「diffraction method」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a light scattering reflective plate which gives good scattering characteristics while suppressing diffraction and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

回折を抑制しつつ良好な散乱特性を得ることができる光散乱反射基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of precisely and rapidly analyzing crystal structure of a fiber cord for tires by X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折によるタイヤ用繊維コードの結晶構造解析を精度良く且つ迅速に行うことが可能な方法を提供する。 - 特許庁

The negative electrode active material for a lithium ion secondary battery has a crystal phase showing peaks at 2θ=28.9°, 32.8°, 41.4°, 42.6°, and 44.3° by the powder X-ray diffraction method.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折法において、２θ＝２８．９°、３２．８°、４１．４°、４２．６°及び４４．３°にピークを持つ結晶相を有する。 - 特許庁

To provide a method and a device by which an optical waveguide type diffraction grating element having a desired characteristic is easily manufactured.例文帳に追加

所望の特性を有する光導波路型回折格子素子を容易に製造することができる方法および装置を提供する。 - 特許庁

The known method includes using a scanning transmission electron microscope, and also using a scanned diffraction beam of the STEM.例文帳に追加

知られた方法は、走査透過電子顕微鏡を使用することを伴うと共に、ＳＴＥＭの回折の走査されたビームを使用する。 - 特許庁

The electrolytic slime is mixed with an ethylenediaminetetraacetic acid ammonium solution, and a sulfate which influences the X-ray diffraction method is dissolved and removed.例文帳に追加

電解スライムをエチレンジアミン四酢酸アンモニウム溶液と混合して、Ｘ線回折に影響を与える硫酸鉛を溶解除去する。 - 特許庁

The molded product of the fluorine-containing polyacrylate processed by the method, and the optical device such as the diffraction grating and the optical waveguide are also provided.例文帳に追加

また、この方法で加工された含フッ素ポリアリレートの成形体、およびこれを用いた回折格子や光導波路などの光デバイス。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a phase mask for manufacturing a optical fiber diffraction grating having an arbitrary period and a period distribution.例文帳に追加

任意の周期や周期分布を持つ光ファイバ回折格子作製用の位相マスクの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the carbon power, it is preferable to have <3370 nm distance between surface (d002) of the graphite layers measured by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

炭素粉末は、Ｘ線回折法による黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満であることがより好ましい。 - 特許庁

The hologram recording method is characterized in that the diffraction efficiency is increased by adsorption between a refractive index modulating agent and an enhancing agent for refractive index difference.例文帳に追加

屈折率変調剤と屈折率差増強剤の吸着により、回折効率が上がることを特徴とするホログラム記録方法。 - 特許庁

To produce a hologram recording film, in which a diffraction grating layer having interference fringes different in slant angle is multilayered, by a simple method.例文帳に追加

異なるスラント角（傾斜角）の干渉縞を有する回折格子層が多層化されたホログラム記録フィルムを簡素な方法で製造する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an optical semiconductor device which can cause unevenness in a coupling coefficient κ of a diffraction grating at low cost.例文帳に追加

低コストで回折格子の結合定数κを不均一にすることができる光半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for machining highly-accurate blaze type diffraction grating grooves composed of CdTe or CdZnTe crystal material.例文帳に追加

ＣｄＴｅまたはＣｄＺｎＴｅの結晶材料からなるブレーズ型回折格子の格子溝を精度良く機械加工すること - 特許庁

To provide an ophthalmic imaging system and method for optimizing a diffraction limited point spread function (DL-PSF) of an imaging light beam.例文帳に追加

画像光ビームの回折限界点広がり関数（ＤＬ−ＰＳＦ）を最適化する眼科画像システム及び方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a microelectronic mechanical system (MEMS) element and a method of manufacturing the MEMS element, to optimize a driving side electrode and a wiring layer in a diffraction type optical MEMS element, and to improve an optical characteristic, particularly the reflection efficiency and diffraction efficiency of a beam.例文帳に追加

光学ＭＥＭＳ素子及びその製造方法、回折型光学ＭＥＭＳ素子における駆動側電極と配線層との最適化を図り、また光学特性、特にビームにおける反射効率、回折効率度の向上を図る。 - 特許庁

A device and a method are applied for fine adjusting a diffraction grating in an optical wavelength-division multiplexing (WDM) device, and maintaining the diffraction grating at a near-Littrow alignment (or at an accuracy of ±0.003°) over the operational temperature range of the device.例文帳に追加

光学波長分割多重（ＷＤＭ）装置内の回折格子の微調整を可能にし、回折格子を、装置の動作温度にわたって近リトロー・アラインメントに（すなわち＋／−０．００３度の正確さで）維持する装置および方法。 - 特許庁

The raw material originated from shell or pearl is mechanochemically ground such that the factor of decrease based on diffraction intensity before grinding at a predetermined Miller index of aragonite crystal obtained by the X-ray diffraction method becomes a prescribed value.例文帳に追加

