「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The information recording medium 100 is provided with a data area 102 for recoding user data, and at least one defect management area 104 (105, 108, 109) for recording a defect list 112 to manage N pieces of defect areas (N is an integer satisfying N≥0).例文帳に追加

情報記録媒体１００は、ユーザデータを記録するデータ領域１０２と、Ｎ個の欠陥領域（Ｎ≧０を満たす整数）を管理する欠陥リスト１１２を記録する少なくとも１つの欠陥管理領域１０４（１０５、１０８、１０９）とを備える。 - 特許庁

In addition, with a leak defect caused at the intersection of a gate line 1 and the data line 2, the data line 2 is cut on both sides of the gate line 1.例文帳に追加

また、ゲート線１とデータ線２との交差部にリーク不良が生じたときには、ゲート線１の両側でデータ線２を切断する。 - 特許庁

Then, data after the median filter processing are summed by each pixel and the defect of the solid-state image pickup element is decided on the basis of the sum data.例文帳に追加

そして、このフィルタ処理後のデータを各画素毎に加算し、この加算データに基づいて固体撮像素子の欠陥の判定を行う。 - 特許庁

To provide an optical disk apparatus and a data recording method in which defect of an optical disk can be detected early at data recording.例文帳に追加

データ記録の際に光ディスクの不良を早期に発見することが可能な光ディスク装置およびデータ記録方法を提供する。 - 特許庁

To write data so that the data can be read consecutively even when a defect occurs during writing.例文帳に追加

書き込み時にディフェクトが発生したような場合でも、読み出し時にデータが連続して読み出せるような書き込みを行えるようにする。 - 特許庁

Based upon the data stored in the data register 11, it is decided whether a pixel of the display panel has a defect and its position is also decided.例文帳に追加

データレジスタ１１に格納されたデータにより、表示パネルの画素に欠陥が発生しているか否か、またその位置も判定される。 - 特許庁

Alternative recording is allowed in a spare area during data recording by forming a defect 12 in a data area of an optical disk 10 for evaluation.例文帳に追加

評価用光ディスク１０のデータ領域に欠陥１２を形成し、データ記録時にスペア領域に代替記録されるようにする。 - 特許庁

When defect information is not contained in the data which is read out from the compact memory 120, data in the corresponding partial address space is not transferred.例文帳に追加

コンパクトメモリ１２０から読み出されたデータに不良情報がなければ、対応する部分アドレス空間のデータは転送されない。 - 特許庁

Also, where the imaging apparatus uses live view image data successively acquired with an imaging element before main photographing to calculate AE/AWB correction value (control information), if a V line defect exists on the live view image, the imaging apparatus does not use pixel data equivalent to the V line defect from among the image data, but uses correction data by the V line defect correction.例文帳に追加

また、撮像装置では、本撮影前において撮像素子で順次に取得するライブビュー画像データを利用してＡＥ・ＡＷＢ補正値(制御情報)を算出するが、ライブビュー画像にＶライン傷が存在する場合には、画像データのうちＶライン傷に相当する画素データを用いず上記のＶライン傷補正による補正データを利用する。 - 特許庁

To reuse data recorded in an information recording medium by defect management.例文帳に追加

情報記録媒体において、ディフェクト管理によって記録された記録データの再利用を可能ならしめる。 - 特許庁

To detect exactly data holding defect of a memory cell accelerating noise caused in operation of SR (self-refresh).例文帳に追加

ＳＲの動作で発生するノイズを加速しながら、メモリセルのデータ保持不良を確実に検出すること。 - 特許庁

OUTSIDE DEVELOPMENT INFORMATION PRACTICAL USE METHOD OF STEEL STRIP AND COLLECTION/DISPLAY PROGRAM OF DEFECT DATA ON STEEL STRIP例文帳に追加

鋼帯の外観展開図情報活用方法および鋼帯の欠陥データの収集・表示プログラム - 特許庁

TEST METHOD FOR DETECTING DEFECT IN RECORDING DISK AND DATA STORAGE DEVICE FOR EXECUTING THE SAME例文帳に追加

記録ディスクにおける欠陥を検出するためのテスト方法及びそれを実行するデータ記憶装置 - 特許庁

METHOD OF PATTERNING SUBSTRATE BY FEEDING MASK DEFECT DATA FORWARD FOR SUBSEQUENT CORRECTION例文帳に追加

後の修正のためにマスク欠陥データをフィードフォワードすることによって基板にパターンを形成する方法 - 特許庁

These image data sets RD, TD are input to an image processing unit IPU, and a defect detection is carried out.例文帳に追加

このイメージデータＲＤ、ＴＤが、イメージ処理ユニットＩＰＵに入力され、欠陥検出が行われる。 - 特許庁

To screen a retention defect caused by the fact that a data holding time varies like random telegraph noise in DRAM.例文帳に追加

DRAMにおいて、データ保持時間がランダム・テレグラフ・ノイズ的に変化してリテンション不良となるものをスクリーニングする。 - 特許庁

A control part 112 extracts an external form of the defect on the glass substrate 102 based on the image data.例文帳に追加

