| 意味 | 例文 |
efficiency testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 391件
To improve efficiency in testing by quickly and easily performing suspension work of an object to be tested when performing a drop test repeatedly and continuously.例文帳に追加
落下試験を繰り返し連続的に行う際に、被試験体の吊上げ作業が短時間で簡単にできて試験効率を良くする。 - 特許庁
To sharply improve test efficiency by recording the correction value of a reference voltage generating circuit in a semiconductor device without using a fuse blowing device.例文帳に追加
ヒューズブロー装置を用いずに基準電圧発生回路の補正値を半導体装置内に記録し、テスト効率を大幅に向上させる。 - 特許庁
To enhance character learning efficiency of the user by generating effective test problems of characters with respect to the user.例文帳に追加
ユーザに対する文字についての有効なテスト問題を作成できるようにし、それによってユーザの文字学習効果を高め得るようにする。 - 特許庁
Thus, it is not necessary to generate or correct the flow after the automatic conversion of the test program and work efficiency can be improved.例文帳に追加
したがって、テストプログラムの自動変換後に、フローの作成あるいは修正といった作業をする必要がなく、作業効率の向上が図れる。 - 特許庁
To increase test efficiency such as identification information displayed on a variable display device.例文帳に追加
可変表示装置に表示される識別情報等の試験効率を向上させることは、遊技機開発段階等における大きな課題になっている。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus that reduces a maximum matching time, improves the overall efficiency of a test, and reduces a cost.例文帳に追加
マッチタイムアウト時間を短縮して試験全体の効率の向上を図るとともに、コストの低減を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide an electrode ring in which the extraction efficiency of secondary electrons emitted from a test piece is improved, and provide an electron microscope having the same.例文帳に追加
試料より放出される2次電子の引き上げ効率を高めた電極リング及びこれを備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
To make an efficient learning plan by evaluating test results according to the question-setting frequencies and learning efficiency of respective questions.例文帳に追加
試験結果を各問題の出題頻度および学習効率に基づいて評価し、効率的な学習計画を立てることができるようにする。 - 特許庁
To provide a contact resistance measuring method of a probe and a test method of a semiconductor device capable of preventing decline of test efficiency, and measuring accurately a contact resistance value.例文帳に追加
試験効率の低下を防ぐことができると共に、正確に接触抵抗値を測定することができるプローブの接触抵抗測定方法及び半導体デバイスの試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To perform redundant replacing test having higher efficiency of replacement and to improve productivity by discriminating whether a redundant program means is used for a redundant memory cell operation test function before redundancy replacement or not.例文帳に追加
冗長置換前の冗長メモリセル動作試験機能に冗長プログラム手段使用の有無を判別可能とさせることにより、より置換効率の高い冗長置換試験を可能とし、生産性向上を図ることである。 - 特許庁
To provide a communication system in which a time for maintenance or test can be shortened by improving efficiency in the maintenance or the evaluation test in the communication system provided with a communication control unit, a base station device, a terminal device and attached devices.例文帳に追加
回線制御装置、基地局装置、端末装置、付属装置を含む通信システムにおいて、保守作業や評価試験の効率化を図り、保守作業や試験時間の短縮化が可能な通信システムを提供する。 - 特許庁
To provide a test system for a semiconductor integrated circuit which can respond to a single test or a multitest of a DUT regardless of its pin number, and can reduce a time loss at the multitest by maximally improving utilization efficiency of tester resources.例文帳に追加
ピン数に拘わらずDUTの単一或いはマルチテストに対応可能で、テスタリソースの利用効率を最大限に高めてマルチテスト時の時間ロスを低減可能な半導体集積回路テストシステムを提供する。 - 特許庁
To provide an organic light emitting display device capable of performing a test for a plurality of organic light emitting display devices formed on a mother substrate in an original sheet unit, reducing a test time, reducing a cost and enhancing the efficiency of the test, and to provide a mother substrate of the organic light emitting display device.例文帳に追加
