「defect distribution」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD OF SIMULATING POINT DEFECT AREA AND MINUTE DEFECT DISTRIBUTION OF SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

シリコン単結晶の点欠陥領域と微小欠陥分布のシミュレーション方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SORTING DEFECT DISTRIBUTION例文帳に追加

欠陥分布分類方法および欠陥分布分類装置 - 特許庁

PROCESS FOR IDENTIFYING DEFECT DISTRIBUTION IN SILICON SINGLE CRYSTAL INGOT例文帳に追加

シリコン単結晶インゴットの欠陥分布の識別方法 - 特許庁

SIMULATION METHOD FOR DENSITY DISTRIBUTION AND SIZE DISTRIBUTION OF VOID DEFECT IN SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

単結晶内ボイド欠陥の密度分布及びサイズ分布のシミュレーション方法 - 特許庁

To provide a silicon wafer having controlled defect distribution.例文帳に追加

制御された欠陥分布を有するシリコンウェーハを提供する。 - 特許庁

An image of the detected defect is supplied to a defect classification means (36), and the defect is classified based on the shape or the brightness distribution of the image of the defect.例文帳に追加

検出された欠陥の画像は、欠陥分類手段（３６）に供給され、欠陥画像の形状及び輝度分布に基づいて欠陥が分類される。 - 特許庁

An image of a detected defect is supplied to defect classifying means (36), and the defect is classified based on a shape of the defect image and brightness distribution.例文帳に追加

検出された欠陥の画像は、欠陥分類手段（３６）に供給され、欠陥画像の形状及び輝度分布に基づいて欠陥が分類される。 - 特許庁

APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR ANALYZING DISTRIBUTION PATTERN OF SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥の分布形態解析装置、方法、及びプログラム - 特許庁

METHOD FOR MEASURING POINT DEFECT DISTRIBUTION OF SILICON MONOCRYSTAL INGOT例文帳に追加

シリコン単結晶インゴットの点欠陥分布を測定する方法 - 特許庁

Final defect distributions on each substrate are sorted into defect-distribution patterns P1 and P2 by using final defect-distribution information in a final inspection process 10g.例文帳に追加

最終検査工程１０ｇにおける最終欠陥分布情報を用いて、各基板上の最終欠陥分布を欠陥分布パターンＰ１、Ｐ２毎に分類する。 - 特許庁

The luminance distribution varies in accordance with kinds of defects, so the defect is classified from points of view of the shape and luminance distribution of the defect image.例文帳に追加

欠陥の種類に応じて、輝度分布が相違するので、欠陥画像の形状及び輝度分布の観点より欠陥を分類する。 - 特許庁

The defect density generated by a lattice mismatching is reduced, and the defect distribution can be distributed.例文帳に追加

格子不整合によって発生する欠陥密度を減少させ、欠陥分布を分散させることができる。 - 特許庁

METHOD OF SIMULATING DENSITY AND SIZE DISTRIBUTION OF DEFECT IN SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

単結晶内欠陥の密度分布及びサイズ分布のシミュレーション方法 - 特許庁

This inspection data processor is displayed with a defect map 19 indicating a position of a defect on a film, and a defect histogram 21 indicating a distribution of the defects on the film.例文帳に追加

フィルム上の欠陥の位置を示す欠陥マップ１９やフィルム上の欠陥の分布を示す欠陥ヒストグラム２１が表示されている。 - 特許庁

Then, a generation cause of the common defect is specified from a common defect distribution corresponding to the discrimination number.例文帳に追加

そして、識別番号に対応する共通欠陥分布から、当該共通欠陥の発生原因を特定する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING DEFECT DISTRIBUTION FEATURE例文帳に追加

欠陥の分布特徴解析方法および欠陥の分布特徴解析装置 - 特許庁

Since the defect cause is made clear owing to the defect rate distribution display screen to which the defect rate distribution of the second full-shot molded article is displayed and the known second molding causative value, unskilled workers can estimate the defect cause same as skilled workers.例文帳に追加

第２フルショット成形品の不良度分布を表示する不良度分布表示画面と既知の第２成形原因値とにより、その不良原因が明白になり、未熟練者は熟練者並みにその不良原因を推定することができる。 - 特許庁

A template 100 set for classifying the defect distribution of a certain substrate group and data groups 101 and 102 obtained by classifying whether or not the defect distribution of the substrate group is pertinent to a defect distribution pattern described in the template 100 are prepared.例文帳に追加

