「defect type」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To eliminate such a defect that the character, etc. of a recording surface stand out on the surface of a transferred metal foil, when the metal foil is transferred to obtain a scratch layer, instead of a kneading type scratch layer.例文帳に追加

練り込みタイプのスクラッチ層に代えて、金属箔を転写してスクラッチ層とする際に、転写された金属箔の表面に記録面の文字等が浮き出す欠点を解消する。 - 特許庁

The inspection method of the reflection type mask formed by multilayer films includes a step for measuring a secondary radiation emitted from the multilayer films at the time of entering light with a wavelength of 2 to 40nm in the reflection type mask, and a step for judging the existence of the defect of the reflection type mask on the basis of the measurement values.例文帳に追加

多層膜が形成された反射型マスクの検査方法において、前記反射型マスクに波長２乃至４０ｎｍの光を入射させた際に前記多層膜から放出される二次放射線を計測するステップと、該計測値に基づいて前記反射型マスクの欠陥の有無を判断するステップとを設けた。 - 特許庁

To provide a reflection-type mask blank and a reflection-type mask for EUV exposure that eliminate the need for a low-reflection layer made of TaBO etc., which is difficult to work, are adaptive to a shorter wavelength of inspection light, and have a black defect corrected without requiring any complicated process even when the black defect is found through process inspection, and to provide a manufacturing method and an inspecting method thereof.例文帳に追加

本発明は、加工の困難なＴａＢＯ等からなる低反射層を不要とし、検査光の短波長化にも対応可能で、工程検査で黒欠陥が見つかった場合でも、複雑な工程を要することなく欠陥修正が可能なＥＵＶ露光用の反射型マスクブランクス及び反射型マスク、その製造方法、並びに検査方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide an adhesion type optical film with excellent heat resistance and stress relaxation, i.e., an adhesion type optical film generating no display unevenness on a liquid crystal display device and generating no defect such as foaming or the like in an adhesive layer in the case it is left under a heating condition.例文帳に追加

加熱耐久性と応力緩和性の良好な粘着型光学フィルム、すなわち加熱条件下におかれた場合にも、液晶表示装置に表示ムラが生じず、粘着層に発泡等の不具合が生じない粘着型光学フィルムを提供すること。 - 特許庁

To provide an evaluating method of a minute defect in a silicon wafer that can detect the minute defect that is smaller than the detection lower limit of a light scattering type surface inspection apparatus on a silicon wafer surface that is smoothed by mirror machining, and can further detect the minute defect that exists not only on the wafer surface but also inside a wafer surface layer that influences the performance of a device formed on the wafer surface.例文帳に追加

鏡面加工により平滑化されたシリコンウエハ表面において、光散乱式表面検査装置の検出下限界よりも小さいサイズの微小欠陥を検出することができ、しかも、ウエハ表面だけでなく、その上に形成されるデバイスの性能に影響を及ぼすウエハ表層内部に存在する微小欠陥をも検出することができるシリコンウエハの微小欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide an SEM-type defect-reviewing device that automatically classifies defects in continuity fail such as discontinuity and short-circuiting generated in conductor components such as a contact hole buried in a substrate to be inspected such as a semiconductor wafer to categories correlating closely with the causes of the defect.例文帳に追加

半導体ウエハ等の被検査対象基板内に埋もれたコンタクトホール等の導体部品に発生する導通不良（非導通、短絡など）欠陥について、その発生原因と直接相関の高いカテゴリに自動的に分類してユーザに提示するＳＥＭ式欠陥レビュー装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

When the cholesteric liquid crystal layer 20 to be inspected has a defect, the polarization state of light generates abnormality in the position where the defect is present on the plane of the cholesteric liquid crystal layer 20, which generates irregularity in brightness (in-plane distribution) of the illumination light L exiting from the second absorption type linearly polarizing layer 13.例文帳に追加

検査対象となるコレステリック液晶層２０に欠陥がある場合には、コレステリック液晶層２０の平面のうち欠陥が存在する箇所で光の偏光状態に異常が生じるので、第２の吸収型直線偏光層１３から出射した照明光Ｌに明暗の差（面内分布）が生じる。 - 特許庁

