「electron current」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a cathode structure of an electron beam irradiation device capable of conveying and treating treated objects with different required exposures at the same time, and effectively utilizing an output of a direct-current high-voltage power source for accelerating electron.例文帳に追加

必要な照射線量の異なる被処理物を同時に搬送して処理を行うことが出来、また電子を加速する直流高圧電源の出力を有効に活用出来る電子線照射装置のカソード構造を提供する。 - 特許庁

First, electron beams 15 are scanned in a perpendicular direction (u direction) to a knife edge 32c of a shielding means 32 (step S10), and integrate values in v direction of electric current intensities of the electron beams 15 detected by a sensor 36 are measured (step S12).例文帳に追加

まず、遮蔽手段３２のナイフエッジ３２ｃに垂直な方向（ｕ方向）に電子ビーム１５で走査して（ステップＳ１０）、センサ３６で検出された電子ビーム１５の電流強度のｖ方向の積算値を測定する（ステップＳ１２）。 - 特許庁

The electron microscope has an objective lens 151b for connecting the focus point of an electron beam on the sample, a lens controller 150b which applies exciting current applied to the objective lens 151b, and a host computer 102 which measures feature structures.例文帳に追加

電子顕微鏡は電子ビームの焦点を試料上に結ぶための対物レンズ151bと、対物レンズ151bに供給される励磁電流を供給するレンズ制御部150bと、特徴構造を測定するホストコンピュータ102を有している。 - 特許庁

To provide an electronic hardware capable of implementing magnetic sensing stably even if electron elements generating direct-current magnetic field exists in the vicinity, without reducing degree of freedom of layout of electron elements in cell-phones.例文帳に追加

直流磁界を発生する電子部品が近くに存在しても安定して磁気検出を行うことができ、しかも携帯電話機内の電子部品のレイアウトの自由度を低下させることがない電子機器を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining an image with a superior contrast even if a primary beam current is small and efficiency of a secondary electron emission is small.例文帳に追加

本発明は走査型電子顕微鏡に関し、１次ビーム電流が小さい場合や試料の２次電子放出効率が小さくてもコントラストの良い画像を得ることができる走査型電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a cathode ray tube having an electron gun of which, resolution is improved by preventing electron beam from collision with an electrode, and effectively controlling a spot size sharply changing due to a change in the quantity of current.例文帳に追加

電子ビームが電極に衝突することを防止し、かつ電流量の変化によって急激に変化するスポットサイズを効果的に制御して解像度を向上させることができる電子銃を備えた陰極線管を提供する。 - 特許庁

High electron emitting current is obtained by the increase of electron emitting sources which are the secondary carbon nanotubes having fine diameters, and then a uniform field emission characteristic is obtained by the diameter of the primary carbon nanotube formed with a uniform distribution.例文帳に追加

また、微細直径の２次カーボンナノチューブ、すなわち電子放出源の増加によって高い電子放出電流が得られ、均一な分布で形成された１次カーボンナノチューブの直径を通じて均一な電界放出特性が得られる。 - 特許庁

To provide an electron emitting source that can be formed easily in a large area and has an electron emitting efficiency same as Spindt type electron source, and has superior electron emitting characteristics same as that of lamination type electron source such as MIM and BSD (little dependency on vacuum, small emitting angle of emitted electrons, stable current by emitted electrons and little noise, low impressing voltage for emitting electrons), and its manufacturing method.例文帳に追加

容易に大面積に形成することができ、またスピント型電子源並みの電子放出効率を持ち、さらにＭＩＭやＢＳＤ等の積層型電子源並みの優れた電子放出特性（真空度依存性が小さい、放出電子の放出角が小さい、放出電子による電流が安定でノイズが少ない、電子を放出するための印加電圧が低い）を有する電子放出源およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

In the manufacturing apparatus for the optical master disk, as the characteristics of a means 1 for irradiating a resist layer 102 composed of the electron beam photosensitive resist of the optical master disk with converged electron beams, the maximum acceleration voltage of the electron beam 2 is ≤15 kV, an electron beam spot diameter in an irradiation beam current 80 nA is ≤80 nm, and a beam blanking frequency is ≥50 MHz.例文帳に追加

光ディスク原盤の電子線感光レジストから成るレジスト層１０２に対して集束された電子ビームを照射する手段１の特性として、電子ビーム２の最大加速電圧が１５ｋＶ以下、照射ビーム電流８０ｎＡにおける電子ビームスポット径が８０ｎｍ以下、ビームブランキング周波数５０ＭＨｚ以上である光ディスク原盤の製造装置を構成する。 - 特許庁

