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defect dataの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 958件
To provide an image processing unit that can set a size of received image data and a size of an area for the processing in the unit of pixels and can apply prescribed processing to a set area without the need for a defect of pixels and addition of undesired pixels required substantially even in the occasion.例文帳に追加
入力される画像データのサイズおよび処理を行う領域のサイズを画素単位で設定可能であり、その場合でも本来必要な画素の欠落や不要な画素の付加が発生することなく、設定された領域に対して所定の処理が可能な画像処理装置を提供する。 - 特許庁
When a defect occurs in an optional sector f, and it is decided as the fault sector, plural sectors d, e, f containing the fault sector equal to a data size of a recording or reproducing command for the address of the fault sector sent to an information recording/reproducing device are re-arranged in an alternate area 11.例文帳に追加
任意のセクタfで欠陥が生じ不良セクタと判定した場合、情報記録再生装置に送られた当該不良セクタのアドレスに対する記録又は再生命令のデータサイズと等しい当該不良セクタを含む複数のセクタd,e,fを、交替領域11に再配置する。 - 特許庁
The read or write time of a prescribed quantity of data is measured and is compared with a limit time, and a pertinent area is decided to be defective when the access time exceeds the limit time, and the area is registered in a defect list so that the area cannot be used.例文帳に追加
規定量のデータの読み出しあるいは書き込み時間を計測し、制限時間と比較することにより、アクセス時間が制限時間を超えた場合に該当領域を不良と判定し、ディフェクトリストに登録することにより、該当領域を未使用にすることを可能にする。 - 特許庁
The data analysis part 24, on the basis of the input of extraction condition by the permitted access, extracts information meeting the extraction condition from the image information, the product defect information and the history information to generate a graph showing the extraction result with the image of the component 7 being a graph element.例文帳に追加
データ解析部24は、許可されたアクセスによる抽出条件の入力に基づいて、画像情報、製品不具合情報及び履歴情報から抽出条件を満たす情報を抽出し、部品7の画像をグラフ要素として抽出の結果を示すグラフを生成する。 - 特許庁
To form a passivation layer made of an organic insulating material, thereby to minimize a parasitic capacity generated due to overlapping of a pixel electrode on a gate line and a data line, to smoothly carry out a repair process when disconnection defect occurs, and to improve the production yield of the final product.例文帳に追加
画素電極がゲート配線及びデータ配線と重なることによって発生する寄生容量を最小化するために有機絶縁物質で構成された保護層を形成すると共に、断線不良発生時の修理工程を円滑に進行させ、最終製品の生産収率を向上させる。 - 特許庁
The pattern shape of a wafer without any ground pattern is taken into the database of a pattern defect-inspecting machine as image data (S14) and is compared with the pattern shape of a wafer with the ground pattern, thus specifying a part where the failure in a pattern shape occurs and the exposure energy at that time (S15).例文帳に追加
下地パタンのないウェハのパタン形状を画像データとしてパタン欠陥検査機のデータベースに取り込み(S14)、これと下地パタンを有するウェハのパタン形状を比較することによって、パタン形状の不良が発生する箇所およびそのときの露光量を特定する(S15)。 - 特許庁
The method mounted on one computer includes the determination of the three-dimensional map of a signal-to-noise ratio value to a test piece and data to be acquired for the potential defect of the test piece by the light-scattering inspection system over the entire scattering hemisphere of the inspection system.例文帳に追加
一つのコンピュータに実装された方法は、検査システムの散乱半球全体に亘って、光散乱検査システムによって試験体および試験体の電位欠陥に対して取得されるであろうデータに対して、信号対雑音比値の三次元マップを決定することを含んでいる。 - 特許庁
A deterioration estimated value calculating part 15 calculates the deterioration estimated value of the block under consideration due to the errors based on image quality deterioration power and the data defect probability, and a mode selecting part 17 decides an optimum encoding mode from the deterioration estimated value of the block under consideration and the estimated value of encoding distortion of the frame.例文帳に追加
劣化推定値算出部15は、画質劣化のパワーとデータ欠損確率に基づいて誤りによる注目ブロックの劣化推定値を算出し、モード選択部17は、注目ブロックの劣化推定値およびフレームの符号化歪みの推定値から最適な符号化モードを決定する。 - 特許庁
