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defect dataの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 958件
An image processing/defect detection part 300 receives image data acquired by scanning on a wafer W from an image input part 72, determines whether a defect exists by comparing the image data with reference image data, and outputs defect inspection result data, showing the result to a control part 401 of a PC terminal.例文帳に追加
画像処理/欠陥検出部300は、ウエハW上の走査により得られた画像データを画像入力部72から受け取り、該画像データを参照画像データと対比して欠陥が存在するか否かを判定し、それを表す欠陥検査結果データをPC端末の制御部401に出力する。 - 特許庁
To realize a defect inspection system enabling further efficient production management by sharing inspection result data by the whole production line, and easy recognition of the details of a defect detected by defect inspection.例文帳に追加
生産ライン全体で検査結果データを共有してより効率的な生産管理ができるとともに、欠陥検査で検出された欠陥の詳細を容易に認識できる欠陥検査システムを実現する。 - 特許庁
(B) In cases where a guided wave has a second frequency, a second group of data for defect quantity estimation are previously found which show relations among the amplitude of a reflected wave, a defect cross-section, and a defect width.例文帳に追加
(B)ガイド波が第2の周波数を有する場合における、反射波の振幅と、欠損断面積および欠損幅との関係を示す第2の欠損量推定用データを予め求める。 - 特許庁
(A) In cases where a guided wave has a first frequency, a first group of data for defect quantity estimation are previously found which show relations among the amplitude of a reflected wave, a defect cross-section, and a defect width.例文帳に追加
(A)ガイド波が第1の周波数を有する場合における、反射波の振幅と、欠損断面積および欠損幅との関係を示す第1の欠損量推定用データを予め求める。 - 特許庁
To analyze a defect distribution state based on defect data detected by an inspection apparatus and easily identify a defect reason due to an apparatus or a process in a semiconductor wafer manufacturing process.例文帳に追加
半導体ウェーハの製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁
When the defect occurs when data are written in a predetermined recording medium using a plurality of pickups, a pickup which detects the defect reports the occurrence of the defect.例文帳に追加
所定の記録媒体に、複数のピックアップで、データの書き込みを行っているときに、ディフェクトが発生した場合、ディフェクトを検出したピックアップから、ディフェクトが発生したことに関する通知がある。 - 特許庁
When the data recorded by this recording method are erased, only a key part in a file including a deciphering key is physically set as a defect or registered as the defect by a defect management system.例文帳に追加
この記録方法により記録したデータを消去するとき、暗号を解くキーが含まれるファイル内のキー部分のみを物理的にディフェクトとし、又は、ディフェクト管理システムによりディフェクトとして登録する。 - 特許庁
The data processing circuit 45 has: a memory for storing inputted control data; and a control section for selectively storing control data on a peripheral region including the position of defects in a memory, based on the defect data obtained by a defect inspection machine.例文帳に追加
データ処理回路45は、入力された制御データを格納するためのメモリと、欠陥検査機で得られた欠陥データに基づき、欠陥の位置を含む周囲領域に関する制御データを選択的にメモリに格納させる制御部とを備えている。 - 特許庁
When a defect is caused in the first system data while resetting the semiconductor memory device, the first system data is repaired by providing the second system data.例文帳に追加
半導体メモリ装置をリセットする間に第1システムデータで欠陷が発生する時、第1システムデータは、第2システムデータの提供によってリペアされる。 - 特許庁
To provide a reproduced data restoration control system capable of correctly restoring reproduced data held in a storage medium when a defect occurs in the reproduced data.例文帳に追加
再生データに不良が生じた場合、記憶媒体に保有される再生データを正当に復旧する再生データ復旧制御システムを提供する。 - 特許庁
To provide an optical disk recording and reproducing device accurately capturing audio data by detecting and correcting each defect of data such as the data deviation or data transformation of main data or sub-code Q in the buffering process.例文帳に追加
バッファリング処理時のメインデータまたはサブコードQのデータズレまたはデータ化け等の各データ不良を検出して補正し、オーディオデータが正確にキャプチャできる光ディスク記録再生装置を提供する。 - 特許庁