マザー基板に形成された複数の有機電界発光表示装置に対する検査を元板単位で行うことができ、検査時間を減らし、コストを低減し、検査の効率性を高めることができるできる有機電界発光表示装置及びそのマザー基板を提供すること。 - 特許庁
The semiconductor test device 100 measures the matching time of each DUT and performs processing calculating test efficiency values at each matching time by performing processing which takes the statistics of the distribution of the yield of DUT in a function test of a prescribed time out of multiple times.例文帳に追加
半導体試験装置100では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、各DUTのマッチ時間を計測し、DUTの収量の分布を統計する処理を行い各マッチ時間ごとに試験効率値を算出する処理を行う。 - 特許庁
To provide a sequence program test equipment that boosts test work efficiency by making possible automatic recall for test action instructions when a real PLC with a communication function or a PLC emulator activated through a communication message is used for the testing instructions.例文帳に追加
通信機能を有するPLC実機若しくはPLCエミュレータを使用しかつ通信メッセージを介してテスト動作の指示を与えるシーケンスプログラムのテスト装置において、テスト動作指示の自動再現を可能として、この種のシーケンスプログラムテストの作業効率を向上させること。 - 特許庁
To realize a communication simulator capable of remarkably reducing man-hour to be required for the construction of communication simulation environment, enhancing the efficiency of a communication test, altering data even in execution environment of the communication test and easily performing the analysis of a test result.例文帳に追加
通信シミュレーション環境の構築に要する工数を大幅に削減でき、通信テストの効率を向上させることができ、通信テストの実行環境でもデータの変更が可能で、しかもテスト結果の解析を容易に行うことができる通信シミュレータを実現する。 - 特許庁
To provide a test program development device allowing easy comprehension of a form of an automatically generated source code, allowing guarantee of identity of test conditions between an input sheet and a source file after edition by a user, and allowing heightening of working efficiency of debug or the editing of a test program.例文帳に追加
自動生成されたソースコードの形態を容易に把握でき、入力シートとユーザーが編集した後のソースファイル相互間のテスト条件の同一性が保証され、テストプログラムの編集やデバッグの作業効率を高めることができるテストプログラム開発装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a test device capable of improving reaction efficiency while keeping the size of a microchannel as it is, and to provide a reaction apparatus and a method of testing reaction.例文帳に追加
微細流路のサイズは従来のままで反応効率を向上させることのできる試験デバイス、反応装置及び反応試験方法を得る。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory in which redundancy relieving efficiency is high, increment of a test time is suppressed, and of which a manufacturing cost is low.例文帳に追加
本発明は、冗長救済効果が高く、かつ、検査時間の増加を抑制した低コストの半導体記装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To improve the working efficiency in a flow test, reduce a work, correctly obtain the quantity of water supplied to piping, and improve the reliability of a facility construction.例文帳に追加
通水試験の作業効率を高め、労力の軽減を図り、配管への給水量を正確に把握し、設備工事の信頼性を高める。 - 特許庁
To provide a gas derivation member for an airtightness leakage test which ensures gas capturing efficiency while being pursuant to the JIS standard.例文帳に追加
JIS規定に準拠しながらも気体の捕獲効率を好適に確保することができる気密漏洩試験用の気体導出具を提供することを課題とする。 - 特許庁
To improve efficiency in an inspection and to shorten inspection time by automatically selecting an optimum test program and performing the electrical inspection of a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の電気的検査を最適なテストプログラムを自動的に選定して行うことにより、検査の効率を改善し、検査時間の短縮を図る。 - 特許庁
To enhance efficiency of a test of an interactive program which performs input operation by a graphic user interface(GUI) and further to easily grasp an error generation condition and a generation factor.例文帳に追加
GUIによる入力操作を行う対話型プログラムのテストの効率化、さらにはエラー発生状況や発生要因の把握の容易化を実現する。 - 特許庁
To provide a torsional vibrator with which the transmission efficiency of the excitation torque to a test specimen can be improved, and the torsional vibration characteristic in a high frequency range can be measured.例文帳に追加
