「defect data」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To surely detect a defect of power source current at the standby time of a data processing section in a semiconductor memory having a memory array and the data processing section.例文帳に追加

メモリアレイおよびデータ処理部を有する半導体記憶装置としてデータ処理部の待機時電源電流不良を確実に検出可能にする。 - 特許庁

The defect information management device is used which has a display unit 13, a first database 31, a second database 33, a data analysis part 24 and a data retrieval part 25.例文帳に追加

表示装置１３、第１データベース３１、第２データベース３３、データ解析部２４及びデータ検索部２５を備える不具合情報管理装置を用いる。 - 特許庁

A series of information related with one panel 11 is preserved in the data base 25 without being overlapped with each other, and the information preserved in the data base 25 is utilized for defect analysis.例文帳に追加

１つのパネル11に関しての情報を重複することなく一連にデータベース25に保存し、データベース25に保存された情報を不良解析に活用する。 - 特許庁

To provide a defect detecting device that can detect a defect of low contrast having a small concentration difference with respect to a circumference, without using a memory and a computing element of a large data width.例文帳に追加

周囲との濃度差が小さい低コントラストの欠陥を、データ幅の大きなメモリ及び演算器を使用することなく検出することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an imaging device which can obtain single image data which prevents complete absence of brightness information by recovering brightness information at a position of a defect image element even if a defect image element is generated.例文帳に追加

欠陥画素が生じても、欠陥画素の位置での輝度情報を回復して、輝度情報が完全に欠損することを防いだ単一画像データを取得可能な撮像装置を得る。 - 特許庁

To achieve high speed processing by reducing defect decision time of an object, comprising extraction time of a feature point in an image processing part and the defect decision time by a data processing part.例文帳に追加

画像処理部での特徴点の抽出時間とデータ処理部による欠陥判定時間の総和から成る対象物の欠陥判定時間を減少させて高速処理を実現する。 - 特許庁

Then, the defect inspection device is enabled to recalculate an inspection result in response to change in a threshold coefficient from the inspection result data, display it on an assist tool picture (GUI), and observe a detection defect.例文帳に追加

次に、検査結果データから、しきい値係数の変更による検査結果の再計算を可能とし、アシストツール画面(ＧＵＩ)上に表示させ、検出欠陥の観察も可能とする。 - 特許庁

To improve the extraction accuracy of line defect and enhance the resistance to noise in a TFT array inspection device to precisely specify a cross line defect even in measured data with insufficient S/N.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置において、線欠陥の抽出精度を向上させること、ノイズに強く、Ｓ／Ｎが不十分な測定データにおいても精度良くクロス線欠陥を特定すること。 - 特許庁

To provide a defect inspecting apparatus for a display device capable of imaging display of the display device such as a liquid crystal panel and specifying an absolute position of a point defect precisely from an acquired imaged data.例文帳に追加

液晶パネル等の表示装置の表示を撮像し、得られた撮像データから点欠陥の絶対位置を正確に特定することが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A data region is divided into a plurality of partial areas (UDA1, UDA2) (step 303), and defect management information including a defect management method is set for each partial area (step 305).例文帳に追加

データ領域を複数の部分領域（ＵＤＡ１、ＵＤＡ２）に分割し（ステップ３０３）、部分領域毎に欠陥管理方式を含む欠陥管理情報を設定する（ステップ３０５）。 - 特許庁

A plurality of pieces of classification information for a plurality of inspection data about one defect are allowed to be registered, and classification information of a defect which is an object for analysis is allowed to be arbitrarily selected.例文帳に追加

ひとつの欠陥に複数の検査データに対する複数の分類情報を登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。 - 特許庁

A template 100 set for classifying the defect distribution of a certain substrate group and data groups 101 and 102 obtained by classifying whether or not the defect distribution of the substrate group is pertinent to a defect distribution pattern described in the template 100 are prepared.例文帳に追加

或る基板群の欠陥分布を分類するために設定されたテンプレート１００と、基板群の欠陥分布がテンプレート１００に記述された欠陥分布パターンに該当するか否かを分類して得られたデータ群１０１，１０２とを用意する。 - 特許庁

A memory LSI is tested, the number of defect bits are counted for bit map data for each address coordinate, a histogram of the number of defect is made, and wavelet analysis making harl function a base function is performed by assuming the made histogram of the number of defect as a discrete signal.例文帳に追加