When the cholesteric liquid crystal layer 20 as the object has a defect, abnormality is generated in the polarization state of light at the spot where the defect is present on the plane of the cholesteric liquid crystal layer 20, and this generates difference in brightness (in-plane distribution) of the illumination light L emitted from the absorption type linearly polarizing layer 12.例文帳に追加

検査対象となるコレステリック液晶層２０に欠陥がある場合には、コレステリック液晶層２０の平面のうち欠陥が存在する箇所で光の偏光状態に異常が生じるので、吸収型直線偏光層１２から出射した照明光Ｌに明暗の差（面内分布）が生じる。 - 特許庁

To change electrical characteristics of bugs, even for a defect type in which the electrical characteristics of the bugs are hardly changed, in voltage application in which a voltage is applied between signal lines for a constant time.例文帳に追加

信号ライン間に電圧を一定時間印加する電圧印加では、欠陥点の電気的特性を変化させることが困難な欠陥種についても、欠陥点の電気的特性を変化させる。 - 特許庁

To provide a semi-transmission type phase shift reticle that can suppress a pseudo defect caused in the oblique boundary line of a chamfered portion partitioning a circuit pattern region from a peripheral region, and to provide an inspection method for the reticle.例文帳に追加

回路パターン領域と周辺部領域とを区画する面取り部の斜め境界線で生じる疑似欠陥を抑制できる半透光方式の位相シフトレチクルとその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a correction method of color filter for liquid crystal display device capable of correcting a black defect of pillar type spacer and/or orientation control protrusion without damaging a transparent conductive film.例文帳に追加

透明導電膜を損傷させることなく柱状スペーサー及び／又は配向制御用突起の黒欠陥を修正することのできる液晶表示装置用カラーフィルタの修正方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a handle type tool capable of conveniently take out a tool head and speedily changing itself, simultaneously having favorable elastic fitting capacity and having no defect of dropping by impact or oscillation.例文帳に追加

ツールヘッドの取出しが便利で迅速に交換でき、それと同時に良好な弾性嵌め止め能力があり、衝撃または震動によって脱落する欠点のない把手型工具を提供する。 - 特許庁

To suppress an influence when a node defect occurs by transmitting a message to a plurality of receiving nodes without causing response explosion and grasping message receiving situations of the receiving nodes in one-to-multiple type message transmission.例文帳に追加

１対多のメッセージ伝送において、応答爆発を起こすことなくメッセージを複数の受信ノードに送信し、受信ノードのメッセージ受信状況を把握し、ノード障害発生時に影響を抑える。 - 特許庁

To provide a radiation image processing unit that applies pixel defect correction of a linear prediction type to a radiation image including grid pattern information so as to suppress artifacts due to a defective pixel when an image pickup element includes the defective pixel.例文帳に追加

撮像素子に欠陥画素が含まれるとき、グリッド縞情報を含む放射線画像に対して線形予測型の画素欠陥補正を施し、上記欠陥画素によるアーチファクトを抑える。 - 特許庁

To provide a high quality liquid crystal display panel making a pixel defect inconspicuous by controlling an optical compensation drift to a dot- defective pixel on a thin film transistor type liquid crystal display panel.例文帳に追加

薄膜トランジスタ型液晶表示パネルの点欠陥画素に対する光学補償ズレを、駆動電圧で制御することで、画素欠陥の目立ちにくい高品位な液晶表示パネルを提供する。 - 特許庁

To develop practical technology which does not require a power unit in the method for interfering with a wave in a vibration source such as an earthquake, while eliminating a defect in a conventional vibration control method using interference in which the variable force type three-dimensional suspension requiring a power unit is employed.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、従来のパワーユニットを必要とする可変力三次元サスペンションを利用した干渉による振動消去の方法の欠点を除く。 - 特許庁

To provide a manufacturing technique of a semiconductor integrated circuit apparatus utilizing a defect modification technique of a reflection-type mask which uses an extreme ultra violet light (EUV) with a wavelength near 13.5 nm as an exposure light source.例文帳に追加