In particular, data is managed using the information stored in a defect management area in order to maximally prevent occurrence of errors in reading or writing due to a change in a physical position of a real-recorded file which are caused by wrong calculation of the start logical sector numbers for each zone when other recording and/or reproducing apparatus is going to read or write data.例文帳に追加
特に、各ゾーンのための開始論理セクター番号が間違って計算された場合に実際記録されるファイルの物理的な位置が変わって、他の記録及び/または再生装置で読出しまたは書込みしようとする場合、ファイルの位置が間違って読出しエラーや書込みエラーが発生することを最大限防止するために欠陥管理エリアに貯蔵された情報を用いてデータを管理する。 - 特許庁
This hologram product defect detection device is equipped with an imaging part 18 for irradiating inspection light h from the whole direction on the surface side excluding the normal direction to the surface of the hologram product 60, and acquiring image data by imaging light k emitted from the hologram product and proceeding along the normal direction, and a recognition part 38 for recognizing the hologram region based on reference image data.例文帳に追加
本発明のホログラム製品欠陥検出装置によれば、ホログラム製品60の表面に対する法線方向を除く表面側全方向から検査光hを照射し、このホログラム製品から発せられ法線方向に沿って進む光kを撮像して画像データを取得する撮像部18と、基準画像データに基づいてホログラム領域を認識する認識部38とを備える。 - 特許庁
Also, in a classification implementing part 80, the defects of the object to be inspected are hierarchically classified based on the digitized feature information extracted by the feature extracting part 60 from the picture of the defective site of the object to be inspected extracted by the defect extracting part 50 by referring to the data base applied from the data base preparing part 70.例文帳に追加
また、分類実行部80では、上記データベース作成部70により与えられるデータベースを参照して、上記欠陥抽出部50により抽出される検査対象物の欠陥部位の画像から、上記特徴抽出部60により抽出される数値化された特徴情報に基づいて、上記検査対象物の欠陥を階層的に分類する。 - 特許庁
A microcomputer has a read-voltage generating circuit 1 generating read-out voltage V1 and a read-voltage generating circuit 2 generating read-out voltage V2 for detecting defect being slightly higher than voltage V1, data are read out from FLASH EEPROM 6 by either voltage selected by a selecting circuit 4, these data are compared by a comparing circuit 5.例文帳に追加
マイクロコンピュータは、読み出し電圧V1を生成するリード電圧生成回路1と、電圧V1より若干電圧が高い不良検出用読み出し電圧V2を生成するリード電圧生成回路2とを有し、選択回路4によって選択されたいずれかの電圧によりFLASH EEPROM6からデータが読み出され、これらのデータが比較回路5で比較される。 - 特許庁
Then the arithmetic processing unit compares mask pattern inspection data to the mask pattern image data so as to specify a defective portion of the mask pattern, generates positional information of the defective portion, and identifies a tendency of occurrence of the defect on the photomask, based on the positional information and the density information for the respective plurality of small regions.例文帳に追加
そして、前記演算処理部(25)は、前記マスク検査用データ(13)と前記マスクパターン画像データとを比較して前記マスクパターンの欠陥部分(E1〜E4)とし、前記欠陥部分(E1〜E4)の位置情報を生成し、前記位置情報と前記複数の小領域ごとの密度情報([A]〜[C])とに基づいて、前記フォトマスクに発生する欠陥の発生傾向を特定する。 - 特許庁
To provide a tomographic method and apparatus for a piping inspection, which implements an image reconstruction operation from imperfect projection data only in a very small angle range since it is difficult for a conventional CT to obtain required perfect data when an image of plant piping is captured in the field, visualizes a minute defect such as a thickness reduction within a specimen, and generates a high-quality tomographic image.例文帳に追加
現地プラント配管撮影のように、従来CTで必要な完全データの取得が困難であり、非常に小さい角度範囲での不完全投影データのみから画像再構成演算を実施し、被検体内部の浅い減肉のような微小欠陥などを画像化できる高画質な断層画像を作成できる配管検査用断層撮影方法および装置を提供することにある。 - 特許庁
A defect is determined by an image processing unit 232 (image processing unit 332) in the macro inspection camera part 230 (micro inspection camera part 330), the radio communication information frame 600 is transmitted together with a substrate image data of a substrate 30 only when required, a data of the radio-transmitted radio communication information frame 600 is reduced thereby to prevent convergence of a communication band and to attain smooth communication.例文帳に追加
