「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

The defect substitution permission attribute data indicates whether recording of user data is performed in a permitted state in which execution of defect substitution processing substituting a defective region in the user region 104 by a substitution region in the spare region 105 is permitted or not.例文帳に追加

欠陥代替許可属性データは、ユーザデータの記録が、ユーザ領域１０４内の欠陥領域をスペア領域１０５内の代替領域に代替する欠陥代替処理の実行が許可された状態で行われたか否かを示す。 - 特許庁

According by, the pattern data is prevented from being unexpectedly divided within the divided region determined according to the defect inspecting machine file format to solve the increase in data by the unnecessary pattern division and the delay of processing operation of the defect inspecting machine using it.例文帳に追加

これにより欠陥検査機用のファイルフォーマットで決まる分割領域内で図形データが不用意に分割されるのを防止して、不必要な図形分割によるデータの増大と、これを利用する欠陥検査機の処理動作の遅れを解消する。 - 特許庁

To provide a memory device in which data stored in a memory cell array are compared with test data stored in the memory device or inverted data of the test data to detect defect of the memory device and to provide a parallel bit test method of the memory device.例文帳に追加

メモリセルアレイに貯蔵されたデータをメモリ装置の内部に貯蔵されたテストデータまたはテストデータの反転データと比較してメモリ装置の不良を検出するメモリ装置及びこの装置の並列ビットテスト方法を提供する。 - 特許庁

A data processing part 10 regards a part where a defect in data writing is occurring among for storage parts A, B, C, and D as a faulty device and performs control so that no sales data is written to the device.例文帳に追加

データ処理部１０は、４つの記憶部Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄのうちデータ書き込み不良が生じているものを故障装置と見なし、その装置には売上データを書き込む制御を行わない。 - 特許庁

To provide a bit map data generating apparatus and a method for an IC tester, capable of generating bit map data at high speed without reading out data itself recorded in a defect analysis memory.例文帳に追加

不良解析メモリに記録されたデータ自体を外部に読み出すことなく、高速にビットマップデータを作成することのできるＩＣ試験装置のビットマップデータ作成装置および方法を提供すること。 - 特許庁

In one implementation shape of this defect detecting test of the magnetic disk, a write test of each data track is carried out toward the inner peripheral side from outer peripheral side to write test data on each data track.例文帳に追加

本発明の一つの実施形態において、磁気ディスクの欠陥検出テストは、外周側から内周側に向かって、各データ・トラックのライト・テストを行い、各データ・トラックにテスト・データをライトする。 - 特許庁

When any defect occurs in an operation data group acquired by an operation data acquiring means 3, the defective data part is complemented by using complement data complemented by a defective data complementing means 6, and analyzed according to a failure diagnostic rule 5a by a failure diagnosing means 4.例文帳に追加

運転データ取得手段３で取得された運転データ群に欠損がある場合、その欠損データ部分を欠損データ補完手段６で補完された補完データを用いて補完した上で故障診断手段４で故障診断ルール５ａに従って解析する。 - 特許庁

Before the image data are subjected to an elaborate process for the detection of red eye defect, exclusion criteria are analyzed in the course of an exclusion process, whereby the criteria provide the information to definitively rule out the occurrence of red eye defect.例文帳に追加

赤目欠陥が現れない画像を確定的に除外する除外基準が、画像データに対して負担のかかる赤目欠陥の識別方法が使用される前に、除外方法の範囲で検査される。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus and a defect detection method for facilitating a setup of threshold values in a plurality of scattered light detectors, and properly obtaining detection data from the individual scattered light detector.例文帳に追加

複数の散乱光検出器のしきい値設定を容易化し、個々の散乱光検出器の検出データを適切に取得することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

Before access to a memory section 1 is started, defect specifying data for specifying a storage area having the defect in the memory section 1 are transferred to a scan flip-flop SFF 2 from a fuse circuit 10.例文帳に追加

メモリ部１へのアクセスを開始する前に、メモリ部１内の欠陥を持つ記憶領域を特定するための欠陥特定用データがヒューズ回路１０からスキャンフリップフロップＳＦＦ２に転送される。 - 特許庁

To provide a method for determining machining defects of a cast product, which method can effectively utilize a defect data showing the position of the defect obtained by a casting simulation, etc. in the case of manufacturing an actual cast product.例文帳に追加

鋳造シミュレーションなどにより得られた欠陥位置を示す欠陥データを実際の鋳造品の製造に対して有効利用できる鋳造品の加工不良判定方法の提供。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory having configuration enabling a leakage defect of a memory cell to be detected regardless of a data value of the memory cell, and to provide a method for detecting the leakage defect of the nonvolatile semiconductor memory.例文帳に追加

メモリセルのデータ値の如何にかかわらずメモリセルのリーク不良を検出することができるような構成の不揮発性半導体メモリ及びそのリーク不良検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method, a schedule control method and a defect inspection device for periodically performing schedule control with high accuracy by plotting data of the number of defects in various kinds of electronic devices on the same chart.例文帳に追加