Any deterioration in the fuel cell stack is reduced in a method of retarding the speed of electron flowing through the current collector by lowering a contact surface pressure between the current collector and laminated body below the normal surface pressure at a startup or stoppage time.例文帳に追加

起動時、または停止時に集電板と積層体の接触面圧を通常の面圧より低くすることによって集電板の電子の流れの速度を妨げることで燃料電池スタックの劣化を抑制する。 - 特許庁

To provide a compound suitable for the formation of an electron-blocking layer in a photoelectric conversion element capable of decreasing the increase of dark current and also decreasing the increasing width of the dark current in the case of heat-treating the element.例文帳に追加

暗電流の増加を低減し、かつ素子を加熱処理した場合にも暗電流の増加幅を小さくすることが可能な光電変換素子における電子ブロッキング層の形成に適した化合物の提供。 - 特許庁

The generated current is sent from the current measuring component 11b to a controlling component 12, for example, which adjusts the dose of the electron beam emitted from the EB tube 1 to a constant value under control by controlling a filament power source 3.例文帳に追加

発生した電流は、電流測定部１１ｂから制御部１２に送られ、制御部１２は、例えばフィラメント電源３を制御して、ＥＢ管１から出力される電子線量が一定になるように制御する。 - 特許庁

This electron gun is provided with a cathode CD, Wehnelt electrodes WE, an open anode AD, current monitors IDT1, IDT2, a position monitor PDT, a computing device CL, a variable current type power source VIG and an electromagnet EMG.例文帳に追加

カソードＣＤと、ウエネルト電極ＷＥと、開口アノードＡＤと、電流モニタＩＤＴ１，ＩＤＴ２と、位置モニタＰＤＴと、演算装置ＣＬと、電流可変型電源ＶＩＧと、電磁石ＥＭＧとを備える。 - 特許庁

While, relay circuits 201 and 202 are turned off and relay circuits 203 and 204 are turned on according to a measurement stop command, so that current flows via a short-circuit path and hence the current does not flow into the electron type watt-hour meter 300.例文帳に追加

一方、計測停止指示に従って、リレー回路２０１，２０２はオフし、リレー回路２０３，２０４はオンするため短絡経路を介して電流が流れるため電子型電力量計３００に電流は流れ込まない。 - 特許庁

The control part 9 also sets, for example, the current amplitude of a chopping wave inputted from a scanning part 10 into a scanner 4 so that the scanning range of the electron current becomes wider to some extent than the irradiation range L of the irradiation object.例文帳に追加

また、制御部９は電子流の走査範囲が被照射物の照射範囲Ｌより若干広くなるように、走査部１０から走査器４に入力される、例えば、三角波の電流振幅を設定する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope in which a rapid change of an irradiation current can be suppressed against intensity changes of a focusing lens at changing the irradiation current by changing the intensity of the focusing lens.例文帳に追加

集束レンズの強度を変化させて照射電流を変化させるに際して、集束レンズの強度変化に対して、照射電流の急激な変化を抑えることができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A probe, means for replacing the inside of a sample chamber with prescribed gas and means for turning into images by ion current detection or absorbed current detection are incorporated to realize a safe SEM (scanning electron microscope) whose risk of electrical discharge is low.例文帳に追加

探針と、試料室内を所定のガスで置換する手段と、イオン電流検出や吸収電流検出による画像化手段を備えることにより、放電の危険性の低い安全なＳＥＭを実現する。 - 特許庁

To provide an electron gun structure and a cathode-ray tube device having this electron structure in which increase of a burden to the driving circuit is suppressed and expansion of the diameter of the spot size in the horizontal and vertical direction on the fluorescent screen at the time of changing from small current to the large current is reduced, and thereby a high precision is obtained.例文帳に追加

駆動回路への負担の増加を抑え、小電流から大電流に変化するときの蛍光体スクリーン上におけるスポットサイズの水平方向径及び垂直方向径の拡大を軽減し、高い精細度が得られる電子銃構体及びこの電子銃構体を備えた陰極線管装置を提供すること。 - 特許庁

The cold-cathode field emission electron gun used for an electronic optical equipment operates at 1,000°C or less, and as electron emission characteristics obtained, an emission current stability is less than 5%, and an angle current density is larger than 50 μA/sr.例文帳に追加

上記課題を解決するため本発明に係る電子銃は、電子光学機器に使用される冷陰極電界放出電子銃であって、１０００℃以下で動作し、得られる電子放出特性として、エミッション電流安定性が５％未満で且つ角電流密度が５０μＡ／ｓｒより大きいことを特徴とする。 - 特許庁

