「diffraction method」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a hologram reproducing apparatus, an information processing apparatus and a method for reproducing a hologram by which a hologram can be reproduced as signals without generating crosstalk even when a recording medium has diffraction images multiplexed in high density.例文帳に追加

回折像が高密度に多重化された記録媒体であってもクロストークを生じることのない信号として再生することができるホログラム再生装置、情報処理装置及びホログラム再生方法の提供。 - 特許庁

To provide a simple defect inspection device and a defect inspection method for performing defect inspection on a substrate by using diffraction beams generated from a repetitive pattern of further fine intervals without shortening the wavelengths of illumination beams.例文帳に追加

照明光の波長を短くしなくても、さらに微細なピッチの繰り返しパターンから発生する回折光を利用して、基板の欠陥検査を行える簡易な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a diffraction optical element and a method of manufacturing the element by which an antireflection film can be continuously formed with uniform film thickness on the surface of a periodical grating having a grating consisting of a plurality of recesses and projections.例文帳に追加

複数の凹凸状の格子を有する周期格子の表面に、反射防止膜を連続して均一の膜厚で形成することのできる回折光学素子およびその製造方法を提案すること。 - 特許庁

The indium oxide powder is characterized in that, in a volume-basis particle size distribution obtained by measuring by a laser diffraction scattering type particle size distribution measurement method, (D90-D10)/D50 ranges from 1 to 10.例文帳に追加

レーザー回折散乱式粒度分布測定法により測定して得られる体積基準粒度分布において、（Ｄ９０−Ｄ１０）／Ｄ５０が１〜１０であることを特徴とする酸化インジウム粉末を提案する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an optical element, capable of especially manufacturing a diffraction lens having a height of 1-10 μm with good precision as a multi-wavelength interchangeable lens, the optical element and a mold for molding the optical element.例文帳に追加

多波長互換レンズとして、特に１μｍ〜１０μｍの範囲内の高さを有する回折レンズを精度よく作成することができる光学素子の製造方法、光学素子及び光学素子用金型を提供する。 - 特許庁

To provide a device which propagates light to an optical waveguide of microsize exceeding the diffraction limit of light and a method of manufacturing an optical waveguide of microsize smaller than the wavelength of light.例文帳に追加

本発明は、光の回折限界を超えて微小サイズの光導波路に光伝搬させる装置および光の波長以下のサイズを有する光導波路を製造する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a light guide plate using a diffraction grating, which has high luminous efficiency by good moldability of a pattern from original plate and good productivity and is manufactured at low cost, and its manufacturing method.例文帳に追加

回折格子を使用した導光板であって、原版からのパターンの成形性が良好で発光効率が高く、生産性が良好で廉価なフィルム導光板、及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

The magnesium oxide powder has a cubic particle shape when observed by a scanning electron microscope, and has a cumulative 50% particle diameter (D_50) of at least 1.0 μm by a laser diffraction scattering type particle size distribution measurement method.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡にて観察した粒子形状が立方体状であり、かつレーザ回折散乱式粒度分布測定による累積５０％粒子径（Ｄ_５０）が１．０μｍ以上である酸化マグネシウム粉末。 - 特許庁

In the exposure method, a photomask is irradiated with light by lighting, diffraction light exiting the photomask is condensed by means of a lens, and multiple spot images are focused on the exposure surface.例文帳に追加

実施形態に係る露光方法は、照明により光をフォトマスクに照射し、前記フォトマスクから出射した回折光をレンズによって集光し、露光面に複数個の点像を結像させる露光方法である。 - 特許庁

To provide a method and apparatus which enable measuring of the adhesion of an alloy phase in a plated layer with a higher accuracy against any change in the distance between a diffraction position of X rays and a detection system as caused by the vibration of a steel plate.例文帳に追加

