「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

In a method for writing, a position of a first data sector on a disk where write operation fails is located, the first data sector and a plurality of other data sectors near the first data sector are identified as a grown defect, and the locations of the first data sector and the plurality of other data sectors are stored in a grown defect list.例文帳に追加

書き込み方法は、書き込み動作が失敗したディスク上の第１データセクタの位置を見つけ、第１データセクタと第１データセクタ近傍にある複数の他のデータセクタを後発欠陥として特定し、第１データセクタと複数の他のデータセクタの位置を欠陥リストに格納する。 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR DEVICE AND DEFECT INSPECTING DATA PROCESSING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

半導体装置の製造方法並びに欠陥検査データ処理方法及びその装置 - 特許庁

The SEM image data is binarized by using the threshold to perform defect detection.例文帳に追加

そして、このしきい値を用いてＳＥＭ画像デ−タを二値化処理し、欠陥を検出する。 - 特許庁

Thus, the defect of the data track is effectively detected, and also the testing period is shortened.例文帳に追加

これにより、データ・トラックの欠陥を効果的に検出し、また、そのテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To obtain a preferable radiation image even when image data has an image defect.例文帳に追加

画像データに画像欠陥を生じた場合であっても良好な放射線画像を得る。 - 特許庁

To prevent the occurrence of a defect due to the arrival of excess data without stopping communication.例文帳に追加

通信を停止させることなく、過剰なデータの到来による不具合の発生を防ぐ。 - 特許庁

Meaningless data is recorded in the space region of the temporary defect management region.例文帳に追加

この臨時欠陥管理領域の空き領域には、意味のないデータが記録されている。 - 特許庁

A wafer is inspected by a wafer defect inspecting part 11, and coordinate value data S11 of a picture are outputted.例文帳に追加

ウェーハがウェーハ欠陥検査部11で検査され、画像の座標値データS11が出力される。 - 特許庁

COMPUTER DEVICE, DISK DRIVE DEVICE, METHOD FOR CONTROLLING DATA READ/WRITE AND METHOD FOR REGISTERING DEFECT MAP例文帳に追加

コンピュータ装置、ディスクドライブ装置、データのリード／ライト制御方法、ディフェクトマップの登録方法 - 特許庁

The film unit equipped with peculiar identification data and having a prescribed image quality defect is manufactured (602).例文帳に追加

特有の識別子と所定の画質欠陥とを有するフィルムユニットが製造される（６０２）。 - 特許庁

In a defect analysis memory part 100, a data storage memory 110 and a compact memory 120 are provided.例文帳に追加

不良解析メモリ部１００が、データ格納メモリ１１０とコンパクトメモリ１２０を備える。 - 特許庁

To shorten time required for defect inspection and to suppress a decrease in the capacity of a data zone.例文帳に追加

ディフェクト検査にかかる時間を短縮し，またデータゾーンの容量の減少を抑える。 - 特許庁

All the image data are transferred to a inspection PC to execute defect inspection by the PC.例文帳に追加

画像データを全て検査用ＰＣに転送し、検査用ＰＣで欠陥検査を実行する。 - 特許庁

On the basis of data on a sector read from the logic disk 12 by read access that matches a read request from the host 20, a data defect determining part 115a determines if the defect information indicating data defects is recorded in the defect information area of the sector.例文帳に追加

データ欠損判定部１１５ａは、ホスト２０からのリード要求に従うリードアクセスによって論理ディスク１２から読み出されるセクタのデータに基づき、当該セクタの欠損情報領域に“データ欠損あり”を示す欠損情報が記録されているかを判定する。 - 特許庁

To provide a substrate with a defect identification marker in which a defect position is readily apparent even if a defect itself is not detected in a device process, and the defect position can be identified from the substrate itself even if the data of defect position information is not prepared separately.例文帳に追加

デバイスプロセス工程でウェハの欠陥そのものを検出しなくても、欠陥位置が容易に分かり、欠陥位置情報のデータを別途用意しなくても、基板自体からその欠陥位置を識別することができる欠陥識別マーカー付き基板、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

When a defect part detecting circuit 20 detects a defect part from a user data region of an optical disk 10, a defect management information generating and storing circuit 3 generates defect management information including at least an address of the defect part and the address of its alternative region and stores them.例文帳に追加

欠陥部位検出回路２０が光ディスク１０のユーザデータ領域から欠陥部位を検出すると、欠陥管理情報生成記憶回路３は欠陥部位のアドレスと、その代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶する。 - 特許庁

Further in the pattern forming apparatus 1, additional coating data 45 is formed by detecting the existence and the position of defects such as a white defect, a black defect or the occurrence of projecting part and additional coating is carried out on the defect position based on the additional coating data 45.例文帳に追加

また、パターン形成装置１は、基板上の白欠陥、黒欠陥、突起等の欠陥の有無及び位置を検出し、追加塗布データ４５を作成し、当該追加塗布データ４５に基づいて、欠陥箇所に追加塗布を行う。 - 特許庁

