「diffraction method」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a composite optical member and its inspection method by which diffraction gratings possessed by the composite optical member can be independently inspected.例文帳に追加

複合光学部材の有する回折格子をそれぞれ独立して検査することが可能な複合光学部材およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PHASE MASK FOR PROCESSING OF OPTICAL FIBER AND OPTICAL FIBER WITH BRAGG DIFFRACTION GRATING MANUFACTURED BY USING THAT PHASE MASK FOR PROCESSING OF OPTICAL FIBER例文帳に追加

光ファイバー加工用位相マスクの製造方法及びその光ファイバー加工用位相マスクを使用して作製されたブラッグ回折格子付き光ファイバー - 特許庁

To provide a multi-layer structure and minute structure plotting method in which a pit pattern of diffraction limit or less can be formed using a laser beam.例文帳に追加

レーザー光を用いて回折限界以下のピットパターンを形成できる多層構造体及び微細描画方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To prevent deposition of a UV resin of a UV sheet on a diffraction grating in the method of producing a hologram device and to improve the reliability of the hologram device.例文帳に追加

ホログラム素子の製造方法において、ＵＶシートのＵＶ樹脂の回折格子への付着を回避し、上記ホログラム素子の信頼性を向上する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an optical element which is excellent in optical characteristics such as transmissivity and can be used suitably for a polarizing element or a diffraction grating.例文帳に追加

透過率等の光学特性に優れ、偏光素子や回折格子として好適に用いることができる光学素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a protein crystallization method that affords a crystal of good qualities giving a high resolution when photographed using X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折を用いて撮影した時の解像度が高い良質な結晶を得ることができるタンパク質の結晶化方法を提供すること。 - 特許庁

This method for carbon fiber of vapor phase method comprises activating carbon fiber of vapor phase method having ≥0.33 nm lattice spacing (d_002) of crystal measured by X-ray diffraction method in the presence of an alkali metal compound at ≤1,000°C temperature.例文帳に追加

Ｘ線回折法で測定した結晶格子面間隔（ｄ_002）が０．３３ｎｍ以上の気相法炭素繊維をアルカリ金属化合物の存在下、１０００℃以下の温度で賦活することを特徴とする気相法炭素繊維の製造方法。 - 特許庁

In the Mex layer, an index QI regulated by a ratio of diffraction strength I(200) and I(100) which are allotted on a (200) surface and a (111) surface is selected to be not less than 1, in the X-ray diffraction of material using a θ-2θ method.例文帳に追加

ＭｅＸ層において、θ−２θ法を使用する材料のＸ線回折において（２００）面および（１１１）面にそれぞれ割当てられる回折強度Ｉ（２００）対Ｉ（１１１）の比によって規定される指数Ｑ_Iは、１以上に選択される。 - 特許庁

To provide an apparatus for correcting deviation of an irradiation position and precisely measuring strain through diffraction, when a position irradiated with electromagnetic waves is deformed by the movement and deformation of an object to be measured, during measurement in measurement of strain by a diffraction method of electromagnetic waves, such as X-rays.例文帳に追加

Ｘ線など電磁波の回折法によるひずみ測定において、測定中に被測定物の移動や変形により電磁波照射位置が変化した場合に、照射位置のずれを補正し、回折によるひずみ測定を精度良くする装置を提供する。 - 特許庁

This X-ray diffraction measuring method is provided for measuring X-ray diffraction by transmitting incident X-rays through a sample 48 in a direction almost along a predetermined rotation axis Zs while rotating the sample 48 around the rotation axis Zs.例文帳に追加

本発明のＸ線回折測定方法は、所定の回転軸線Ｚｓまわりに試料４８を回転させながらこの回転軸線Ｚｓに略沿った方向の入射Ｘ線を試料４８に透過させることにより、Ｘ線回折が測定される。 - 特許庁

The advantage of the method according to the invention is that the TEM without a scanning unit can be used, and also that the entire crystal obtains the diffraction pattern, while the volume of the diffraction does not depend on the orientation of the crystal when being illuminated.例文帳に追加