In the electron beam drawing method of drawing on the surface of a drawing material with an electron beam 2, an absorption current during drawing is measured while synchronizing with the drawing of drawing data, and a coordinate position and/or a figure where there is a change in the absorption current amount during drawing is stored and displayed.例文帳に追加

電子線で描画材料表面を描画する電子線描画方法において、描画データの描画と同期しながら描画中吸収電流測定を行ない、描画中吸収電流量の変化のあった場所の座標位置及び／又は図形を記憶・表示することように構成される。 - 特許庁

This electron beam device is equipped with a detection resistance 5 for detecting a current Ie flowing in an extraction electrode 3, an Ie measuring circuit 5a, a feedback resistance 7 for applying negative feedback to an acceleration voltage amplifier 6, a detection resistance 8 for detecting a current Ia flowing from the electron gun to the acceleration voltage amplifier, and an Ia measuring circuit 8a.例文帳に追加

引出電極３に流れる電流Ｉｅを検出するための検出抵抗５と、Ｉｅ計測回路５ａと、加速電圧アンプ６に負帰還をかけるためのフィードバック抵抗７と、電子銃から前記加速電圧アンプに流れる電流Ｉａを検出するための検出抵抗８と、Ｉａ計測回路８ａとを備える。 - 特許庁

To provide an electron gun structure obtainable of high definition by less enlarging the horizontal and vertical diameters of a spot size on a phosphor screen during a change from a small current to a large current while restricting an increase in burden on a driving circuit, and a cathode-ray tube device with the electron gun structure.例文帳に追加

駆動回路への負担の増加を抑え、小電流から大電流に変化するときの蛍光体スクリーン上におけるスポットサイズの水平方向径及び垂直方向径の拡大を軽減し、高い精細度が得られる電子銃構体及びこの電子銃構体を備えた陰極線管装置を提供すること。 - 特許庁

When continuously irradiating the electron beam to a moving grain-oriented electromagnetic steel sheet in its width direction, a converging current of the electron beam is adjusted according to an incidence angle of the electron beam to the steel sheet surface so as to change the area of a beam spot, thereby homogenizing the energy density across the width direction of the beam spot.例文帳に追加

走行する方向性電磁鋼板の幅方向に、連続して電子ビームを照射するにあたり、該電子ビームの鋼板表面に対する入射角度に応じ、該電子ビームの収束電流を調整して、ビームスポットの面積を変更することにより、幅方向にわたる該ビームスポットのエネルギー密度を一定に制御する。 - 特許庁

An aperture for controlling an electron beam current has one or a plurality of holes other than a hole at a center of an optical axis on the periphery of the hole at the center so that spherical aberration of an objective lens forces electron beams passing through the holes to land at places a little distant from landing point of the electron beam coming from the hole at the center.例文帳に追加

電子線の電流を制限する絞りに、光軸中心の孔以外の孔を周囲に１個または複数個設け、それらの孔を通過した電子線が対物レンズの球面収差の作用により中心の孔からの電子線の着地点よりやや離れた場所に着地するようにする。 - 特許庁

To automatically end discharges when electric discharge occurs between an electrode of an electron gun and an anode or a cathode, in a display device comprising a CRT having such a type of an electron gun as a voltage is applied thereto by a voltage source dedicated to the electron beam control and an electrode current is supplied thereto.例文帳に追加

電子ビーム制御用の電極に専用の電圧源により電圧が印加され電極電流が供給されるタイプの電子銃を有するＣＲＴを含む表示装置において、電子銃の電極とアノードまたはカソードとの間に放電が発生した場合、自動的に放電を終息させる。 - 特許庁

In other words, an off-set current and an off-set voltage for cancelling deflection by an electric field and deflection by a magnetic field to the primary electron beam and for superimposing an electric field and a magnetic field deflecting the secondary signal electron are generated by the deflector for generating an electric field or a magnetic field for scanning the primary electron beam.例文帳に追加

すなわち、一次電子線に対しては電界の偏向作用と磁界の偏向作用が相殺され、かつ、二次信号電子に対しては偏向作用が働く電界及び磁界を重畳させるオフセット電流及びオフセット電圧を、一次電子線を走査させる電界又は磁界を発生する偏向器に発生させる。 - 特許庁

In the electron beam vapor deposition system provided with a pierce type electron gun, sensors for catching electrons sprung from or result from electron beams are installed in the vicinities of beam paths, and electric current and/or voltage based on the electrons caught by the sensors is detected, thus the state of the beam is monitored.例文帳に追加

