「defect response」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a pixel defect correction device, a pixel defect detector and a pixel defect detecting method that can correct a defective pixel and stably detect the defective pixel without increasing the circuit scale in response to a color filter of an image pickup element.例文帳に追加

撮像素子の有する色フィルタに応じて、回路規模が増大することなく、欠陥画素を補正でき、また、欠陥画素を安定して検出することのできる画素欠陥補正装置および画素欠陥検出装置ならびに方法を提供。 - 特許庁

To provide a method and device for inspecting a surface defect constituted to surely detect a fatal defect, and capable of selecting optionally a degree of unevenness detected as the defect in response to an inspected object.例文帳に追加

致命的な欠陥を確実に検出できるように構成するとともに、検査対象物に応じて欠陥として検知する凹凸の程度を任意に選択することができる表面検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

A defect correcting circuit 64 corrects the pixel defect of the CCD 42 with respect to the image through the use of the normal defect information or highly-sensitive defect information, in response to the setting of the light reception sensitivity concerning the CCD 42 when the image is picked up by the CCD 42.例文帳に追加

欠陥補正回路６４は、ＣＣＤ４２による画像の撮像時におけるＣＣＤ４２に対する受光感度の設定に応じて通常欠陥情報若しくは高感度欠陥情報を用い、ＣＣＤ４２の画素欠陥の補正を当該画像に対して施す。 - 特許庁

METHOD FOR SCREENING PRESENCE OF HEREDITARY DEFECT RELATED TO WEAK ANTICOAGULANT RESPONSE TO THROMBOSIS AND/OR ACTIVATED PROTEIN C例文帳に追加

血栓症及び／又は活性化プロテインＣに対する弱い抗凝血応答に関連した遺伝性欠陥の存在をスクリーニングする方法 - 特許庁

To realize a method and an apparatus for inspecting an image defect in which a threshold value in response to the image can be inexpensivly set in a short time.例文帳に追加

画像に応じた閾値の設定が短時間に且つ低コストで行える画像欠陥検査方法及び画像欠陥検査装置の実現。 - 特許庁

TERMINAL DEVICE, MOVEMENT DETECTION DEVICE, GETTING-ON/OFF DETECTION DEVICE, DEFECT RESPONSE SYSTEM, TRANSFER DEVICE AND ON-VEHICLE DEVICE例文帳に追加

端末装置、移動検出装置、乗降検出装置、不具合対応システム、転送装置、および車載装置 - 特許庁

The optimum photoreceiving system is selected in response to the form of the inspected specimen to detect the defect precisely.例文帳に追加

被検査体の品種に応じて最適な受光方式が選択可能になり、欠陥を精度よく検出することができる。 - 特許庁

To provide a bearing with a sensor capable of accurately predicting a defect caused by temperature abnormality in advance and of obtaining high response, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

温度異常に起因する不具合を事前に確実に予測でき高レスポンスが可能なセンサ付き軸受及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a marking controller which marks a label with a pattern for identifying an inspecting device which has detected a defect in response to a plurality of defect detection signals in defect inspection of printed matter and attaches it onto the printed matter, or puts a mark on the printed matter.例文帳に追加

印刷物の欠陥検査において、複数の欠陥検出信号に対し、欠陥を検出した検査装置の判別が可能なパターンを、ラベルにマーキングし印刷物に貼付、あるいは印刷物にマーキングするマーキング制御装置を提供する。 - 特許庁

The inspection standard determining apparatus 1 determines the inspection standard which is used for determining as to whether a defect candidate area of a sample is a defect, by using the appearance feature quantity of the defect candidate area, based on the psychological measurement curve obtained, by digitizing the response of the inspector M to a stimulation consisting of the feature quantity.例文帳に追加

検査基準決定装置１は、試料の欠陥候補領域が有する外観的特徴量により欠陥であるかどうかを判定する検査基準を、その特徴量からなる刺激に対する検査員Ｍの応答を数値化した心理測定曲線、に基づいて決定する。 - 特許庁

A known standard defect 9 is provided in a sample 2, the defect appearing on a surface of the sample 2 is detected, and prescribed processing recipe evaluation information that varies in response to difference in a processing recipe used in the prescribed production process is acquired, based on a detection result of the standard defect 9.例文帳に追加

試料２に既知の標準欠陥９を設けて、試料２の表面に現れる欠陥を検出し、所定の製造プロセスで使用された処理レシピの相違に応じて変化する所定の処理レシピ評価情報を、標準欠陥９の検出結果に基づいて取得する。 - 特許庁

To provide an electrophoretic front plate inspection device and its inspection method that display an abnormal response defect, wherein driving speed is different from the surroundings more clearly, imaging the display, and accurately extracting the abnormal response defect included as local unevenness in the imaged image.例文帳に追加

