「electron current」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

A sample inspection device for outputting absorption current images 13 and 15 by interlocking an absorption current output from two probes 4 into scanning an electron beam 1 at the time of scanning an electron beam adopts the following configuration.例文帳に追加

電子線の走査時に２本の探針４から出力される吸収電流を、電子線１の走査に連動させて吸収電流像１３，１５を出力する試料検査装置に、以下の仕組みを採用する。 - 特許庁

A driving method of an electron gun comprises the steps of: measuring a current density of an electron beam at a predetermined interval; and adjusting an emission current, when a luminance obtained from the measurement value is not within a specification of a target luminance, so that the luminance is within the specification.例文帳に追加

所定間隔毎に、電子ビームの電流密度を測定し、この値から得られる輝度が目標輝度のスペック内でない場合に、エミッション電流を調整して輝度がスペック内となるようにする。 - 特許庁

To obtain an electron beam irradiation device which prevents temperature rise of irradiation window by unifying more electron current density, preventing the destruction of the irradiation window and attaining reliability of the electron beam irradiation device, and simplifying more the scanning waveform of the electron beam.例文帳に追加

電子電流密度をより一層均一化して照射窓の温度上昇を防ぎ、照射窓の破壊を防止して電子線照射装置の信頼性を図るとともに、電子線の走査波形を簡略化でき、一層簡略化を図った電子線照射装置を得る。 - 特許庁

To try to obtain an electron source, or one with an electron multiplication mechanism, with a far longer life, larger current, higher quality than the present one, that is, with high brightness, short time, and the high number of electron generation.例文帳に追加

電子源あるいは電子増倍機構を持つ電子源は、現在よりも桁違いの長い寿命、大きな電流、高い品質、つまり輝度が高く、時間幅の狭い、発生数の高い電子源が求められている。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a diamond electron source which forms with a sufficient controllability a spherical surface of a desirable top end shape for generating a large current/high focused electron beam and provide a diamond electron source.例文帳に追加

大電流・高収束電子ビームを発生させるために望ましい先端形状である球面を制御性よく形成することができるダイヤモンド電子源の製造方法とダイヤモンド電子源を提供する。 - 特許庁

An electron source is positioned on the surface of the wafer for an oxygen ion beam to be irradiated and outside a line of the ion beam, so that an electron beam is irradiated thereon by the same amount as an ion beam current value or less, with electron energy set at 50 eV or more.例文帳に追加

酸素イオンビームが照射されるウエハ面側に有ってイオンビームライン外に電子源を設置し、イオンビーム電流値と同量、それ以下の電子ビームを照射し、電子エネルギーが５０ｅＶ以上である。 - 特許庁

Even when any non-magnetic metal, etc., adheres to the electron gun 11, the magnetic field for alternating current operates to the magnetic body portion of the electron gun 11 to vibrate the electron gun 11, and the non-magnetic metal, etc., can be dropped.例文帳に追加

また、非磁性金属等が電子銃１１に付着していても、交流磁界が電子銃１１の磁性体部分に作用して電子銃１１を振動させることによってこれらを落下させることもできる。 - 特許庁

The fluorescent screen 20 also acts as an electron beam detecting screen, and a current corresponding to the electron beam quantity detected with the fluorescent screen 20 is sent to an electron microscope controlling computer 18 through an amplifier 22.例文帳に追加

蛍光板２０は電子線検出板を兼ねており、蛍光板２０で検出された電子ビーム量に対応する電流は増幅器２２を介して電子顕微鏡制御用コンピューター１８に送られるように成っている。 - 特許庁

To provide an electron source which can reduce a work function of an electron emission surface rather than a currently-used Zr/O/W electron source and can attain emitted electrons with narrow energy width and high current density and has longer lifetime, an electron microscope which can attain high resolution image for a short period, and an electron beam lithography device having high throughput.例文帳に追加

現用のＺｒ／Ｏ／Ｗ電子源よりも電子放出面の仕事関数を減少させ、狭エネルギー幅かつ高電流密度の放出電子が得られ、長寿命な電子源を提供し、高分解能像が短時間に得られる電子顕微鏡や高スループットな電子線描画装置を実現する。 - 特許庁

In the electron beam lithography apparatus 1, electron beam drawing is performed by irradiating a specimen with the electron beam 6 shaped by the shaping aperture, abnormalities of the electron beam 6 are detected based on a change in the amount of a current detected by the detector, and electron beam drawing of the specimen is stopped by determining occurrence of abnormalities.例文帳に追加