波長が１３．５ｎｍ付近の極端紫外(Extreme Ultra Violet：ＥＵＶ)光を露光光源とする反射型マスクの欠陥修正技術を利用した半導体集積回路装置の製造技術を提供する。 - 特許庁

To provide a long-life image display device without causing a display defect by preventing a dielectric breakdown failure between a lower electrode and an upper electrode (upper electrode power feed line) constituting a thin-film type electron source.例文帳に追加

薄膜型電子源を構成する下部電極と上部電極（上部電極給電線）間の絶縁破壊不良を防止して表示欠陥のない長寿命の画像表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage inspection device for plastic bottles, which prevents misdetections where a nondefective is detected as being a defective product, which is caused by imperfect sealing that is a defect which spool-type electromagnetic valves have.例文帳に追加

スプール型電磁弁の持つ欠点であるシール性が不完全であることが原因で起こる良品を不良品と判定する誤検出を防止することができるペットボトルのリーク検査装置を提供する。 - 特許庁

An element isolation insulating film 15 is formed on a surface layer of the non-defect layer 13, a p- or n-type active region 16 is formed, and an element is formed on a surface side of the active region 16.例文帳に追加

無欠陥層１３の表面層に、素子分離絶縁膜１５を形成すると共にｐ型やｎ型の活性領域１６を形成し、活性領域１６の表面側に素子を形成する。 - 特許庁

To provide a battery driven type information processing terminal capable of preventing in advance the occurrence of a defect in prescribed information processing caused by a power failure by surely inhibiting particular information processing when a residual capacity of a battery is decreased to a warning level.例文帳に追加

バッテリの残量が警告レベルまで低下した際には特定の情報処理を確実に禁止して、電断による特定の情報処理で不具合が発生するのを未然に防止する。 - 特許庁

To stably detect a micro black deep flaw more fine than a flaw detected by conventional filament type optical visual inspection and a glossy shallow defect flaw difficult to be detected.例文帳に追加

従来のフィラメント方式の光学外観検査で検出されるキズよりも微小な黒く深い欠陥及び検出し難い光沢のある浅い欠陥傷の安定した検出を可能ならしめる。 - 特許庁

To eliminate or disperse lattice defects such as a hole type grow-in defect present not only on the surface but also in the interior of single crystal regardless of the size of single crystal and to prevent contamination of the single crystal with a volatile material, etc., on the surface and in the interior of the single crystal body.例文帳に追加

単結晶体の大きさに拘わらず、単結晶体の表面のみならず内部に存在する空孔型グローイン欠陥等の格子欠陥を消滅又は分散させる。 - 特許庁

To provide an oil injection type compressor which can intend to make cooling efficient without requiring local cooling defect of a driving motor by disappearing air cavity in a cooling jacket of the driving motor.例文帳に追加

駆動モータ冷却ジャケット内の空気溜まりを解消することにより、駆動モータの局所的な冷却不良をなくし、冷却の効率化を図り得る油冷式圧縮機を提供する。 - 特許庁

To provide a color filter which suppresses the occurrence of a display defect caused by green pigment, and to provide a lateral electric field drive type liquid crystal display device using the color filter.例文帳に追加

横電界駆動型液晶表示装置において、緑顔料に起因する表示不良の発生を抑制するカラーフィルタおよびこれを用いた横電界駆動型液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an economical pinhole inspecting device of a voltage application type for inspecting the presence of a sealed-packing container of an item to be tested of a fluid content containing gas for a pinhole, a seal defect and the like.例文帳に追加

気体を含有する流動性内容物の被検体の密封包装容器のピンホールの有無、シール不良など欠陥を検査する電圧印加方式の経済的なピンホール検査の提供。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of seamless steel tube for a boiler and its piping, which does not cause a rolling defect on a product, even when a Mannesmann type skew rolling process is adopted.例文帳に追加

本発明は、マンネスマン方式の傾斜圧延法を採用しても、製品に圧延疵が出現しないボイラー及びその配管用継目無鋼管の製造方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To effectively suppress catalyst exhaust gas odor and to surely prevent a speed reduction type defect at the time of speed reduction even in the case that an open failure occurred at a purge control valve.例文帳に追加