欠陥検査方法、工程管理方法及び欠陥検査装置に関し、複数品種の電子デバイスの欠陥数データを同一のチャートにプロットして、工程管理を定期的に精度良く行う。 - 特許庁

To provide a defect tolerance evaluation method for a structure within a reactor accurately carrying out defect tolerance evaluation by using material testing data obtained from a sample taken from an evaluation object portion itself.例文帳に追加

評価対象部位そのものから採取したサンプルから得られた材料試験データを用いて精度よく欠陥裕度評価を行う炉内構造物の欠陥裕度評価方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate specification of a trouble caused by an inspection equipment or process by performing defect distribution state analysis based on defect data detected by the inspection equipment in the production process of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

To provide a storage device and its storing method which enables easy confirmation as to whether data has been written normally (whether a writing defect occurs) at data updating.例文帳に追加

更新時におけるデータの書き込みが正常に行われたか否か（書き込み不良が生じた）を容易に知ることのできる記憶装置及びその記憶方法を提供する。 - 特許庁

To provide a disk player and a disk playing-back method capable of realizing the highly accurate data reproduction by executing the exact data process to cope with a defect.例文帳に追加

ディフェクトに対応して的確なデータ処理を実行することにより、精度の高いデータ再生を実現するディスク再生装置及びディスク再生方法を提供する。 - 特許庁

A sorting means sorts defect kinds on the basis of the maximum value, minimum value and area value of feature data merged by the feature data merging means 108.例文帳に追加

分類手段１０９は、特徴データ統合手段１０８により統合された特徴データの最大値、最小値、面積値に基づいて、欠陥種類を分類する。 - 特許庁

To provide a device for processing data correction which corrects a defect of defective data from a defective photoelectric converting element at high speed and whose circuit scale can be made small.例文帳に追加

欠陥のある光電変換素子からの欠陥画素データの欠陥補正を高速に行い且つ回路規模を小さくすることが可能なデータ補正処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern-inspecting device for reducing unneeded inspection time caused by the pattern defect of design-side data due to the inconveniences of a design data development circuit.例文帳に追加

設計データ展開回路の不具合による設計側データのパターン欠陥に起因する無駄な検査時間を削減することが可能なパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

A temperature-measuring device 19 measures the surface temperature of the specimen in a time series manner and outputs the measured data to a data-recording means 13 of a defect inspection controller 10.例文帳に追加

温度計測器１９は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置１０のデータ記録手段１３に出力する。 - 特許庁

Next, comparison between a set threshold to be a defect criterion with the correction data, and comparison with a normal value of an inclination of the correction data in a set section are performed.例文帳に追加

次に、設定された欠陥判断基準となる閾値と修正データとの比較と、設定された区間内での修正データの傾きの正常値との比較とを行う。 - 特許庁

The image data is divided into the data in every of the display cells, using the minimum value in the standard deviation profile as coordinates of the each cell, and the defect is determined the display cell by the display cell.例文帳に追加

そして、標準偏差プロファイルの極小値を各表示セルの座標として、画像データを表示セル毎のデータに分割し、表示セル毎に欠陥判定を行う。 - 特許庁

The defect reviewing system 10 obtains image data of regions subjected to a review of a semiconductor wafer WF which is placed on a stage 11 by a data obtaining mechanism 12 for reviewing.例文帳に追加

欠陥レビュー装置１０は、レビュー用データ取得機構１２によってステージ１１に載置された半導体ウェハＷＦのレビュー対象領域を画像データ化する。 - 特許庁

To compensate for insufficient reproduction of data even when such a TA or a medium defect as increases retrying or disables reading a data part occur in AGC/PLL parts.例文帳に追加

本発明は、リトライの増加やデータ部の読み出しができなくなるようなＴＡや媒体欠陥が、ＡＧＣ／ＰＬＬ部に生じた場合であっても、データの再生を補償する。 - 特許庁

To solve the problem that a memory defect cannot be decided only from the data outputted through latch circuits from a pair of read data buses, when a memory test is carried out by address degradation.例文帳に追加

アドレス縮退によりメモリテストを行った時は、１対のリードデータバスからにラッチ回路を通じて出力されるデータだけではメモリ不良を判定できない。 - 特許庁

A temperature measuring instrument 19 measures the temperature on a surface of the inspected object in time sequence and outputs measurement data to a data recording means 13 of a defect inspection controlling apparatus 10.例文帳に追加

温度計測器１９は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置１０のデータ記録手段１３に出力する。 - 特許庁

Thus, the defect can appropriately be managed even if data to which real time property is requested is recorded and reproduced.例文帳に追加

これにより、実時間性が要求されるデータを記録再生する場合にも適切なディフェクトマネージメントを可能とすることができる。 - 特許庁

A parameter for detecting a blot defect is calculated by image-processing the image data by an image processing means in an image processing process.例文帳に追加

画像処理工程では、撮像データを画像処理手段で画像処理してシミ欠陥を検出するパラメータを算出する。 - 特許庁

To screen a so-called variable retention time (VRT) defect caused by the fact that a data retention time varies like random telegraph noise in DRAM.例文帳に追加