電子ビーム描画装置１では、成形アパーチャで成形された電子ビーム６を照射して試料上に電子ビーム描画をするとともに、検出器で検出される電流量の変化に基づいて、電子ビーム６の異常を感知し、異常発生を判断して試料への電子ビーム描画を停止するようにする。 - 特許庁

A device for measuring the dose of an electron beam, that consists of a current detecting component 11a and a current measuring component 11b, is placed near the outside of a window 1b of the EB tube 1.例文帳に追加

ＥＢ管１の窓１ｄの外側近傍に電流検出部１１ａと、電流測定部１１ｂからなる電子線量測定器１１を設ける。 - 特許庁

To provide an electron gun and a cathode-ray tube in which focus characteristics from low current regions to high current regions are improved, and withstand voltage characteristics are improved.例文帳に追加

低電流域から高電流域までのフォーカス特性を改善し、且つ耐圧特性の改善を図った電子銃及び陰極線管を提供する。 - 特許庁

An optimal emission current of this emission current is a value which optimizes electron beam characteristics, for example, a condition in which the diameter of a virtual light source becomes minimum.例文帳に追加

このエミッション電流のうち最適エミッション電流は、電子ビーム特性を最適にする値であって、例えば仮想光源径が最小となる条件である。 - 特許庁

To suppress the collapse or the like of a leak current and a drain current by reducing an interface state between an electron supply layer and an insulating layer.例文帳に追加

電子供給層と絶縁層との間の界面準位を低減させ、リーク電流やドレイン電流のコラプス等の抑制を可能とすること。 - 特許庁

Here, when the current If2 of the element is larger than the current If1, a larger voltage V2 than the voltage V1 is applied (S5) on the electron emission element.例文帳に追加

ここで、その素子電流Ｉf2がＩf1よりも大きい場合に、その電子放出素子に対し電圧Ｖ1よりも大きい電圧Ｖ2を印加する（Ｓ５）。 - 特許庁

The current-voltage conversion resistance RL coverts a current flowing by entering of the electron pulse into the anodes 32 into a voltage, and inputs the voltage to an operating amplifier.例文帳に追加

電流・電圧変換抵抗Ｒ_L は、アノード３２に電子パルスが入射することによって流れる電流を電圧に変換してオペアンプ９０に入力する。 - 特許庁

The amplitude of the current flowing through the electron passing layer 4 is set so that the current density of the current flowing through the electron passing layer 4 during the reverse voltage period becomes equal to or lower than that during the forward voltage period.例文帳に追加

電子通過層４に流れる電流の振幅は、逆電圧期間Ｔ２において電子通過層４に流れる電流の電流密度が、順電圧期間Ｔ１において電子通過層４に流れる電流の電流密度以下になるように設定する。 - 特許庁

To improve the reliability of measurement by preventing the switching of gain during measurement of current quantity in an electron beam lithography system equipped with a Faraday cup which measures current quantity of electron beams by using a several kinds of gains which switch stepwise according to current quantity.例文帳に追加

電流量に応じて階段状に切り替わる数種類のゲインを用いて電子ビームの電流量を測定するファラデーカップを備えた電子ビーム描画装置において、電流量測定時にゲインの切り替わりを防止して、測定の信頼性を向上する。 - 特許庁

Thus, almost all electrons can be collected in the electron collection electrode L3, and X-ray photo-electronic current and electron impact desorption ion current, which are main noise current in a conventional ionization vacuum gauge, can be prevented from occurring.例文帳に追加

これにより、ほとんど全部の電子を電子収集電極Ｌ３に収集することが可能となり、従来の電離真空計において主要な雑音電流であったＸ線光電子電流や電子衝撃脱離イオン電流などの発生を避けることができる。 - 特許庁

In the electron gun controller controlling the acceleration voltage applied to the electron gun, the emission current generated by the acceleration voltage outputted by an acceleration voltage source is limited by a discharge current limiting resistance and voltage drop by the discharge current limiting resistance is corrected so that the acceleration voltage applied to the electron gun is held constant regardless of change of the emission current.例文帳に追加