メモリＬＳＩを試験し、ビットマップデータに対してアドレス座標毎に不良ビット数をカウントし、不良数ヒストグラムを作成し、作成した不良数ヒストグラムを離散信号とみなして、ハール関数を基底関数としたウェーブレット解析を行う。 - 特許庁

In other words, the defect data is not shown by simply being overlapped with the shape of the cast product, but the attention is payed to the relation between the defect and the machining portion to be especially considered to cause a problem if the defect exists near the machining portion.例文帳に追加

つまり、欠陥データと鋳造品の形状とを単純に重ね合わせて表示するのではなく、欠陥が近接していると特に問題が生じるであろう部位であると考えられる加工部と欠陥との間の関係に着目している。 - 特許庁

When reading data recorded in DVD-RAM at the time of rewriting the data to DVD-RAM 130, a disk driver 121 generates defect information presenting the position of the defect or the like on the recording plane of the DVD-RAM.例文帳に追加

ディスクドライバ１２１は、ＤＶＤ−ＲＡＭ１３０に対するデータの書換時において、ＤＶＤ−ＲＡＭに記録されたデータを読み出すときに、ＤＶＤ−ＲＡＭの記録面上の欠陥位置等を示す欠陥情報を生成する。 - 特許庁

Based on the amount of detected movement and the pixel value of one of the phase difference detection pixels in the first pixel data, the defect correction unit 330 corrects the pixel value of the defect pixel in the second image data.例文帳に追加

そして、欠陥補正部３３０は、前記検出された移動量および前記第１の画像データにおける一方の位相差検出画素の画素値に基づいて、前記第２の画像データにおける前記欠陥画素の画素値を補正する。 - 特許庁

To provide a defect analysis support system which can readily specify factors of defect and factors of a characteristic variation by carrying out coordination of defect sorting information classified for each factor of defect and characteristic data information to material batch information, manufacturing condition batch information and manufacturing process batch information, and summarizing and analyzing them.例文帳に追加

不良の要因毎に分類した不良区分情報や特性データ情報を、材料バッジ情報、製造条件バッジ情報、製造工程バッジ情報と対応付け及び集計、解析し、不良の要因特定、及び特性変動の要因特定を容易に可能とする不良解析支援システムを提供すること。 - 特許庁

The defect inspection apparatus scans a local region of a defect detected on the surface of the inspected structure, measures the quantity of a characteristic property corresponding to a type of the defect such as the coincidence with a crystal grain boundary of the crack, compares a measured detection signal with a database data and determines a type of the defect.例文帳に追加

検査対象構造物の表面に検出された欠陥の局部的範囲を走査し、欠陥の種別に応じた例えば亀裂の結晶粒界との一致度のような特徴的な特性量を計測し、この計測された検出信号をデータベースのデータと比較し欠陥種別を判定する。 - 特許庁

The pixel data are corrected, on the basis of the noise data and pixel defect flag in the HDR-RAW data stored in the BRAM 4, and the corrected pixel data are composited, on the basis of the exposure code and the saturation determination flag to generate picked-up image data.例文帳に追加

そして、ＢＲＡＭ４に記憶されたＨＤＲ−ＲＡＷデータにおける、ノイズデータ及び画素欠陥フラグに基づき画素データを補正し、露光コード及び飽和判定フラグに基づき、補正後の画素データを合成して撮像画像データを生成する。 - 特許庁

When a defective sector with data defects is detected as the result of a data read failure upon read access to a logic disk 12, a data defect registering part 113 causes defect information that indicates the data defects in the defective sector to be recorded in the defective information area of an alternative sector to which the defective sector is allocated.例文帳に追加

データ欠損登録部１１３は、論理ディスク１２へのリードアクセス時のデータ読み出し失敗によりデータ欠損のある不良セクタが検出された場合、当該不良セクタに関し、当該不良セクタが割り当てられる代替セクタの欠損情報領域に“データ欠損あり”を示す欠損情報を記録する。 - 特許庁

An error detection section 25A detects the word delimiter data included in the data S21 for detection of occurrence of a synchronization defect between the received serial data and the reproduce clock sign in the case that position data denoting the detection position are dissident as to two word delimiter data with the same data stream inbetween.例文帳に追加

エラー検出部２５Ａにおいて、データＳ２１に含まれるワード区切りデータが検出され、この検出位置を示す位置データが同一のデータ列を挟む２つのワード区切りデータについて一致しない場合に、受信シリアルデータと再生クロック信号とが同期不良を起こしていることを検出する。 - 特許庁