The coordinate value data S11 are inputted into an image data formation part 12, and graphics showing a defect of the wafer are formed relative to each chip to form image data S12 by the image data formation part 12.例文帳に追加

座標値データS11 は画像データ生成部12に入力され、該画像データ生成部12でウエハの欠陥を示す図形が各チップ毎に作成されて画像データS12 が生成される。 - 特許庁

Each of the plural sectors comprises a user data region 107 for recording user data and an attribute data region 108 for recording defect substitution permission attribute data.例文帳に追加

複数のセクタのそれぞれは、ユーザデータを記録するためのユーザデータ領域１０７と、欠陥代替許可属性データを記録するための属性データ領域１０８とを含む。 - 特許庁

To rearrange data by a simple method without managing servo signal defects, and to prevent data from being lost by rearranging the data before the defect of a servo signal part spreads to a data recording area.例文帳に追加

トラック本数、ヘッド本数が増大するに従って、サーボ信号の欠陥位置管理は複雑な計算と管理のためのメモリ消費量が増大する傾向にある。 - 特許庁

The inspection part 3 specifics a defect becoming an inspection target from the defect on the inspection target surface 4a of a substrate 4 so that the inspection coverage related to the defect of the defect size becomes the target inspection coverage of the defect size at each defect size and outputs data related to the specified defect as the inspection result related to the whole of the inspection target surface 4a.例文帳に追加

検査部３は、欠陥サイズごとに、その欠陥サイズの欠陥についての検査カバレッジが、その欠陥サイズの目標検査カバレッジとなるように、基板４の検査対象面４ａ上の欠陥の中から検査対象となる欠陥を特定し、その特定された欠陥についての情報を、検査対象面４ａの全体についての検査結果として出力する。 - 特許庁

Thus, the defect of a very minute dot included in the sampled data of each pixel is excluded and the defect can properly be inspected by using the small signal.例文帳に追加

これにより、各画素のサンプリングデータに含まれる微細な点状の欠陥を排除し、小信号を用いた適正な検査を行える。 - 特許庁

To provide an imaging device, a defect correction apparatus, a defect correction method, and a program, which perform correction processing of image data with high accuracy.例文帳に追加

画像データの補正処理を高精度で行うことができる撮像装置、欠陥補正装置、欠陥補正方法及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

(C) The defect quantities of the inspected body are estimated based on the data for defect quantity estimation found in (A) and on the size of the guided wave detected in (B).例文帳に追加

（Ｃ）（Ａ）で求めた欠損量推定用データと、（Ｂ）で検出したガイド波の大きさに基づいて、検査体の欠損量を推定する。 - 特許庁

A defect part 13 and a defect part 14 in the inspection object are detected by the binarization threshold value based on the image data obtained by imaging the inspection object.例文帳に追加

検査対象を撮像した画像データから二値化しきい値によって上記検査対象の欠陥部分１３・１４を検出する。 - 特許庁

On the basis of defect information 400, the multiplication calculation part 482 calculates display magnification α1 (display magnification data 403) of a defect region.例文帳に追加

欠陥情報４００に基づいて、倍率演算部４８２が欠陥領域の表示倍率α１（表示倍率データ４０３）を演算する。 - 特許庁

To provide a disk drive device capable of effectively reducing the data amount of a defect map, a method for registering the defect map, etc.例文帳に追加

ディフェクトマップのデータ量を有効に削減することのできるディスクドライブ装置、ディフェクトマップの登録方法等を提供することを目的とする。 - 特許庁

Therefore, a data line defect may be easily repaired by using the dummy buffer section built into the data driver chip.例文帳に追加

それにより、データ駆動チップに内蔵されたダミーバッファ部を用いてデータ配線不良を容易にリペアすることができる。 - 特許庁

To obtain an image data recorder that can record image data without interruption immediately before occurrence of a defect until just after it.例文帳に追加

不良の発生の直前から直後までを切れ目なく記録することができる画像データ記録装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the increase of the communication data amount is evaded and the influence of the reception defect of the data is suppressed.例文帳に追加

従って、通信データ量の増加を回避するとともに、データの受信不良による影響を抑制することができる。 - 特許庁

To provide a data recording and reproducing device which records data continuously by skipping a defect on a disk without re-encoding.例文帳に追加

再エンコードしないで光ディスク上の欠陥をスキップして連続的に記録可能なデータ記録再生装置を提供する。 - 特許庁

A defect management enabled PIRM (100) includes a data storage medium providing a plurality of cross point data storage arrays (302, 304, 306, and 308).例文帳に追加

複数のクロスポイントデータ記憶アレイ(302,304,306,308)を提供するデータ記憶媒体を含む欠陥管理可能ＰＩＲＭ(100)である。 - 特許庁

The contour binary data, and the first and the second defect pixel binary data are combined and displayed on a particulate displaying monitor.例文帳に追加

