「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

An image signal from a receiver board 23 is processed by a data processing board 25, and image data on a defect is sent to a defect-image display device 15.例文帳に追加

レシーバボード２３からの画像信号をデータ処理ボード２５で処理して、欠陥の画像データを欠陥画像表示装置１５に送る。 - 特許庁

RECORDING MEDIUM STORED WITH DEFECT MANAGEMENT INFORMATION FOR RECORDING REAL-TIME DATA, DEFECT MANAGING METHOD THEREFOR, AND RECORDING METHOD FOR REAL-TIME DATA例文帳に追加

リアルタイムデータを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体、その欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法 - 特許庁

RECORDING MEDIUM TO STORE DEFECT CONTROL INFORMATION FOR RECORDING REAL TIME DATA, DEFECT CONTROL METHOD THEREOF, AND REAL TIME DATA RECORDING METHOD例文帳に追加

リアルタイムデ—タを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体、その欠陥管理方法とリアルタイムデ—タの記録方法 - 特許庁

For a post script file and a text file, since the data defect is fatal, it is judged that the retransmission is required at the time of the data defect.例文帳に追加

ポストスクリプトファイルやテキストファイルはデータの欠損が致命的であるため、データ欠損時には再送が必要であると判定する。 - 特許庁

Based on this synthesized data, crown data which supplements a defect portion and the occlusion data of a crown which crown data show are formed.例文帳に追加

この合成データに基づいて、欠損部分を補綴する歯冠データ、及び歯冠データが示す歯冠の咬合データを生成する。 - 特許庁

After a defect map data read step 11 and a failure rate distribution data read step 12 are executed, non-fatal defects are removed in a defect map data filtering step 13 by using these data.例文帳に追加

欠陥マップデータ読込みステップ１１，不良発生率分布データ読込みステップ１２を行い，これらデータを用いて欠陥マップデータのフィルタリングステップ１３で，非致命欠陥を除外する。 - 特許庁

Two kinds of defect detection data acquired by performing defect detection in different conditions are stored in a storage device.例文帳に追加

記憶装置に、異なる条件で欠陥検出が行われた２種類の欠陥検出データが記憶される。 - 特許庁

Next, processing 45 is performed for excluding fine defects to narrow down defect data as a target of defect analysis.例文帳に追加

次に、微小欠陥を除外する処理４５を行い、欠陥解析の対象とする欠陥データを絞り込む。 - 特許庁

In an analytical database 9, defect-shape recognized data obtained by a defect-shape recognition part 8 and defect shape data obtained by the generation part 11 are stored.例文帳に追加

解析データベース９には不良形状認識部８によって得られた不良形状認識済みデータと不良発生部１１によって得られた不良形状データとが蓄積される。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suppressing a defect data amount to be managed without impeding acquisition of a defect generation state on a substrate to be inspected.例文帳に追加

被検査基板における欠陥発生状況の把握を妨げることなく、管理すべき欠陥データ量を抑制できる欠陥検査装置の提供。 - 特許庁

To detect a defect around a synchronization mark with one write operation in a defect testing method for testing a defect in a synchronization mark part of a data part of a disk.例文帳に追加

ディスクのデータ部の同期マーク部の欠陥を検出する欠陥検査方法に関し、１回のライト動作で、同期マーク周辺の欠陥を検出する。 - 特許庁

A secondary defect detection part 37 executes secondary defect detection processing for detecting a defect on the inspection object by using image data of the inspection object.例文帳に追加

２次欠陥検出部３７は、検査対象物の画像データを用いて検査対象物上の欠陥を検出する２次欠陥検出処理を実行する。 - 特許庁

After a certain process if completed, defects of a wafer W are detected by a defect detecting apparatus 2, and the defect positioning data is transferred to a defect observation apparatus 3.例文帳に追加

あるプロセスが終了した後、欠陥検出装置２によりウェハＷの欠陥を検出し、その欠陥位置データを欠陥観察装置３に送出する。 - 特許庁

When defect detection is performed by a defect data detecting part 112c, judgment of reliability of the detection is first performed prior to the defect detection.例文帳に追加

欠陥データ検出部１１２ｃによる欠陥検出を行なう場合、まず、その欠陥検出に先立って、その検出の信頼性判定を行なう。 - 特許庁

Defect candidate data, which is image data of an object to be inspected, development data, which is image data of master data, and inspection area data are inputted to a mismatch counting circuit 132.例文帳に追加