A defect data acquiring section 17 monitors a defective position in broadcast data and, when the defective position in the broadcast data is detected, acquires substitute data determined based on a playback position at a present point of time, the defective position of in the broadcast data and information on the substitute data.例文帳に追加

欠損データ取得部１７が、放送データの欠損した位置を監視すると共に、放送データが欠損した位置を検知した場合に、その欠損位置を再生するまでに、現時点の再生位置、放送データの欠損位置及び代替データの情報に基づいて決定された代替データを取得する。 - 特許庁

A plot controller stores two-dimensional defect position data as plot data produced by projecting a position of the micro-defect generated in the painted surface of the vehicle onto the horizontal or vertical two-dimensional projecting plane, retrieves the plot data sequentially, in response to switch operation and plots them on the painted surface of the vehicle.例文帳に追加

プロット制御部が、車両塗面に生じている微小欠陥位置を水平もしくは垂直の二次元投影面に投影した二次元の欠陥位置データをプロットデータとして格納し、スイッチ操作に応答して順にプロットデータを検索して車両塗面にプロットする。 - 特許庁

Radioactive rays penetrating the object irradiates against the picture pick-up panel 11, a produced second image data is wrote in the image memory 20, and the image data of the position represented by the defect information memorized in the defect information memory 26 is amended by the image data of normal image elements of this position.例文帳に追加

被写体を透過した放射線を撮像パネル１１に照射して作成した第２の画像データを画像メモリ部２０に書き込み、欠陥情報メモリ部２６に記憶されている欠陥情報で示された位置の画像データを、この位置の周囲の正常画素の画像データを用いて補正する。 - 特許庁

The image correction apparatus is provided with an image acquisition section for acquiring image data representing an image, a correction section for detecting the eye-related defect in the image represented by the image data acquired by the image acquisition section and for correcting the detected defect and an image display section for displaying the image based on the image data.例文帳に追加

画像を表す画像データを取得する画像取得部と、画像取得部により取得された画像データにより表わされる画像中の目の不具合を検出し、検出された不具合を修正する修正部と、画像データに基づく画像を表示する画像表示部とを備える。 - 特許庁

The TFT array inspection device 1 for inspecting a TFT array based on two-dimensional measured data obtained by driving each pixel of a TFT substrate 2, comprises a data processing means 5 determining a defect point of line defect from the two-dimensional measured data of the TFT substrate 2.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置１は、ＴＦＴ基板２の各画素を駆動して得られる二次元の測定データに基づいてＴＦＴアレイを検査するＴＦＴアレイ検査装置において、ＴＦＴ基板２の二次元の測定データから線欠陥の欠陥点を求めるデータ処理手段５を備える。 - 特許庁

Defect/image information output from an inspection device is butted on ADR/ADC information output from an observation means on a data processor, they are listed and displayed, and a relation between the defect characteristic amount and average detection ratio is displayed using the data, and the defect characteristic amount and the number of detections are displayed every review category.例文帳に追加

検査装置から出力される欠陥・画像情報と、観察装置から出力されるADR・ADC情報とをデータ処理装置上で突き合わせをし、一覧表示させると共に、そのデータを用いて欠陥特徴量と平均検出率の関係や、レビューカテゴリごとにその欠陥特徴量と検出数を示す。 - 特許庁

The data treatment part includes a mechanism of comparing defect information for the identical information imaged by different camera devices and determining and displaying the defect information based on image data imaged by one camera device determined among the different camera devices in accordance with a determination rule as representative defect information.例文帳に追加

データ処理部は、異なるカメラ装置で撮像された同一の欠陥についての欠陥情報を比較し、決定ルールに従って決定された異なるカメラ装置のうちの１つのカメラ装置で撮像された画像データに基づき抽出した欠陥情報を代表欠陥情報として決定し、表示する機能を備えた。 - 特許庁

The method for managing the defect area comprises appropriately determining an alternate area in case of the occurrence of a defect without previous division of the area to a data area and a spare like heretofore, transferring the data to be recorded thereto and separately managing the information of the position alternated with the defect position information.例文帳に追加

そのために本発明の欠陥領域管理方法は、従来のように予めデータ領域とスペア領域とに分けておかずに、欠陥が発生したときに適宜交替領域を決めてそこに記録するデータを移すと共に、欠陥位置情報と交替した位置の情報を別途管理するようにした。 - 特許庁

In a defect analyzing computer 10, the number of defective bits are counted for each coordinate based on defective data (bit map data) BD obtained by an electrical test by a tester 2 and a defect numbers histogram is made (means 12), wavelet analysis is performed for the defect numbers histogram and a wavelet coefficient is calculated (means 13).例文帳に追加