供試体への加振トルクの伝達効率を高め、高周波域のねじり振動特性の計測を可能としたねじり加振装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device which shares a read/write amplifier among a plurality of banks and a method for testing the same, capable of improving test efficiency.例文帳に追加
テスト効率を向上させることができる、リードライトアンプを複数のバンクで共有する半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a system of excellent cost efficiency provided with ability for generating quickly, easily and accurately a test gas having a relative humidity of 0-100%.例文帳に追加
相対湿度が0%と100%の間の試験ガスを早く簡単に正確に生成する能力を備えた、費用効果の良いシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device test circuit where a defect detection rate has been improved and a semiconductor memory device where a repair efficiency has been improved.例文帳に追加
不良検出率を向上させた半導体メモリ装置のテスト回路及びリペア効率性を向上させた半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁
To provide an automatic dispensing method capable of saving the space and improving the efficiency in test work at low facility costs.例文帳に追加
省スペースを図ることができて設備コストが低く、しかも試験作業の効率を向上させることができる自動分注方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor defect analysis support device which supports improvement of fail bit map preparation efficiency in the test device of a semiconductor device, and a support method.例文帳に追加
半導体デバイスのテスト装置におけるフェイルビットマップ作成効率の向上を支援する半導体不良解析支援装置および支援方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of layout of a boundary scan test circuit by which the area efficiency as a device is increased and its design can be more simple.例文帳に追加
デバイス自体としての面積効率を高めて且つ、その設計をより簡易なものとすることのできるバウンダリスキャンテスト回路のレイアウト方法を提供する。 - 特許庁
To provide an input converting unit with a built-in test terminal capable of achieving the compactness of a protective control cabinet or improving its space efficiency.例文帳に追加
保護制御筐体を小型化できる、あるいはそのスペース効率を改善できる試験端子内蔵型入力変換ユニットを提供することにある。 - 特許庁
To provide a high-speed serial bus controller with which efficiency in a system test is improved by adding a function for easily generating arbitrary error packets.例文帳に追加
容易に任意のエラーパケットを発生させる機能を付加することにより、システム試験の効率向上を図った高速シリアルバスコントローラを提供すること。 - 特許庁
To shorten a computing process time for computing a correction value in a self-running test step to achieve efficiency of a manufacturing step of a disk drive.例文帳に追加
自走テスト工程での補正値を算出するための計算処理時間の短縮化を実現し、ディスクドライブの製造工程の効率化を図ることにある。 - 特許庁
To increase searchable depth in a flaw detection test and to enhance working efficiency by reducing the effect due to the surface unevenness of an object to be inspected.例文帳に追加
探傷試験における探査可能深度を深くするとともに、被検査体表面の凹凸による影響を軽減して、作業効率を向上させる。 - 特許庁
To propose an environment tester which tests a board having a power feeding adapter in a test tank in a high thermal efficiency condition.例文帳に追加
通電のためのアダプタが取り付けられた基板を、熱効率の良い状態で試験槽内で試験を行うことのできる環境試験装置を提案すること。 - 特許庁
The pusher raises heat transmission efficiency between the pusher and the semiconductor device to be tested to attain an exact and prompt semiconductor test.例文帳に追加
プッシャおよび被試験半導体デバイスの間の熱伝導効率を向上させ、正確で迅速な半導体試験を実現するプッシャを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device capable of enhancing test efficiency and convenience by reducing the time required to preparation for testing of tested devices.例文帳に追加
被試験デバイスの試験の準備に要する時間を削減することにより、試験効率及び利便性を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a wind tunnel simulation device for improving efficiency in designing by a wind tunnel test and a method for designing an airframe using the device.例文帳に追加
風洞試験による設計の効率化が得られる風洞シミュレーション装置及び風洞シミュレーション装置を用いた機体設計方法を提供する。 - 特許庁