マクロ検査カメラ部230(ミクロ検査カメラ部330)では、画像処理ユニット232(画像処理ユニット332)で欠陥を判別し、必要な場合にのみ、無線通信情報フレーム600に基板30の基板画像データを乗せて送信することで、無線通信される無線通信情報フレーム600のデータを減らして、通信帯域の輻輳を防止し、円滑な通信を実現する。 - 特許庁
The invention includes a defect diagnosis means 5 which diagnoses the defect state of the reforming apparatus by calculating the temperature difference between temperature of the reforming apparatus measured by a temperature sensor 6 for measuring the reforming apparatus and temperature of an outlet of burner burning exhaust gas reforming apparatus detected by a temperature sensor 47 for detecting an outlet temperature of reforming burner burning exhaust gas reforming apparatus, and combining the temperature difference with predetermined reference data.例文帳に追加
本発明は、改質装置温度測定用温度センサ6により検出した改質装置温度と改質装置バーナ燃焼排ガス改質装置出口温度測定用温度センサ47により検出した改質装置バーナ燃焼排ガス改質装置出口温度の温度差を演算し、この温度差を予め決められた照合データと照合することによって改質装置の劣化状態を診断する劣化診断手段5を有することを特徴とするものである。 - 特許庁
Since the threshold value of the transistor which has trapped the hole and the electron in the crystal defect fluctuates, the difference in a drain current due to the fluctuation of the threshold values of a NMOS transistor 201 and a NMOS transistor 202 provided in the storage part 200 is detected by a sense amplifying circuit provided in a SRAM part 100 to read the stored data.例文帳に追加
結晶欠陥に正孔又は電子をトラップしたトランジスタは閾値が変化するので、記憶部200が備えるNMOSトランジスタ201とNMOSトランジスタ202の閾値の変化によるドレイン電流の差をSRAM部100が備えるセンスアンプ回路で検出することにより記憶されたデータの読み出しを行う。 - 特許庁
In the case where the image processing apparatus is a digital compound machine provided with a facsimile application and a printer application in addition to a copy application, or any defect exists in the network environment, image data and bibliographic information stored in a mass storage are selectively transmitted to an external device depending on each application and network environment.例文帳に追加
画像処理装置がコピーアプリケーションに加えて、ファクシミリアプリケーションやプリンタアプリケーション等を搭載したデジタル複合機である場合やネットワーク環境に不具合がある場合、各アプリケーションやネットワーク環境に応じ、大容量記憶装置に記憶されている画像データと書誌情報を外部機器に対して選択的に伝送する。 - 特許庁
To provide a disk reproducing apparatus capable of restoring a focusing servo to a normal state in a short time even when the focusing servo goes out of a track in the vicinity of the end of a data area on a disk while eliminating a problem of the deviation of the focusing servo many times due to the same defect such as a flaw existing on the disk.例文帳に追加
ディスクに存在する傷などの同じ欠陥に起因して何度もフォーカシングサーボが外れるという問題を解消しつつ、ディスク上のデータ領域の終端の近傍でフォーカシングサーボが外れた場合であっても、短時間でフォーカシングサーボを正常に復帰させることができるようにしたディスク再生装置を提供する。 - 特許庁
To provide an image processor which can suppress the occurrence of a prescribed image defect phenomenon and can reproduce a high quality image even if an image data which contain an image in which a prescribed image failure may occur regarding transfer in a transfer process of an electrophotographic process.例文帳に追加
電子写真プロセスにおける転写プロセスでの転写にかかわる所定の画像欠陥事象が発生するような画像を含む画像データを取得した場合であっても、当該所定の画像欠陥事象の発生を抑制し高画質の画像を再現することのできる画像処理装置を提供する。 - 特許庁
The display testing device successively generates a pattern switching on one part per once imaging out of a pixel group of a display equivalent to one pixel of a camera, and uses a display testing method for detecting the defect of a region equivalent to each pixel of the camera from image data for imaging each pattern.例文帳に追加
本発明は、カメラの1画素に相当するディスプレイの画素群のうち一度の撮像につき1箇所のみ点灯するパターンを逐次生成し、各パターンを撮像した画像データからカメラ各画素に相当する領域の欠陥を検出するディスプレイ試験方式を使用することを特徴とするディスプレイ試験装置に関する。 - 特許庁