The information recording medium 100 is provided with a data area 102 for recording user data, and at least one defect management area 104 (105, 108, 109) for recording a defect list 112 for managing N defect areas (integer of N≥0).例文帳に追加
情報記録媒体100は、ユーザデータを記録するデータ領域102と、N個の欠陥領域(N≧0を満たす整数)を管理する欠陥リスト112を記録する少なくとも1つの欠陥管理領域104(105、108、109)とを備える。 - 特許庁
To provide a crimping defect determination data forming method for a terminal crimping defect detection device in which the times of inputting, inputting mistakes, and the time of detection can be saved.例文帳に追加
入力の手間、入力ミス、検証の手間が省ける端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法を提供する。 - 特許庁
Immediately before this, sample data for a control signal obtained within a prescribed time corresponding to a delay in detecting the defect dependent on a defect detection means is stored.例文帳に追加
この直前に、ディフェクト検出手段に依存するディフェクトの検出遅れに相当する所定時間内に得られる制御信号のサンプルデータが記憶される。 - 特許庁
At reapplication, for example, past related defect information is extracted from applicant data, and the defect information is used to create an application display form.例文帳に追加
再申請時には例えば申請人データから関連する過去の不具合情報を抽出し、該不具合情報を用いて申請用表示フォームを作成する。 - 特許庁
The determination result is transferred to a monitor 13, and both the micro defect and the macro defect are displayed as the inspection result, and preserved in a data preservation device 14.例文帳に追加
この判定結果をモニタ13に転送し、ミクロ欠陥及びマクロ欠陥共に検査結果として表示すると共に、データ保存装置14に保存する。 - 特許庁
To detect highly accurately only an essential defect existing in a specimen without detecting wrongly noise superimposed on specimen image data as a defect.例文帳に追加
被検体画像データに重畳されたノイズを欠陥として誤検出することなく、被検体に存在する本来の欠陥のみを、高精度に検出する。 - 特許庁
Using these parameters, a waveform record file is generated to keep a deviation crest factor emulation defect selectively positioned in the defect serial data pattern.例文帳に追加
これらパラメータを用いて波形記録ファイルを発生し、偏差クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥が欠陥シリアル・データ・パターン内に選択的に位置決めされる。 - 特許庁
Thereby, defect of a power source current at the time of the data processing section 3 never be hidden by the defect of power source current at the standby time of the memory array 122.例文帳に追加
これにより、データ処理部3の待機時電源電流不良がメモリアレイ122の待機時電源電流不良に隠れてしまうことがなくなる。 - 特許庁
Also, this optical disk corresponds to a defect management system, and a spare area and a defect control area are provided between the user data area and the read-out area.例文帳に追加
また、この光ディスクはディフェクト管理システムに対応しており、ユーザデータエリアとリードアウトエリアの間に、スペアエリアとディフェクト管理エリアが設けられている。 - 特許庁
The AV manager performs defect processing in which when data corresponding to the Defect RUB section is reproduced, the picture to be reproduced is frozen or a voice is muted.例文帳に追加
AVマネージャは、DefectRUB区間に対応するデータを再生する場合には、その対象となる画像をフリーズ、または音声をミュートするディフェクト処理を行う。 - 特許庁
To prevent the destruction of important data by a medium defect by detecting the medium having a possibility of the medium defect and instructing the exchange of the medium.例文帳に追加
媒体不良の可能性のある媒体を検出し、媒体の交換を指示することにより、媒体不良による重要なデータの破壊を未然に防止する。 - 特許庁
A defect of the fluorescent screen is inspected by processing the photographed image data by an image processor 15.例文帳に追加
撮像された画像データを画像処理装置15で処理して蛍光面の欠陥を検査する。 - 特許庁
To obtain a good radioactive ray image even in the case of occurrence of Image defect in the image data.例文帳に追加
画像データに画像欠陥を生じた場合であっても良好な放射線画像を得る。 - 特許庁
DISK ARRAY CONTROL DEVICE, PROCESSING METHOD APPLIED TO THIS DEVICE UPON DETECTION OF DATA DEFECT, AND PROGRAM例文帳に追加
ディスクアレイ制御装置、同装置に適用されるデータ欠損検出時の処理方法及びプログラム - 特許庁
A computer 18 determines the existence of the defect of the sample on the basis of acquired magnetic field distribution data.例文帳に追加
コンピュータ18は、取得された磁場分布データに基づいて、試料の欠陥の有無を判定する。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE ACCOMMODATING GROWTH OF DEFECT OF DATA STORAGE MEDIUM THROUGH DYNAMIC RE-MAPPING例文帳に追加