As a result, a work accompanying a load addition is made easy, thereby reducing the mount of work sequence needed to test the load measuring instrument 14 and improving the work efficiency.例文帳に追加
これにより、荷重の付加に伴う作業を容易にし、荷重測定器14の検定に要していた作業手順の低減と作業効率の向上を図る。 - 特許庁
To conduct a same code proof-test with high efficiency by generating the same codes at an optional position and range without the need for the user to index an initial value.例文帳に追加
ユーザが初期値の割り出し等を行わずに、任意の位置及び任意の範囲に同符号を生成させて、効率のよい同符号耐力試験を行う。 - 特許庁
To provide a fatigue safety factor test apparatus and a fatigue safety factor test method, which can accurately and rapidly calculate fatigue safety factors of respective sections by using an automatic process and can improve the efficiency of design and development.例文帳に追加
自動処理により各部位の疲労安全率を高速かつ正確に算出することができ、設計及び開発の効率を向上することが可能な疲労安全率検査装置及び疲労安全率検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a test print generating method that can reduce quantity of test print paper and decide an optimum image processing condition so as to enhance the processing efficiency of print generation and to provide a photo image print method employing it.例文帳に追加
テストプリントのペーパ量を削減し、最適な画像処理条件を決定することができ、プリント作成の処理効率を向上させることのできるテストプリント作成方法およびこれを用いた写真画像プリント方法を提供する。 - 特許庁
To increase efficiency and reliability of a test system of a communication network with a main signal relay network stored with a number of communication equipment and a maintenance network, without increasing test traffic loads in an IP communication network.例文帳に追加
通信装置を多数収容した主信号中継網と保守網とを備えた通信網の試験方式に関し,IP通信網に試験トラヒック負荷を増やすことなく,効率性と信頼性を高めることを目的とする。 - 特許庁
To provide a copper foil peeling method of a printed wiring board capable of improving accuracy of a peel strength test, and improving efficiency of a measuring work, by peeling off with a fixed width, a copper foil pattern for the peel strength test.例文帳に追加
ピール強度試験用の銅はくパターンを一定幅で引き剥がすことによりピール強度試験の精度の向上と測定作業の効率向上を実現できるプリント配線板の銅はく引き剥がし方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus capable of concurrently generating an expectation value pattern and a determination mask pattern using pattern data stored in a pattern memory, thereby enhancing the flexibility in creating a test program and the efficiency of test.例文帳に追加
パターンメモリに記憶されたパターンデータを用いて期待値パターンと判定マスクパターンとを同時に生成することができ、これにより試験プログラム作成の自由度及び試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a test piece without lowering the machining efficiency as the whole process even if generating a neck process in a series of the machining processes in sequentially manufacturing the test pieces.例文帳に追加
本発明は試験片を連続的に製作する際に、一連の機械加工工程の中にネック工程が生じても、全体工程として機械加工能率を低下させることなく、試験片を製作できる方法を提供する。 - 特許庁
To provide a surface property evaluation method capable of surely measuring a surface property of a test object, and improving yield and manufacturing efficiency even when reflected light cannot be obtained from a surface of the test object.例文帳に追加
被検体の表面から反射光が得られないような場合であっても、被検体の表面性状を確実に測定でき、歩留まり及び製造効率の向上を図ることができる表面性状評価方法を提供する。 - 特許庁
In this semiconductor device, desired stress can be applied to each capacitor of a constituted pump circuit in stress test, efficiency of a stress test and reliability of a semiconductor integrated circuit can be improved.例文帳に追加
本発明による半導体記憶装置によれば、ストレステスト時に構成するポンプ回路の各キャパシタに対して所望のストレスを掛けることができ、ストレステストの効率向上および半導体集積回路の信頼性向上が図れる。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for testing a load measuring instrument, capable of reducing the amount of work sequence needed to test the load measuring instrument and improving its work efficiency.例文帳に追加
荷重測定器の検定に要していた作業手順の低減と作業効率の向上を為し得る荷重測定器の検定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
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