While the liquid crystal display panel 10 is irradiated with irradiation light from backlight 11 in a display defect detecting section 3, second image data of an interior and the front and back surfaces of the liquid crystal display panel 10 are photographed by a camera 14, and the positions of the bright points of the interior and the front and back surfaces of the liquid crystal display panel 10 are obtained.例文帳に追加
表示欠陥検出部3において、液晶表示パネル10に対してバックライト11による照射光を照射させた状態で、カメラ14により、液晶表示パネル10の内部と表裏面の第2画像データを撮影し、液晶表示パネル10の内部と表裏面における輝点の位置を取得する。 - 特許庁
The repair circuit comprises: a repair address detection part for determining the presence of a defect on the basis of a plurality of test data signals output from a memory block and storing an address corresponding to a memory block determined to be defective; and an anti-fuse part for electrically programming repair addresses stored in the repair address detection part.例文帳に追加
メモリブロックから出力される複数のテストデータ信号によって不良の可否を判断し、不良と判断されたメモリブロックに該当するアドレスを格納するリペアアドレス検出部と、リペアアドレス検出部に格納されたリペアアドレスを電気的にプログラミングするアンチヒューズ部とを備えることを特徴とする。 - 特許庁
Particularly, defect signals are reproduced as the first reproducing signals S5 by turning the first recording region 5 to a data recording region and burst cutting region signals are reproduced as the second reproducing signals S6 by turning the second recording region 6 to a burst cutting region.例文帳に追加
特に、前記第1の記録領域(5)をデータ記録領域とすることによって前記第1の再生信号(S5)としてディフェクト信号を再生するとともに、前記第2の記録領域(6)をバーストカッティング領域とすることによって前記第2の再生信号(S6)としてバーストカッティング領域信号を再生することにした。 - 特許庁
The defect detection method of matrix structure 100 which has structure of grid-like crossing a plurality of gate lines 4a, 4b, 4c and 4d arranged in X-axis direction and a plurality of data lines 3a and 3b arranged in Y-axis direction, which detects point-like defects 11 as linear defects.例文帳に追加
X軸方向に配置された複数のゲート線4a,4b,4c,4dと、Y軸方向に配置された複数のデータ線3a,3bとが格子状に交差している構造を有してなるマトリクス構造100の欠陥検出方法であって、点状欠陥11を線状の欠陥にして検出することを特徴とする。 - 特許庁
In the image-recorded recording medium in which image files each composed of an image data area IA and photographing information area PA are recorded, pixel defect information (X1, Y1) to (X8, Y8) which are inherent to image pickup elements of the digital camera used in photographing is recorded in the area PA.例文帳に追加
画像データ領域IA及び撮影情報領域PAからなる画像ファイルが記録されてなる画像記録済み記録媒体において、撮影で使用したデジタルカメラの撮像素子固有の画素欠陥情報X1,Y1〜X8,Y8が、撮影情報領域PAに記録されてなる画像記録済み記録媒体である。 - 特許庁
A defect correction circuit 5 specifies a defective pixel signal, corresponding to the temperature white flaw contained in a pixel signal Pix that is read out the device 3 in a photographing mode, based on the position data corresponding to the actual environmental temperature and shutter speed set in a photographing mode and then corrects the specified defective pixel signal.例文帳に追加
欠陥補正回路5が、撮影時にCCD撮像素子3から読み出される画素信号Pix中の温度白キズに該当する欠陥画素信号を、その撮影時の実際の環境温度とシャッター速度に対応する上記の位置データに基づいて特定し、その特定された欠陥画素信号について欠陥補正を行う。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus that accurately detects image formation defects such as image omission and blur without the need for pre-register of comparison data for defect detection, and comparing the image of a document composed of letters and images with an image formed by reading and printing of the document.例文帳に追加
異常検出用の比較データを予め登録することなく、文字やイメージで構成された原稿の画像と、この原稿を読み取って印刷形成された画像とを比較し、印刷時における画像抜けやかすれ等の画像形成異常を的確に検出することのできる画像形成装置を提供することである。 - 特許庁
The ATM network element selects the UTOPIA address (UA2) for the function side transmission concentrated sub layer entity (TCS-W) and the protection side transmission concentrated sub layer entity (TCS-P) for transmission so long as an error message indicating a defect in the transmission concentrated sub layer sub network connection is not received and combines data entered to the network element via both the entities.例文帳に追加
