「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

To stably grow an Si single crystal having no defective region by clearly detecting the type of a defective region or a defect-free region of an Si single crystal grown with a certain pull speed profile and feeding back such data for the subsequent pulling.例文帳に追加

ある引き上げ速度プロファイルで育成されたSi単結晶の欠陥領域あるいは無欠陥領域のタイプを明確に検出し、このデータを次の引き上げにフィードバックすることよって、欠陥領域のないSi単結晶を安定して育成する。 - 特許庁

An imaging device composed of the imaging element images a standard sample which illuminates nearly uniformly to obtain a 1st image and detects a pixel defect position of the imaging element from video data of the 1st image of the standard sample.例文帳に追加

撮像素子からなる撮像装置で、ほぼ均一に発光する標準試料を撮像し、第１の画像を撮像し、上記撮像された標準試料の第１の画像の映像データから上記撮像素子の画素欠陥位置を検出する。 - 特許庁

To provide a defect-inspecting apparatus that dispenses with the rotating mechanism of a color filter inside a camera, eliminates the rotation waiting time of the filter, minimizes image capturing and image data transfer of a high-resolution camera, and reduces the inspection time.例文帳に追加

カメラ内部にカラーフィルタの回転機構を不要にして、フィルタの回転待ち時間が無くなるようにすると共に、高解像度カメラの画像撮像と撮像データ転送は最小限にし、検査時間の短縮を実現した欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a process/production management device which can collect various pieces of management data on total man-hours, the number of nondefecture articles and a defect rate on a real time basis and can precisely and clearly manage process/production and to provide a process/production management method using the device.例文帳に追加

延べ工数、良品数、不良率等々、種々の管理データをリアルタイムに収集でき、正確で明瞭な工程／生産管理を行うことができる、工程／生産管理装置およびそれを用いた工程／生産管理方法を提供する。 - 特許庁

When the number of reproduction retry times reaches a prescribed reference value in a continuous reproduction mode, a controller 5 detects a sector which a head part 3 accesses to be a candidate defect sector and writes data in the DMA of a magneto-optical disk 100.例文帳に追加

連続再生モードにおいて、再生リトライの回数が予め設定された基準値に達した場合に、コントローラ５が、ヘッド部３がアクセスしているセクタを欠陥候補セクタとして検出し、光磁気ディスク１００のＤＭＡに書き込む処理を行う。 - 特許庁

To provide a method for detecting defects of a welding gun for a capacitor discharge type stud welding, enabling visual capturing, being capable of carrying out data inspection and being capable of exactly detecting defects in action of the welding gun, and also to provide a defect detection device.例文帳に追加

視覚的に捉えることができ、データ的点検が可能で、しかも正確に溶接ガンの作動良否の判定を行うことができるコンデンサ放電型スタッド溶接用溶接ガンの良否判定方法及び良否判定装置を提供する。 - 特許庁

Convolutions 88 and 100 of the economical data and the statistical model of the defect rate of the product are calculated to find an effective cost 148 of the product and an effective sales price 140 of an exchange product for the defective product.例文帳に追加

本技術では、経済学的データと製品の欠陥率の統計モデルのコンボルーション（８８、１００）を計算して、製品の効果的なコスト（１４８）と欠陥製品に対する交換製品の効果的な販売価格（１４０）を見出すことができる。 - 特許庁

An ROP pattern detecting part 10 monitors a plotting object which is inputted to a plotting data input part 2, and detects ROP patterns in the single plotting object where the defect occurs by the ROP processing, or the plurality of continuous plotting objects.例文帳に追加

ＲＯＰパターン検知部１０にて、描画データ入力部２に入力された描画オブジェクトを監視し、ＲＯＰ処理により不具合が生じる単独の描画オブジェクト、または複数の連続する描画オブジェクトのＲＯＰパターンを検知する。 - 特許庁

In this defect detection device 1, two-dimensional image data of a swath which is a belt-like domain corresponding to one divided pattern among a plurality of divided patterns acquired by dividing a unit pattern on one die on a substrate 9 are acquired.例文帳に追加