鋼板の振動によりＸ線の回折位置と検出系との距離が変動するような場合に、めっき層中の合金相の付着量を精度よく測定する測定装置および方法の提供。 - 特許庁

To provide a processing method for a hologram recording material which has high sensitivity, high resolution, high diffraction efficiency, and long storage life, and is applicable to a three-dimensional display, a high-density optical recording medium, a holographic optical element, etc.例文帳に追加

３次元ディスプレイ、高密度光記録媒体、ホログラフィック光学素子等への応用可能な高感度かつ高解像度、高回折効率、高保存性を有するホログラム記録材料の処理方法を提供する。 - 特許庁

Provided that the specific surface area of the metal magnetic particles 10 measured by a gas adsorption method {a BET (Brunauer-Emett-Teller) method} is defined as α, and the apparent specific surface area of the metal magnetic particles 10 calculated from the average particle diameter measured by a laser scattering diffraction method is defined as β, the metal magnetic particles 10 satisfy the relation of α/β≤3.0.例文帳に追加

ガス吸着法（ＢＥＴ法）によって測定された金属磁性粒子１０の比表面積をαとし、レーザー散乱回折法によって測定された平均粒径から算出した金属磁性粒子１０の見かけの比表面積をβとする場合、金属磁性粒子１０は、α／β≦３．０の関係を満たす。 - 特許庁

The method for manufacturing a polarized light diffractive cholesteric liquid crystal film contains the first step to form a cholesteric liquid crystal film on an alignment supporting substrate, the second step to transfer a diffraction pattern of a diffraction element substrate to the surface of the cholesteric liquid crystal film and to form a region exhibiting diffractiveness on a part of the film and the third step to release the alignment supporting substrate from the cholesteric liquid crystal film.例文帳に追加

配向支持基板上にコレステリック液晶フィルムを形成する第１工程、コレステリック液晶フィルム面に回折素子基板の回折パターンを転写し、フィルムの一部に回折能を示す領域を形成する第２工程、及びコレステリック液晶フィルムから配向支持基板を剥離する第３工程、を含む偏光回折性コレステリック液晶フィルムの製造方法である。 - 特許庁

A method for analysis includes: a step of directing a converging beam 30 of X-rays 26 toward a surface of a sample 22 having an epitaxial layer formed thereon; and a step of sensing the X-rays that are diffracted from the sample while resolving the sensed X-rays as a function of angle so as to generate a diffraction spectrum including a diffraction peak and fringe spectrum due to the epitaxial layer.例文帳に追加

Ｘ線２６の集束するビーム３０を、エピタキシャル層がその上に形成されたサンプル２２の表面に配向するステップと、１つの回折ピークとエピタキシャル層に起因する周辺スペクトルを有する回折スペクトルを生成するため、サンプルから回折されたＸ線を検知し、同時に、検知されたＸ線を角度の関数として解析するステップと、からなる分析方法。 - 特許庁

This method has a step for allowing focused electron beams to enter a sample and acquiring a convergent electron diffraction image on the sample by using a scanning transmission electron microscope 12, a step for calculating the lattice strain quantity in the sample based on the acquired convergent electron diffraction image, and a step for displaying the calculated lattice strain quantity corresponding to an electron microscope image of the sample.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡１２を用い、収束した電子線を試料に入射させ、試料についての収束電子回折像を取得するステップと、取得された収束電子回折像に基づいて、試料における格子歪み量を算出するステップと、算出された格子歪み量を、試料の電子顕微鏡像に対応させて表示するステップとを有している。 - 特許庁

In the method of forming an image which uses at least a photoreceptor and a toner, the electrophotographic photoreceptor has a photosensitive layer containing oxytitanium phthalocyanine, having the maximum diffraction peak at the Bragg angle (2θ±0.2) 27.3° in X-ray diffraction by CuKα line, and the toner has 3 to 8 μm volume average particle size and 20 mm or lower fluidity index.例文帳に追加