当該発明に従った方法の利点は、走査するユニット無しのＴＥＭが、使用されることができると共に、全体の結晶が、回折パターンを得る一方で、照明される際に、回折のボリュームが、結晶の配向に依存するものではないというものである。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor exhibiting excellent evenness of halftone images together with fine line reproduction, in which an oxytitanium phthalocyanine pigment having a maximum diffraction peak at a Bragg angle (2θ±0.2) of 27.2° in CuKα X-ray diffraction is used, and an image forming method.例文帳に追加

ＣｕＫα線によるＸ線回折においてブラッグ角（２θ±０．２）２７．２°に最大回折ピークを有するオキシチタニウムフタロシアニン顔料を使用して、ハーフトーン画像の均一性や細線再現性に優れた電子写真感光体及び画像形成方法の提供。 - 特許庁

Amorphous β-FeOOH having a mode diameter of particles of 10 μm or less and indicating the (110) face diffraction peak having a half- value width Y of 0.3<Y(2θ) in the X-ray diffraction method using the CuKα beam, is used as a positive electrode active material of the nonaqueous electrolyte secondary battery.例文帳に追加

非水電解質二次電池の正極活物質として、粒子のモード径が１０μｍ以下で、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折法で、半値幅Ｙが０．３°＜Ｙ（２θ）の（１１０）面回折ピークを示す非晶質β−ＦｅＯＯＨを用いる。 - 特許庁

To solve the problems that a side spot is deviated from the center position of a side spot light receiving element caused by the manufacturing error of an optical element such as a diffraction grating and space errors among a laser diode, the diffraction grating and a collimator, and consequently the distortion of the tracking error signal by a DPP method occurs.例文帳に追加

回折格子等の光学素子の製造誤差、レーザダイオードと回折格子及びコリメータ間の間隔誤差等によりサイドスポットがサイドスポット受光素子の中心位置からずれを生じ、ＤＰＰ法によるトラッキングエラー信号が歪みを生じる。 - 特許庁

Further, the stainless steel wire has a texture in which the ratio of a martensitic phase induced by wire drawing is ≤15 vol.%, and the balance austenitic phase, and the diffraction intensity of the austenitic phase by an X-ray diffraction method in the longitudinal direction satisfies both of I(200)/I(111)≥2.0 and I(220)/I(111)≥3.0.例文帳に追加

また、線引き加工によって誘起されるマルテンサイト相が15体積％以下、残部がオーステナイト相からなると共に、鋼線長手方向のX線回折法によるオーステナイト相の回折強度がI(200)/I(111)≧2.0、及びI(220)/I(111)≧3.0の双方を満たす集合組織を有する。 - 特許庁

To provide an inexpensive illuminating optical system which is capable of varying light rays in light intensity, a projection exposure system equipped with the illuminating optical system, and a method of manufacturing a device by the use of the projection exposure system, by a method wherein diffraction optical elements are converted into required effective light sources, and modified illuminations are attained with a small number of the diffraction optical elements.例文帳に追加

所望の有効光源に変換することができ、複数の変形照明を少ない回折光学素子で達成することにより、安価な光強度分布変換が可能となる照明光学系、および該照明光学系を備えた投影露光装置と該投影露光装置によるデバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁

This sample holding device is equipped with a transmission type sample holder support member 42 capable of mounting detachably a transmission type sample holder 40 adaptable to the X-ray diffraction measurement by the transmission method, and a reflection type sample holder support member capable of mounting detachably a reflection type sample holder adaptable to the X-ray diffraction measurement by the reflection method.例文帳に追加

透過法によるＸ線回折測定に適合する透過型試料ホルダ４０を、着脱自在に装着可能な透過型試料ホルダ支持部材４２と、反射法によるＸ線回折測定に適合する反射型試料ホルダを、着脱自在に装着可能な反射型試料ホルダ支持部材とを備える。 - 特許庁

According to such a configuration, this method which is different from X-ray diffraction method or X-ray transmission method that accompanies hazards and thermal analysis method that requires cutting of a material, and the presence of the crystallization or internal flaw of the metal glass can be evaluated safely, accurately and simply by a single method.例文帳に追加

かかる構成により、従来の危険を伴うＸ線回折法及びＸ線透過法や、材料の切り出しが必要な熱分析法と異なり、金属ガラス中の結晶化や内部欠陥の有無を、単一の方法で、安全に、且つ精度よく簡単に評価することができる。 - 特許庁