欠陥検出装置１では、基板９の１つのダイ上において、単位パターンを分割して得られる複数の分割パターンのうち、１つの分割パターンに対応する帯状の領域であるスワスの２次元の画像データが取得される。 - 特許庁

A CPU 32 sets 1st addresses being different from each other in accordance with each check object bit check the existence/absence of a defect in each bit of an address of a RAM 36 and writes 1st data being different from each other in each of the addresses.例文帳に追加

ＣＰＵ３２は、ＲＡＭ３６のアドレスの各ビット毎に不良の有無を調べるために、各チェック対象ビットのそれぞれに対応して互いに異なる第１のアドレスを設定して、それぞれのアドレスに互いに異なる第１のデータを書き込む。 - 特許庁

A defect classification defining section 221 defines a region that classifies defects on a surface of the inspected device, by using layout design data corresponding to a layer formed on the inspected device and a layer formed in an upper layer or lower layer thereof.例文帳に追加

欠陥分類定義部２２１は、被検査デバイスにそのとき形成されているレイヤおよびその上層または下層に形成されたレイヤに対応するレイアウト設計データを用いて、被検査デバイスの表面に欠陥を分類する領域を定義する。 - 特許庁

When reproducing an optical disk 100 or recording data on it, the FE signals are transmitted to the delay block 107 if the defect detecting signal is off (L), and the delay block 107 supplies the FE signals to the LPF 101 after holding them for a predetermined period.例文帳に追加

光ディスク１００再生中または記録中において、ディフェクト検出信号がオフ（Ｌ）の場合、ＦＥ信号が遅延ブロック１０７に伝送され、遅延ブロック１０７はＦＥ信号を一定時間保持した後、これをＬＰＦ１０１に伝送する。 - 特許庁

A determining portion 6 determines the presence of defect in a sentence in the input document data, that is, the paragraph for establishing grammatically correct sentence is not described, when the paragraph corresponding to a route of the syntax tree indicating a result of syntax analysis is not found.例文帳に追加

判定部６は構文解析結果を示す構文木のルートに対応する文節がない場合には、入力文書データ中の文に欠損がある、つまり文法上の正しい文として成立するための文節が記述されていないと判定する。 - 特許庁

After a CPU 102 writes data to a memory cell in a memory cell array 103, the data are read and verified and when the data are discrepant, the CPU supplies a phase program signal FP to a phase program part 109, which programs a defective address in a phase part and substitutes a spare memory for the memory cell where the defect occurs according to the address programmed in the phase part.例文帳に追加

ＣＰＵ１０２からメモリセルアレイ１０３中のメモリセルにデータを書き込んだ後、このデータを読み出してベリファイを行い、不一致のときに上記ＣＰＵからフューズプログラム部１０９にフューズプログラム信号ＦＰを供給し、上記フューズプログラム部でフューズ部に不良アドレスをプログラムし、上記フューズ部にプログラムされたアドレスに基づいて、不良が発生したメモリセルをスペアメモリセルに置換することを特徴としている。 - 特許庁

This circuit is provided with a memory 10 provided with an additional memory cell for storing defective data bit information on a memory cell, a comparing circuit 20 comparing output data DATO of the memory 10 with its expected value EXP for each data bit, and a BIST circuit 30 generating a required and sufficient test input pattern for detecting the defect of memory cells constituting the memory 10 and the expected value EXP and controlling test sequence.例文帳に追加

メモリセルの不良データビット情報を格納するための付加メモリセルを備えたメモリ１０と、そのメモリ１０の出力データＤＡＴＯとその期待値ＥＸＰをデータビットごとに比較する比較回路２０と、そのメモリ１０を構成するメモリセルの不良を検出するために必要十分なテスト入力パターンおよび上記期待値ＥＸＰを発生しテストシーケンスをコントロールするＢＩＳＴ回路３０とを備えた。 - 特許庁