少なくとも感光体及びトナーを用いる画像形成方法において、該電子写真感光体が、ＣｕＫα線によるＸ線回折においてブラッグ角（２θ±０．２）２７．３゜に最大回折ピークを有するオキシチタニウムフタロシアニンを含有する感光層を有し、該トナーが体積平均粒径が３〜８μmであり且つ流動性指数が２０ｍｍ以下であることを特徴とする画像形成方法。 - 特許庁

This apparatus and method for adjusting and inspecting the optical pickup are constituted so as to analyze the transmitted light that is incident from the optical pickup via a diffraction grating 6, by arranging either a first plate 14 or a second plate 15 of different thicknesses arranged so as to contact a surface facing the objective lens 5 of the diffraction grating 6 at an optical path from the optical pickup.例文帳に追加

本発明に係る光ピックアップの調整検査装置及びその調整検査方法は、回折格子６の対物レンズ５に対向した面に接するよう配置された厚みの異なる第１のプレート１４と第２のプレート１５のいずれか一方を、光ピックアップからの光路に配置して、光ピックアップから回折格子６を介して入射した透過光を解析するよう構成されている。 - 特許庁

In the ceramic film depositing method for growing a film on a substrate by spraying aerosol containing ceramic powder on the substrate to collide the ceramic powder on the substrate, the ceramic film is deposited by using the highly crystalline ceramic powder in which the half-width of the highest intensity diffraction ray peak of the X-ray diffraction ray when C-Kα ray is used is below 0.3°.例文帳に追加

セラミックス粉体を含むエアロゾルを基板に吹き付け、セラミックス粉体を基板に衝突させることによって基板上に膜を成長させるためのセラミックス膜の形成方法において、Ｃｕ−Ｋα線を使用したときのＸ線回折線の最強度回折線ピークの半値幅が０．３°未満である結晶性の高いセラミックス粉体を用いてセラミックス膜の形成を行う。 - 特許庁

A hologram element 306a provided in the optical integrated unit having the tracking error detecting function by three beam method is sectioned into first and second regions 601 and 602 having diffraction directions in a direction that the sub-beams 202, 202b are separated, and diffraction grating patterns using respectively one side and the other side of a circular columns being symmetry respect to a boundary line 603 are provided in respective regions.例文帳に追加

３ビーム法によるトラッキング誤差検出機能を有する光集積ユニットに設けられるホログラム素子３０６ａは、サブビーム２０２ａ、２０２ｂが離間する方向に、回折方向が異なる第１領域６０１、第２領域６０２に区分され、各領域には境界線６０３に関して対称な円弧列のそれぞれ一方及び他方を用いた回折格子パタンが設けられる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a polyimide resin optical waveguide having a diffraction grating in a core layer made of a polyimide resin, the method by which a refractive index is periodically changed only in the core layer without changing the refractive index of an overclad layer after the overclad layer is formed on the core layer.例文帳に追加

ポリイミド樹脂からなるコア層の上にオーバークラッド層を形成した後、オーバークラッド層の屈折率を変化させることなく、コア層内においてのみ、屈折率を周期的に変化させることらなる、コア層内に回折格子を有するポリイミド樹脂光導波路の製造方法を提供する。 - 特許庁

A position relation between an external shape and the crystal orientation of a specimen is clarified by comparative measurement using a reference sample having a clear position relation between the external shape and the crystal orientation on the same sample coordinate, by using a back-scattered electron beam diffraction pattern method (EBSP method).例文帳に追加

後方散乱電子線回折パターン法（ＥＢＳＰ法）を用いて、同じ試料座標上で外形形状と結晶方位の位置関係が明確な基準試料を用いて比較測定する事で、被検体の外形形状と結晶方位の位置関係を明確にする。 - 特許庁

In this quantitative determination method for the phase structure of the polymer blend, only a sea component of the non-compatible polymer blend A having the sea-island structure is dissolved into an organic solvent S, and the sizes of the dispersed particles are measured in a suspension comprising the dispersed particles of an island component, by a laser diffraction/scattering measuring method.例文帳に追加