触媒排気臭を有効に抑制するとともに、パージ制御弁が開故障している場合であっても、減速時の減速性不良が発生することを確実に防止することを目的とする。 - 特許庁

To provide a printer and a method of controlling it and to adequately correct a defect in an image in a self service type automatic print vending machine to be placed in, for example, a store.例文帳に追加

本発明は、プリンタ及びプリンタの制御方法に関し、例えば店舗に配置されるセルフサービス型のプリント自動販売機に適用して、画像の異常を的確に補正することができるようにする。 - 特許庁

To prevent occurrence of defective sounding and defect such as a short-circuit resulting from solder deposited on a yoke in a manufacture process in a small-size thin profile electromagnetic sounder of surface mount type.例文帳に追加

小型薄型の表面実装型等の電磁発音体において、その製造過程において半田がヨークに付着することによる発音不良、ショート等の不良の発生を防止することを課題とする。 - 特許庁

To obtain a galvanic cell type oxygen sensor reduced in output fluctuations, extremely enhances in reliability and stability and having a long life by removing the contact defect between a positive collector and a positive lead wire.例文帳に追加

正極集電体と正極リード線との接触不良を除去することにより、出力変動が小さく、信頼性、安定性の極めて高い、長寿命のガルバニ電池式酸素センサを得る。 - 特許庁

Even when a surge voltage is applied, since a pn junction is formed by the n-type semiconductor layer region 130 and the p type impurity diffusion region 170, the concentration of the surge voltage on a defect is prevented and the destruction of the dielectric separation membrane 120 is prevented.例文帳に追加

サージ電圧が印加されたとしても、ｎ−型半導体層領域１３０とｐ型不純物拡散領域１７０とによりｐｎ接合が形成されているため、サージ電圧が欠陥に集中することを防ぎ、誘電体分離膜１２０の破壊を防止することができる。 - 特許庁

To provide an active matrix type display device and, permitting to easily discriminate a specific bus line when inspecting bus lines and restoring a defect, and a manufacturing method therefor, relating to an active matrix type display device having a switching element at each pixel and the manufacturing method therefor.例文帳に追加

本発明は、各画素にスイッチング素子を有するアクティブマトリクス型表示装置及びその製造方法に関し、バスラインの検査や欠陥修復を行う際に、容易に特定のバスラインを識別することのできるアクティブマトリクス型表示装置及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method for manufacturing the perovskite-type dielectric oxide-reduced phase photocatalyst comprises the steps of: mixing the metal oxide having the perovskite-type structure with a carbon precursor; and firing the obtained mixture in an inert gas atmosphere to impart the oxygen defect to the metal oxide and keep the metal oxide in the reduced state.例文帳に追加

及びペロブスカイト型構造を有する金属酸化物と炭素前駆体を混合し、不活性ガス雰囲気下で焼成して該金属酸化物に酸素欠陥与え還元状態にすることを特徴とするペロブスカイト型誘電体酸化物還元相光触媒の製造方法。 - 特許庁

On the semiconductor or the semiconductor insulator substrate, the undoped AlN layer and the n-type AlN layer are formed by epitaxial growth and then the n-type AlN layer which has extremely superior electric conductivity because of the less-defect undoped AlN layer is obtained, so that a Schttoky barrier height and an insulation breakdown voltage can be greatly increased.例文帳に追加

半導体または絶縁体基板上に、アンドープＡｌＮ層、ｎ型ＡｌＮ層をエピタキシャル成長し、欠陥の少ないアンドープＡｌＮ層により電気伝導性が極めて優れたｎ型ＡｌＮ層が得られるので、ショットキーバリア高さや絶縁破壊電圧を大幅に増加することができる。 - 特許庁

To provide an insert connecting and disconnecting type end mill capable of certainly using another cutting blade by preventing extension of a defect to the cutting blade of an insert even when a cutting blade used for cutting work is defective in cutting work and the insert used for this insert connecting and disconnecting type end mill.例文帳に追加

切削加工時に、切削加工に使用される切刃が欠損した場合であっても、インサートの他の切刃への欠損の拡大を防止し、他の切刃を確実に使用できるインサート着脱式エンドミル及びこのインサート着脱式エンドミルに使用されるインサートを提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device having a super junction structure wherein a dislocation defect does not easily occur in a filled epitaxial layer of a second conductivity type for the purpose of further improving the quality of the region of the second conductivity type formed inside a trench.例文帳に追加