The control method of an image forming apparatus comprises step S10 for receiving document image data and holding it in a storage section, and step S22 for making the image forming apparatus to form an image based on the document image data held in the storage section if a defect exists in a print result image formed by the image forming apparatus based on the document image data.例文帳に追加

原稿画像データを受信し、受信された原稿画像データを記憶部に保持させるステップＳ１０と、画像形成装置において原稿画像データに基づいて画像形成された印刷結果画像にディフェクトが存在した場合に記憶部に保持されている原稿画像データに基づいて画像形成装置に画像を形成させるステップＳ２２とを含む制御方法により上記課題を解決できる。 - 特許庁

On the basis of data of defect inspection obtained in a process for forming a circuit pattern in a wafer 1 and of the shape of a circuit pattern wherein a poor conductive region 7a is found by a VC inspection, when performing DSA by using the data of VC inspection after forming the circuit pattern, a rectangular DSA region 8 is formed so as to surround the circuit pattern.例文帳に追加

ウェハ１に配線パターンを形成する過程で得られる欠陥検査のデータと、配線パターン形成後のＶＣ検査のデータを用いてＤＳＡを行う際、ＶＣ検査によって導通不良領域７ａが見つかった配線パターンの形状を基に、その配線パターンを囲むようにして矩形形状のＤＳＡ領域８を設定する。 - 特許庁

The irradiation position of the electron beam and the mounting base are relatively moved, data obtained by relating the detection result of the emitted secondary electrons to the irradiation position of the electron beam on the wafer W in the entire inspection object region of the wafer W are acquired, and presence of a defect where a part that should be a conductive part becomes an insulation part is inspected based on the data.例文帳に追加

電子線の照射位置と載置台とを相対的に移動させて、ウエハＷの検査対象領域全体において、放出された２次電子の検出結果と、ウエハＷ上の電子線の照射位置とを対応付けたデータを取得し、このデータに基づいて、導電部であるべき部位が絶縁部となっている欠陥の有無を検査する。 - 特許庁

In the system, image data obtained by photographing the bad place of a substrate determined to be defective by visual examination is stored in a memory medium as a work unit and the image stored in the memory medium is successively displayed on a monitor screen in a process separate from a visual examination process to perform only the input work of the defect classification data.例文帳に追加

目視検査で不良と判断された基板の不良箇所を撮影した画像データを、記憶媒体に作業単位に保存しておき、目視検査工程とは別工程で、記憶媒体に保存された画像を順にモニター画面に表示することにより不良区分の入力作業だけを行うことを特徴とする不良分類システム。 - 特許庁

The surface defect evaluation device evaluates surface defects of a measurement object, on the basis of measurement point data and reference point data, after aligning the measurement point and the reference point, on the basis of the sequential convergence processing for the sequential convergence of the distance between the measurement point of the measurement object and the reference point, corresponding to a reference surface shape of the measurement object.例文帳に追加

測定対象物の測定点と測定対象物の基準表面形状に対応する基準点との間の距離を逐次収束させる逐次収束処理に基づいて前記測定点と前記基準点とを位置合わせした後の測定点データと基準点データとに基づいて測定対象物の表面欠陥を評価する。 - 特許庁

This image processing part 13 is provided with an addition circuit part for adding the data of differential images, which are processed similarly while changing lighting line sequentially, and a discrimination circuit part for discriminating whether or not the added data of the differential images continuously exceed a threshold, and when it is higher than a specified value, to detect it as a defect.例文帳に追加

同時にこの画像処理部１３では点灯ラインを順次変えて同様に処理された微分画像のデータを加算する加算回路部１３Ｃを備え、加算した微分画像のデータが連続してしきい値以上となるか否かを判別する判別回路部１３Ｄを設け、所定値以上である場合に欠陥として検出する（Ｓ１９）。 - 特許庁

To provide a method, a device and a program for checking and processing index compatibility of a database to enable compatibility check of a database even when problems such as destruction and a defect are generated in the index itself and to specify/detect a destructed place of data structure.例文帳に追加