或る基板群の欠陥分布を分類するために設定されたテンプレート１００と、基板群の欠陥分布がテンプレート１００に記述された欠陥分布パターンに該当するか否かを分類して得られたデータ群１０１，１０２とを用意する。 - 特許庁

A defect distribution on substrate is sorted by comparing the calculated feature amount with a set of features indicating the known defect distribution pattern (S304 to S306).例文帳に追加

その特徴量がなす組と、既知の欠陥分布パターンを表す特徴量がなす組との比較を行って、基板上の欠陥分布を分類する（Ｓ３０４〜Ｓ３０６）。 - 特許庁

The distribution of defect size is shifted toward that of much smaller one by the nitrogen doping.例文帳に追加

窒素ドーピングにより欠陥サイズ分布がより小さい欠陥のほうにシフトする。 - 特許庁

To provide a surface defect detector and a surface defect detection method which improve detection accuracy of a surface defect by setting a threshold value adapted to a frequency distribution of brightness of a surface image according to a variation of formation.例文帳に追加

地合の変動による表面画像における輝度の度数分布に適合した閾値を設定することにより、表面欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a method for sorting a defect distribution which can accurately sort defect distributions on substrates, even when the positional displacement or size of a defect on a substrate to be inspected is changed with respect to a known defect distribution pattern as a sorting reference.例文帳に追加

分類の基準となる既知の欠陥分布パターンに対して検査対象となる基板上の欠陥の位置ズレや大きさの変化が発生する場合であっても、基板上の欠陥分布を精度良く分類できる欠陥分布分類方法を提供すること。 - 特許庁

DETECTION OF DEFECT AND CHARACTERISTICS EVALUATION IN MASK BLANK USING ANGLE DISTRIBUTION OF SCATTERED LIGHT例文帳に追加

散乱光の角度分布を使ったマスクブランクの欠陥の検出および特性評価 - 特許庁

A concentrated defect distribution which influences a chip nearby the outer circumference of the wafer is selected (S4).例文帳に追加

ウエハ外周近傍チップに影響を及ぼす集中不良分布を選定する（Ｓ４）。 - 特許庁

A user designates a range where the representative defect exists by viewing frequency distribution.例文帳に追加

ユーザは度数分布を見ることにより、代表的な欠陥が存在する範囲を指定する。 - 特許庁

To provide a method and a device of classifying substrates by which, according to knowledge information concerning a known defect distribution, a group of substrates having the corresponding defect distribution can be accurately classified, and even substrates wherein an unknown defect distribution occurs can be automatically classified.例文帳に追加

既知の欠陥分布に関する知識情報に基づいてそれに対応した欠陥分布をもつ基板群を精度良く分類でき、未知の欠陥分布が発生した基板をも自動的に分類できる基板分類方法および基板分類装置を提供すること。 - 特許庁

Picture elements of an inspection area are divided into segments, a distribution of defect levels found in every of the segments is displayed on a monitor by a hue circle having 256 of gradations in response to the defect levels such as the defect level 0 : blue, defect level 128 : green, and defect level 255 : red.例文帳に追加

検査領域の画素をセグメントで分けて、各セグメント毎に求めた欠陥レベルの分布を、欠陥レベル０：青〜欠陥レベル１２８：緑〜欠陥レベル２５５：赤というように欠陥レベルに応じた256階調の色相環でモニタに表示される。 - 特許庁

To accurately predict the density distribution and size distribution of a void defect composed of a void in a single crystal and an inner-wall oxide film.例文帳に追加

単結晶内のボイド及び内壁酸化膜からなるボイド欠陥の密度分布及びサイズ分布を正確に予測する。 - 特許庁

To automatically put defect marks on chips that are located around a defective chip, when a continuous defect distribution is generated in measurement of a wafer.例文帳に追加

ウエハ測定で連続的な不良分布が発生した時、不良チップ周辺に自動的に不良マークができるようにすること。 - 特許庁

To provide a distribution device and a program limiting the use of software when there is a defect in the software in the distribution device for distributing the software to a device of a distribution destination.例文帳に追加

ソフトウェアを配布先装置に配布する配布装置においてソフトウェアに不具合がある場合に、その利用を制限する配布装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁

The two-dimensional distribution of refractive indexes serves as a clad for a dot defect in the center where no hole is formed to confine light in the dot defect.例文帳に追加

この屈折率の２次元分布は、中央の空孔が形成されない点欠陥に対しクラッドとして働き、光を点欠陥に閉じ込める。 - 特許庁

To visualize and display a fluctuation state and defect distribution state of the measured value of a panel inspection apparatus.例文帳に追加

パネル検査装置の測定値の変動状態や欠陥分布を可視化して表示すること。 - 特許庁

A computer 18 determines the existence of the defect of the sample on the basis of acquired magnetic field distribution data.例文帳に追加

コンピュータ１８は、取得された磁場分布データに基づいて、試料の欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

Namely, frequency distribution being a relation between a defect parameter value and the number of the defects is generated and displayed.例文帳に追加

つまり、欠陥パラメータ値と欠陥数の関係である度数分布を作成し、表示する。 - 特許庁

Heat distribution on the component after press molding is analyzed, and the component defect such as crack is detected.例文帳に追加

プレス成形後の部品上の熱分布を解析して、クラックなどの部品欠陥を検出する。 - 特許庁

An inspector can utilize the return light quantity distribution image as defect portion determination support information.例文帳に追加

検査員は、この戻り光量分布画像を欠陥部位判定支援情報として活用できる。 - 特許庁

A concentration distribution generation method and a process simulator perform a defect amount calculation procedure to calculate a defect amount Q_I per unit area of defects introduced to a semiconductor substrate by ion implantation and a defect position calculation procedure to calculate a position d_I to position by condensing a defect concentration distribution in an ion implantation concentration distribution by the ion implantation with a computer and treat the defect concentration distribution like a delta function.例文帳に追加

上記課題は、コンピュータが、イオン注入によって半導体基板に導入される欠陥の単位面積当たりの欠陥量Ｑ_Ｉを算出する欠陥量算出手順と、前記イオン注入によるイオン注入濃度分布において欠陥濃度分布を凝集させて位置付ける位置ｄ_Ｉを算出する欠陥位置算出手順とを実行し、前記欠陥濃度分布をデルタ関数的に扱うことにより達成される。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device capable of acquiring a defect distribution on the whole surface of the substrate in early stages, even when overflow of a memory storing defect images occurs, and to provide a method for acquiring the defect distribution on the substrate in the substrate inspection device.例文帳に追加

欠陥画像を記憶するメモリのオーバフローが発生した場合でも基板の全面についての欠陥分布を早期に得ることができる基板の検査装置、および、基板の検査装置における基板の欠陥分布を得る方法を提供する。 - 特許庁

To provide an HF defect evaluating method for an SOI substrate capable of a short-duration high-precision evaluation, and capable of providing HF defect distribution maps.例文帳に追加

ＨＦ欠陥を短時間で高精度に評価し、ＨＦ欠陥の分布を示すマップも得られるＳＯＩ基板のＨＦ欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device for inspecting defect distribution on a wafer which can measure the thickness and the flatness of the wafer simultaneously with defect inspection.例文帳に追加

ウェーハ上の欠陥分布を検査する表面検査装置において、欠陥検査と同時進行でウェーハの厚さとフラットネスを測定できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect distribution analyzing system capable of identifying cause of the occurrence of defect in a short time, and further reducing burden of workers.例文帳に追加

欠陥の発生原因を短時間で特定することができ、かつ、作業者の負担を軽減することができる欠陥分布解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for detecting defect of a substrate capable of reducing unevenness of a luminous energy distribution within a substrate face to enhance defect detecting precision.例文帳に追加

基板面内の光量分布のムラを低減し欠陥検出精度を向上した、基板の欠陥検出方法および欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To analyze a defect distribution state based on defect data detected by an inspection apparatus and easily identify a defect reason due to an apparatus or a process in a semiconductor wafer manufacturing process.例文帳に追加

半導体ウェーハの製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

A defect found on the mask blank is subjected to characteristics evaluation of importance by using the angle distribution.例文帳に追加

その角度分布を用いてマスクブランク上にみつかった欠陥の重大性の特性評価が行われる。 - 特許庁

To use data about a transmitted light quantity distribution of an inspection device to detect an internal defect, etc. of a transfer mask.例文帳に追加

検査装置の透過光量分布のデータを用いて転写用マスクの内部欠陥等を検出する。 - 特許庁