電子銃に印加する加速電圧を制御する電子銃制御において、加速電圧源が出力する加速電圧により生成されるエミッション電流を放電電流制限抵抗により電流制限するとともに、放電電流制限抵抗による電圧降下分を補正して、電子銃に印加する加速電圧をエミッション電流の変化に因らず一定に保持する。 - 特許庁

In the method, an electron beam is radiated to the surface of the insulating film through a metal thin film, and a sample current is measured when the electron beam is radiated to the surface of the insulating film.例文帳に追加

本方法では、電子線を、金属薄膜を介して絶縁膜表面に照射し、電子線を絶縁膜表面に照射したときの試料電流を測定する。 - 特許庁

To provide an electron emitting element, an electron emitting device, and a display device in which leak current can be suppressed and burden of driver can be reduced.例文帳に追加

この発明は、リーク電流を抑制できドライバの負担を軽減できる電子放出素子、電子放出装置、および表示装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To suppress expansion of a beam spot diameter of an electron gun for a color cathode-ray tube in a high current region, and to realize high luminance/high resolution in applying the electron gun to a color cathode-ray tube.例文帳に追加

カラー陰極線管用電子銃において、高電流域でのビームスポット径の広がりを抑え、カラー陰極線管に適用したときの高輝度・高解像度化を図る。 - 特許庁

To enable to reduce threshold voltage of a carbon nano-tube electron emitter and enable to obtain higher electric current density as for a highly efficient electron emitter and its manufacturing method.例文帳に追加

高効率電子エミッタおよびその製造方法に関し、カーボンナノチューブ電子エミッタの閾電圧をより低下させ、かつ、より高い電流密度を得ることができる。 - 特許庁

Preferably, nitrogen gas is employed as source gas, and the material to be treated is arranged in parallel with a flowing direction of electron, away from the center of electron current.例文帳に追加

窒素ガスを原料ガスとして使用すること、処理材料は電子の流入方向に対して平行に、かつ電子流の中心から離れて配置されることが好ましい。 - 特許庁

To aim improvement in luminescence characteristics by increasing the electron hole current of an organic EL element as an upper surface luminescence element.例文帳に追加

上面発光素子としての有機ＥＬ素子の正孔電流の増大による発光特性の向上を図る。 - 特許庁

To suppress occurrence of leak current between a gate and a cathode across which a voltage for driving an electron source is applied.例文帳に追加

電子源を駆動するための電圧を印加するゲート−カソード間のリーク電流の発生を抑制する。 - 特許庁

To provide a dual beam system capable of operating an ion beam while feeding a current into a scanning electron microscope (SEM) lens.例文帳に追加

ＳＥＭレンズに電流を流しながらイオン・ビームを操作することのできる二重ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an electron beam light source which can irradiate electrons having a uniform current density with respect to a wide area.例文帳に追加

広い面積に対して均一な電流密度で電子を照射できる電子線光源を提供すること。 - 特許庁

To provide an electron gun capable of working at high angular current density suitable for use such as in an electronic photolithography device.例文帳に追加

電子露光装置等の用途に好適な、高い角電流密度での動作が可能な電子銃を提供する。 - 特許庁

To provide a double beam apparatus for operating an ion beam while feeding a current into a scanning electron microscope (SEM) lens.例文帳に追加

ＳＥＭレンズに電流を流しながらイオン・ビームを操作することができる二重ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

These states can be switched over by injecting a spin-polarized electron current into the memory cell.例文帳に追加

これらの状態は記憶セル内にスピン偏極した電子流を注入することによりスイッチング可能である。 - 特許庁

The intensity of a secondary electron signal is reduced according to the intensity of an absorption current by means of a computing unit 17.例文帳に追加

演算器１７によって、２次電子信号の強度を吸収電流の強度に応じて小さくする。 - 特許庁

To provide an electron beam device, capable of suppressing contamination of a differential exhaust throttle regardless of the magnitude of probe current.例文帳に追加

プローブ電流の大小に拘わらず、差動排気絞りの汚染を抑止できる電子線装置を提供する。 - 特許庁

To prevent an electron source from being broken by a spark current when a spark is generated in an FED.例文帳に追加

ＦＥＤにおいてスパークが生じた場合にスパーク電流によって電子源が破壊されることを防止する。 - 特許庁

To provide a fuel cell having a current collecting plate capable of maintaining high electron conductivity for a long time.例文帳に追加

