「diffraction method」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

The method and device for adjusting the diffraction grating is characterized in that the luminous flux passed the diffraction grating is made incident on a space frequency filter, only the high-frequency component is taken out, the interference fringes generated by causing the interference of the high-frequency component are observed, and by aligning the same to a reference line, the direction of the diffraction grating is adjusted.例文帳に追加

本発明による回折格子の調整方法並びに調整装置は、回折格子を通過した光束を空間周波数フィルターに入射させて高周波成分のみを取り出し、該高周波成分を干渉させてできる干渉縞を観測し基準線と一致させて回折格子方向を調整することを特徴とする。 - 特許庁

This shape evaluation method of the diffraction grating having the phase shift part includes an interference fringe detection process for detecting an interference fringe, corresponding to the irregularities of the diffraction grating, and a shape evaluation process for evaluating the shape of the diffraction grating, based on the interference fringe detected in the interference fringe detection process.例文帳に追加

本発明に係る回折格子の形状評価方法は、位相シフト部を有する回折格子の形状評価方法であって、回折格子の凹凸に対応する干渉縞を検出する干渉縞検出工程と、干渉縞検出工程で検出した干渉縞に基づいて、回折格子の形状評価をおこなう形状評価工程とを含む。 - 特許庁

As a positive electrode active material for a secondary battery, β-FeOOH is used with aspect ratio of particles of not more than 5, and with half-value width Y of 0.30 <Y(2θ) showing a (110) face diffraction peak with an X-ray diffraction method using a CuKα beam.例文帳に追加

二次電池用正極活物質として、粒子のアスペクト比が５以下のβ—ＦｅＯＯＨであって、さらにＣｕＫα線を用いたＸ線回折法で、半値幅Ｙが０．３°＜Ｙ（２θ）の（１１０）面回折ピークを示すβ—ＦｅＯＯＨを用いる。 - 特許庁

To provide a diffraction optical element and a method for manufacturing the same such that positioning with high accuracy can be efficiently performed and that the productivity can be improved, and to provide an optical system, an observation device, a photographing element and a photographing device having the above diffraction optical element.例文帳に追加

高精度な位置合わせを、効率よく行うことができ、生産性を向上することが可能な回折光学素子とその製造方法、及び該回折光学素子を有する光学系、観察装置、撮像素子及び撮像装置を提供する。 - 特許庁

This holographic makeup method providing the rainbow-colored glittering effect includes heat-pressing a diffraction grating having recessed/projecting structure such as a hologram sheet 4 on hair 10 using a holographic makeup tool 1 and transferring the surface recesses/projections of the diffraction grating on the hair.例文帳に追加

虹色の光輝効果を得るホログラム化粧方法が、ホログラム化粧道具１を用いて、毛髪１０等の毛に、ホログラムシート４等の凹凸構造を有する回折格子を加熱押圧し、毛に回折格子の表面凹凸を転写することからなる。 - 特許庁

To provide a diffraction optical element for efficiently performing adhesion with high precision to improve the productivity and its manufacturing method, and an optical system, an observing device, an imaging device and an image pickup unit provided with the diffraction optical element.例文帳に追加

高精度な貼りあわせを、効率よく行うことができ、生産性を向上することが可能な回折光学素子とその製造方法、及び該回折光学素子を有する光学系、観察装置、撮像素子及び撮像装置を提供する。 - 特許庁

Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

In the method for manufacturing a diffractive optical element and in the diffractive element by laminating at least two diffraction gratings, the space between the laminated diffraction gratings is tightly sealed to constitute the diffractive optical element.例文帳に追加

少なくとも２つの回折格子を積層して回折光学素子を形成する回折光学素子の製造方法または回折光学素子において、前記積層した回折格子間の空間部を、気密封止して回折光学素子を構成する。 - 特許庁

A particle size of the colloidal silica is indicated by a mean primary particle size calculated on the basis of a BET method and a mean secondary particle size measured on the basis of a laser beam diffraction method.例文帳に追加

前記コロイダルシリカの粒子径は、ＢＥＴ法に基づいて算出された平均一次粒子径と、レーザー光回折法に基づいて測定された平均二次粒子径とで示される。 - 特許庁

To provide a structure analysis method of a crystal applicable even to a case where a peak usable as a reference peak cannot be observed near an analysis object peak in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

This optical lever method allows the Young's modulus to be measured with the laser beam without deforming the measuring object because measurement is performed with X-rays in the in-plane X-ray diffraction method.例文帳に追加

光てこ方式ではレーザ光によって、in-planeＸ線回折法ではＸ線によって測定を行うため被測定物を変形させることなくヤング率Εを測定することができる。 - 特許庁

To provide a calibration method when measuring bubbles in liquid by using a laser diffraction/scattering type particle size distribution measuring method, and a method for measuring the volume concentration of the bubbles in the liquid by using a calibration result.例文帳に追加