インデクス自体に破壊や欠損などの問題が生じている場合であってもデータベースの整合性チェックを可能とし、データ構造の破壊個所を特定・検出するデータベースのインデクス整合性チェック処理方法および装置およびプログラムを提供することにある。 - 特許庁

Data obtained by narrowing down the correction objects much more is generated by a computer or a work station and is downloaded to a correction device, and thus the conventionally used correction device is utilized to improve the defect correction efficiency of the display device.例文帳に追加

さらに、コンピュータまたはワークステーションによって修正対象をより絞り込んだデータを作成し、修正装置にダウンロードすることによって、従来から用いられている修正装置を利用して、表示装置の欠陥修正効率を向上させることができる。 - 特許庁

A workpiece inspection apparatus synchronizes imaging timing with a tooth part W1 of a workpiece W based on a reference pulse PA, performs image processing for obtaining a difference between a captured k-th image (k is an integer) and a (k+1)-th image, and detects a defect based on the difference data.例文帳に追加

基準パルスＰＡに基づいてワークＷの歯部Ｗ１と撮像タイミングとを同期させ、撮像したｋ（ｋは整数）番目の画像と（ｋ＋１）番目の画像との差分を得る画像処理を行い、差分のデータに基づいて欠陥を検出するようにした。 - 特許庁

To enable an analysis to hardware-like troubles to be performed by accumulating data for tracking at which step a defect in the hardware is generated in a course of a printer from the receipt of a printing job to the discharge of a printing paper from the printer.例文帳に追加

プリンタが印刷ジョブを受け付けてからプリンタから用紙が排出されるまでの経路において、どのステップでハードウェア上の欠陥が発生しているかを追跡するためのデータを蓄積することにより、ハードウェア的な障害に対しての解析を可能にする。 - 特許庁

An information recording medium is provided with a first spare region 102 including a spare sector to be substituted for a defective sector, a defect control information region 101 controlling substitution of a spare sector for a defective sector, and a volume space 100a in which user data can be recorded.例文帳に追加

情報記録媒体は、欠陥セクタを代替するスペアセクタを含む第１スペア領域１０２と、欠陥セクタからスペアセクタへの代替を管理する欠陥管理情報領域１０１と、ユーザデータを記録可能なボリューム空間１００ａとを備えている。 - 特許庁

To provide a magnetic resonance imaging apparatus with which a position of a tomogram can be shifted by a BO shift and an influence of a fat suppression defect or the like can be reduced without a major modification of a hardware such as an iron shim or the like, and a magnetic resonance imaging data processing method.例文帳に追加

鉄シム等のハードウェアを大幅に改修することなく、Ｂ０シフトによる断層画像位置のシフトや脂肪抑制不良等の影響を低減させることが可能な磁気共鳴イメージング装置および磁気共鳴イメージングデータ処理方法である。 - 特許庁

The information recording medium includes: a first spare area 102 including a spare sector in substitution for a defective sector; a defect management information area 101 for managing the substitution of the defective sector by the spare sector; and a volume space 100a in which user data can be recorded.例文帳に追加

情報記録媒体は、欠陥セクタを代替するスペアセクタを含む第１スペア領域１０２と、欠陥セクタからスペアセクタへの代替を管理する欠陥管理情報領域１０１と、ユーザデータを記録可能なボリューム空間１００ａとを備えている。 - 特許庁

The computer 16 functions as a means for storing reference data as a reference for detecting the color difference and defects in the printed material 12, a means for detecting the defect, a means for inspecting the color differences and a means for correcting misregistration of the printed material 12.例文帳に追加

コンピュータ１６は、印刷物１２の色差および欠点の欠陥を検出するための基準となる基準データを記憶する手段、欠点を検出する手段、色差を検査する手段、および、印刷物１２の位置ずれを補正する手段として機能する。 - 特許庁