貝殻または真珠由来の原料をＸ線回折法において得られるアラゴナイト結晶の所定のミラー指数における回折強度の粉砕前を基準とした減少率を所定値とするようにメカノケミカル粉砕する。 - 特許庁

To provide a new method for producing such an alkaline earth thioaluminate-based fluorescent compound that only the diffraction pattern of a perfect alkaline earth thioaluminate compound is detected and no other substances' diffraction patterns are recognized in the X-ray diffractometry.例文帳に追加

Ｘ線回折分析において完全なアルカリ土類チオアルミネート化合物の回折パターンのみ検出され、他の物質の回折パターンが認められないアルカリ土類チオアルミネート系蛍光体化合物の新規な製造法を提供する。 - 特許庁

The copper-base alloy excellent in press workability, in which, as to the X-ray diffraction intensity of the cross section of the material, the sum of the diffraction intensity of {111} and that of {222} becomes two or more times that of {200}, and its manufacturing method are provided.例文帳に追加

材料の断面のＸ線回折強度で｛１１１｝と｛２２２｝の回折強度の合計が｛２００｝回折強度の２倍以上であることを特徴とするプレス加工性に優れた銅基合金とその製造方法。 - 特許庁

This intensity measuring method of the single-wavelength light in the EUV domain includes spectral diffraction of EUV light by a diffraction grating, entrance of the spectrally-diffracted light into a multilayer film mirror, reflection of the single-wavelength light, and measurement of the reflected light intensity.例文帳に追加

ＥＵＶ光を回折格子により分光し、分光された光を多層膜ミラーに入射し、単波長光を反射し、その反射光強度を測定することを含む、ＥＵＶ領域の単波長光の強度測定方法。 - 特許庁

To provide a point diffraction interferometer that measures the optical performance of an optical system to be inspected with high accuracy, by reducing errors with respect to the ideal spherical waves of an emitted wave front from a pinhole, and to provide an exposure apparatus and a method therefor which use the point diffraction interferometer and a manufacturing method of devices thereof.例文帳に追加

ピンホールからの射出波面の理想球面波に対する誤差を低減して、被検光学系の光学性能を高精度に測定することが可能な点回折干渉計、それを利用した露光装置及び方法、並びに、デバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring a crystallite diameter of a thin film material for easily measuring the crystallite diameter of the thin film material by X-ray diffraction measurement with high precision, a measuring objective sample for performing the X-ray diffraction measurement of the thin film, and a method of manufacturing the measuring objective sample.例文帳に追加

Ｘ線回折測定により薄膜材料の結晶子径を簡易且つ高精度に測定する薄膜材料の結晶子径測定方法、薄膜に対するＸ線回折測定を行うための測定対象試料、及びこの測定対象試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor laser in which shallowing of the depth of a diffraction grating due to the growth of a denatured layer by the activation of mass transport in crystal-growing a semiconductor layer on the diffraction grating by a metal-organic vapor-phase growth method is eliminated.例文帳に追加

本発明の目的は、回折格子上に半導体層を有機金属気相成長法で結晶成長させる際に、マストランスポートの活性化により変成層が生じ、回折格子深さが浅くなることのない半導体レーザの製造方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide a method of producing a diffraction grating by direct plotting using charged particle beam such as electron beam or ion beam and in detail, a method of precisely plotting the diffraction grating having an optional spatial frequency without depending on beam irradiation position control resolution of the plotting device.例文帳に追加

本発明は、電子ビームやイオンビーム等の荷電粒子ビームを用いた、直接描画による回折格子の形成方法に係り、さらに詳しくは、描画装置のビーム照射位置制御分解能によらず、任意の空間周波数の回折格子を精度良く描画する方法に関するものである。 - 特許庁

A focus error signal is detected from the -1 order diffraction light of the hologram optical element 7, and a track error signal by the phase difference method from the +1 order diffraction light of the hologram optical element 7, a track error signal by the push- pull method, and an information signal being recorded on the disk 6 are detected.例文帳に追加

ホログラム光学素子７の−１次回折光からフォーカス誤差信号を検出し、ホログラム光学素子７の＋１次回折光から位相差法によるトラック誤差信号、プッシュプル法によるトラック誤差信号、およびディスク６に記録された情報信号を検出する。 - 特許庁

To provide an optical system dispensing with the replacement of a diffraction lattice even if the number NA of the apertures of a work to be measured is changed, and an operation method therefor.例文帳に追加

被測定ワ−クの開口数ＮＡが変わった場合でも回折格子を交換不要な光学システム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a lens-adjusting device with which dust or the like is prevented from adhering to a diffraction grating, and a lens-adjusting method utilizing such a device.例文帳に追加

回折格子への塵埃等の付着を防止したレンズ調整装置及びそのような装置を利用したレンズ調整方法を提供する。 - 特許庁

In a lithographic device manufacturing method, sub-resolution assist features are provided to equalize the intensities of the diffraction orders that form the image of the pattern on a substrate.例文帳に追加

