「diffraction method」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for forming an intermediate formed body for manufacturing a light assist magnetic head in which a diffraction grading is highly precisely formed, the intermediate formed body, and the light assist magnetic head.例文帳に追加

回折格子を精度良く形成した、光アシスト磁気ヘッドを製造するための中間生成体の製造方法、中間生成体及び光アシスト磁気ヘッドを提供する。 - 特許庁

To provide an optical element which can be manufactured surely and easily and which is provided with a waveguide comprising a high diffraction performance and a phase shift effect, and to provide a method for manufacturing it.例文帳に追加

確実且つ容易に製作でき、高い回折性能や位相シフト効果を有する導波路を備えた光素子及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an element distribution observing method and a device therefor capable of suppressing the generation of artifacts caused by the thickness or density of a material and artifacts caused by diffraction contrast.例文帳に追加

コアロス電子を利用した元素分析法において、試料の厚さや密度によるartifactや、回折コントラストによるartifactの発生を抑制し得る元素分布観察方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a monolithic Offner spectrometer and various components like a diffraction grating and a slit all of which are manufactured by using a state-of-the-art diamond machining process.例文帳に追加

最新のダイアモンド機械加工プロセスを用いて全てが作成される、モノリシックオフナー分光器及び、回折格子及びスリットのような、様々なコンポーネントの製造方法を提供する。 - 特許庁

In addition, it is expected that the present invention will provide a reliable and reproducible method for quantitative measurement of a very small amount of active oxygen produced therefrom through the X-ray diffraction analysis.例文帳に追加

また、本発明は、その時に発生する微量の活性酸素をＸ線回折分析で定量して、信頼性及び再現性ある活性酸素発生量の測定技術を提供する。 - 特許庁

To provide a polarizing diffraction element which is hard to draw in bubbles into rugged gratings and which has stable optical characteristics as well as high reliability, and also to provide the manufacturing method.例文帳に追加

凹凸格子内に気泡が巻き込まれにくく、光学特性が安定し、信頼性が高い偏光回折素子を提供すること、およびその作製方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a particle diameter measuring device capable of determining the optimum frequency and voltage value in order to form a density diffraction grating, and a particle diameter measuring method using the device.例文帳に追加

密度回折格子を形成するために、最適な周波数と電圧値とを決定することができる粒子径測定装置及びそれを用いた粒子径測定方法を提供する。 - 特許庁

It is favorable that a particle diameter corresponding to 50% cumulative percentage of the aluminum hydroxide powder on a mass basis measured by a laser diffraction method is within a range of 10-20 μm.例文帳に追加

水酸化アルミニウム粉末は、レーザ回折法により測定される、質量基準の累積百分率５０％相当粒子径が１０〜２０μｍの範囲内であることが好ましい。 - 特許庁

This fatty acid salt is characterized by being used for forming the metal fine particles having a ≤80 μm volume-cumulative particle diameter D90, determined by a laser diffraction/scattering type particle diameter distribution measurement method.例文帳に追加

レーザー回折散乱式粒度分布測定法による体積累積の粒径Ｄ９０が８０μｍ以下である、金属超微粒子形成に用いられることを特徴とする。 - 特許庁

In this adjusting method of the optical head, the diffraction grating 4 is adjusted based on the main beam 17, and ±1st order sub-beams 18a, 18b obtained during reproduction of the optical recording media 2a.例文帳に追加

この光ヘッドの調整方法では、光記録媒体２ａの再生時に得られる主ビーム１７、±１次の副ビーム１８ａ、１８ｂに基づいて、回折格子４を調整する。 - 特許庁

To provide a method for molding a diffraction optical element capable of reducing a sink caused by the curing shrinkage or molding shape of a molding compound and capable of enhancing the transfer properties of a molded article.例文帳に追加

成形材料の硬化収縮や成形形状に起因するひけを軽減し成形品の転写性を向上させることができる回折光学素子の成形方法を提供する。 - 特許庁

The light reflected on the wafer 2 is incident to an optical system 10 through the lens 36, analyzed by the spectroscopic method by a diffraction grating 42 and received by a linear sensor 43 to measure the spectroscopic characteristic.例文帳に追加