A first binary image value is outputted if the image address does not match the defect image address of each original image, otherwise the difference value is analyzed for '1' or '0' and the timing for outputting the first or second image data is determined.例文帳に追加

この画像アドレスが元の各画像の欠陥画像アドレスと一致しないときは第１の二値画像値が出力され、アドレスが等しいときは差値が「１」または「０」に対して解析されて第１または第２の画像データがいつ出力されるべきかを決定する。 - 特許庁

To suppress an image density variation due to the deviation of recording positions between dots recorded by different passes and to reduce an image defect due to a stripe while reducing the load of data processing when a recording element group is recorded by M (M is integer of 3 or more) times of relative movement.例文帳に追加

記録素子群をＭ（Ｍは３以上の整数）回の相対移動により記録を行う場合、データ処理の負荷を低減しつつも、異なるパスで記録されるドット同士の記録位置ズレによる濃度変動を抑制し、スジによる画像弊害を軽減する。 - 特許庁

A comparison value is extracted from digital data inside the inspection standard area and the inspection objective area by a comparison value extracting means 19 and an existence of a defect is detected by a comparing part 20 on the basis of this comparison value and a predetermined threshold value.例文帳に追加

そして、比較値抽出手段１９によって検査基準領域内および検査対象領域内におけるデジタルデータから比較値が抽出されると、比較手段２０によって、その比較値と所定の閾値とに基づいて、欠陥の有無が検出される。 - 特許庁

A processing data is prepared in advance for a material and a diameter of a wire electrode in use and a material and a predetermined machining allowance in the thickness of the respective workpieces to be worked by recording an average pulse current value to prevent defect from happening on the workpieces relative to the predetermined machining allowance S.例文帳に追加

予め使用するワイヤ電極の材質と径および加工する被加工物の材質と板厚における所定の取り代毎に前記各取り代に対する被加工物に欠損が発生しない平均加工電流値を記録して加工データを準備しておく。 - 特許庁

To provide a communication apparatus and the like, which have resolved a defect caused by overloading in an auxiliary storage by the arrangement such that image data for transmission stored in the auxiliary storage can be automatically deleted in a communication apparatus provided with a function of changing the resolution for retransmission.例文帳に追加

解像度変換再送機能が搭載され通信装置において、補助記憶装置に滞留している送信画像データを自動的に削除できるようにして、補助記憶装置の容量オーバーによる不具合を解消した通信装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a defect, capable of recalculation by collecting image data for a product currently on a production line even during a continuous inspection, without giving influence to an inspection tact and without stopping the line, and capable of evaluating ability of an inspection machine itself.例文帳に追加

連続検査中においても、その検査タクトに何も影響を与えること無く、またラインを止まることなく、現在流れている製品の画像データを集収し、再計算することができ、検査機自身の能力を評価することを目的とする。 - 特許庁

To provide an optical member inspection device having the capability of reasonably grouping a plurality of extracted elements having the same defect factors and separated at a binarization process after binarizing image data obtained by photographing an optical member as an inspection object.例文帳に追加

検査対象光学部材を撮像して得られた画像データを２値化した後で、同一の不良要因に起因しているが二値化の過程で分離されてしまった複数の抽出要素を合理的にグループ化することができる光学部材検査装置を、提供する。 - 特許庁

A CDS circuit 100 samples a small signal outputted from a pixel with a small storage amount of signal charges by emitting R and B rays to the solid-state image pickup element provided with a complimentary color checkered filter so as to discriminate presence or absence of a transfer defect from the sampled data.例文帳に追加

補色市松フィルタを配置した固体撮像素子にＲ光やＢ光を照射して、信号電荷の蓄積量の小さい画素から出力される小信号をＣＤＳ回路１００でサンプリングし、そのデータ値から転送欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

When a SYNC pattern is composed of six symbols, the SYNC pattern and read data are made to 6C2=15 sorts of groups G1 to G15 composed of four symbols including a symbol overlapping a part of other groups and collated in a group unit in order to correspond to, e.g. a defect being ≤2 symbols.例文帳に追加