海−島構造を有する非相溶系ポリマーブレンド（Ａ）の海成分のみを有機溶剤（Ｓ）に溶かし、島成分の分散粒子からなる懸濁液を、レーザ回折／散乱測定法により分散粒径の測定を行うポリマーブレンド相構造の定量化方法。 - 特許庁

A sample containing the hydroxyapatite is taken out and is formed into a shape with at least a detection surface 3 by such method as compression molding, then a forming body 1 is burned, and a substance existing on the detection surface 3 of an obtained sintered body 2 is analyzed, for example, by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

ハイドロキシアパタイトを含む試料を取り出し、該試料を圧縮成形等の方法により少なくとも検出面３を有する形状に成形し、次いで、該成形体１を焼成し、得られた焼結体２の検出面３に存在する物質を例えばＸ線回折法により解析する。 - 特許庁

To provide an optical recording medium free from the generation of noise caused by the distortion of the recording medium and having excellent raw preservability, resolution, diffraction efficiency or the like while maintaining the sensitivity of a photopolymer and utilizing the change in the refractive index of a foaming agent, to provide an optical recording method, and to provide an optical recording/reproducing method.例文帳に追加

本発明は、フォトポリマーの感度を維持し、気泡材としての屈折率の変化を利用しつつ、記録媒体の歪みによるノイズ発生がなく、生保存性、解像度、回折効率等に優れた光記録媒体、光記録媒体及び光記録再生方法を提供すること。 - 特許庁

A base film is provided on a substrate and a perpendicular magnetic film having an easily-magnetized axis oriented principally perpendicularly to the substrate is formed on the base layer and a locking curve 21 of the perpendicular magnetic film obtained by using a θ-2θ scanning method in the X-ray diffraction method has plural maximum points 22 and 23.例文帳に追加

基板上に下地膜が設けられ、その上に磁化容易軸が基板に対し主に垂直に配向した垂直磁性膜が設けられ、この垂直磁性膜は、Ｘ線回折法によるθ−２θスキャン法を用いて得たロッキングカーブ２１が複数の極大点２２、２３を有するものである。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an illuminating device capable of making diffraction light incident in an irradiation region precisely by a simple and highly precise positioning adjustment of an element, an illuminating device manufactured by that manufacturing method, and a projector using that illuminating device.例文帳に追加

素子の簡易かつ高精度な位置調整により照射領域へ正確に回折光を入射させることを可能とする照明装置の製造方法、その製造方法により製造された照明装置、及びその照明装置を用いたプロジェクタを提供すること。 - 特許庁

This method for producing the cyclopentanol is characterized by using a protonic zeolite having ≥10 ratio of (SiO2)/(Al2O3) and regulated in x-ray diffraction pattern substantially to the pattern represented by the table 1 as a catalyst in the method for producing the cyclopentanol by hydrating the cyclopentene in the presence of the catalyst.例文帳に追加

触媒の存在下でシクロペンテンを水和してシクロペンタノールを製造する方法において、ＳｉＯ_2/Ａｌ_2Ｏ_3比が１０以上であり、且つＸ線回折パターンが実質的に第１表のパターンで規定されるプロトン型ゼオライトを触媒として使用することを特徴とするシクロペンタノールの製造方法。 - 特許庁

To provide a pattern drawing method for contact X-ray lithography wherein drawing is carried out by moving the zeroth-order diffraction image of an opening formed in a mask relatively with respect to a substrate applied with a photosensitive agent, and which enables high-contrast continuous drawing.例文帳に追加

マスクに形成した開口部の０次回折像を、感光剤を塗布した基板に対して相対移動させることにより描画する近接Ｘ線リソグラフィのパターン描画方法であって、コントラストの高い連続描画を可能にする。 - 特許庁

Since the pattern size of the master mask is made larger than the pattern size of the objective mask, the rounding of the pattern due to diffraction can be decreased and the time for inspection can be reduced even when a die-to-DB comparison method is applied.例文帳に追加