トレンチ内に形成する第２導電型の領域の更なる高品質化を目的に、前記第２導電型の充填エピタキシャル層に転位欠陥が発生しにくいスーパージャンクション構造を有する半導体素子の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for separating nitrogen gas and a device therefor, wherein each defect of a single tube type device and a multi-tube type device is overcome, equipment excessiveness of an air compressor and an adsorption tube to the amount of the product nitrogen to be required is made as small as possible, and the operating manipulation is simple.例文帳に追加

単筒式と複数筒式のそれぞれの欠点を解消し、必要とされる製品窒素量に対して空気圧縮機及び吸着筒の設備過剰度をできる限り小さくし、かつ、運転操作も簡便な窒素ガス分離方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for reduced pressure die casting having little erosion and low developing ratio of casting defect, even in the reduced pressure die casting machine having a charging type for molten light alloy for casting in a holding furnace from the lower part onto a horizontal type injection sleeve through a molten metal supplying tube by reducing the pressure in a cavity in the die.例文帳に追加

金型のキャビティ内を減圧することにより保持炉内の鋳造用軽合金溶湯を横型の射出スリーフ゛内に下方から給湯管を介して装填するタイプの減圧ダイカスト鋳造機であっても、溶損が少なく、鋳造欠陥の発生率が低いものを提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a PTP packaging machine capable of carrying out transmission type inspection and reflection type inspection at the substantially same position, capable of saving a space, capable of reducing a manufacturing cost and capable of enhancing inspection efficiency, when inspecting an appearance defect in a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における外観不良を検査するに際し、透過式検査及び反射式検査を略同一位置において実施でき、省スペース化、製造コストの低減及び検査効率の向上を図ることのできる外観検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

For example, although a PDP sustain circuit requires a high element breakdown voltage, because the IGBT can reduce the voltage drop at the time of conduction with little dependence of the element breakdown voltage, the defect of the IGBT can be compensated by combining the sustain circuit with the AC-type PDP.例文帳に追加

例えば、素子耐圧が高いことが要求されるPDPのサステイン回路に、素子耐圧にあまり依存せずに導通時の電圧降下を小さくできるIGBTの欠点を、AC型PDPと組み合わせることで補うことができる。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor having high contamination resistance against a developer, a discharge product or the like, sufficiently high durability against a contact type charger, a cleaning blade or the like, and preventing generation of a coating defect during manufacturing.例文帳に追加

現像剤、放電生成物等に対する耐汚性、接触型帯電器、クリーニングブレード等に対する耐久性が十分に高く、製造中のコーティング欠陥の発生を防止できる電子写真受光体の提供。 - 特許庁

This entails that the concentrations of p-type semiconductors in defect restraining layers 116a, 116b are mutually different in the peripehry of the charge storage part 110 and in the periphery of the charge transfer part.例文帳に追加

これに伴い、固体撮像装置１では、電荷蓄積部１１０の周囲と電荷転送部の周囲とで、欠陥抑制層１１６ａ、１１６ｂのｐ型半導体の濃度が互いに異なるように形成されている。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a magnetic recording medium with excellent manufacturing efficiency by eliminating the problem of a traveling defect due to electrostatic charge in a process for manufacturing a vapor deposition type medium by using an aromatic PA film.例文帳に追加

芳香族ＰＡフィルムを用いた蒸着型媒体の製造工程における、帯電に起因する走行不良の問題を解消して、製造効率に優れた磁気記録媒体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing an aluminum alloy cast plate where, even in a twin roll type continuous casting method for an Al-Mg based aluminum alloy having a wide solid-liquid coexistent temperature region, the defect of the central part in the plate thickness can be suppressed.例文帳に追加

固液共存温度領域の広いAl-Mg 系アルミニウム合金の双ロール式連続鋳造方法であっても、板厚中心部の欠陥を抑制できる、アルミニウム合金鋳造板の製造方法を提供する。 - 特許庁