ATMネットワーク要素は、TCS SNCにおける欠陥を指示するエラーメッセージが受信されない限り、機能側送信集中サブレイヤエンティティ(TCS-W)あるいは保護側送信集中サブレイヤエンティティ(TCS-P)のUTOPIAアドレス(UA2)を送信のために選択し、更に、両エンティティを経てネットワーク要素に入るデータを合体する。 - 特許庁
When detecting the impossibility of using a trial recording area for obtaining optimal recording/reproducing conditions in the combination of a recording medium with a recorder, trial recording is carried out in a data recording area, and management information including an address pointer indicating the position of the trial recording is recorded in a defect management area.例文帳に追加
記録媒体と記録装置の組み合わせで最適な記録再生条件を求めるための試し記録領域が使用不能と検出された場合に、データ記録領域内に試し記録を行い、試し記録が行われた位置を示すアドレスポインタを含む管理情報を欠陥管理領域に記録するようにする。 - 特許庁
A means 44 is provided for comparing a fatal region pattern 34 which is generated from design data for forming a wiring pattern and shows necessary indispensable regions corresponding to the center of the wiring pattern with an inspected pattern obtained from wiring patterns on an object under test, thereby detecting the defect from the non-coincidence of both patterns.例文帳に追加
配線パターンを形成するための設計データから生成され前記配線パターンの中心部に対応する必要不可欠な領域を示す致命領域パターンと、前記被検査物上の配線パターンから得た検査パターンとを比較して、両パターンの不一致により欠陥を検出する比較手段44を有する。 - 特許庁
To provide an electrolyte measuring device that can conveniently and accurately check the pass/fail of the performance of an electrode caused by the defect of a sensitive film and the deterioration of the electrode and, as a result of it, replace the sensitive film and the electrode based on the life time of the electrode to always get reliable data in the electrolyte measuring device.例文帳に追加
電解質測定装置において、感応膜の不良、電極の劣化等による電極性能の良否を簡便かつ正確にチェックでき、その結果、感応膜の交換、電極寿命に基づく電極の交換ができて、常に信頼性のあるデータが得られる電解質測定装置の提供。 - 特許庁
Relating to an optical disk device performing defect compensation of a linear exchange system, data substituted in a spare region of an optical disk is previously written in a RAM 37 provided for a computer 2 or a RAM 23 provided for an optical disk device 3 in order to prevent frequent movement of a pickup between a user region and a spare region.例文帳に追加
リニア交換方式の欠陥補償を行う光ディスク装置において、ユーザ領域とスペア領域との間のピックアップの頻繁な移動を予防するため、光ディスクのスペア領域に代替させたデータを、コンピュータ2が備えるRAM37又は光ディスク装置3が備えるRAM23に予め読み込んでおく。 - 特許庁
To solve the problem that proper normalization cannot be performed to cause a defect in gradations if a color gamut of a print image and a color gamut of color data supplied to the printer are normalized with a black point as reference when a color value of the black point of the color gamut in the print image printed by the printer is not the darkest value.例文帳に追加
印刷装置で印刷された印刷画像における色域の黒点の色彩値が最暗でない場合に、そのような黒点を基準にこの印刷画像の色域とこの印刷装置に供給される色データの色域とを規格化すると、適切な規格化を行うことができず、階調性に不具合が発生する。 - 特許庁
It has implemented preventative measures which can detect a small defect, such as over 80 operating data points collected from inside its own boilers and sent online to its information center 24 hours a day/365 days a year. This company is putting effort into maintenance work on its boilers with more and better service engineers.例文帳に追加
同社は、自社のボイラー内部より得られる80 以上の運転情報をオンラインで365日24 時間同社の情報センターに収集するなど、細かな異常も察知する予防的対処を実施しており、メンテナンスのためのサービス・エンジニアを拡充するなど、自社製品のメンテナンス業務に力を入れている。 - 経済産業省
The print server reduces the number of image forming devices being a transferee of the data when determining that the image defect is caused (S205), and controls the other print server for executing a separate print job processible in a time up to finishing the print job by a printer unoccupied due to reduction in the number of the printers (S206).例文帳に追加
プリントサーバは、画像欠損が生じると判定された場合、データの転送先である画像形成装置の台数を減少させるとともに(S205)、上記プリントジョブが終了するまでの時間内に処理可能な別のプリントジョブを台数の減少により空いたプリンタで実行させるべく、他のプリントサーバを制御する(S206)。 - 特許庁