マスターマスクは、目的とするマスクのパターンサイズよりもパターンサイズを十分大きくできるため、回折によるパターンの丸まりを小さくできるため、Ｄｉｅ ｔｏ ＤＢ比較法を適用させても検査時間を短くできる。 - 特許庁

The average particle diameter D_SEM of the vertical axis of the observed particle is desirably 1.0 μm or less, and 50% diameter D_50 in volume-based cumulative fractions of the particle diameter distribution measured by a laser diffraction scattering method is desirably 2.0 μm or less.例文帳に追加

その観察された粒子の縦軸の平均粒径Ｄ_ＳＥＭが１．０μｍ以下が好ましく、また、レーザ回折・散乱法粒子径分布測定の体積基準の積算分率における５０％径Ｄ_５０が２．０μｍ以下が好ましい。 - 特許庁

To provide an exposure device inspection method and an exposure device, capable of obtaining a highly accurate inspection result by forming a highly accurate transfer pattern and by acquiring diffraction light detection data, when inspecting the exposure device using a photo mask.例文帳に追加

フォトマスクを用いて露光装置の検査を行う際に、高精度な転写パターンを形成し、回折光検出データを取得し、高精度の検査結果を得ることが可能な露光装置の検査方法、及び露光装置を提供する。 - 特許庁

In the iron phosphate lithium, the particle size distribution measured by a laser diffraction scattering method is a mathematically normal distribution, the center value of the particle size distribution is 5.3 μm, and the particle size of the particles up to 10% from the minimum particle size is 2.2 μm.例文帳に追加

鉄リン酸リチウムは、レーザ回折・散乱方式により測定した粒度分布が、数学的に正規分布であり、前記粒度分布の中央値が５．３μｍであり、かつ、最小粒径から１０％までの粒子粒径が２．２μｍである。 - 特許庁

When using the time division drive method, a data signal side drive circuit 102 and a gate signal side drive circuit 103 are respectively configured by TFTs each having an extremely rapid operation speed and using a semiconductor film having an active layer showing an electron beam diffraction image corresponding to [110] orientation.例文帳に追加

また、時分割駆動方式を用いる際、データ信号側駆動回路１０２及びゲート信号側駆動回路１０３を、特異な結晶構造を有するシリコン膜を用いた極めて動作速度の速いＴＦＴで形成する。 - 特許庁

To provide a groove-shaped light guide grating structure with which high accuracy and high efficiency are obtained with a simple configuration, and which is manufactured without requiring much labor and time and is used as a compact and thin coupler or a transmissive diffraction grating, and also to provide a method for manufacturing the groove-shaped light guide grating structure.例文帳に追加

簡潔な構造で高い精度と高い効率とを達成することができるようにした透過型回折格子として用いることが可能な溝型導光格子構造およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

Supposing that the (111) face detection peak intensity is (a) and that the (200) face detection peak intensity is b when crystal structures analysis of platinum is executed by an X-ray diffraction method, the platinum electrode films 7, 8 have the ratio (b/a) of 0.01-0.1.例文帳に追加

白金電極膜７、８は、白金をＸ線回折法によって結晶構造解析した際の、（１１１）面検出ピーク強度をａとし（２００）面検出ピーク強度をｂとすると、その比率（ｂ／ａ）が０．０１〜０．１である。 - 特許庁

The diffraction image computing method by one mode of the invention includes a step for arranging a point light source in a traveling wave face on the incidence side of an optical element and a step for arranging an observation point on the emission side of the optical element.例文帳に追加

本発明の１態様による回折像計算方法は、光学素子の入射側の進行波面において、点光源を配置するステップと、光学素子の出射側において、観測点を配置するステップとを含む。 - 特許庁

To provide a new method for analyzing the structure of a protein, by which any protein can be divided into soluble fractions and then subjected to purification, crystallization, and three-dimensional structure analysis by X-ray diffraction under uniform conditions.例文帳に追加