レーザ回折・散乱式の粒度分布測定法を用いて液体中の気泡を測定するに際しての校正方法と、その校正結果を用いて液体中の気泡の体積濃度を測定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for duplicating a hologram, the method bringing out the diffraction performance of an precursor and the modulation amount in the refractive index of a recording material as much as possible and duplicating a high-quality hologram; and to provide a hologram duplicated by the method.例文帳に追加

原版の回折性能と記録材料の屈折率変調量を最大限に引き出し、高品質なホログラムを複製するホログラム複製方法及びそれにより複製されたホログラムを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL ELEMENT, THE OPTICAL ELEMENT, INSPECTION DEVICE LOADED WITH THE ELEMENT, AND EXPOSURE DEVICE AND POINT DIFFRACTION TYPE INTERFERENCE MEASURING INSTRUMENT PROVIDED WITH THE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

光学素子の製造方法、光学素子、該素子を搭載した検査装置、該検査装置を備えた露光装置及び点回折型干渉計測定装置 - 特許庁

To provide a translucent type liquid crystal display (LCD) and a method for manufacturing the same which allow the number of masks to decrease, using a half-tone mask and diffraction exposure process.例文帳に追加

ハーフトーンマスクと回折露光を用いてマスク数を減らすことのできる半透過型液晶表示装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

ERROR SIGNAL DETECTING METHOD FOR OPTICAL HEAD, DIFFRACTION DEVICE AND LIGHT RECEIVING DEVICE USED FOR THE SAME, AND OPTICAL HEAD AND OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE USING THESE例文帳に追加

光ヘッドの誤差信号検出方法、それに用いる回折素子及び受光素子並びにそれらを用いた光ヘッド並びに光記録再生装置 - 特許庁

The spatical period d_1 of the first structure 21 and the spatical period d_2 of the second structure 24 are measured by an X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法により第１の周期構造２１の空間的周期ｄ_１、第２の周期構造２４の空間的周期ｄ_２をそれぞれ測定する。 - 特許庁

To provide a production method of a ZnSe diffractive optical part which is improved to enhance the efficiency of diffraction.例文帳に追加

回折効率を上げることができるように改良されたＺｎＳｅ回折型光学部品の製造方法を提供することを主要な目的とする。 - 特許庁

To provide a molding method optimum for molding a thin data recording disk substrate low in double diffraction and excellent in mechanical characteristics, and a mold therefor.例文帳に追加

複屈折が小さく、機械特性に優れた薄型の情報記録ディスク基板の成形に最適な成形方法及び成形金型を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a diode laser pump array suitable for exciting high-output solid-state laser and a diffraction type homogenizer used for the diode laser pump array.例文帳に追加

高出力な固体レーザの励起に適したダイオードレーザポンプアレイ、およびダイオードレーザポンプアレイに使用する回折型ホモジナイザの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a quality inspection device and a method of quality inspection for detecting respective patterns on a multiple diffraction grating recording medium.例文帳に追加

本発明は、多重回折格子記録媒体のそれぞれの模様を検出することが可能な品質検査装置及び品質検査方法に関する。 - 特許庁

The fine powders of copper have an integrated volume percent diameter D_50 of 1.0-3.0 μm and D_90 equal to or larger than 1.6×D_50, when being measured with a laser diffraction method.例文帳に追加

レーザー回折法で測定した積算体積百分率径Ｄ_５０が１．０〜３．０μｍであり、かつＤ_９０≧１．６×Ｄ_５０である銅微粉である。 - 特許庁

To provide a system and a method for detecting the relative position of a transducer head with respect to a storage medium by using an optically diffraction medium.例文帳に追加

光学回折媒体を用いて、記憶媒体に対する変換器のヘッドの相対的な位置を検出するためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming method etc., in which a light diffraction structure can be provided on a part having already been formed by a thermal transfer system even in such a case.例文帳に追加

熱転写方式で先に形成された部分であっても、その部分上に光回折構造を設けることができる画像形成方法等を提供する。 - 特許庁

To provide an Si monochromator having excellent cooling performance and X-ray diffraction characteristics which can be applied even to a large-sized synchrotron radiation facility, and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

優れた冷却性能およびＸ線回折特性を有し、大型の放射光設備でも適用可能なＳｉモノクロメータおよびその製造方法を得る。 - 特許庁

To provide a method for adjusting an acaustooptical element by which the deterioration of diffraction efficiency is suppressed even when the incident position is varied.例文帳に追加

入射位置の変動が生じたとしても回折効率の低下を抑制することができる音響光学素子の調整方法を提供すること。 - 特許庁

In the analysis method, the governing factor of the spread shape of the peak to be measured is decided in the crystal structure evaluation through X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状の支配要因を判定する解析手法である。 - 特許庁