リソグラフィデバイス製造方法で、解像度以下のアシストフィーチャを設けて、基板上にパターンの像を形成する回折次数の強度を等化する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a polarized light diffraction element of which the diffracted rays themselves produce specified polarized light such as circularly polarized light or linearly polarized light.例文帳に追加

回折光自体が円偏光や直線偏光のような特定の偏光を生じる偏光回折素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a diffraction optical element which is capable of efficiently converting an incident luminous flux to a luminous flux having a prescribed sectional shape.例文帳に追加

入射光束を所定の断面形状を有する光束に効率良く変換することのできる回折光学素子の製造方法。 - 特許庁

To provide a spectroscopic instrument and detector that are improved in wavelength resolution and diffraction efficiency, and a method for manufacturing the spectroscopic instrument, etc.例文帳に追加

波長分解能と回折効率をともに向上できる分光装置、検出装置及び分光装置の製造方法等を提供すること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method which makes it possible to stably supply X-ray diffraction gratings with a high aspect ratio to be used for an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計に用いる高アスペクト比のＸ線回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical information recording method by which the amount of diffraction light generated when optical information is reproduced can be made uniform.例文帳に追加

各光情報を再生した際に生じる回折光の光量を均一にすることができる光情報記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray diffractometer executing a wavelength modulation diffraction method by using an X-ray tube in stead of a radiation source as an X-ray source.例文帳に追加

Ｘ線源として放射光源ではなくＸ線管を用い、波長変調回折法を実施できるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for forming a pattern with high precision, in which diffraction of exposure light, light reflection between a surface and a mask, and light scattering on the surface are suppressed.例文帳に追加

露光光の回折、表面−マスク間反射、表面散乱を抑制することで、高精細なパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

HIGH-ORDER HARMONIC X-RAY GENERATING APPARATUS AND ITS GENERATING METHOD, AS WELL AS POINT-DIFFRACTION INTERFEROMETER USING HIGH-ORDER HARMONIC X-RAY例文帳に追加

高次高調波エックス線発生装置及びその発生方法、並びに高次高調波エックス線を利用したエックス線干渉計測装置 - 特許庁

To produce a hologram recording film by a simple method, the film having multilayers of diffraction grating layers having interference fringes with different slant angles (inclination angles).例文帳に追加

異なるスラント角（傾斜角）の干渉縞を有する回折格子層が多層化されたホログラム記録フィルムを簡素な方法で製造する。 - 特許庁

The cobalt hydroxide particles are characterized in that the D_50 is 0.1-1 μm when measured by a laser diffraction/scattering particle size distribution measurement method.例文帳に追加

レーザー回折散乱式粒度分布測定法によるＤ_５０が０．１μｍ〜１μｍであることを特徴とする記載の水酸化コバルト粒子。 - 特許庁

DIFFRACTION-OPTICAL COMPONENT, ILLUMINATION SYSTEM AND EXPOSURE SYSTEM COMPRISING THE SAME, AND METHOD FOR EXPOSURE EMPLOYING SUCH EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

回折光学コンポーネント、このような回折光学コンポーネントを備えた照射系および露光系、ならびにこのような露光系を用いた露光方法 - 特許庁

To improve analysis efficiency when X-ray diffraction quantitative analysis of many samples is performed using a base standard absorption correction method.例文帳に追加

多数の試料について基底標準吸収補正法を用いたＸ線回折定量分析を行う場合の分析効率を向上させる。 - 特許庁

The incident direction of a light beam relative to an arbitrary position on a diffraction optical element thus formed is calculated by a beam-tracing method.例文帳に追加

このようにして形成された回折光学素子上の任意の位置に対する光線の入射方向を光線追跡方により計算する。 - 特許庁

To provide a stress measuring method by neutron diffraction capable of shortening the time and reducing the stress error resulted from an error of measuring position.例文帳に追加

時間短縮と測定位置の誤差に起因する応力誤差の低減を目的とした中性子回折による応力測定方法の提供。 - 特許庁

To provide a processing method for a silver halide photosensitive material for holography having a high diffraction efficiency and high light resistance after processing for developing/bleaching.例文帳に追加

高回折効率であり、かつ現像・漂白処理後も耐光性の高いホログラフィー用ハロゲン化銀感光材料の処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for writing and reading a hologram free of angle dependency of a reading radiation and capable of achieving even diffraction efficiency of 100%.例文帳に追加

読み出し照射光の角度依存性がなく、回折効率１００％も可能な、ホログラムの書き込みおよび読み出し方法を提供する。 - 特許庁

Diffraction images of the evaluated sample and the standard sample formed by an electron beam E2 transmitted through/diffracted the joined body are detected in this method.例文帳に追加

そして、接合体を透過・回折した電子ビームＥ２により形成される被評価試料及び標準試料の回折像を検出する。 - 特許庁