制御部１１２は画像データに基づいて、ガラス基板１０２上の欠陥の外形を抽出する。 - 特許庁

Existence of a short-circuit failure among the data lines and that of a defect of holding capacitance Ch can be determined in the same way.例文帳に追加

データ線のショート不良、保持容量Ｃｈの欠陥の有無も同様に判定することができる。 - 特許庁

The inspection condition of the inspection device is set, by using the estimation image 124 and defect data 123A.例文帳に追加

推定画像１２４および欠陥データ１２３Ａを用いて検査装置の検査条件を設定する。 - 特許庁

To display an image of good quality even if received image data has a defect.例文帳に追加

受信した画像データに欠陥がある場合であっても、良質な画像を表示することができるようにする。 - 特許庁

To provide a dynamic drive scheme to eliminate a defect dependent on the data pattern in a displayed image.例文帳に追加

表示された画像において、データパターン依存の欠陥を除去する動的駆動スキームを提供する。 - 特許庁

To use data about a transmitted light quantity distribution of an inspection device to detect an internal defect, etc. of a transfer mask.例文帳に追加

検査装置の透過光量分布のデータを用いて転写用マスクの内部欠陥等を検出する。 - 特許庁

To appropriately manage a defect even if data to which real time property is requested is recorded and reproduced.例文帳に追加

実時間性が要求されるデータを記録再生する場合にも適切なディフェクトマネージメントを可能とする。 - 特許庁

METHOD OF SETTING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, METHOD OF RECORDING DATA,PROGRAM AND RECORD MEDIUM AND INFORMATION RECORDING APPARATUS例文帳に追加

欠陥管理情報設定方法、記録方法、プログラム及び記録媒体、並びに情報記録装置 - 特許庁

In addition to inspection of breaking of a data line and a digital data driver output, it can be decided whether a spot defect is caused by using the inspecting circuit provided on the opposite side of the data line.例文帳に追加

データ線の反対側に設けられた検査回路を用いて、データ線の断線やデジタルドライバ出力の検査の他、点欠陥の有無も判定できるようになる。 - 特許庁

The reticle pattern is replaced as coordinate data by a certain means and the pattern defect is extracted by differential processing of this coordinate data and CAD coordinate data.例文帳に追加

レチクル検査装置では、レチクルパターンを何らかの手段で座標データとして置き換え、その座標データとＣＡＤ座標データとの差分処理よりパターン欠陥を抽出する。 - 特許庁

In the image exposure data, the defect or distortion of images is corrected by using the dark image offset data provided from the dark image and the reference data provided from the reference area.例文帳に追加

このとき、前記画像露光データは、暗画像から得られた暗画像オフセットデータと、基準領域から得られた基準データとを用いて、画像の欠陥や乱れが補正される。 - 特許庁

A defect image processing device performs image matching by normalized cross correlation between the layout image 52 obtained from the design data and an image obtained by removing a defect region part from the defect image 53, and displays a layout image and defect image 54 as a matching result on a device.例文帳に追加

欠陥画像処理装置は、設計データから得られるレイアウト画像５２と、欠陥画像５３から欠陥領域部分を除去した画像と、を正規化相互相関により画像マッチングし、そのマッチング結果として、レイアウト画像＆欠陥画像５４を表示装置に表示する。 - 特許庁

A black spot defect position determination circuit 21 determining the position of a black spot defect on a self-luminous display panel 17 is arranged, and the black spot defect is determined by connecting a detection current source inside the black spot defect position determination circuit 21 to a pixel during a period other than a display period of a data signal.例文帳に追加

自発光表示パネル１７の黒点欠陥画素の位置を判別する黒点欠陥位置判別回路２１を設け、この黒点欠陥位置判別回路２１内の検出用電流源をデータ信号の表示期間とは別の期間に画素に接続して、黒点欠陥を判別する。 - 特許庁

A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

To quicken the defect analysis of a semiconductor memory by automatically updating a defect mode criterion when the number of defects of the FMB data of the semiconductor memory is equal to or more than a threshold value.例文帳に追加

半導体メモリのＦＢＭデータの不良数が閾値以上の場合に、不良モード判定基準を自動更新し、半導体メモリの不良解析を早める。 - 特許庁

After the other process is completed, defects of the wafer W are observed so as to identify the defects again by the defect observation apparatus 3 based on the initial defect identification data.例文帳に追加

そして、別のプロセスが終了した後、欠陥観察装置３により初期欠陥識別データを基にしてウェハＷの欠陥を観察し、再び欠陥の識別を行う。 - 特許庁

Moreover, inspection data by a plurality of inspection devices about one defect are allowed to be registered, and classification information of a defect which is an object for analysis is allowed to be arbitrarily selected.例文帳に追加

また、ひとつの欠陥について複数の検査装置による検査データを登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。 - 特許庁