周囲と駆動速度の異なる応答異常欠陥をよりはっきり表示させ、その表示を撮像し、撮像画像内において局所的なムラとして含まれる応答異常欠陥を高精度に抽出するための電気泳動型前面板検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

Then, the defect inspection device is enabled to recalculate an inspection result in response to change in a threshold coefficient from the inspection result data, display it on an assist tool picture (GUI), and observe a detection defect.例文帳に追加

次に、検査結果データから、しきい値係数の変更による検査結果の再計算を可能とし、アシストツール画面(ＧＵＩ)上に表示させ、検出欠陥の観察も可能とする。 - 特許庁

In the method for determining the type of a defect in a weld, the ultrasonic response signals gathered from a plurality of the measuring places set along the weld are analyzed to determine a defect position.例文帳に追加

溶接部内の欠陥のタイプを決定するための方法は、溶接部に沿った複数の測定箇所から集められた超音波応答信号を解析することによって、欠陥位置及び対応する欠陥信号を決定することを含む。 - 特許庁

A host computer calculates the feature quantity of each defect image (step S203), and each defect image is tentatively classified in response to a Euclidean distance between the teacher image in a feature quantity space (step S204).例文帳に追加

ホストコンピュータは、各欠陥画像の特徴量を算出し（ステップＳ２０３）、特徴量空間における教師画像とのユークリッド距離に応じて各欠陥画像を仮分類する（ステップＳ２０４）。 - 特許庁

A size setting means 31A sets a size of a defect accepted by a size setting acceptance means 51, and a reduction ratio setting means 32 sets an image reduction ratio in response to the set size of the defect.例文帳に追加

サイズ設定手段３１Ａが、サイズ設定受付手段５１にて受け付けた欠陥のサイズを設定し、縮小率設定手段３２が、設定された欠陥のサイズに応じて画像縮小率を設定する。 - 特許庁

A monitoring module run in the support operating system identifies a defect associated with the host operating system and notifies the support module in response to identification of the defect.例文帳に追加

支援ＯＳ内で実行される監視モジュールがホストＯＳと関係付けられる障害を識別し、該障害の識別に応答して支援モジュールに通知する。 - 特許庁

Based on a relationship between the predetermined time T and a defect ratio and a relationship between the defect ratio and a sensitivity normal-error difference to the normal sensor, a correction value for correcting the response current value measured in a measurement mode is computed.例文帳に追加

また、予め定めた時間Ｔと欠陥割合との関係、及び欠陥割合と正常センサに対する感度正誤差との関係に基づいて、測定モードにおいて測定される応答電流値を補正するための補正値を算出する。 - 特許庁

The method includes a step of filtering the ultrasonic response signal from each measurement point and generating a plurality of filtered response signals for respective measurement points where each filtered response signal corresponds to a specific type defect.例文帳に追加

本方法は、各測定箇所からの超音波応答信号をフィルタリングし、各測定箇所に対して複数のフィルタリング済み応答信号を生成する段階であって、各フィルタリング済み応答信号は特定種類の欠陥に対応するという段階を含み得る。 - 特許庁

To provide a liquid crystal medium having no conventional defect or the defect only at a much lower level and simultaneously having a short response time and excellent steepness especially at low temperatures and especially for TN and STN displays.例文帳に追加

従来の欠点を有しないかまたは一層低い程度に有するのみであり、同時に、特に低い温度において短い応答時間および極めて良好な急峻度を有する、特にＴＮおよびＳＴＮディスプレイ用の液晶媒体を提供する。 - 特許庁

Further, the controller 212 stores signal levels of the defective pixels, and carries out conversion of the signal level in response to each reading method so that detection of a defect by one reading method permits defect correction by a plurality of the reading methods as its control.例文帳に追加

また、コントローラ２１２は、欠陥画素の信号レベルを記憶して、各読み出し方法に応じてその信号レベルを変換することにより、１つの読み出し方法による欠陥検出によって、複数の読み出し方法の欠陥補正が行えるように制御する。 - 特許庁

As a result, the errors due to the intrinsic defect signal can be reduced as far as possible and when the reproduced RF signal is inputted into the AGC circuit, the transient response of AGC generated due to a low-frequency or DC component before and behind the defect signal can be reduced.例文帳に追加

これにより、本来の欠陥信号によるエラーを極力低減することができ、ＡＧＣ回路に再生されたＲＦ信号が入力される場合、欠陥信号の前後の低域またはＤＣ成分が原因で発生するＡＧＣの過渡応答を抑制することができる。 - 特許庁

The image defect inspection device 10 of the present invention is provided with a correlation value calculating means 20 for calculating a correlation value between a differential image in the two collated images and at least one out of the two images, and the detection of the defect is restrained in response to an increase of the correlation value.例文帳に追加