DRAMにおいて、データ保持時間がランダム・テレグラフ・ノイズ的に変化してリテンション不良となる、いわゆるVariable Retention Time（VRT）不良をスクリーニングする。 - 特許庁

An inspection map is prepared by performing a defect detection process 32 to the surface of the substrate, and a data base 34a is provided.例文帳に追加

基板表面に対して欠陥検出プロセス３２を行って検査マップを製作し、またデータベース３４ａを提供する。 - 特許庁

To properly correct defective pixel data caused by a pixel defect of an imaging device without being affected by the image pickup object.例文帳に追加

撮像対象に影響されることなく撮像素子の画素欠陥に起因する不良画素データを適切に訂正可能にする。 - 特許庁

By altering the position of the defect on the design data, the defective fraction can be reduced and the yield can be improved.例文帳に追加

また、欠陥の位置を設計データ上で変更させることにより、不良率を下げて歩留まりの向上を図ることができる。 - 特許庁

This means that the defect of the data line is judged by the logical value of output of the logical circuit, that is, a binary state.例文帳に追加

これはデータ線の欠陥は、論理回路の出力である論理値、つまり２値の状態によって判定できることを意味する。 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING DEFECT OF SHEET-SHAPED PRODUCT HAVING OPTICAL FILM, APPARATUS FOR PROCESSING TEST DATA THEREOF, APPARATUS FOR CUTTING SAME, AND PRODUCTION SYSTEM THEREOF例文帳に追加

光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム - 特許庁

The defect existing in the vicinity of the surface of the specimen 2 is detected thereby based on the difference wave form data.例文帳に追加

このため、かかる差分波形データに基づいて、被検査体２の表面近傍に存在する欠陥を検出することができる。 - 特許庁

Image data obtained by imaging the reproduced model defect by an imaging means of the inspection device are acquired in an image processing process.例文帳に追加

撮像工程において、再現されたモデル欠陥を検査装置の撮像手段によって撮像した撮像データを取得する。 - 特許庁

When a defect exists in annual ring data, a file system recognizes a plurality of RUBs in which defects exist and informs it to a file manager.例文帳に追加

ファイルシステムは、年輪データの中にディフェクトがあった場合、ディフェクトがあった複数のRUBを認識して、ファイルマネージャに通知する。 - 特許庁

Consequently, even when defect management is performed in block units, data can be replaced in an area smaller than a block.例文帳に追加

これにより、欠陥管理がブロック単位で行なわれる場合であっても、ブロックより小さい領域でのデータの交替が可能となる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which can perform easily defect detection of the data line redundancy replacing circuit of a shift system.例文帳に追加

シフト方式のデータ線冗長置換回路の不良検出を容易に行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A plane coordinate acquisition part 302 acquires plane coordinates of pixels showing the defect of the test object included in image data.例文帳に追加

平面座標取得部３０２は、画像データに含まれる検査対象の欠陥を示す画素の平面座標を取得する。 - 特許庁

To provide a processing method for digital photo images using a method of automatic detection of red eye defect for image data.例文帳に追加

この発明は、 画像データに対して赤目欠陥の自動識別方法を使用するデジタル写真画像の処理方法に関する。 - 特許庁

To shorten analysis time and increase analysis accuracy by arranging and providing a vast amount of defect inspection data ready for use.例文帳に追加

膨大な欠陥検査データを整理して使い易い形とすることにより、解析時間の短縮及び解析精度を高める。 - 特許庁

A defect region size measuring circuit 4 retrieves defect management information before re-initialization when re-initializing the optical disk 10, divides a whole user data region into a plurality of segments, measures defect region size for each segment, then, an alternative region size setting circuit 5 decides alternative region size which is allocated to each user data region after re-initialization based on the defect region size for each segment.例文帳に追加

欠陥領域サイズ計測回路４は光ディスク１０の再初期化時に、再初期化前の欠陥管理情報を検索し、ユーザデータ領域全体を複数のセグメントに分割して、各セグメント毎の欠陥領域サイズを計測し、代替領域サイズ設定回路５は各セグメント毎の欠陥領域サイズに基づき、再初期化後の前記各ユーザデータ領域に割当てる代替領域サイズを決定する。 - 特許庁

In the surface defect data display management device 3, a risk level calculation part 33 calculates an influence degree of a defect upon yield of the final product on the basis of a defect size of the wafer detected by an appearance inspection device 12 and a review device 10 and a pattern density obtained from design data of a pattern figure corresponding to neighbors of the position of the defect.例文帳に追加

表面欠陥データ表示管理装置３において、危険率算出部３３は、外観検査装置１２やレビュー装置１０によって検出されたウェーハの欠陥サイズと、その欠陥の位置の近傍に対応するパターン図の設計データから得られるパターン密度とに基づき、その欠陥が最終製品の歩留まりに影響を及ぼす影響度を表面欠陥の危険率として算出する。 - 特許庁