To provide a processing method by which the microfabrication of a surface is carried out by a low energy, and to provide a polyacrylate processed product providing an optical device such as a diffraction grating and an optical waveguide by using the processing method.例文帳に追加

表面の微細加工が特に低エネルギーで行える加工方法と、この加工方法を用いて回折格子や光導波路等の光デバイスとすることができるポリアリレート成形体を提供する。 - 特許庁

On the surface of steel, a rust layer in which the size of crystallites of β-FeOOH components is ≤50 nm by an X-ray diffraction method is formed, and also, the specific surface area of the rust layer is controlled to ≥10 m2/g by a molecular adsorption method.例文帳に追加

鋼材の表面に、β−FeOOH成分の結晶子サイズがＸ線回折法で５０nm以下の錆層を形成させ、且つ該錆層の比表面積を分子吸着法で１０m^2/g以上とする。 - 特許庁

The disclosure relates to a polymorphic form D of bazedoxifene acetate having a specific powder X-ray diffraction pattern, a pharmaceutical composition and treating method to use the polymorphic form D, and a method for producing the polymorphic form D of bazedoxifene acetate.例文帳に追加

本開示は、特定の粉末Ｘ線回折パターンを有する酢酸バゼドキシフェンの多形フォームＤ、それを用いた医薬組成物及び治療方法、並びにその製造方法に関する。 - 特許庁

The ferromagnetic body layers can be formed through vacuum film deposition method or a printing method, a nonmagnetic body layer 161 can be provided between the ferromagnetic body layers, and an optical diffraction grating or a hologram pattern may be provided.例文帳に追加

強磁性体層は真空成膜法または印刷法で形成でき強磁性体層間には非磁性体層１６１を設けることができ、光回折格子またはホログラムパターンを有していても良い。 - 特許庁

To provide a structure analysis method for accurately analyzing the structure and composition of a carbon material to be measured based on the X-ray diffraction data of the carbon material to be measured by utilizing a statistical method.例文帳に追加

統計的手法を利用し、被測定炭素材のＸ線回折データに基づいて、高い精度で被測定炭素材の構造および組成分析が可能な構造解析法を提供する。 - 特許庁

To provide an inner refractive index distribution-measuring method and an inner refractive index distribution-measuring apparatus for measuring an accurate refractive index distribution structure by eliminating the influence of diffraction in a base material that is created by a VAD method having strong striae.例文帳に追加

脈理の強いＶＡＤ法により作成された母材における回折の影響を除去し、正確な屈折率分布構造が測定できる内部屈折率分布測定法と測定装置。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an optical element whose phase inconsistent part has small area and which has high diffraction efficiency, the optical element manufactured by the manufacturing method, and an optical system equipped with the optical element.例文帳に追加

位相不整合部の面積が小さく、高い回折効率を有する光学素子の製造方法、この製造方法により製造された光学素子及びこの光学素子を備えた光学系を提供する。 - 特許庁

A high density thermosensitive recording method and magnetic reading recording medium combines near-field optical recording method and the sensitive reading technique of the magneto-resistive head to overcome the restriction of optical diffraction limitation to increase the density of the recording medium.例文帳に追加

本発明は、ニアフィールド光学記録方式と繊細な抗磁ヘッド読取技術とを合わせて、記録媒体の密度上昇に関する光学回析限界の制限を克服するものである。 - 特許庁

To provide a hologram having higher diffraction efficiency produced by using a heat developable silver salt photographic sensitive material and to provide a method for manufacturing the hologram and a heat developable silver salt photographic sensitive material used for the method.例文帳に追加

熱現像銀塩写真感光材料を用いて作製されたより回折効率の高いホログラム、その製造方法及びそれに用いられる熱現像銀塩写真感光材料を提供すること。 - 特許庁

To provide a forming method for a diffraction grating that can control the depth of a recessed portion with high precision and a manufacturing method for a distributed feedback semiconductor laser that can suppress variance in laser characteristics.例文帳に追加

凹部の深さを高精度に制御することが可能な回折格子の形成方法、及び、レーザ特性のばらつきを抑制することが可能な分布帰還型半導体レーザの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for growing a crystal of a protein, capable of growing (forming) a high-quality protein crystal large enough for use in a neutron diffraction method, with excellent reproducibility.例文帳に追加