画像欠陥検査装置１０を、本発明では対比される２画像の差画像とこれら２画像のうちの少なくとも一方との間の相関値を算出する相関値算出手段（２０）を備えて構成し、この相関値の増加に応じて欠陥の検出を抑制する。 - 特許庁

The method for detecting the pixel defect of the solid state imaging element comprises the step of detecting whether the defect is generated or not in the element imaging any of the spectral lights in response to a compared result of video signals obtained by imaging and outputting the same imaging position or near imaging position at each spectral light.例文帳に追加

分光光毎に同一撮像位置もしくは近傍撮像位置で撮像し出力した映像信号どうしを比較した結果に応じて、分光光のうちいずれの分光光を撮像した撮像素子で画素欠陥が発生しているか否かを検出する。 - 特許庁

A plot controller stores two-dimensional defect position data as plot data produced by projecting a position of the micro-defect generated in the painted surface of the vehicle onto the horizontal or vertical two-dimensional projecting plane, retrieves the plot data sequentially, in response to switch operation and plots them on the painted surface of the vehicle.例文帳に追加

プロット制御部が、車両塗面に生じている微小欠陥位置を水平もしくは垂直の二次元投影面に投影した二次元の欠陥位置データをプロットデータとして格納し、スイッチ操作に応答して順にプロットデータを検索して車両塗面にプロットする。 - 特許庁

To provide a method and a system for detecting a medium defect by which detection is made for a minute medium defect that does not generate a data error in a partial response signal processing system and an information recording and reproducing device which utilizes the method and the system.例文帳に追加

パーシャルレスポンス信号処理方式でデータエラーが発生しない微小な媒体欠陥を検出する媒体欠陥検出方法、媒体欠陥検出システムおよびこれを用いた情報記録再生装置を提供するものである。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display having no defect inherent in conventional technology or having a defect only in some reduced degree and at the same time, having a suitable operating temperature range and short response time owing to an especially low operating voltage and sufficiently large steepness of an electrooptical characteristics curve.例文帳に追加

従来技術の欠点を有していないか、または減少された程度でのみ有し、同時に特に低い動作電圧および充分に大きい電気光学特性曲線の急峻度をもって、適度の動作温度範囲および短い応答時間を有する液晶ディスプレイを提供する。 - 特許庁

In response to the inquiry, the DB server 4 refers to a database 41 which has version information about the firmware in association with defect correction information showing the corrected defect in the version and specifies whether or not there is any firmware whose defect can be resolved, or specifies the version of the firmware when such firmware exists.例文帳に追加

ＤＢサーバ４は、それに対応し、ファームウェアのバージョン情報とそのバージョンで改修された不具合を示す不具合改修情報とを関連づけて有するデータベース４１を参照して、不具合を解決可能なファームウェアの有無および不具合を解決可能なファームウェアがある場合にはそのファームウェアのバージョンを特定する。 - 特許庁

A defect-scan test pattern is identified in the production mode, (i) by providing the first scanning test pattern to the BIST hardwares 102, 104 from an ATE 114, and (ii) by comparing the response signature with a predicted response signature.例文帳に追加

生産テストモードで、ＡＴＥ（１１４）から、ｉ）第１のスキャンテストパターンをＢＩＳＴハードウェア（１０２，１０４）に提供し、ｉｉ）応答シグネチャと予想応答シグネチャとを比較して、欠陥スキャンテストパターンを識別する。 - 特許庁

In response to “Condition 3,” changing the context of D2 from a facsimile to a disc drive would not change the analysis, as the defect is in the teaching not the field of use. 例文帳に追加

「条件３」については、引用文献２の教示内容の欠陥は、技術分野ではないため、引用文献２の内容をファクシミリからディスクドライブに変えたとしても、分析結果が変わるものではない。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus that executes a defect correction processing in response to a photographing condition so as to reduce an arithmetic time performed in photographing and the power consumption.例文帳に追加

撮影条件に対応して欠陥補正の処理を実行することにより、撮影時に行う演算時間を短縮し、消費電力を低減可能とした撮像装置を提供する。 - 特許庁

The center 1 supplies the defect content of a designated content to a demandant in response to a viewing request from the demandant and, at the same time, performs charging processing to the demandant.例文帳に追加

ダウンロード課金センタ１は、受信装置７からのコンテンツの視聴要求に応答して、その視聴要求により指定されたコンテンツの欠損コンテンツを要求元に供給するとともに該要求元に対する課金処理を行う。 - 特許庁

An ROP pattern data converting part 11 converts the plotting attribute of the plotting object, so that the defect is not caused even when the plotting processing is performed as it is in response to the ROP patterns detected by the ROP pattern detecting part 10.例文帳に追加

