「defect type」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

This preventing and treating agent for the Alzheimer type defect of memory is provided by using sphingomyelin as an active ingredient of the agent.例文帳に追加

スフィンゴミエリンをアルツハイマー型記憶障害の予防、治療剤の有効成分とする。 - 特許庁

To provide a recording medium storing linking-type information and a defect area processing method.例文帳に追加

リンキングタイプ情報を貯蔵する記録媒体と欠陥領域処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a recording medium storing linking type information and a defect area processing method.例文帳に追加

リンキングタイプ情報を貯蔵する記録媒体と欠陥領域処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect observation device which inputs a training defect and ideal output that is based on image processing of the training defect, and which can readily and rapidly set image processing parameters required for the classification of the defect type.例文帳に追加

教示欠陥および教示欠陥の画像処理による理想出力を入力し、欠陥種の分類に必要な画像処理パラメタの設定作業を容易かつ高速に行うことができる欠陥観察装置を提供する。 - 特許庁

A crystal defect due to donor appears in n-type AlGaAs grown by MOVPE but a similar crystal defect is not detected in n-type GaInP, n-type AlInP and n-type AlGaInP grown by the same method.例文帳に追加

ＭＯＶＰＥ法で成長させたｎ型ＡｌＧａＡｓにはドナーに起因する結晶欠陥が発生するが、同様の方法で成長させたｎ型ＧａＩｎＰ、ｎ型ＡｌＩｎＰ、ｎ型ＡｌＧａＩｎＰには同種の結晶欠陥は検出されない。 - 特許庁

To correct a white defect having a phase effect in a halftone phase shift mask or to correct a recessed phase defect in a Levenson type phase shift mask.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクの位相効果を持つ白欠陥修正やレベンソン型位相シフトマスクの凹型の位相欠陥修正を可能にする。 - 特許庁

Since the polycrystalline SiGe film 3 has many p-type defect levels, it exhibits p-type conduction when doped with a small quantity of phosphorus.例文帳に追加

多結晶ＳｉＧｅ膜３はｐ型の欠陥準位を多く持っているので、少量のリンドープではｐ型伝導を示す。 - 特許庁

To provide a wet development type image forming apparatus capable of preventing an unexpected image defect.例文帳に追加

思わぬ画像不良を防止できる湿式現像方式の画像形成装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF WELDING GUN FOR CAPACITOR DISCHARGE TYPE STUD WELDING AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

コンデンサ放電型スタッド溶接用溶接ガンの良否判定方法及び良否判定装置 - 特許庁

IMAGING APPARATUS HAVING CCD TYPE SOLID-STATE IMAGING DEVICE MOUNTED THEREON AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD THEREOF例文帳に追加

ＣＣＤ型固体撮像素子を搭載した撮像装置及びその画素欠陥補正方法 - 特許庁

To obtain an electrostatic capacitance type sensor capable of suppressing the occurrence of a conduction defect.例文帳に追加

導通不良を起こしてしまうのを抑制することのできる静電容量式センサを得る。 - 特許庁

To accurately detect a defect in a hologram of an arbitrary type.例文帳に追加

任意の品種のホログラムに対して効率的に、かつ精度良く欠陥を検出できるようにすること。 - 特許庁

To provide a medicine, beverage and foods for preventing or treating Alzheimer type defect of memory.例文帳に追加

アルツハイマー型記憶障害を予防あるいは治療する薬剤及び飲食品を提供する。 - 特許庁

TREATING AGENT FOR DECREASING CHEMICAL AMPLIFICATION TYPE RESIST PATTERN DEFECT AND RESIST PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

化学増幅型レジストパターンディフェクト低減用処理剤及びそれを用いるレジストパターン形成方法 - 特許庁

To execute efficient processing for detecting a defect position according to the type of a used power source.例文帳に追加

使用する電源の種類に応じた効率的な欠陥位置の検出処理を実行する。 - 特許庁

To provide a learning-type defect detection device, method and program, capable of maintaining the accuracy of defect detection regardless of the size of a defect generated in an inspection object.例文帳に追加

検査対象物に発生する欠陥の大きさにかかわらず欠陥の検出精度を維持可能な学習型の欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁

Even the small rugged defect which was difficult to identify in a conventional polarization type surface defect inspection device can thereby be identified with high accuracy, not to mention the small pattern-like defect.例文帳に追加

これによって小さな模様状欠陥は勿論、従来の偏光式表面欠陥検査装置では識別が困難であった小さな凹凸欠陥についても高精度に識別することができる。 - 特許庁

To provide a substrate defect checkup method permitting detection of 6H type lamination defects contained in nitrogen-doped 4H type SiC bulk monocrystalline substrates, a substrate defect checkup system using this method, and an SiC bulk monocrystalline substrate with defect information.例文帳に追加

窒素ドープされた４Ｈ型SiCバルク単結晶基板に含まれる６Ｈ型積層欠陥を検出できる基板の欠陥検査方法、及びこれを用いた基板の欠陥検査システム、並びに欠陥情報付きのSiCバルク単結晶基板を提供する。 - 特許庁