中性子回折法に使用できる程度の大型の良質なタンパク質結晶を再現性よく成長（形成）させることが可能なタンパク質結晶成長装置、及びその方法を提案する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a fiber grating semiconductor laser, having a semiconductor optical amplifier which is provided with a light emitting device, on end of which is a reflector and an optical fiber with a diffraction grating in the proximity of its end and is constituted, in such a way that the reflector and the diffraction grating form a laser resonator.例文帳に追加

一方の端面を反射器とする発光素子と、端部近傍に回折格子を備えた光ファイバとを備え、反射器と回折格子がレーザ共振器を形成するように構成された半導体光増幅器を備えるファイバグレーティング半導体レーザの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring lattice constants, which can correctly and easily discriminate between the intensity peak of diffraction X-rays from a semiconductor substrate and the intensity peak of diffraction X-rays from a cladding layer, and which prevents the lattice constant of the semiconductor substrate and the lattice constant of the cladding layer from being changed wrongly.例文帳に追加

半導体基板からの回折Ｘ線の強度のピークとクラッド層からの回折Ｘ線の強度のピークとを、正しくかつ容易に識別することができ、半導体基板の格子定数とクラッド層の格子定数とを取り違えない格子定数の測定方法を提供することである。 - 特許庁

Zinc borate has a specific chemical composition and has a crystalline size of not less than 60 nm determined based on any of diffraction peak of surface indices (020), (101) and (200) in an X-ray diffraction image and a sodium content of not more than 100 ppm measured by means of an atomic absorption method.例文帳に追加

特定の化学組成を有し、Ｘ線回折像（Cu-kα）における面指数(０２０)(１０１)及び(２００)の回折ピークから求めた結晶子サイズが何れも６０ｎｍ以上であり、且つ原子吸光法で測定したナトリウム分の含有量が１００ｐｐｍ以下であるホウ酸亜鉛。 - 特許庁

In the method for manufacturing the diffraction optical device, the alignment direction of the liquid crystal molecules is uniformly controlled by maintaining the temperature of the glass substrate 101 during laser exposure in a specified temperature range corresponding to the N-I temperature of the liquid crystal to manufacture the diffraction optical device having a polarized light separating function.例文帳に追加

この回折光学素子の製造方法において、レーザ露光中のガラス基板１０１の温度を液晶のＮ−Ｉ点に対応する特定の温度範囲に保持することで液晶分子の配向方向を一様に制御して、偏光分離機能を有する回折光学素子を作製する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor element, manufacturing a diffraction grating having its depth (coupling coefficient) easily changing to suppress the concavity and convexity on the surface of the diffraction grating of a manufactured element, and thereby decreasing an optical loss and showing characteristics of a side mode being suppressed.例文帳に追加

簡易に深さ（結合係数）が変化する回折格子の作製することができ、作製された素子の回折格子表面の凹凸が抑制されるため、光損失が低減され、サイドモードが抑制された特性を示す半導体素子の作製方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a wavelength selective diffraction element which secures suitable diffraction efficiency for a plurality of different wavelengths, and prevents or suppresses generation of unwanted diffracted light; an optical pickup equipped with the same; and an optical information processing apparatus and an optical information processing method using the same.例文帳に追加

異なる複数の波長に対して適切な回折効率を確保するとともに、不要な回折光の発生を防止ないし抑制する波長選択性回折素子及びこれを備えた光ピックアップ、これを用いた光情報処理装置及び光情報処理方法の提供。 - 特許庁

The exposure device inspection method further comprises: forming a first image by the first diffraction light and a second image by the second diffraction light on the wafer; measuring a relative distance between the first image and the second image; and inspecting a state of a projection optical system in the exposure device based on the relative distance.例文帳に追加

ウエハ上に、前記第１の回折光による第１の像と、前記第２の回折光による第２の像とを結像させ、第１の像と前記第２の像との間の相対距離を測定し、前記相対距離に基づいて、前記露光装置の投影光学系の状態を検査する。 - 特許庁