ＳＹＮＣパターンが６シンボルから構成されているときに、例えば２シンボル以下のディフェクトに対応するために、他の一部のグループと重複するシンボルを含む４シンボルからなる_6Ｃ_2 ＝１５通りのグループＧ１〜Ｇ１５に、当該ＳＹＮＣパターン及びリードデータをグループ分けして、グループ単位で照合する。 - 特許庁

Based on the displacement quantity of both patterns to be obtained by measuring an alignment mark for a light shielding pattern and an alignment mark for the phase shift pattern, displacement quantity of pieces of design data of both patterns is compensated and pattern defect inspection of a pattern to be inspected is performed on the basis of a reference pattern obtained by compensation of the displacement quantity.例文帳に追加

遮光パターン用のアライメントマークと位相シフトパターン用のアライメントマークを計測して得られる両パターンの位置ずれ量に基づき、両パターンの設計データの位置ずれ量を補正し、それにより得られた参照パターンを基準として披検査パターンのパターン欠陥検査を行う。 - 特許庁

Therefore, even when it is required that an internal address signal is supplied to a defective data storing memory 22 and an input address signal is supplied to a defect history storing memory 24, the requirement can be realized by only one time test without performing test for two times.例文帳に追加

そのため、不良データ格納メモリ２２に内部アドレス信号を供給し、不良履歴格納メモリ２４に入力アドレス信号を供給する要求がある場合であっても、２度の試験を行うことなく、１度の試験により、上記要求を実現することが可能となる。 - 特許庁

To provide a defect inspection method that can appropriately control a charge amount of a surface of a sample even when the irradiation current value for enlarging the throughput or the like is increased, obtains clear image data with small distortion, and can perform an inspection with high reliability.例文帳に追加

スループットを大きくする等のため照射電流値を増加する場合にも試料表面の帯電量を適切に制御することができ、歪の小さい鮮明な画像データが取得され、信頼性の高い検査を行うことができる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

When a laser beam is irradiated on the optical disk and data is reproduced, an irradiation light quantity detecting signal suited to light quantity of the laser beam irradiating the optical disk is output, and defect of the optical disk is detected based on this irradiation light quantity detecting signal.例文帳に追加

本発明では、レーザビームを光ディスクに照射してデータを再生する際、光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力し、この照射光量検出信号に基づいて光ディスクの欠陥検出を行うこととする。 - 特許庁

The inspection device allows defective image during inspection to be displayed, by searching similar defects on images in case of a plurality of sheets of defective data, performing trend display of a search result, displaying a defective map by designating a sheet on the trend, and designating a defect on the defective map.例文帳に追加

複数枚の欠陥データの場合には、画像上で類似の欠陥を検索、検索結果をトレンド表示すること、トレンド上の１枚を指定することでその欠陥マップを表示し、欠陥マップ上の欠陥を指定することで検査時の欠陥画像の表示を可能とする。 - 特許庁

To create a high-definition tomographic image capable of narrowing an operating range of an apparatus, obtaining a wide range of projection data, and imaging a minute defect, and the like in piping even in a narrow piping perimeter when photographing field plant piping.例文帳に追加

本発明の目的は、現地プラント配管を撮影する際に、配管周囲が狭隘な状況においても、装置の動作範囲を小さくしつつ、広範囲の投影データを取得し、配管内部の微小欠陥などを画像化できる高画質な断層画像を作成することにある。 - 特許庁

In the third inspection process, the solid-state imaging device is inspected per predetermined range set in advance, and the number of peculiar pixels within each range is counted, and at the same time, the sum of brightness data of the individual peculiar pixels within each range is calculated as a defect level.例文帳に追加

第３検査工程では、予め設定されている所定範囲ごとに固体撮像素子の検査が行われ、この所定範囲内の特異画素の個数が計数されると同時に、この所定範囲内の各特異画素の輝度データの合計値が欠陥レベルとして算出される。 - 特許庁