ＲＯＰパターン用データ変換部１１では、ＲＯＰパターン検知部１０にて検知されたＲＯＰパターンに応じて、そのまま描画処理を行っても不具合が生じないように描画オブジェクトの描画属性を変換する。 - 特許庁

To provide an active matrix liquid crystal display element with which an excellent display quality and a high-speed response is obtained by reducing liquid crystal layer thickness without generating display defect due to gathering of impurities inside a pixel part.例文帳に追加

画素部内に不純物の集まりによる表示欠陥を発生させること無く液晶層厚を小さくし、良好な表示品質と高速応答性を得ることができるアクティブマトリックス型液晶表示素子を提供する。 - 特許庁

To provide a method for processing an ultrasonic response signal collected from a plurality of measurement points positioned along a weld zone of a test sample, and determining the existence of a defect in the weld zone.例文帳に追加

試験サンプルの溶接部に沿う複数の測定箇所から収集された超音波応答信号を処理し、上記溶接部における欠陥の存在を決定する方法を提供すること。 - 特許庁

To suppress an influence when a node defect occurs by transmitting a message to a plurality of receiving nodes without causing response explosion and grasping message receiving situations of the receiving nodes in one-to-multiple type message transmission.例文帳に追加

１対多のメッセージ伝送において、応答爆発を起こすことなくメッセージを複数の受信ノードに送信し、受信ノードのメッセージ受信状況を把握し、ノード障害発生時に影響を抑える。 - 特許庁

An inspected object 50 is irradiated with an irradiation light 111 with a fringe-like pattern 190, and a defect pattern 195 appeared in response to the defective part of the inspected object is detected from the fringe-like pattern transmitted through the inspected object.例文帳に追加

縞状のパターン１９０にてなる照射光１１１を被検査物５０へ照射し、被検査物の通過した縞状パターンから、被検査物の欠陥部に応じて現れた欠陥パターン１９５を検出する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method allowing grading for deciding whether delivery is allowed, in response to required quality in a customer side, and to provide a device therefor.例文帳に追加

顧客側での要求品質に応じて出荷可能なものであるかどうか判断するための格付けをすることを可能にした表面欠陥検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting apparatus for minimizing the pattern shape change of a target to be inspected and keeping response in reviewing when laser beams are used as a light source.例文帳に追加

レーザ光を光源として用いた場合に、被検査対象のパターン形状変化を最小にとどめ、かつ、レビュー時のレスポンスを低下させない欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

Also, for example, when a reproduced RF signal is inputted to the AGC circuit, particularly the transient response of the AGC generated before and after the defect detection (before and after the period of D) can be suppressed.例文帳に追加

また、例えばＡＧＣ回路に、再生されたＲＦ信号が入力される場合、特に、ディフェクト検出の前後（Ｄの期間の前後）で発生するＡＧＣの過渡応答を抑制することができる。 - 特許庁

To eliminate a defect such as enlargement due to the increases in strength and capacity of a transmission mechanism (a pulley width adjusting mechanism) and the deterioration in a gear shift response.例文帳に追加

変速機構部（プーリ幅調整機構）の強度アップまたはアクチュエータ容量アップのための大型化、変速レスポンスの低下、といった不具合を除去する。 - 特許庁

For a lot of driving modes including a drive start up, a preheating, a normal driving mode and a defect protecting response mode, an internal feedback and a controlling signal are provided.例文帳に追加

起動開始、予熱、通常の走行モード及び欠陥保護応答モードを含む多くの動作モードのために、内部フィードバック及び制御信号が提供される。 - 特許庁

Rotational driving of a second carrying roll 72 is stopped in response to detecting the occurrence of a recording sheet carrying defect in the downstream side of the second carrying roll 82 by a third sensor 86.例文帳に追加

第２搬送ロール８２から下流側における記録シートの搬送不良の発生が第３センサ８６により検出された時点で第２搬送ロール８２の回転駆動が停止させられる。 - 特許庁

When the computed time T is smaller than a time threshold value Tth preliminarily determined based on the amount of change of the response current of a normal sensor, it is determined that there is a defect present in the external layer membrane.例文帳に追加

正常なセンサの応答電流の変化量に基づいて予め求めた時間閾値Ｔｔｈより計測した時間Ｔが小さい場合には、センサの外層膜に欠陥が生じていると判定する。 - 特許庁

The images received by the camera are processed by a processor, and then the processor outputs a response for identifying the defect, the foreign matter and the debris, based on the images.例文帳に追加

カメラによって受信された画像は、処理装置によって処理され得、この処理装置は次に画像に基づいて、欠陥ならびに異物および破片を識別する応答を出力する。 - 特許庁