外形二値データと、第１及び第２不良画素二値データは合成されて粒状物表示モニター上に表示される。 - 特許庁

A digital camera 10 temporarily stores image data 36a to a memory 36, a defect detection function section 180 detects a defective pixel included in read image data 180a and stores the result to a defect address memory 38a.例文帳に追加

ディジタルカメラ10は、メモリ36に画像データ36a を一時格納し、読み出した画像データ180aが含む欠陥画素の検出を欠陥検出機能部180 で行い、欠陥アドレスメモリ38a に格納する。 - 特許庁

Thus, it is possible to seek again a target position by avoiding a servo data defect area, and to avoid the repeated occurrence of the seek error caused by the servo data defect area.例文帳に追加

これにより、サーボ・データ欠陥領域を避けてターゲット位置に再シークすることができ、サーボ・データ欠陥領域によりシーク・エラーが繰り返し発生することを避けることができる。 - 特許庁

A pixel defect correction device receives pixel data from the imaging device having plural photoelectric conversion pixels to properly correct defective pixel data caused by the pixel defect of this imaging device.例文帳に追加

複数の光電変換画素を有する撮像素子からの画素データを受け、該撮像素子の画素欠陥に起因する不良画素データを適切に修正する画素欠陥修正装置である。 - 特許庁

Since defect data are composed of a counted value of signals, information amounts are reduced and inconvenience in derivation and transmission of defect data is never generated even when many defects are detected in a short time.例文帳に追加

また、ディフェクトデータは信号のカウント値であるため情報量が少なく、短時間に多数のディフェクトが検出されても、ディフェクトデータの導出や伝送に不具合が生じることがない。 - 特許庁

To perform the defect inspection of a printed image on the basis of inspecting image data obtained by reading out the printed image and to store the inspecting image data whose defect is detected in consideration of security.例文帳に追加

印刷画像を読み取って得た検査画像データに基づいて印刷画像の欠陥検査を行い、欠陥の見つかった検査画像データをセキュリティを考慮して保管する。 - 特許庁

Defect information obtained by means of an inspection device 102 and review information obtained by means of a reviewing device 103 are stored in a defect data area 111 and a review data area 112 as individual items.例文帳に追加

検査装置１０２による欠陥情報を欠陥データ領域１１１に、レビュー装置１０３によるレビュー情報をレビューデータ領域１１２に個別の項目で記憶する。 - 特許庁

In a data analytical mechanism 21 inside an EWS for device analysis, a defect generation part 11 generates in a pseudo manner defect shape data assumed to be generated in the actual semiconductor device.例文帳に追加

データ解析用ＥＷＳ内のデータ解析機構２ａにおいて、不良発生部１１は、実際の半導体デバイスに発生すると想定される不良形状データを擬似的に発生する。 - 特許庁

Then image data of an inspection image obtained by a pattern defect inspecting device with inspection wavelength is compared and contrasted with the data for phase shift mask correspondence inspection to detect a pattern defect.例文帳に追加

続いて、検査波長でのパターン欠陥検査装置により得た検査画像の画像データと位相シフトマスク対応検査用データとを比較対照してパターン欠陥を検出する。 - 特許庁

Whether the measured data recorded by the means 13 receiving the output refers to the internal defect or not is judged by a defect judgment means, and its result is output e.g. as image data.例文帳に追加

出力を受けたデータ記録手段１３が記録した計測データは、欠陥判断手段によって内部欠陥か否かの判定を行い、その結果を、例えば画像データとして出力する。 - 特許庁

In a data register (10) latching data of a selected memory cell in a memory array (MAR, MAL), when defect of the latch circuit included in this data register exists, a means for performing defect relieving is provided.例文帳に追加

メモリアレイ（ＭＡＲ，ＭＡＬ）において選択メモリセルのデータをラッチするデータレジスタ（１０）において、このデータレジスタに含まれるラッチ回路の不良が存在する場合その不良救済を行なうための手段を設ける。 - 特許庁

When acquiring an image of a position specified by position information of a defect registered in the defect detection data by the imaging device, as for the repeated defect, control is performed, so as not to acquire repeatedly the image of the position of the repeated defect.例文帳に追加

欠陥検出データに登録されている欠陥の位置情報で特定される位置の画像を、撮像装置により取得する際に、重複欠陥については、当該重複欠陥の位置の画像を重複して取得しない制御を行う。 - 特許庁

A defect classification processing section 222 classifies the defects, by what a position of the defect is included in which region of the defined regions with regard to defect data 133 (233) sampled from the defects obtained at a defect-reviewing device 10.例文帳に追加

欠陥分類処理部２２２は、欠陥レビュー装置１０で取得された欠陥からサンプリングしたサンプリング欠陥データ１３３（２３３）について、その欠陥の位置が前記定義された領域のどの領域に含まれるかによって、欠陥を分類する。 - 特許庁