To provide an exposure correction operation device which calculates the extent of correction for correcting the intensity of a light beam so as to accurately suppress an exposure defect caused by flare or the like in an exposure device which modulates the intensity of the light beam in accordance with picture data and irradiates a photosensitive material by the light beam to expose a picture.例文帳に追加
画像データに応じて光ビームの強度を変調させて感光材料に照射し、画像の露光を行う露光装置において、フレアなどによる露光不良を的確に抑制するように、光ビームの強度を補正するための補正量を算出する露光補正演算装置を提供する。 - 特許庁
To provide a visual inspection method which digitizes the position of a defect found in a visual inspection of a construction work on the spot to be specified and writes it on a conventional inspection sheet to enable implementation of correction work only by using the inspection sheet and promote conversion of inspection results into electronic data.例文帳に追加
本発明は、建築工事の目視検査で発見された不具合の位置をその場で数値として特定する目視検査方法であり、その数値を従来の検査シートに取り込もことにより、検査シートだけで是正工事の推進を可能とすると共に、検査結果の電子データ化を促進するものである。 - 特許庁
In order to detect a defect of the image formed on the recording medium efficiently, an image setting mode and post processing mode are decided from received information together with the image data, an inspection area needing inspection is decided in accordance with the decided mode, and a time for inspection is reduced by inspecting the inspection area only.例文帳に追加
記録媒体上に形成された画像の欠陥を効率的に検出するために、画像データとともに受信した情報から画像設定モードおよび後処理モードを判別し、判別したモードに応じて検査を必要とする検査領域を決定し、その検査領域だけを検査することで検査時間を短縮する。 - 特許庁
The presence of the outer layer defects which are needed to remove is judged on the basis of the repair standard which is beforehand determined about the outer layer defect data of the cast slab obtained by specifying the three-dimensional position and the size of the outer layer defects in the cast slab and the outer layer defects which are needed to remove are removed in a cast slab repairing stage.例文帳に追加
鋳片における表層欠陥の三次元位置および大きさを特定し、得られた鋳片表層欠陥データについて、予め定められた手入基準に基づき除去を必要とする表層欠陥の有無を判別し、除去を必要とする表層欠陥を鋳片手入工程で除去する。 - 特許庁
Sensors 22-1-22-3 sense a motion of each actuator, each robot controller 20 transmits the motion to the multi-point connector 10, where ranking is made, the result is sequentially transmitted to the server 11 without crosstalk, the server 11 monitors the motion, transmits data to correct a defect as required, and each robot controller 20 rebuilds up its own program.例文帳に追加
各アクチュエータの動きは各々のセンサ22−1〜22−3により検出されロボット制御装置10を介して多地点接続装置10へ送られ、順位付けが行われ、混信しないように順次サーバ11へ送られ、サーバ11で監視され、必要に応じて不具合修正のデータを送出し、自己のプログラムを再構築する。 - 特許庁
A determination part computes an overall rank as an integrated index from each rank and determines whether the occurrence possibility of a product defect is high (step S70), based on the overall rank, and a storage part stores the information from which the factors are extracted in a data server as the information relating to the claim handling operation (step S90), based on the determination result.例文帳に追加
そして、判定部は、各ランクから統合指標としての総合ランクを算出し、当該総合ランクに基づいて、製品に不具合が発生している可能性が高いか否かを判定し(ステップS70)、その判定結果に基づいて、格納部が、要素を抽出した情報をクレーム対応業務に係る情報としてデータサーバに格納する(ステップS90)。 - 特許庁
After the detection of the joint defective pixel, the defect determination of the joint pixel adjacent to the downstream side of a read-out direction of a data bas line of the detected joint defective pixel is performed preferentially by the joint defective pixel detection part 23 to thereby monitor properly the joint defective pixel which is the defective pixel after joint processing.例文帳に追加
そのビニング欠損画素の検出後に、検出されたビニング欠損画素のデータバスラインの読み出し方向の下流側に隣接するビニング画素の欠損判断を優先的にビニング欠損画素検出部23は行うことで、ビニング処理後(結合後)の欠損画素であるビニング欠損画素(結合欠損画素)を適正に監視することができる。 - 特許庁