不良解析計算機１０は、テスタ２による電気的試験により得られた不良データ（ビットマップデータ）ＢＤに基づいて座標ごとに不良ビット数をカウントして不良数ヒストグラムを作成し（手段１２）、不良数ヒストグラムについてウェーブレット解析を行ないウェーブレット係数を算出する（手段１３）。 - 特許庁

To provide a diagnostic system for identifying the defect of a device by analyzing a data file generated by a device.例文帳に追加

装置によって生成されたデータファイルを分析することによって、装置の欠陥を識別する診断システムを提供する。 - 特許庁

To provide a data processor capable of realizing high-speed reading of an on-chip nonvolatile memory, and the improvement of the defect saving efficiency.例文帳に追加

オンチップ不揮発性メモリの高速読み出しと、欠陥救済効率の向上を実現するデータプロセッサを提供する。 - 特許庁

To provide a radio frequency (RF) generator in which received data are stored for a predetermined time before receiving a defect instruction.例文帳に追加

不良指示を受信する前に所定時間の間、受信したデータを保存する無線周波発生器を提供する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR CLASSIFYING DEFECT OCCURRING AT SURFACE OF SUBSTRATE USING GRAPHICAL REPRESENTATION OF MULTI-CHANNEL DATA例文帳に追加

マルチチャネルデータのグラフィック表現を用いて基板の表面において生じる欠陥を分類するための方法及びシステム - 特許庁

To prevent a breakage of an image, data of a patient or the like and a defect of the recording medium when a portable recording medium is removed.例文帳に追加

可搬記録媒体を抜去する際の画像や患者データ等の破壊を防止し、記録媒体の故障も防止する。 - 特許庁

The pattern data only of a place where this defect is detected can be output to an external device from the inspection device 100.例文帳に追加

この欠陥の検出された箇所のみのパターンデータは、検査装置１００から外部装置に出力可能である。 - 特許庁

To provide a substrate processing system which allows to easily confirm a place and a cause of occurrence of data transfer defect.例文帳に追加

データ転送異常の発生箇所や発生原因を容易に確認することができる基板処理システムを提供する。 - 特許庁

To exactly prevent defect caused by collision of refresh operation and data access operation without reducing processing speed.例文帳に追加

処理速度の低下を招くことなく、リフレッシュ動作及びデータアクセス動作の衝突による不具合を確実に防止する。 - 特許庁

The existence of the defect is determined by comparing the difference data with a positive first threshold value and a negative second threshold value.例文帳に追加

差分データを正の第１しきい値および負の第２しきい値と比較することにより、欠陥の有無が判定される。 - 特許庁

A first mask including a plurality of first features is inspected for defects in the features, and defect data are stored (step 20).例文帳に追加

複数の第１のフィーチャを含む第１のマスクが、フィーチャの欠陥に関して検査され欠陥データが記憶される２０。 - 特許庁

An image defect detecting unit 15 detects a defective portion from the motion image data outputted from the unit 14.例文帳に追加

画像欠陥検出部１５は、画像伸張処理部１４が出力する動画像データから欠陥部分を検出する。 - 特許庁

A displaced crest factor emulation defect is selectively positioned at the defective serial data pattern analog output signal.例文帳に追加

欠陥のあるシリアル・データ・パターン・アナログ出力信号に変位クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥を選択的に位置決めする。 - 特許庁

The display 7 displays thumbnail images formed by reducing review inspection images of the respective defect based upon the thumbnail image data.例文帳に追加

ディスプレイ７は、サムネイル画像データに基づいて、各欠陥のレビュー検査画像を縮小したサムネイル画像を表示する。 - 特許庁

In a process 14, the defect distribution (number of defects per unit area) of insulating films is found from data provided in the process 13.例文帳に追加

過程１４は、過程１３で得られたデータから絶縁膜の欠陥分布（単位面積当たりの欠陥）を求める。 - 特許庁

To easily confirm a repair result in illumination inspection of a final stage by finding a defect to be repaired by using coordinate data representing a defect position calculated from image defect inspection and electric operation confirming inspection carried out before a repair stage.例文帳に追加

リペア工程前に行われる画像欠陥検査及び電気的動作確認検査から算出される欠陥位置を示す座標データを用いてリペアすべき欠陥を求め、最終工程の点灯検査においてリペア結果の確認が容易にできるようにする。 - 特許庁