不一致計数回路１３２には，検査対象の画像データである欠陥候補データと，マスターデータの画像データである展開データと，検査領域データとが入力される。 - 特許庁

In the event of positional slippage, an area where no defect pixel data are present is estimated for the visible image from an area where detect pixel data are present, and this position is also taken as defect pixel data.例文帳に追加

位置ずれが生じ可視画像に対して欠陥画素データが存在しない領域を、存在する領域から推測し、その位置も欠陥画素データとする。 - 特許庁

As a result, out of the data of the feature quantities f51-f100 of the second group, the defect data, for which the learning model A cannot specify the defect type "C1" or "C2", are defined as discard class data.例文帳に追加

この結果、第２群の特徴量ｆ５１〜ｆ１００のデータのうち、学習モデルＡでは疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」を特定できない疵データを棄却クラスのデータとする。 - 特許庁

In the correction data generating process, luminance data of the point defect pixel is eliminated (S7) from the luminance data by use of the position data before the correction data is generated.例文帳に追加

前記補正データ生成工程において、補正データを生成する前に輝度データの中から位置データを利用して点欠陥画素の輝度データを除く（Ｓ７）。 - 特許庁

In this constitution, the electric defect position data at an IC memory obtained in a semiconductor IC tester, can be converted to the real coordination, and the defect position data can be compared with defect data of productive process.例文帳に追加

この構成により、半導体ＩＣ試験装置にて取得したＩＣメモリの電気的な不良位置の情報を実座標に変換することができ、製造プロセスの欠陥データと比較することが可能となる。 - 特許庁

COLOR-CALIBRATING APPARATUS OF IMAGE DATA, AND COLOR DEFECT AUTOMATIC DETECTION APPARATUS例文帳に追加

画像データの色彩較正装置および色彩欠陥自動検出装置 - 特許庁

To prevent an image defect caused from shading-compensated image data.例文帳に追加

シェーディング補正後の画像データから発生する画像不良を防止する。 - 特許庁

To correct defect pixel data accurately in an external image processor.例文帳に追加

外部の画像処理装置において、欠陥画素データを正確に補正する。 - 特許庁

Based on the corrected inspection data, a defect on the reticle is detected.例文帳に追加

補正後の検査データに基づいて、レチクル上の欠陥を検出する。 - 特許庁

The second defect pixel binary data are partially displayed on a coloring monitor.例文帳に追加

第２不良画素二値データは一部着色モニター上に表示される。 - 特許庁

The signal processing section 34 identifies a position of a defect caused at an exposure start position of the received image data by using a defect correction pulse 186a and applies defect correction processing to the pixel data at this position to output a normal image without a defect.例文帳に追加

信号処理部34では、供給される画像データの露出開始位置に生じる傷の位置を欠陥補正パルス186aで特定してこの位置の画素データに欠陥補正処理を施して欠陥のない正常な画像を出力する。 - 特許庁

To perform data embedding processing without creating an influence in appearance, and to extract data embedded from a printed matter of the data embedding processing with few data defect.例文帳に追加

見た目に影響のないデータ埋め込み加工処理と、その印刷物から埋め込んだデータを、データ欠損を少なく抽出すること。 - 特許庁

A CPU 60 generates a user interface on a display unit 56 and sets a parameter for a serial data pattern and parameters for a data ministick jitter defect given to the serial data pattern, a random jitter defect, and a random jitter defect and at least one deviation crest factor emulation defect.例文帳に追加

ＣＰＵ６０は、表示器５６にユーザ・インタフェースを発生して、シリアル・データ・パターン用のパラメータと、シリアル・データ・パターンに与えるデターミニスティック・ジッタ欠陥、ランダム・ジッタ欠陥及び少なくとも１つの偏差クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥用のパラメータとを設定する。 - 特許庁

Referring to the defect information, pixel data supplied with correcting object pixel around the defect is corrected based on the pixel data to be supplied to the pixel around at least a correction object pixel and the defect data corresponding to the defect condition.例文帳に追加

前記欠点情報を参照して、前記欠点の周辺の補正対象画素に供給される画素データを、少なくとも前記補正対象画素の周辺の画素に供給される画素データと、前記欠点の状態に対応する欠点データとに基づいて補正する。 - 特許庁

A plurality of review data are related to one inspection data, and a plurality of defect data are related to one review data so that the data are displayed on a review data display device 104 by storing referential relations between wafer data and between the defect data and the review data in link data areas 110 and 113.例文帳に追加

ウェハデータ間の参照関係および欠陥データとレビューデータ間の参照関係をリンクデータ領域１１０および１１３に記憶することで、１つの検査データに複数のレビューデータを関連付けるとともに、１つのレビューデータに複数の欠陥データを関連付け、レビューデータ表示装置１０４によって表示可能とする。 - 特許庁