To provide an optical reflection grating attaining diffraction efficiency of TE(transverse electric) wave and TM(transverse magnetic) wave equal with each other as far as possible and concurrently attaining diffraction efficiency as high as possible, a spectrophotometer using the reflection grating and a method for finding such an optical reflection grating.例文帳に追加

ＴＥ波とＴＭ波でできるだけ等しい回折効率を達成し、同時に、できるだけ高い回折効率を達成することができる光学反射格子、その反射格子を用いた分光計、及びそのような光学反射格子を見出す方法を提供する。 - 特許庁

This electrode for a lithium secondary battery comprises a current collector 7 and a positive electrode active material layer that is formed on the current collector 7 by a vacuum evaporator 1 and is made mainly of Fe_3O_4 and has a diffraction peak in the vicinity of 30° when evaluated by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

このリチウム二次電池用電極は、集電体７と、集電体７上に真空蒸着装置１により形成され、Ｆｅ_3Ｏ_4を主成分とするとともに、Ｘ線回折法により評価した場合に３０°付近に回折ピークを有する正極活物質層とを備える。 - 特許庁

In this convergence electron diffraction method for acquiring a disc-shaped diffraction figure, by making electron beams converge and irradiate to a sample, all of six (a, b, c, α, β, γ) lattice constants of a crystal can be measured from the microregion smaller than 10 nm, from the distance between the intersection points of HOLZ line appearing in a transmission disc.例文帳に追加

試料に電子線を収束させて照射し、ディスク状の回折図形を得る収束電子回折法において、透過ディスク内に現れたHOLZラインの交点間の距離から、結晶の格子定数６つ（a、b、c、α、β、γ）全てを10nm以下の微小領域から測定することを可能にする。 - 特許庁

This manufacturing method of a substrate for organic electroluminescence used for an organic electroluminescent element provided with a glass substrate 11 having a diffraction grating 12 has a process for forming the diffraction grating 12 by applying a dispersion solution of fine particles to the surface of the glass substrate 11.例文帳に追加

回折格子１２を有するガラス基板１１を備える有機エレクトロルミネセンス素子に用いられる有機エレクトロルミネセンス用基板の製造方法において、ガラス基板１１上に微粒子の分散液を塗布することによって、回折格子１２を形成する工程を有する。 - 特許庁

The manufacturing method includes a process for forming a diffraction grating on a semiconductor substrate surface or on a film surface on the semiconductor substrate, and a process for forming a multilayer film by forming an epitaxial layer on the surface of diffraction grating.例文帳に追加

本発明に係る半導体レーザ素子の製造方法は、半導体基板表面または半導体基板上の膜表面に回折格子を形成する工程と、前記回折格子表面にエピタキシャル層を形成して多層膜を形成する工程と、を含む半導体レーザ素子の製造方法である。 - 特許庁

The size of a crystallite measured by a Hall method from the integration width of each diffraction peak acquired from an X-ray diffraction pattern is larger than 600 Å and less than 800 Å in the cathode active substance for the lithium secondary battery.例文帳に追加

前記正極活物質において、Ｘ線回折パタ−ンから得られる各回折ピ−クの積分幅からＨａｌｌ法によって測定した結晶子の大きさが600Åより大きく、800Å未満であることを特徴とするリチウム二次電池用正極活物質である。 - 特許庁

As compared with a method for measuring the diffraction line intensity of asbestos by scanning the light detection slit 5 and the X-ray detector 8, a measuring time can be shortened largely.例文帳に追加

受光スリット５及びＸ線検出器８のスキャンによってアスベストの回折線強度を測定することに比べて、測定時間を大幅に短縮できる。 - 特許庁

To provide an encoder, a servomotor, a servo unit, and a method for manufacturing an encoder, whereby manufacturing and so on are facilitated while resolution is improved using diffraction interference light.例文帳に追加

回折干渉光を利用して分解能を向上させつつ、製造等を容易にすることが可能な、エンコーダ、サーボモータ、サーボユニット及びエンコーダの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a material with which an optical control element (diffuser) with high diffraction efficiency can easily be manufactured only by exposure and a method for manufacturing the optical control element.例文帳に追加

露光するだけで容易に回折効率の高い光制御素子（拡散体）を作製できる材料を提供するとともに、この光制御素子の作製方法を提供する。 - 特許庁