ウエハ２からの反射光は、レンズ３６から光学系１０に入射し、回折格子４２で分光されてリニアセンサ４３により受光され、その分光特性が計測される。 - 特許庁

To provide a low-loss Mach-Zehnder interferometer which can reduce temperature dependence of wavelength characteristics, and to provide an arrayed waveguide diffraction grating and a method for manufacturing the Mach-Zehnder interferometer.例文帳に追加

波長特性の温度依存性を低減することができる、低損失のマッハ・ツェンダ干渉計、アレイ導波路回折格子及びマッハ・ツェンダ干渉計の製造方法を提供すること。 - 特許庁

Pyrroloquinoline quinone powder having a 90% cumulative diameter of ≥25 μm and <200 μm based on the number of particles measured by laser diffraction scattering type particle size distribution measuring method.例文帳に追加

レーザー回折散乱式粒度分布測定法による個数基準に基づく累積９０％径が２５μｍ以上、２００μｍ未満であることを特徴とするピロロキノリンキノン粉末。 - 特許庁

To provide a method for producing a semiconductor laser excellent in wavelength controllability by having diffraction gratings of different depths in an element, and a semiconductor laser.例文帳に追加

本発明は、素子内で深さの異なる回折格子を有することにより波長制御性に優れた半導体レーザの作製方法及び半導体レーザを提供することを目的とする。 - 特許庁

Alternating rows of the reflectors are operated by common method so that the controlling regions function as lattices to provide controlling elements which can be used as diffraction optical elements.例文帳に追加

反射器の交互の列は、制御領域が、回折光学素子として使用されることができる制御素子を提供するために格子として機能するように、共通の方法で作動される。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a diffraction optical element capable of performing phase correction without adding an etching process and without being subjected to the restriction due to resolution ability of photolithography.例文帳に追加

エッチング工程を追加することなく，また，フォトリソグラフィの解像能力による制限を受けることなく位相補正を行うことの可能な回折光学素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To attain highly accurate thermal analysis measurement by making ambient environment of a sample for measurement and a standard sample the same on the premise of configuration for performing X-ray diffraction measurement by a transmission method.例文帳に追加

透過法によるＸ線回折測定ができる構造を前提として、被測定試料と標準試料の周囲環境を同じにして高精度な熱分析測定を実現する。 - 特許庁

To provide an image detection method and an image detection device for surely detecting an image of a medium of which the surface is provided with a hologram or a diffraction grating.例文帳に追加

この発明は、表面にホログラムや回折格子を有する媒体の画像を確実に検出できる画像検出方法、および画像検出装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

This is a method for putting a square mesh diffraction grating in a plane perpendicular to luminous flux to be analyzed and conjugate optically to an analyzing plane, and analyzing the wave front of the luminous flux.例文帳に追加

分析すべき光束に直角であって分析平面と光学的に共役な平面内に、方形メッシュ回折格子を設置する光束の波面を分析するための方法。 - 特許庁

The electrolytic slime is mixed with a solution of potassium formate, potassium carbonate, potassium hydroxide and dithylenediaminetetraacetic acid, and barium sulfate which influences the X-ray diffraction method is dissolved and removed.例文帳に追加

電解スライムを蟻酸カリウム、炭酸カリウム、水酸化カリウム及びジエチレントリアミン五酢酸の溶液と混合して、Ｘ線回折に影響を与える硫酸バリウムを溶解除去する。 - 特許庁

To provide a diffraction lattice multi-channel spectroscope and its regulation method capable of regulating and calibrating the position of a multi- channel detector without using other light sources and an optical system.例文帳に追加

他の光源や光学系を用いることなく、多チャンネル検出器の位置の調整や校正を行うことができる回折格子型マルチチャネル分光器およびその調整方法を提供する。 - 特許庁

Preferably, the copper sulfide composed of the copper sulfide particles has an average particle size D_50 of 0.1 μm-3.0 μm as measured by the laser diffraction/scattering method.例文帳に追加

そして、当該硫化銅粒子で構成された硫化銅粉の場合には、レーザー回折散乱式測定法による平均粒径Ｄ_５０が０．１μｍ〜３．０μｍであること等が好ましい。 - 特許庁

To provide a method for forming a personalized or individualized diffraction element, for example, a hologram without forming or using a master hologram or a hologram template such as shim.例文帳に追加

マスターホログラムやシムなどのホログラムひな型を作成若しくは利用することなく、個別化されたないしは個性化された回折要素、例えばホログラムを作成するための方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a light quantity adjusting member which hardly causes the deterioration of image quality by diffraction in the grain boundary of the dot of a coloring liquid, realizes the low manufacture cost and high product yield, and is easily obtained.例文帳に追加