本発明の電子ビーム蒸着装置は、電子ビームに起因乃至由来する電子を捕捉するためのセンサがビームパスの近傍に設置され、センサによって捕捉された電子に基づく電流および／または電圧を検出することで、ビーム状態をモニタするようにしたピアス式電子銃を備えてなることを特徴とする。 - 特許庁

A dielectric breakdown protective element constituted of an insulation gate type field effect transistor is replaced with an equivalent circuit using a bipolar transistor, and a current flowing from the drain of the dielectric breakdown protective element to a substrate is expressed by a first current source by an impact ionization current and a second current source by the current based on an electron / hole pair thermally generated in a depletion layer.例文帳に追加

絶縁ゲート型電界効果トランジスタにより構成される静電破壊保護素子を、バイポーラトランジスタを用いた等価回路に置き換え、静電破壊保護素子のドレインから基板に流れる電流を、インパクトイオン化電流による第１電流源と、空乏層において熱的に発生する電子・正孔対に基づく電流による第２電流源とによって表す。 - 特許庁

The brightness of an image is adjusted by adjusting a current value of a focusing lens, an emission current value of an electron gun, or the gain or exposure time of a CCD camera so as to prevent the brightness of the image from being changed even when the current value of an object lens is changed by autofocusing.例文帳に追加

オートフォーカスによって対物レンズの電流値が変化しても画像の明るさが変化しないように、収束レンズの電流値、電子銃のエミッション電流値、又はＣＣＤカメラのゲインもしくは露光時間を調整することにより画像の明るさを調整する。 - 特許庁

The electron microscope is provided in which an excitation current or an impressing voltage to an objective lens or an acceleration cylinder for accelerating electron beams of the scanning electron microscope is cut off when the measuring object test piece is separated from underneath of the objective lens, or is made weak excitation compared with before separation for excitation current, or cut off or made to be lower voltage compared with before the separation for impressing voltage.例文帳に追加

上記目的を達成するために、走査電子顕微鏡の対物レンズ、或いは電子ビームを加速するための加速円筒への励磁電流、或いは印加電圧を、測定対象試料を対物レンズ下から離間させたときに、励磁電流をオフ、或いは離間させる前に比べて弱励磁、又は印加電圧をオフ、或いは離間させる前に比べて低電圧とする電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

Thereby, by the electrons attracted to the tip part 2a of the electron emission source 2, tunnel probability of jumping out of the electron emission source 2 to the high dielectric constant insulating region 5 and to the vacuum region 8 increases, and the emission current density increases.例文帳に追加

したがって、電子放出源２の尖端部２ａに引き寄せられた電子により、電子放出源２から高誘電率絶縁領域５および真空領域８に飛び出すトンネル確率が上がり、放出電流密度が上昇する。 - 特許庁

To provide a cathode for electron tube which can be usable at a high current density, having stable electron emission capacity in an initial operation and in a long period operation and with a small fluctuation in color tone due to deformation, and its manufacturing method.例文帳に追加

高電流密度で使用でき、初期の動作においても、また長期間の動作においても、電子放射能カが安定しており、且つ、変形による色調の変動の小さい、電子管用陰極およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The electron implanting layer includes a compound with the basic skeleton represented by Generic Formula (1) or (2), and using the compound with the basic skeleton represented by Generic Formula (1) or (2) for the electron implanting layer can obtain the light emitting element with the practical stability configured such that electrons are smoothly implanted and a current flows more easily.例文帳に追加

一般式（１）又は（２）に示す基本骨格を有する化合物を電子注入層に使用することにより、電子の注入が円滑であり、電流がより流れやすく安定性の向上した発光素子が得られるようになる。 - 特許庁

In the scanning electron microscope 10, deflection images 21, 23 in which a voltage value or a current value of the deflection signals s4, s5 to deflect electron beams 13 is cut out as luminance is obtained simultaneously with an observation image from an image cut-out part 19.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡１０において、画像切出部１９より、電子線１３を偏向する偏向信号ｓ４，ｓ５の電圧値若しくは電流値を輝度として切り出した偏向画像２１，２３を、観察画像と同時に取得する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an under-gate type electron emission element capable of increasing an efficiency by lowering an ineffective current flowing in a gate electrode and providing, with a high reproducibility, the electron emission element with a small beam diameter by preventing emission electrons from dispersing.例文帳に追加

アンダーゲート型の電子放出素子におけるゲート電極に流れ込む無効な電流を減らして効率を高めると共に、放出電子の散乱を防ぎビーム径の小さい電子放出素子を再現性良く得られる製造方法を提供する。 - 特許庁