The write-once type recording medium 10 is provided with a definite defect management area 13 for recording definitely defect management information, a plurality of temporary defect management area 14A, 14B, 14C for recording temporarily defect management information.例文帳に追加

追記型記録媒体１０上に、ディフェクト管理情報を確定的に記録するための確定的ディフェクト管理エリア１３と、ディフェクト管理情報を一時的に記録するための複数の一時的ディフェクト管理エリア１４Ａ、１４Ｂ、１４Ｃを設ける。 - 特許庁

On the write-once-type recording medium 10, there are provided: a definite defect management area 13 to definitely record therein defect management information; and a plurality of temporary defect management areas 14A, 14B, and 14C to temporarily record therein the defect management information.例文帳に追加

追記型記録媒体１０上に、ディフェクト管理情報を確定的に記録するための確定的ディフェクト管理エリア１３と、ディフェクト管理情報を一時的に記録するための複数の一時的ディフェクト管理エリア１４Ａ、１４Ｂ、１４Ｃを設ける。 - 特許庁

To remove the image quality defect due to writing deficiency, leak type bright spot defect or the like by improving a driving system of a pixel transistor and auxiliary capacitance.例文帳に追加

画素トランジスタ及び補助容量の駆動方式を改善して、書き込み不足やリーク性輝点欠陥などに起因する画質不良を取り除く。 - 特許庁

The defect inspection apparatus scans a local region of a defect detected on the surface of the inspected structure, measures the quantity of a characteristic property corresponding to a type of the defect such as the coincidence with a crystal grain boundary of the crack, compares a measured detection signal with a database data and determines a type of the defect.例文帳に追加

検査対象構造物の表面に検出された欠陥の局部的範囲を走査し、欠陥の種別に応じた例えば亀裂の結晶粒界との一致度のような特徴的な特性量を計測し、この計測された検出信号をデータベースのデータと比較し欠陥種別を判定する。 - 特許庁

In the IGBT 10, a crystal defect layer 25 is formed in an n-type layer 102 in an active region 20 and a crystal defect layer 25 is formed in a p-type substrate 101 in a non-active region 40.例文帳に追加

このＩＧＢＴ１０においては、結晶欠陥層２５が、活性領域２０においてはｎ層１０２中に、非活性領域４０においてはｐ型基板１０１中に形成されている。 - 特許庁

The rare earth permanent magnet alloy comprises a rare earth-iron-boron type magnetic phase (R_2Fe_14B type magnetic phase) and at least a defect structure 2 in an internal structure.例文帳に追加

希土類−鉄−ボロン型磁性相（Ｒ_２Ｆｅ_１４Ｂ型磁性相）と、少なくとも欠陥構造２とを内部組織に有している。 - 特許庁

To provide an illuminating method, an inspecting method and a defect detection apparatus for detecting a defect of a hologram, which can be utilized universally for defect detection of an arbitrary type of holograms and can detect the defect precisely and stably.例文帳に追加

本発明は、任意の品種のホログラム欠陥検出に、汎用的に利用することができ、かつ欠陥を精度良く安定して検出することが可能なホログラム欠陥検出の照明方法、検査方法および欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A criterion of the cutting position previously set in accordance with the type of defect is stored in the arithmetic means, which decides, based on the type of defect outputted from the defect inspecting means and on the criterion, which is to be the cutting position, the tentative cutting position or the position of the defect outputted from the defect inspecting means.例文帳に追加

演算手段には、欠陥の種類に応じて予め設定された切断位置に関する判断基準が記憶されており、演算手段は、欠陥検査手段から出力された欠陥の種類と、判断基準とに基づき、仮の切断位置を切断位置とするか、或いは、欠陥検査手段から出力された欠陥の位置を切断位置とするかを決定する。 - 特許庁

Thereby, the high quality p-type PbTe single crystal almost free from a defect and having high mobility and low dislocation density is obtained.例文帳に追加

欠陥が少なく高移動度、低転位密度で、高品位のｐ型ＰｂＴｅ単結晶が得られる。 - 特許庁

At this time, the surface defect on the cast bloom can be prevented by casting with a vertical type continuous caster.例文帳に追加

その際、垂直型連続鋳造機により鋳造することで、鋳片表面の欠陥も防止できる。 - 特許庁

To achieve defect pixel correction processing with high precision in a CMOS type image sensor.例文帳に追加

本発明は、ＣＭＯＳ型イメージセンサにおいて、高精度の欠陥画素補正処理を実現できるようにする。 - 特許庁

Thereby, even when the N type transistor 22 has the defect, the driving unit circuit 20 can be relieved.例文帳に追加

したがって、Ｎ型トランジスタ２２が不良な場合でも駆動単位回路２０を救済することができる。 - 特許庁

Namely, the information recording medium having the defect is effectively used without depending on the recording form such as the DRAW type or the rewritable type.例文帳に追加