To prevent defect determination by an influence of erroneous defect data by reducing the influence of the erroneous defect data from an intensity value, when calculating the intensity value of one pixel portion by using beam data acquired from a plurality of data detection domains of the pixel.例文帳に追加

画素の複数のデータ検出領域から取得したビームデータを用いて一画素分の強度値を算出する場合において、強度値から誤欠陥データの影響を低減し、誤欠陥データの影響による欠陥判定を防ぐ。 - 特許庁

A main controller 65 relates thumbnail image data of a review inspection image to defect data and stores the thumbnail image data into a storage section 66.例文帳に追加

主制御部６５はレビュー検査画像のサムネイル画像データを欠陥データと関連付けて記憶部６６に格納する。 - 特許庁

Defect data on a defect on a semiconductor wafer 111 is acquired by an inspection unit 110 of the defect inspection device 100 and stored in a storage unit 122, and the obtained defect data are classified into a defect kind by a classification determination unit 123 on the basis of a predetermined classification standard previously stored in the storage unit 122.例文帳に追加

半導体ウェハ１１１上の欠陥データを欠陥検査装置１００の検査部１１０で取得して記憶部１２２に格納し、得られた欠陥データを記憶部１２２内に予め格納している所定の分類基準に基づいて分類判定部１２３により欠陥種に分類する。 - 特許庁

(A) Data for defect quantity estimation are previously found which show a relation between the defect quantities of the inspected body and the size of the reflected wave.例文帳に追加

（Ａ）検査体の欠損量と反射波の大きさとの関係を示す欠損量推定用データを予め求める。 - 特許庁

Data of leak current values are totaled for the entire wafer, and a degree of a defect for the entire wafer is calculated as a defect rate.例文帳に追加

リーク電流値のデータをウェハ全体で集計し、ウェハ全体の不良の度合いを不良率として算出する。 - 特許庁

To revive and reproduce data recorded on a recording medium by tracing the data back to a time when a defect takes place even when the data having been not recognized because the defect takes place during recording resulting in impossible recording of management data.例文帳に追加

記録中に不具合が発生し、管理データを記録できず、データとして認識できなかったデータでも、不具合が発生した時までに記録媒体に記録されたデータを復活して再生する。 - 特許庁

Accordingly, the data transmission from the page buffer set related to the defect is blocked.例文帳に追加

よって、欠陷と関連したページバッファーセットからのデータ伝送は遮断される。 - 特許庁

To provide a recording medium which stores defect management information for recording real-time data, its defect managing method, and a recording method for real-time data.例文帳に追加

リアルタイムデータを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体、その欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法を提供する。 - 特許庁

And the defect pixel data are additionally registered in an EEPROM 118.例文帳に追加

そして、その欠陥画素データがＥＥＰＲＯＭ１１８に追加登録される。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR IMAGE READ AND DEFECT DECIDING METHOD FOR IMAGE DATA例文帳に追加

画像読取方法および装置ならびに画像データの欠陥判別方法 - 特許庁

To provide a recording medium to store a defect control information for recording real time data, a defect control method thereof and a real time data recording method.例文帳に追加

リアルタイムデータを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体、その欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法を提供する。 - 特許庁

In the case of addition, reliability about the defect data to be an object of addition is judged under the control of a reliability judging part 112e of the defect data to be added.例文帳に追加

追記に際しては、追記対象欠陥データ信頼性判定部１１２ｅの制御の下、追記対象欠陥データについての信頼性が判断される。 - 特許庁

Based on representative values of product manufacturing data and inspection data collected for each product, a calculation device 16 analyzes the defect factor of a produced defect.例文帳に追加

演算装置１６は、製品の生産データと検査データを製品毎に集計した代表値を元に不良発生の不良要因の分析を行う。 - 特許庁

Inspection data is received, and both the single-class and multi-class classifiers are applied to the inspection data to assign the defect to one of the defect classes.例文帳に追加

検査データが受信され、欠陥を欠陥部類のうちの１つに割り当てるために、単一部類及び多重部類分類子の両方が適用される。 - 特許庁

To remove a defect when buffering write of data during motion.例文帳に追加

書き込みデータをバッファリングするための装置、システム及び方法を提供する。 - 特許庁

To reproduce data of a high bit rate in a real time even if defect exists in a disk.例文帳に追加

ディスクに欠陥があっても、高ビットレートのデータを、リアルタイムで再生する。 - 特許庁