動的再マッピングによりデータ記憶媒体の欠陥の成長を許容する方法及び装置 - 特許庁
The display section 25 displays the image of a wafer surface that includes the defect, based on the display image data.例文帳に追加
表示部25は、表示画像データに基づいて、欠陥を含むウェハ表面の画像を表示する。 - 特許庁
Therefore, defect of the memory device is efficiently detected for various test data.例文帳に追加
従って、多様なテストデータに対して効率的にメモリ装置の不良を検出することができる。 - 特許庁
To provide a device for analyzing a defect to easily acquire standard data, and a method therefor.例文帳に追加
標準データの取得が容易な欠陥解析装置,および欠陥解析方法を提供する。 - 特許庁
In this case, voices are synthesized without defect by using intermediate language data S.例文帳に追加
ここで、音声合成は、中間言語データSを用いて、良質の音声合成を実現させている。 - 特許庁
To enable to reproduce data even if a defect such as a scratch and dirt exist in an optical disk device.例文帳に追加
光ディスク装置において、傷や汚れ等の欠陥があってもデータを再生可能とする。 - 特許庁
To provide a photomask which facilitates defect inspection and which facilitates handling of CAD data.例文帳に追加
欠陥検査が容易であり、かつ、CADデータのハンドリングが容易であるフォトマスクを提供すること。 - 特許庁
To prevent data destruction from occurring when defect on a magnetic disk exceeds predicted registration and is expanded.例文帳に追加
磁気ディスク上の欠陥が予想登録を超えて拡大し、データ破壊を起こすことを防止する。 - 特許庁
To improve the quality of data to be back-up, and also quickly inform a user of the generation of any defect of the data quality.例文帳に追加
バックアップするデータの品質を高めるとともに、データ品質に欠陥があった場合、ユーザーに対して速やかに通知する。 - 特許庁
To reduce the quantity of original data such as data required for expressing a digital picture by preventing a defect in the coding (occurrence of not to be optimized coding).例文帳に追加
符号化における不具合を防止し、デジタル画像を表すために必要なデータなどの原データのデータ量を低減する。 - 特許庁
Depending on the determination by the data defect determining part 115a, an error reporting part 115b sends the data read failure back to the host 20.例文帳に追加
エラー通知部115bは、データ欠損判定部115aによる判定結果に応じて、データ読み出し失敗をホスト20に返す。 - 特許庁
As a result, the coordinates of each chip and data on the chip includes the defect or not are stored in a data base in each chip of the inspected semiconductor wafer.例文帳に追加
この結果検査した半導体ウェーハーのチップ毎に、その座標と欠陥を含むか否かがデータベースに蓄積される。 - 特許庁
The amplifying circuit 1301 for reading data has a clamp part 1212 for reading data stored in a data memory cell, a clamp part 1211 for detecting defect of data cell short circuit of the data memory cell, and a clamp part 1213 for detecting defect of open of the data memory cell.例文帳に追加
データ読出し用増幅回路1301は、データメモリセルに記憶されたデータの読出し用のデータ読出し用クランプ部1212と、データメモリセルのショート不良の検出用のデータセルショート不良検出用クランプ部1211と、データメモリセルのオープン不良検出用のデータセルオープン不良検出用クランプ部1213とを有している。 - 特許庁
An analysis part AN detects foreign object defect data from the first and second surface data, and the foreign object defect data are classified into three categories of a first mode which is indicated only in the first surface data, a second mode which is indicated only in the second surface data, and a third mode which is indicated in both the first and second surface data.例文帳に追加
解析部ANは、第1及び第2表面情報から異物欠陥情報を検出し、異物欠陥情報を、第1表面情報のみに示された第1モード、第2表面情報のみに示された第2モード、第1及び第2表面情報の両方に示された第3モードに区別する。 - 特許庁
Time-series data of a damage conductance are generated from time-series data of short-term moving average data selected when a simulated defect signal is inputted and other moving average data, and the average number of optimum data of the moving average data used as a reference value is selected in each measuring section from the SN ratio between a signal component of the simulated defect and a noise.例文帳に追加
模擬欠陥信号が入力したときに選択した短期移動平均データと他の移動平均データの時系列データから損傷コンダクタンスの時系列データを作成し、模擬欠陥の信号成分とノイズとのSN比から基準値となる移動平均データの最適データ平均個数を計測区間毎に選択する。 - 特許庁
This defect processing method of a magnetic disk drive is a suitable method when the position of a defect is known in advance on a disk and comprises a stage for assigning a data zone to a track including the defect (step S1006) and a stage for processing the data zone as a defect (step S1008).例文帳に追加