すなわち、追記型、書き換え型などの記録形式に依存せず、欠陥を有する情報記録媒体を有効利用することが可能となる。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM OF PATTERN DEFECT INSPECTION BY USING ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE AND MIRROR ELECTRON PROJECTION TYPE OR MULTIPLE BEAM TYPE ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電子線検査装置を用いたパターン欠陥検査方法及びそのシステム、並びに写像投影型又はマルチビーム型電子線検査装置 - 特許庁

To provide a repair method for a stencil type reticle capable of correcting a white defect part or black defect part generated in a transfer pattern formed by an electron beam scattering body.例文帳に追加

電子線散乱体によって形成された転写パターンに生じた白欠陥部又は黒欠陥部を修正できるステンシル型レチクルのリペア方法を提供する。 - 特許庁

To reduce a contact fail in a thin-film transistor causing a point defect and a line defect although it is extremely difficult to eliminate the point and line defects completely in the thin-film transistor in an active matrix type liquid crystal display.例文帳に追加

アクティブマトリクス型の液晶表示装置において、薄膜トランジスタの点欠陥や線欠陥を完全に排除するのは極めて困難であるのが現状である。 - 特許庁

To provide a pattern inspection apparatus and method for enhancing contrast to a fine defect and enhancing contrast regardless of the type, material, or shape of a defect.例文帳に追加

微細な欠陥に対するコントラストを高くしたり、欠陥の種類、材料、形状によらずコントラストを高くするパターン検査装置およびパターン検査方法を提供する。 - 特許庁

The waveguide 100 is constituted by connecting the total reflection confinement type waveguide 120 to the end face of the line defect section 113 of the photonic crystal line defect waveguide 110.例文帳に追加

導波路１００は、フォトニック結晶線欠陥導波路１１０の線欠陥部１１３の端面に全反射閉じ込め型導波路１２０を接続して構成されている。 - 特許庁

Consequently, a peak of crystal defect density is nearby the top main surface of the n-type semiconductor substrate 2 and the crystal defect density is distributed gradually decreasing toward the reverse main surface.例文帳に追加

この結果、結晶欠陥密度のピークはｎ型半導体基板２の上主面近傍となり、結晶欠陥密度は下主面に向かって漸減するように分布する。 - 特許庁

This type of substrate 30 is hardly affected by a crystal defect extending in parallel with the c-axis direction to make it possible to suppress a deterioration in element characteristic due to the crystal defect.例文帳に追加

このような基板３０では、ｃ軸方向に平行に延びる結晶欠陥の影響を受けにくく、結晶欠陥による素子特性の劣化を抑制することができる。 - 特許庁

To provide a method and its device capable of discriminating not only an existence of a defect but also the type of the defect in a surface condition of an inspected article such as a metal member.例文帳に追加

金属部材などの被検物品の表面状態を欠陥の有無のみならずその欠陥の種類まで判別できる検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

As a result, out of the data of the feature quantities f51-f100 of the second group, the defect data, for which the learning model A cannot specify the defect type "C1" or "C2", are defined as discard class data.例文帳に追加

この結果、第２群の特徴量ｆ５１〜ｆ１００のデータのうち、学習モデルＡでは疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」を特定できない疵データを棄却クラスのデータとする。 - 特許庁

Subsequently, the lattice defect region 4 is irradiated with laser light to pattern a P type region 5 in the lattice defect region 4 as the activated region of the surface layer in the lattice defect region 4 (Fig. 2(b)).例文帳に追加

この後、格子欠陥領域４にレーザ光を照射することにより、格子欠陥領域４に当該格子欠陥領域４の表層部を活性化させた活性化領域としてのＰ型領域５をパターン形成する（図２（ｂ））。 - 特許庁

To provide a multistage developing roller type developing device capable of obtaining an excellent image without a defect in the image.例文帳に追加

画像欠陥のない良好な画像を得ることが可能な多段現像ローラ型現像装置を提供する。 - 特許庁

REDOX PRO TYPE SECONDARY CELL, ITS OPERATION METHOD AND METHOD FOR DETECTING ELECTRICAL INSULATION DEFECT PLACE OF ELECTROLYTE TANK例文帳に追加

レドックスフロー型２次電池、その運転方法およびその電解液タンクの電気絶縁不良箇所検出方法。 - 特許庁

To provide a reflection type or a transmission/reflection type liquid crystal display device high in display quality without causing a display defect due to variation in cell gap.例文帳に追加

セルギャップのバラツキによる表示不良の無い、表示品質の高い反射型または反射透過両用型液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

Displacement of a domain wall of the R_2Fe_14B type magnetic phase is prevented by the defect structure 2 included in the R_2Fe_14B type magnetic phase, thereby improving the coercive force.例文帳に追加

Ｒ_２Ｆｅ_１４Ｂ型磁性相に内包された欠陥構造により、Ｒ_２Ｆｅ_１４Ｂ型磁性相の磁壁の移動を妨げて、保磁力を向上させる。 - 特許庁