着色液のドットの粒界での回折による画質低下の少ない、製造コストが低く、製品歩留まりの高い、簡便な光量調節部材の製造方法の提供。 - 特許庁

This manufacturing method includes synthesizing AlH_3, and ball-milling the synthesized AlH_3 in a condition of applying a force of 2 G to 20 G (where G represents gravity acceleration) to make an X-ray diffraction pattern of AlH_3 into a halo pattern.例文帳に追加

ＡｌＨ_3を合成した後、２Ｇ〜２０Ｇ（Ｇは重力加速度）の力を付与する条件でボールミリングを行い、Ｘ線回折パターンがハローパターンとなるＡｌＨ_3とする。 - 特許庁

To provide a sample holding device capable of coping with both X-ray diffraction measurements of a transmission method or a reflection method, holding a plurality of samples, and arranging an optional portion of each held sample on an X-ray irradiation position.例文帳に追加

透過法と反射法、いずれのＸ線回折測定にも対応可能で、複数の試料を保持でき、しかも保持した各試料の任意の部位をＸ線照射位置へ配置することができる試料保持装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method in which the relaxation rate of refractive index modulation in the actual operation is reducible as a method for manufacturing an optical waveguide diffraction grating element based upon an optical waveguide to which B elements are added.例文帳に追加

Ｂ元素が共添加された光導波路を基に光導波路型回折格子素子を製造する方法であって、実際の作動時における屈折率変調の緩和率を低減することができる方法を提供する。 - 特許庁

The activated carbon is characterized by having ≥3.86 Å d_002 obtained by X-ray diffraction method, 700-2,400 m^2/g specific surface area obtained by BET(Brunauer-Emmett-Teller) method and a ratio of (oxygen atom)/(carbon atom) in the range of 0.01-0.10.例文帳に追加

Ｘ線回折法により求められるｄ_002が３．８６Å以上、ＢＥＴ法による比表面積が７００〜２４００ｍ^2／ｇ、酸素原子／炭素原子の比が０．０１〜０．１０の範囲にあることを特徴とする活性炭。 - 特許庁

Recessed parts 221a and 221b are formed by forming a resist film 22 on an insulating film 213 and then partially removing the resist film 22 using a diffraction method generally used in a semiconductor manufacturing process or a halftone method.例文帳に追加

凹部２２１ａ及び２２１ｂは、絶縁膜２１３上にレジスト膜２２２を形成した後、半導体製造プロセスで汎用される回折法或いはハーフトーン法を用いてレジスト膜２２２を部分的に除去することによって形成されている。 - 特許庁

To provide a device and a method for hologram exposure for manufacturing a reflection type hologram element, the device and method being characterized in that the hologram element is easily manufactured and diffraction efficiency to light beams in different wavelengths is made constant.例文帳に追加

反射型のホログラム素子を作製するホログラム露光装置とホログラム露光方法であって、ホログラム素子の作製が容易で、波長の異なる光に対するホログラム素子の回折効率を同等にすることが容易なものを実現する。 - 特許庁

To provide a crystal orientation measuring method, capable of detecting a wrong crystal orientation generated systematically with a specific crystal orientation relation between a correct crystal orientation and a wrong crystal orientation measured by the crystal orientation measuring method for mapping the crystal orientation, by using an electron beam backward scattering diffraction image or a Kossel diffraction image, and correcting the wrong crystal orientation.例文帳に追加

電子線後方散乱回折像やコッセル回折像を用いて結晶方位をマッピングする結晶方位測定方法で測定した正しい結晶方位と誤った結晶方位との間に特定の結晶方位関係をもって生ずる系統的に発生する誤った結晶方位を検知し、誤った結晶方位を修正できる結晶方位測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a compound-type ultrasonic probe capable of executing high-accuracy flaw detection of a thick-walled structure, and shortening the time required for flaw detection in ultrasonic flaw detection by TOFD (time-of-flight diffraction) method, and to provide an ultrasonic flaw detection method by the TOFD method that uses the probe.例文帳に追加

