickly distinguishing defect echo from shape echo, and a method therefor.例文帳に追加

３次元探傷データと３次元形状データの表示位置合わせを容易にし、欠陥エコーと形状エコーの識別を迅速にできる超音波探傷装置及び方法を提供することにある。 - 特許庁

It further displays mounted image data which is read, and design image data which is created on a display unit 133, and displaying a pattern of an arrangement defect which occurs when the component arrangement device arranges the components.例文帳に追加

表示部に読込まれた前記実装画像データ及び作成された設計画像データを表示するとともに、部品配置装置が部品を配置する際に起こりうる配置不良のパターンを表示する。 - 特許庁

Dislocation of the defective simulated image 17 based on the defect data 15 from the reference simulated image 18 based on the reference data 16 is checked and whether it is necessary to modify the defective part or not is judged.例文帳に追加

欠陥データ１５に基づく欠陥シミュレーション像１７の、参照データ１６に基づく参照シミュレーション像１８からのずれを調べ、欠陥に対して修正を施すべきか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a fault diagnostic system and method which can determine a test chart to be used for diagnosing a fault that causes an image defect occurring without affecting machine data or job data.例文帳に追加

機械データやジョブデータに影響を及ぼさずに生じる画像欠陥を引き起こす故障を診断する為に用いられるテストチャートを決定できる故障診断システム及び故障診断方法を提供する。 - 特許庁

To realize an information recording method and an information reproducing method capable of enhancing the reliability of data by increasing the correction capability in the burst error of recorded data to be generated by the defect, dust and scratch of a disk.例文帳に追加

ディスクの欠陥やごみ、傷により生じる記録データのバースト誤りでの訂正能力を増加させ、データの信頼性を高めることが可能な情報記録方法、再生方法を実現する。 - 特許庁

To provide a method and a device for processing inspection data, allowing the accurate selection of a critical defect on the basis of the inspection data detected by an appearance inspecting device.例文帳に追加

外観検査装置から検出される検査データを基に、致命性のある欠陥を精度よく、正確に選択できるようにした検査データ処理方法およびその装置を提供することにある。 - 特許庁

An optical image of the same stripe as the stripe where the pseudo defect is determined is acquired again by the line sensor, and the obtained image data can be replaced with image data which is obtained last.例文帳に追加

また、疑似欠陥の判定が行われたストライプと同じストライプについてラインセンサで光学画像を再度取得し、得られた画像データを前回得られた画像データと置き換えることもできる。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device having a function to generate a high performance discriminating means in short period even when few pieces of sample data of defects exist.例文帳に追加

欠陥のサンプルデータが少ない場合においても、短期間で高性能な判別手段を生成する機能を有した欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

At step S11, chip sorting data where a plurality of chips are sorted into four groups based on the presence of a (new) defect and the acceptability of (an integrated circuit) is acquired.例文帳に追加

ステップＳ１１において、（新規）欠陥の有無及び（集積回路の）良・不良に基づき、複数のチップを４分類したチップ分類データを取得する。 - 特許庁

A threshold control circuit 138e detects the viterbi error caused by a defect from the length of data in which the detected viterbi errors are continuously generated.例文帳に追加

しきい値制御回路１３８ｅは検出されたビタビエラーが連続して発生しているデータの長さから欠陥に起因するビタビエラーを検出する。 - 特許庁

To provide an electronic camera capable of preventing a defect of a transmission operation in advance by inhibiting the transmission operation of image data during operations related to photographing.例文帳に追加

撮影関連動作時は画像データの送信動作を禁止することにより、送信動作の不具合を未然に防ぐことができる電子カメラの提供。 - 特許庁

Then, the cluster affected by the same defect from an appearance pattern of past defective cluster is predicted and the data to be recorded on the cluster is alternated.例文帳に追加

そこで過去の欠陥クラスタの出現パターンから同じ欠陥の影響を受けるクラスタを予測し、そのクラスタに記録されるべきデータを交替させる。 - 特許庁

To provide a display panel in which the leakage between a correction wiring and a data signal line due to step defect, in a lighting inspection step, can be detected surely.例文帳に追加

工程不良による修正配線とデータ信号線との間でのリークを点灯検査段階で確実に検出することのできる表示パネルを実現する。 - 特許庁

The defect inspection device inputs the illuminance distribution of the light detected by the detection optical system, and calculates the thresholds by pixels of the detection optical system based upon the input data.例文帳に追加

検出光学系で検出された光の照度分布を取り込み、取り込んだデータを基に、検出光学系の画素毎にしきい値を算出する。 - 特許庁

The buffer memory further stores a defective address of the main memory, and the first data conversion part stores defect information in an address of the first table corresponding to the defective address.例文帳に追加

さらに、バッファメモリは、メインメモリの欠陥アドレスを格納し、第１データ変換部は、欠陥アドレスに対応する第１テーブルのアドレスに欠陥情報を格納する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a mask write-in function can be easily realized even in a system by which relieving defect is performed by data line shift.例文帳に追加

データ線シフトにより不良救済を行う方式においても簡単にマスク書き込み機能を実現できるようにした半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A detection part 6 detects defect of a wiring pattern 11 based on the image data acquired by imaging the printed board 1 using an imaging part 4.例文帳に追加

そして、プリント基板１を撮像部４により撮像して得られた画像データに基づいて検出部６によって配線パターン１１の欠陥を検出する。 - 特許庁

After normalization of a level of a reproduced RF signal, a frequency component of recorded data is eliminated, and plus and minus defect are put in the same quadrant by performing full-wave rectification.例文帳に追加