To favorably cope with replacement of a defective block with an alternative block without occurring discontinuity of reproduced data such as sound interruption without adding a high-speed CPU (hardware) or high-speed large capacity memory (without increasing device cost) in an information reproduction control method of information recording medium which has a defect management function.例文帳に追加
欠陥管理機能を有する情報記録媒体の情報再生制御方法において、高速なCPU(ハードウェア)や高速大容量メモリを追加しなくても(装置のコストをアップさせることなく)、音切れなどの再生データの不連続性を発生させることなく、欠陥ブロックの代替ブロックへの置き換えに良好に対応できるようにする。 - 特許庁
To provide a detection method and a detection apparatus of stain defects that have high detection output also for a defect having a low contract or a small size, automatically determine a threshold for detection as the stain defects, based on statistical brightness data in a detected image, and further achieve the quantitative evaluation of the detected stain defects.例文帳に追加
コントラストの低い、あるいはサイズの小さい欠陥に対しても高い検出力を有するとともに、シミ欠陥として検出するための閾値を検出画像内の輝度統計データに基づいて自動的に決定し、さらに検出されたシミ欠陥の定量評価を可能にしたシミ欠陥の検出方法及びその検出装置を提供する。 - 特許庁
In a semiconductor memory provided with a redundant circuit replacing the defective cell existing on a memory cell array by a redundant cell and relieving the defect, data DQ0-DQ15 of plural bits externally given are written into a memory cell in a memory cell array 30 by a write circuit 40, and read out from the memory cell array 30 by a read circuit 50.例文帳に追加
メモリセルアレイ上に存在する不良セルを冗長セルで置換して欠陥を救済する冗長回路を備えた半導体記憶装置において、外部から与えられる複数ビットのデータDQ0〜DQ15を書き込み回路40によりメモリセルアレイ30内のメモリセルに書き込み、これを読み出し回路50によりメモリセルアレイ30から読み出す。 - 特許庁
A shifter circuit 10A controls a connection relation among global data input/output lines GIOQm GION and GIOSO according to control signals SA0 to SA3 generated from a high order address FA<3:2> for specifying a normal column block NC1 including a defect memory cell MCA and a spare column block enable signal FAE, and performs saving based on shift redundancy.例文帳に追加
シフタ回路10Aは、不良メモリセルMCAを含むノーマルカラムブロックNC1を特定する上位アドレスFA<3:2>とスペアカラムブロックイネーブル信号FAEとから生成された制御信号SA0〜SA3に応じてグローバルデータ入出力線GIOQとGIONおよびGIOS0との接続関係を制御し、シフトリダンダンシによる救済を行なう。 - 特許庁
The decoder can avoid the occurrence of an unexpected defect through carelessness at the time of transferring data by setting the clock used at the time of transferring a transport stream from external equipment received by means of a digital interface means 20 to a decoding means 14 at the clock speed corresponding to such a transport stream that can be inputted through the interface means 20 and has the most fast transmission speed.例文帳に追加
ディジタルインターフェース手段20で受信した外部機器からのトランスポートストリームを復号処理手段14に転送する際に用いられるクロックを、ディジタルインターフェイス手段20を介して入力可能な最も伝送速度の速いトランスポートストリームに対応したクロックスピードに設定することにより、データの転送取りこぼしを回避し得る。 - 特許庁
A defect correction unit 330 detects respective edges of a first image formed by the pixel values of image generation pixels and a second image formed by the pixel values of phase difference detection pixels among pixel values included in image data generated by an image pickup apparatus comprising plural image generation pixels and plural pairs of phase difference detection pixels.例文帳に追加
欠陥補正部330は、画像生成画素と一対の位相差検出画素とのそれぞれを複数備える撮像素子により生成される画像データに含まれる画素値のうち前記画像生成画素の画素値により形成される第1像と、前記位相差検出画素の画素値により形成される第2像とのそれぞれのエッジを検出する。 - 特許庁
A striped pattern of the phosphor formed on the substrate is imaged, and the direction of the striped pattern of the phosphor is detected from an image signal acquired by imaging, and image data on at least two spots related to the direction of the pattern from the image signal are compared, and the defect of the pattern is detected based on the comparison result.例文帳に追加
基板上に形成された蛍光体のストライプ状パターンを撮像し、撮像により得られる画像信号から上記蛍光体のストライプ状パターンの方向を検出し、上記画像信号から上記パターンの方向に関連付けられた少なくとも2箇所の画像データを比較し、上記比較結果に基づいて上記パターンの欠陥を検出することからなるパターン欠陥検査方法。 - 特許庁
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