長期にわたって良好な電子伝導性を維持できる集電プレートを備えた燃料電池を提供する。 - 特許庁

A mask pattern (13) is provided to transmit the planary electron current 2 directing toward an object 6 to be irradiated.例文帳に追加

照射対象物体６に向かう面状電子流２を透過させるマスクパターン（１３）が配置されている。 - 特許庁

To provide a method capable of estimating the current density of an electron beam even during exposure transfer.例文帳に追加

露光転写を行っている途中でも、電子線の電流密度を推定することができる方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam device capable of suppressing contamination of a differential exhaust throttle regardless of the magnitude of a probe current.例文帳に追加

プローブ電流の大小に拘わらず、差動排気絞りの汚染を抑止できる電子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron source which is a thin film type electron source having a lower electrode and an upper electrode and an electron acceleration layer comprising an insulator or a semiconductor between them starting a diode current at lower threshold voltage than in the prior art and capable of securing a diode current required for electron emission even at low voltage, and to realize an image display device having a long service life and low power.例文帳に追加

下部電極と上部電極、その間に絶縁体や半導体からなる電子加速層を有する薄膜型電子源で従来よりダイオード電流が低い閾値電圧で立ち上がり、低電圧でも電子放出に必要なダイオード電流が確保できる電子源を提供し、長寿命、低消費電力の画像表示装置を実現すること。 - 特許庁

An electric current Ia of a primary electron beam 4 limited by a current limiting choke 17 and a electric current Ip of the primary electron beam 4 irradiated to a sample 12 are detected, and firstly an electron gun power supply 6 is controlled so that Ia+Ip is constant, and secondly the focusing lens controlling power supply 7 is controlled so that Ip/(Ia+Ip) is constant.例文帳に追加

電流制限絞り１７により制限される一次電子線４の電流Ｉａと試料１２に照射される一次電子線４の電流Ｉｐを検出し、先ず、Ｉａ＋Ｉｐが一定になるように電子銃電源６を制御し、次に、Ｉｐ／（Ｉａ＋Ｉｐ）が一定になるように集束レンズ制御電源７を制御する。 - 特許庁

Current Ia of a primary electron beam 4 limited by a current- limiting diaphragm 17 and current Ip of the primary electron beam 4 irradiated on a sample 12 are detected, and first, an electron gun power source 6 is controlled so as to set Ia+Ip constant, and then, a focusing lens controlling power source 7 is controlled so as to set Ip/(Ia+Ip) constant.例文帳に追加

電流制限絞り１７により制限される一次電子線４の電流Ｉａと試料１２に照射される一次電子線４の電流Ｉｐを検出し、先ず、Ｉａ＋Ｉｐが一定になるように電子銃電源６を制御し、次に、Ｉｐ／（Ｉａ＋Ｉｐ）が一定になるように集束レンズ制御電源７を制御する。 - 特許庁

To provide an electron gun of a cathode-ray tube capable of reducing the influence by an eddy current, capable of suppressing generation of the eddy current with a simple structure, and capable of suppressing cost increase, by suppressing generation of the eddy current caused by an external magnetic field in an electrode of the electron gun.例文帳に追加

電子銃の電極内における外部磁場による渦電流の発生を抑制することによって、渦電流による影響を低減するとともに、渦電流の発生を簡易な構造で抑制し、コスト上昇を抑えることができる陰極線管の電子銃を提供する。 - 特許庁

To increase response speeds of an electric current signal, and improve yield of an ion electric current in a gas amplifying method ion electric current detection type SEM in which a secondary electron image can be obtained even in a low vacuum condition by utilizing an electron avalanche by a residual gas in a sample room.例文帳に追加

試料室内の残留ガスによる電子なだれを利用することで、低真空条件でも二次電子像を取得できるガス増幅式イオン電流検出型SEMにおいて、電流信号の応答速度の高速化およびイオン電流の収量の向上を図る。 - 特許庁

Even if excess-current flows in the recoil electron capture structure 39, by heat dissipation from the recoil electron capture structure 39 which has a cooling structure, too much temperature rise of the recoil electron capture structure 39 and variation of electric resistance value are prevented.例文帳に追加

過電流が反跳電子捕獲構造体39に流れても、冷却構造を有する反跳電子捕獲構造体39からの放熱により、反跳電子捕獲構造体39の温度が過度に上昇して電気抵抗値が変化するのを防止する。 - 特許庁