The analyzed data S13 is inputted to an automatic defect classifying part 14, and defects existing on a surface to be inspected of each chip are classified at the automatic defect classifying part 14.例文帳に追加

解析データS13 は欠陥種自動分類部14に入力され、該欠陥種自動分類部14で各チップの被検査面上に存在する欠陥の種類が分類される。 - 特許庁

To provide a disk reading device in which size of data required for defect decision processing (processing which decides existence of defect for each cluster) can be made small as much as possible.例文帳に追加

ディフェクト判定処理（各クラスタについて、ディフェクトの有無を判定する処理）に必要なデータの大きさを極力小さくし得る、ディスク読取装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk apparatus in which a whole defect including small defect such as fingerprint, dirt, and scratch is detected, and data failure of a block unit can be estimated accurately.例文帳に追加

指紋、汚れ、傷などの小さなディフェクトを含むディフェクト全般を検出して、ブロック単位のデータ破綻を精度良く推定できる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

The existence of defect detection is checked (S36), and when no defect is detected, inspecting image data are deleted and the fact of deletion is recorded in the history information (S40).例文帳に追加

そして、欠陥検出の有無を調べ（Ｓ３６）、欠陥が検出されない場合には、検査画像データを削除し履歴情報に削除した旨を記録する（Ｓ４０）。 - 特許庁

When defect information is given to an emulator 110, the emulator 110 performs emulation the operation of drive or player caused by defect of data of a disk (medium) side.例文帳に追加

エミュレータ１１０に対して欠陥情報が与えられると、エミュレータ１１０は、ディスク（メディア）側のデータの欠陥に起因するドライブ、プレーヤの動作のエミュレートを行う機能を有する。 - 特許庁

To provide a data processor which can easily and also efficiently detect a defect of a defect inspection object and brings about a reduction in the costs of the entire device.例文帳に追加

欠陥検査対象物の欠陥を容易に且つ効率的に検出することが可能であり、装置全体のコストダウンを図ったデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for converting pattern data never causing the unexpected increase in data capacity even in the conversion of CAD data for a drawing machine to pattern data for a defect inspecting machine or the reduction in processing speed of the defect inspecting machine by an unnecessary region division.例文帳に追加

描画機用のＣＡＤデータを欠陥検査機用の図形データに変換してもデータ容量が不用意に増大したり不要な領域分割によって欠陥検査機の処理速度が低下したりすることのない図形データ変換方法およびデータ変換装置を提供すること。 - 特許庁

Image data of longitudinal or transverse plural adjacent lines is read out from the image memory part 20 as a first image data, average data of a data level in a direction orthogonal to a reading-out direction is calculated, and a line-shaped defect in an image is detected by a defect detecting part 24.例文帳に追加

画像メモリ部２０から、第１の画像データとして縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、ライン状の画像欠陥を欠陥検出部２４で検出する。 - 特許庁

When a determination unit 220 determines that the defect portion exists, the unit determines whether to recover the defect portion based on at least one of a communication status between the data reception terminal 20 and the data distribution server 10 and a data related status relating to data.例文帳に追加

判断部２２０は、欠損部分があると判断した場合に、データ受信端末２０とデータ配信サーバ１０との間における通信状況、およびデータに関連する状況であるデータ関連状況のうちの少なくとも一方に基づき、欠損部分を修復するか否かを判断する。 - 特許庁

In a defect detecting test of a magnetic disk about one embodiment, after data are written in an object data track (DTr_m, DTr_1), data are written in adjacent data track (DTr_m-1, DTr_1+1), and data are read out from the object data track.例文帳に追加

本発明の一形態にかかる磁気ディスクの欠陥検出テストは、対象データ・トラック（ＤＴｒ＿ｍ、ＤＴｒ＿ｌ）にデータを書き込んだ後に隣接データ・トラック（ＤＴｒ＿ｍ−１、ＤＴｒ＿ｌ＋１）にデータを書き込み、そして、対象データ・トラックを読み出す。 - 特許庁

Respective pattern transfer images 17, 18 are simulated using defect data 15 formed on the basis of a mask image around a defect in a mask 2 and reference data 16 corresponding to the mask image in design data for fabrication of the mask 2.例文帳に追加

マスク２が有する欠陥周辺のマスク像に基づいて作成された欠陥データ１５、およびマスク２の製作用の設計データのうちマスク像に対応する参照データ１６を用いて、それぞれのパターン転写像１７，１８をシミュレートする。 - 特許庁

The defect detection unit then has a detection pixel data holder for temporarily holding pixel data to be written in the SRAM, and a detector for detecting the defect address of the SRAM when the pixel data read from the SRAM are not matched with the pixel data read from the detection pixel data holder.例文帳に追加

そして、欠陥検出部は、ＳＲＡＭに書き込まれる画素データを一時的に保持する検出用画素データ保持部と、ＳＲＡＭから読み出された画素データと検出用画素データ保持部から読み出された画素データとが一致しないときに、ＳＲＡＭの欠陥アドレスを検出する検出器と、を有する。 - 特許庁