再生ＲＦ信号のレベルを正規化後、記録データの周波数成分を除去し、全波整流してプラスとマイナスのディフェクトを同一象限にする。 - 特許庁

An image processing device 4 detecting the defect of the panel 1 by processing the image data is installed.例文帳に追加

更に、カメラ３ａ及び３ｂからパネル１の画像データが入力され、この画像データを画像処理してパネル１の欠陥を検出する画像処理装置４を設ける。 - 特許庁

To provide a data driving method and device for a liquid crystal panel that can prevent a boundary line defect between pixel blocks driven in block sequence.例文帳に追加

本発明はブロック順次に駆動される画素ブロック間の境界線不良を防止することができる液晶パネルのデータ駆動方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A EWS2 for analyzing data performs automatically fatal defect automatic extracting processing based on FBM information totalized by a computer 1A for test.例文帳に追加

データ解析用ＥＷＳ２はテスタ用コンピュータ１Ａで集計されたＦＢＭ情報に基づき、致命不良自動抽出処理を自動的に行う。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of replenishing the learning pattern of a neural network and capable of enhancing the recognition ratio to non-learned data.例文帳に追加

ニューラルネットワークの学習用パターンの不足を補い、また、未学習データに対する認識率を高めることができる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

In the fail safe mode, when a defect is detected in verify-operation after data is written in the flash memory, error correction is performed and use of the flash memory is continued.例文帳に追加

フェイルセーフモードでは、フラッシュメモリにデータを書き込んだ後のベリファイ動作において不良を検出すると、エラー訂正してフラッシュメモリの使用は継続される。 - 特許庁

A system control section 18 controls defect discrimination and interpolation processing of a signal processing section 36 of a digital camera 10 to compensate data with respect to a defective pixel.例文帳に追加

ディジタルカメラ10は、システム制御部18により信号処理部36に対する欠陥判定、補間処理の制御を受けて、欠陥画素に対するデータ補償を行う。 - 特許庁

To accurately detect a latent defect due to fluctuation in rotation, etc., of a part of an information recording medium where a data synchronizing signal is recorded.例文帳に追加

情報記録媒体のデータ同期信号が記録される部分での回転変動等に起因する潜在的な欠陥について精度良く欠陥検出をすること。 - 特許庁

The processor (13) is provided with a function for retrieving the analysis data (22, 23) based on the defect information and detecting the failure modes associated with respective defects.例文帳に追加

演算処理装置（１３）には、不良情報を基に解析データ（２２，２３）を検索して各不良と関連付けされた故障モードを検出する機能を付加する。 - 特許庁

This allows the magnetic head to move on the track TR from the point Pst avoiding the defect Def while enabling continued recording of data.例文帳に追加

これにより、磁気ヘッドは地点Ｐstより軌跡ＴＲ上を移動していき、ディフェクトＤefを回避できると共に、データの継続した記録が可能となる。 - 特許庁

One method for binning defects includes binning defects into groups based on defect characteristics and the sets of inspection data in which the defects were detected.例文帳に追加

欠陥をビン分類する一方法は、欠陥の特性、及び、これらの欠陥が検出された検査データの組に基づいて、これらの欠陥をグループにビン分類する。 - 特許庁

To evaluate a defect signal from data in flaw detection tests directly and easily, and to reduce inspection time without being affected by noise generated in lift-off.例文帳に追加

探傷試験時のデータから直接簡便に欠陥信号を評価し、リフトオフ時に生ずるノイズに影響されず、かつ、検査時間の短縮を実現する。 - 特許庁

To provide a cell pack enabled to analyze the cause of defect by recording a data related to the storage deterioration and charging and discharging deterioration of a secondary cell.例文帳に追加

二次電池の保存劣化及び充放電劣化に関与するデータを記録して、不良原因の解析を可能にする電池パックを提供する。 - 特許庁

In the recording and playing back device for a data-rewritable disk recording medium, the information of a PDL (Primary Defect List) is used as a simplified Media ID.例文帳に追加

データを書き替え可能なディスク記録媒体の記録再生装置において、ＰＤＬの情報を、簡易的なＭｅｄｉａ ＩＤとして使用する。 - 特許庁

The first computer 68 performs image processing, based on image data in each color from the CCD line sensor 66 and detects a defect of the CSP tape 16.例文帳に追加

第１のコンピュータ６８は、ＣＣＤラインセンサ６６からの各色毎の画像データに基づいて画像処理を行い、ＣＳＰテープ１６の欠陥を検出する。 - 特許庁

Consequently, when defect inspection of each pixel is performed based upon capacity value data of the pixel during the inspection, the inspection precision can be improved.例文帳に追加

これにより、検査時に、各画素の欠陥検査を各画素における容量値データなどから検出する場合に、検査精度を向上させることを可能とする。 - 特許庁

To avoid loss of learning processing time based on registration of incorrect teacher data, in a defect type discrimination system having a neural network.例文帳に追加

この種のニューラルネットワークを有する欠陥種別判別システムにおいて、誤った教師データを登録することに基づく学習処理時間のロスを回避すること。 - 特許庁

Further, in a review object selection processing 14, the defects are aligned and narrowed from the defect map data with the failure probability and a review object is selected.例文帳に追加

さらに、レビュー対象選出処理１４で、不良確率付き欠陥マップデータから欠陥の整列や絞込みを行い、レビュー対象を選出する。 - 特許庁

The plate patterns 24 and the reference data patterns 26 are compared in the subsequent pattern inspection step S28 and the dissidence of both patterns is defected as the defect patterns.例文帳に追加

その後のパターン検査工程Ｓ２８にて、プレートパターン２４と基準データパターン２６とを比較して、両パターンの不一致を欠陥パターンとして検出する。 - 特許庁