In particular, it is preferable that the power has, in a particle size distribution on a volume basis measured by the laser diffraction/scattering type particle size measurement method, a median diameter of ≤10 μm.例文帳に追加

特に、レーザー回折散乱式粒子径測定法で測定した体積基準の粒度分布において、メディアン径が１０μｍ以下であることが望ましい。 - 特許庁

To provide a replica diffraction grating capable of suppressing a decrease in processing precision of a grating surface and a decrease in reflection factor of a gold thin film, and a manufacturing method thereof.例文帳に追加

格子面の加工精度の低下及び金薄膜の反射率の低下を抑えることができるレプリカ回折格子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a diaphragm device and a diaphragm method which contribute to the downsizing of the device and reduce image deterioration resulting from small diaphragm diffraction.例文帳に追加

装置の小型化を図ることができると共に小絞り回折による画像劣化を軽減することができる絞り装置及び絞り方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of precisely forming a diffraction grating in which phases are respectively inverted between a first region and a second region.例文帳に追加

第１領域と第２領域との間で位相が互いに反転している回折格子を高精度に形成することができる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a position detecting method and its device capable of detecting a position with accuracy on the basis of the light intensity distribution on a light receiving face by Fresnel diffraction.例文帳に追加

フレネル回折による受光面上での光強度分布から高精度に位置検出を行い得る位置検出方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a specular polarizing diffraction element in which diffracted light itself causes specific polarization such as circular polarization and linear polarization.例文帳に追加

回折光自体が円偏光や直線偏光のような特定の偏光を生じる非鏡面性偏光回折素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a specular polariz diffraction element in which diffracted light itself causes specific polarization such as circular polarization and linear polarization.例文帳に追加

回折光自体が円偏光や直線偏光のような特定の偏光を生じる鏡面性の偏光回折素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a specular polarizing diffraction element in which diffracted light itself causes specific polarization such as circular polarization and linear polarization.例文帳に追加

回折光自体が円偏光や直線偏光のような特定の偏光を生じる鏡面性偏光回折素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a polarizing diffraction element of nonspecular property in which diffracted light itself causes specific polarization such as circular polarization and linear polarization.例文帳に追加

回折光自体が円偏光や直線偏光のような特定の偏光を生じる非鏡面性の偏光回折素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for stably producing a hologram storing multiple interference patterns, which is capable of diffracting light with a high diffraction efficiency.例文帳に追加

高い回折効率で光を回折することができる干渉縞が複数記録されたホログラムを安定して製造することができる製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a preparation method of a protein crystal sample for simply applying to an X-ray diffraction experiment without damaging a protein crystal.例文帳に追加

タンパク質結晶に損傷を与えることなく、かつ、簡便に、Ｘ線回折実験に適用するためのタンパク質結晶試料の調製方法を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray photographing apparatus and X-ray photographing method capable of photographing an image with high accuracy regardless of misalignment of diffraction grating.例文帳に追加

回折格子のずれに拘わらず、高精度の撮影画像を得ることが可能なＸ線撮影装置およびＸ線撮影方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor laser excellent in wavelength controllability by including diffraction grating with different depths in an element, and the semiconductor laser.例文帳に追加

素子内で深さの異なる回折格子を有することにより波長制御性に優れた半導体レーザの作製方法及び半導体レーザを提供する。 - 特許庁

To provide a method, etc., for manufacturing an optical waveguide type diffraction grating element having multiple reflection wavelengths at low cost and with good reproducibility.例文帳に追加

複数の反射波長を有する光導波路型回折格子素子を再現性よく安価に製造することができる製造方法等を提供する。 - 特許庁

The graphite powder having a spacing of (002) planes in c axis determined by a lattice constant precision measuring method from X-ray diffraction pattern of 3.368 Å or less is preferably used.例文帳に追加

黒鉛粉末は、Ｘ線回折図から格子定数精密測定法で求めたｃ軸(002) 面格子間隔の値が3.368 Å以下であるのが好ましい。 - 特許庁

To provide an instrument and a method of high precision and high sensitivity for measuring X-ray diffraction having 0.1 μm order of spatial resolution.例文帳に追加

０．１μｍオーダの空間分解能を有する高精度・高感度なＸ線回折測定装置およびＸ線回折測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of simply manufacturing at a low cost a refractive index modulation type diffraction optical element having an improved characteristic desired in designing.例文帳に追加

設計において期待される改善された特性を有する屈折率変調型回折光学素子を簡便かつ低コストで作製する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hologram image processing method in which increase of grain size in processing steps such as development is suppressed so that high diffraction efficiency is achieved with high sensitivity.例文帳に追加

現像など処理工程における粒子サイズの増加を抑え、高感度で、高回折効率が得られるホログラム画像処理方法を提供する。 - 特許庁