ＴＯＦＤ法による超音波探傷において、厚肉構造物の探傷を高精度で実行できると共に、探傷に要する時間の短縮ができる、複合型超音波探触子及びそれを用いたＴＯＦＤ法による超音波探傷法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus wherein a real-time measurement and a large-area measurement can be realized simultaneously by a simple constitution of an optical system when a sample is analyzed by using a diffraction grating-type surface plasmon resonance sensor chip.例文帳に追加

回折格子型の表面プラズモン共鳴センサチップを用いた試料の分析において、簡単な光学系の構成によりリアルタイム測定と大面積の同時測定とを同時に実現可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device suppressing the occurrence of a defect due to the easing of distortion even when an area in which a diffraction grating does not exist is formed between lasers , and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

回折格子が存在しない領域をレーザ間に設ける場合であっても歪み緩和による欠陥の発生を抑制することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an optical head device, capable of easily adjusting a spot position on the optical recording medium of a sub-beam generated by a diffraction element even in the case of being miniaturized, and the optical head device.例文帳に追加

小型化した場合でも、回折素子が生成したサブビームの光記録媒体上でのスポット位置を容易に調整可能な光ヘッド装置の製造方法、および光ヘッド装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an endoscope system, a control method, an imaging apparatus, and the like that can acquire an image at the original resolution of an imaging element, and can increase the depth of field taking account of the effects of the diffraction limit.例文帳に追加

回折限界の影響を考慮した上で、撮像素子が持つ解像度の画像も撮像でき、被写界深度幅を広くすることもできる内視鏡システム、制御方法、撮像装置等の提供。 - 特許庁

To provide a selected area aperture plate, a manufacturing method of the same and the like, in which a fine pore can be formed while maintaining mechanical strength, and which is suitable for observing a selected area electron diffraction image of a TEM.例文帳に追加

機械的強度を維持しつつ微細孔を形成することができ、ＴＥＭの制限視野電子回折像観察に好適な制限視野絞りプレート及びその製造方法等を提供する。 - 特許庁

To provided a patterning method and a pattern generation program which can generate a wiring pattern of a conductive film which can solve the problems of spreading of diffraction image, disconnection, and visibility of wiring.例文帳に追加

回折像の広がり、断線、配線視認性の問題を解消することができる導電性フイルムの配線パターンを生成することができるパターン生成方法及びパターン生成プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a structure of crystal for easily analyzing and identifying peak spreading factors by dependency of a reflection index hkl when evaluating a crystal structure by X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

Ｘ線回折測定により結晶構造を評価する際、反射指数ｈｋｌ依存性を用いて、ピーク拡がり要因を簡便に解析、同定する結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hologram recording method with high sensitivity, high resolution, high diffraction efficiency and high storage property, applicable to a three-dimensional display, a high-density optical recording medium, a holographic optical element or the like.例文帳に追加

３次元ディスプレイ、高密度光記録媒体、ホログラフィック光学素子等への応用可能な高感度かつ高解像度、高回折効率、高保存性を有するホログラム記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide an organic electroluminescent element and its manufacturing method wherein light taking-out efficiency can be maximized by maximizing a refractive index difference of a diffraction grating layer, and which can be manufactured easily.例文帳に追加

回折格子層の屈折率差を最大にすることで，光取り出し効率を最大にすることができ，容易に製造することが可能な有機電界発光素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a computing method and program for determining a diffraction image in arbitrary space by taking into consideration simultaneously both macro planar shape like a lens and micro phrase shape by a DOE (diffractive optical element).例文帳に追加

レンズ形状のようなマクロな面形状とＤＯＥによるミクロなフレーズ形状の双方を同時に考慮して、任意の空間における回折像を求める計算方法およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzing method for accurately obtaining X-ray diffraction data even from a contaminated destructed surface to enable the judgment of a destruction cause and an apparatus adapted thereto.例文帳に追加

汚染された破壊面からでもＸ線回折情報を精度良く得ることにより、破壊原因の判定を可能にするＸ線解析方法及びその装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A composite particle having a 40-300 μm average particle size comprises melamine borate, and scale-like boron nitride powder having a ≤2.0 graphitization index (GI) by a powder X-ray diffraction method and a 5-40 μm average particle size.例文帳に追加

ホウ酸メラミンと、粉末X線回折法による黒鉛化指数（ＧＩ）２．０以下、平均粒子径５〜４０μmの鱗片状窒化ホウ素粉末からなり、平均粒子径が４０〜３００μmである複合粒子。 - 特許庁