A second protective insulating layer 19 is formed under upper bus electrodes 16 and 17 to serve as a current feeder line to the upper electrode 13 of the thin-film type electron source array, and any defects of a protective insulating layer 14 to restrict an electron emission part are covered with the insulating layer 19.例文帳に追加

薄膜型電子源アレイの上部電極１３への給電線となる上部バス電極１６、１７の下に、第２保護絶縁層１９を形成し、電子放出部を制限する保護絶縁層１４の欠陥を被覆する。 - 特許庁

To provide an electron emitting source capable of materializing low voltage drive, high efficiency, an uniform amount of current, prevention of short-circuiting between electrodes, a long life and enhancement of a yield in manufacturing, and to provide a manufacturing method for it and a display device using the electron emitting source.例文帳に追加

低電圧駆動、高効率、均一な電流量、電極間の短絡防止、長寿命、製造歩留向上などを実現できる電子放出源、その製造方法、ならびに同電子放出源を用いたディスプレイ装置を提供する。 - 特許庁

To realize an oxide-coated cathode capable of smoothening the current density distribution of the discharge electron and of allowing no deterioration in the electron discharge characteristic even after a use for a long time and provide a cathode-ray tube of a high resolution and without the visibility of the of the moire phenomenon.例文帳に追加

放出電子の電流密度分布が滑らかで、かつ長時間動作させても電子放射特性を劣化させることのない酸化物陰極を実現し、高解像度でかつモアレ現象の視認されない陰極線管を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam system capable of displaying backscattered electron images at the same brightness and same contrast at all times if the atomic number differences are the same when illumination conditions including an accelerating voltage and an emission current are varied or when the specimens are observed with different instruments.例文帳に追加

加速電圧と照射電流値の照射条件が変わる場合及び／又は異なる装置で試料を観察する場合においても、原子番号差が同じであれば常に同じ輝度とコントラストで反射電子像の表示が行えるようにする。 - 特許庁

Further, in the case the organic light-emitting layer includes the host material, a hole transporting material is used as the current promoting material in the case the host material is electron transporting, and inversely in the case the host material is hole transporting, the electron transporting material is preferable.例文帳に追加

また有機発光層がホスト材料を含む場合においては、ホスト材料が電子輸送性の場合は、電流促進材料としてはホール輸送性材料を用い、逆にホスト材料がホール輸送性の場合は、電子輸送性材料が好ましい。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus having an electron source with little ineffective leakage current not contributing to electron emission by vertically forming a cross sectional shape of a terminal end part by removing a sacrifice layer formed below the terminal end part, and to provide their manufacturing methods.例文帳に追加

素子端部の断面形状を、素子端部の下に形成された犠牲層を除去することで切り立たせ、電子放出に寄与しない無効な漏れ電流の少ない電子源を有する画像形成装置及びそれらの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a membrane electrode assembly in which corrosion of a current collector can be prevented and electric resistance can be reduced when electron generated in a catalyst layer is transferred to a current collector, as well as to provide a fuel cell.例文帳に追加

電流集電体の腐食を防止でき、触媒層で生成された電子が電流集電体に移動するとき、電気的抵抗を低下させることが可能な膜電極接合体及び燃料電池を提供すること。 - 特許庁

Further, in the element concentration measuring instrument, the irradiation current value of the electron beam 6 corresponding to the predetermined concentration measuring lower limit value is calculated on the basis of the measuring time to be displayed and measurement is carried out on the basis of the displayed irradiation current value.例文帳に追加

また、同元素濃度測定装置において、所定の濃度測定下限値に応じた電子線６の照射電流値を、測定時間を基にして求めて表示し、表示された照射電流値に基づいて測定を実行する。 - 特許庁

To provide a filed emission type electron source device having improved the ability of reading signal charges by reducing the flow-in amount of a beam current to a shield electrode to increase the beam current amount irradiated to a target.例文帳に追加

、シールド電極へのビーム電流の流れ込み量を低減することによりターゲットへ照射するビーム電流量を増加させて、信号電荷の読み取り能力を向上した電界放出型電子源装置を提供する。 - 特許庁

To provide a micro X-ray source which can obtain an electron beam in micron order even a low current value, prevent from deterioration by a heat generation of an emitter chip without a current leakage, and easily control convergence of a beam.例文帳に追加

電流値が低くてもミクロンオーダーのビーム径の電子ビームを得ることができ、電流リークがなく、エミッタチップの発熱等による劣化を防止することができ、ビームの収束制御が容易である微小Ｘ線源を提供する。 - 特許庁