いかなる蛋白質であっても、可溶性画分に生産した後、均一な条件化で、精製、結晶化、及び、Ｘ線回折による３次元構造の解析を行うことができる新たな蛋白質の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a multifocal lens simulator and a method of simulating a multifocal lens, realizing and undergoing the effect of intraocular lens, a difference between the diffraction type and refraction type, or demerit even when not undergoing insertion operation for a multifocal intraocular lens (before the insertion operation).例文帳に追加

多焦点眼内レンズの挿入手術を受けなくても（挿入手術を受ける前に）、その効果、回折型と屈折型の差異、あるいはデメリットを実感・体験できる多焦点レンズシミュレーション装置及びシミュレーション方法を得る。 - 特許庁

In a method for manufacturing diffraction grating, a glass material consisting of GeO_2, B_2O_3, and SiO_2 is heat-treated after having its refractive index periodically varied by irradiation with ultraviolet rays.例文帳に追加

ＧｅＯ_２、Ｂ_２Ｏ_３およびＳｉＯ_２からなるガラス材料に紫外線を照射することにより、ガラス材料の屈折率を周期的に変化させた後、当該材料を熱処理することを特徴とする回折格子の製造方法。 - 特許庁

In this method, an angle space of a light source in a parabolic focus is optically converted into a linear space, and use of a single diffraction element and an area camera is facilitated such that the angle spectrum of the light source is simultaneously measured.例文帳に追加

実施形態においては、放物線焦点における光源の角度空間を線形空間へと光学的に変換し、光源の角度スペクトルを同時に測定するように単一の回折要素およびエリアカメラの使用を容易にする。 - 特許庁

Since the sound field inside the closed curved surfaces in the vicinity of the auricle is reproduced on the speaker array 130 according to the wave surface synthesis method and reflection and diffraction effect occurs at each individual ear, the influence of individual difference may become minimized.例文帳に追加

スピーカアレイ１３０で、波面合成法により、耳介近傍の閉曲面内の音場が再現されるものであり、反射や回折効果は個人個人の耳で発生するため、個人差による影響が発生しにくくなる。 - 特許庁

To crystallize with a minute amount of a sample using a gel counter diffusion method, and to mount a crystal producing instrument as it is without taking out crystal to the sample holder of an X-ray diffraction device.例文帳に追加

ゲル・カウンタ・ディフュージョン法を用いて微量のサンプルで結晶化を実施できて、かつ、結晶を取り出すことなく結晶作製器具をそのままの状態でＸ線回折装置の試料ホルダーに取り付けることができるようにする。 - 特許庁

To prevent unintentional diffraction phenomena due to uneven state of the surface at a boundary removed with a method removing one by one layer from the surface of multilayer film for specifically shaping a reflection wave front of a multilayer film reflection mirror.例文帳に追加

多層膜反射鏡の反射波面を所定の形状にするために多層膜の表面からおよそ一層づつ除去する方法があるが、除去した境界で表面が凹凸状態になり予期せぬ回折現象が生じる。 - 特許庁

Specifically, a vacuum annealing treatment is carried out after the TaXN thin film is formed into a film, and a protecting film is fabricated on it, thereby determining an optimum annealing condition while observing a change of Ta-N coupling by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

具体的には、ＴａＸＮを成膜してその上に保護膜を製作した後、真空アニール処理を行い、Ｘ線回折法によりＴａーＮ結合の変化を観察しながら、最適なアニール条件を決める方法がある。 - 特許庁

To provide an optical recording medium which has high sensitivity applicable to a high-density recording medium, three-dimensional display, holographic optical element, etc., and can make high diffraction efficiency, good preservable property, and dry processing compatible with each other, and a hologram recording method.例文帳に追加

高密度光記録媒体、３次元ディスプレイ、ホログラフィック光学素子等への応用可能な高感度かつ高回折効率、良保存性、乾式処理を両立することができる光記録媒体とホログラム記録方法を提供する。 - 特許庁