本発明にかかる磁気ディスク装置のディフェクト処理方法は,ディスク上で欠陥の位置が事前に分っている場合に適した方法であって,欠陥を含むトラックに対してデータゾーンを割当てる段階(ステップS1006)と,データゾーンをディフェクトとして処理する段階(ステップS1008)とを含むことを特徴とする。 - 特許庁
Further the market defect analyzing part 223 extracts a specific circuit symbol by the data extracting part (not shown in drawing) on the basis of the defect contents and the processing contents of all of defect records of the radio device X stored in the market defect database 21, and counts the number of circuit symbols by the data counting part.例文帳に追加
更に、市場不良解析部223は、市場不良データベース21に記憶されている無線装置Xの全ての不良カルテの不良内容及び処置内容を参照し、その中から特定の回路記号をデータ抽出部(不図示)により抽出し、その回路記号の数をデータ集計部により集計する。 - 特許庁
A system controller 112 is provided with a defect data detecting part 112a to detect pixel defect data based on detection results of every main photography and a defect compensation control part 112b to perform pixel defect compensation processing to a signal to be obtained from a CCD 105 in the case of the main photographing.例文帳に追加
システムコントローラ112には、毎回の本撮像時における検出結果に基づいて画素欠陥データの検出を行うための欠陥データ検出部112aと、本撮像時にCCD105から得られる信号に対して画素欠陥補償処理を施すための欠陥補正制御部112bとが設けられている。 - 特許庁
The coordinate value data S11 is inputted to a picture image data preparing part 12, and a diagram showing a defect of the wafer is prepared for each chip at the picture image data preparing part 12, to prepare picture image data S12.例文帳に追加
座標値データS11 は画像データ生成部12に入力され、該画像データ生成部12でウエハの欠陥を表す図形が各チップ毎に作成されて画像データS12 が生成される。 - 特許庁
Regarding the color filter manufacturing method comprising a defect inspecting process of detecting the defect existing in the color filter and a correcting process of obtaining image data on the defect based on defect information detected at the defect detecting process, thereafter, correcting the defect by using the image data, the color filter is formed by using information obtained from the image data at the correcting process.例文帳に追加
上記目的を達成するために、本発明は、カラーフィルタに存在する欠陥を検出する欠陥検出工程と、上記欠陥検出工程により検出された欠陥の情報に基づいて、上記欠陥の画像データを得た後、上記画像データを用いて欠陥を修正する修正工程とを有するカラーフィルタの製造方法において、上記修正工程における画像データから得られた情報を用いカラーフィルタを製版することを特徴とするカラーフィルタの製造方法を提供する。 - 特許庁
To obtain a defective image even when a defect is present under an optically transparent film, in the case where the defect is observed by using an SEM based on defect position data outputted from a defect inspection device by an optical means.例文帳に追加
光学的手段による欠陥検査装置により出力された欠陥位置データに基づいてSEMを用いて該欠陥を観察する場合において、該欠陥が光学的に透明な膜の下に存在する場合でも、欠陥画像の取得を行えるようにする。 - 特許庁
In this process, a defect is detected by comparing a basic inspection image obtained from the basic pattern formed in the basic pattern region of the mask for inspection of pattern defect detection sensitivity with a defect reference image produced by image processing based on the design data of the defect pattern.例文帳に追加
この際、パターン欠陥検出感度検査用マスクの基本パターン領域に形成された基本パターンから取得した基本検査画像と、欠陥パターンの設計データを基に画像処理により生成した欠陥参照画像とを、比較して欠陥を検出する。 - 特許庁
The display and detection control circuit 6 corrects the data signal to peripheral pixels based on the black spot defect position, and when a data line drive circuit 11 is driven by the corrected data signal, the black spot defect is corrected visually.例文帳に追加
この表示及び検出制御回路6は、黒点欠陥位置に基づいて、その周辺画素へのデータ信号を補正し、補正したデータ信号にてデータ線駆動回路11を駆動することで、視覚的に黒点欠陥を補正する。 - 特許庁
To provide an image processing apparatus, method, and program for accurately correcting a deviation between the effect of a defect on visible data and the effect of a defect on invisible data and reducing a computation processing amount for the correction.例文帳に追加
可視データが欠陥により受ける影響と非可視データが欠陥により受ける影響とのずれを正確に補正するするとともに、当該補正のための演算処理量を軽減する。 - 特許庁
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