「electron current」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To control a probe current constant while maintaining constant a converging state of electron beams irradiated on a sample.例文帳に追加

試料に照射される電子ビームの集束状態を一定に維持したまま、プローブ電流を一定に制御すること。 - 特許庁

The electron beam energy is 1 keV or more and a current density per unit area is 1 pA/cm^2 or more.例文帳に追加

電子ビームのエネルギーは１ｋｅＶ以上、単位面積あたりの電流値は１ｐＡ／ｃｍ^2以上となっている。 - 特許庁

Absorption of an electron beam by the hollow aperture 1 causes a current flow, which is detected by an ampere meter 4.例文帳に追加

ホローアパーチャ１に電子線が吸収されると電流が流れるので、この電流を電流計４で検出する。 - 特許庁

To manufacture a liquid crystal element that has a good electron current property by making doping on a liquid crystal efficiently and stably.例文帳に追加

効率的で安定な液晶へのドーピングを行い、良好な電子電流特性を有する液晶素子を作製する。 - 特許庁

To provide an electron emitting element having a superior convergency with less variation in emitting current for a short and a long period.例文帳に追加

優れた収束性を有し、短期、長期間の放出電流変化の少ない電子放出素子を提供する。 - 特許庁

To reduce an electric resistance of an electron-emitting substance layer and control the Joule heat on high electric current density operation of a cathode.例文帳に追加

電子放射物質層の電気抵抗を低減し、陰極の高電流密度動作時のジュール発熱を抑制する。 - 特許庁

To provide an electron emitting element and its manufacturing method enabling a large current to be stably obtained by low-voltage drive.例文帳に追加

低電圧駆動で大電流を安定に得ることが可能な電子放出素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

In the scanning electron microscope, exciting current is supplied from a control system to an objective lens in an observation mode.例文帳に追加

本発明の走査電子顕微鏡によると、観察モードでは、制御系から対物レンズに励磁電流が供給される。 - 特許庁

The FEG emission current was monitored from the viewpoint of the short- and long-term instabilities in the electron emission in the FEG. 例文帳に追加

FEG中の電子放出の短時間的、長時間的な不安定性の観点から、FEG放出電流が監視測定された。 - 科学技術論文動詞集

To provide a magnetron sputtering film deposition system capable of performing the sputtering at low temperatures by shifting to a low-voltage side, a saturated zone of substrate current to be shifted to a high-voltage side when electron current is increased.例文帳に追加

電子電流が増加した際に高電圧側にシフトする基板電流の飽和領域を、低電圧側へシフトさせ、低温でスパッタリングできるようにする。 - 特許庁

To drastically improve the ratio of light discharge current to electric field discharge current, especially in the case of excitation by visible light, by improving an electron beam generator.例文帳に追加

電子線発生装置を改良し、電界放出電流に対する光放出電流の比を、特に可視光線によって励起されたときに、著しく改善することである。 - 特許庁

To control an applied voltage to the Wehnelt electrode so that emitted current maintains the target current value when carrying out sample observation/evaluation of an electron beam device or the like.例文帳に追加

電子ビーム装置等の試料観察・評価を行う場合において、放出電流が目標電流値を維持するようにウェーネルト電極への印加電圧を制御する。 - 特許庁

Since a resistance in a transverse direction of the current diffusion layer (6) having the two dimensional electron gas effect is small, there occurs current broadening, and consequently the light extraction efficiency improves.例文帳に追加

２次元電子ガス効果を有する電流分散層（６）の横方向の抵抗が小さいので、電流の広がりが生じ、光取り出し効率が向上する。 - 特許庁

To provide an electron emitting element, an electronic source, and an image forming device wherein leakage current flowing at a gap end part neighborhood is completely eliminated and the leakage current is less.例文帳に追加

間隙端部近傍を流れるリーク電流を完全になくし、よりリーク電流の少ない電子放出素子及びそれを用いた電子源、画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To hold acceleration voltage applied to an electron gun constant even if voltage decreases because of an emission current flowing in a discharging current control resistor.例文帳に追加

放電電流制御抵抗にエミッション電流が流れることで電圧降下が生じた場合であっても、電子銃に印加する加速電圧を一定に保持すること。 - 特許庁

Some electrons in the electron beam emitted from the window 1d of the EB tube 1 are caught by the current detecting component 11a to generate a current in it.例文帳に追加

ＥＢ管１の窓１ｄから出射された電子線は、その一部の電子が電流検出部１１ａにキャッチされ、電流検出部１１ａに電流を発生させる。 - 特許庁

By preventing the accumulation of the thermoelectrons in the insulator, the discharge can be prevented, the current amount of the electron beam can accurately be controlled, and the service life of the electron beam generation device can be extended.例文帳に追加

碍子における熱電子の蓄積を防ぐことにより、放電を防止し、電子ビームの電流量を精度良く制御し、且つ、電子ビーム生成装置の長寿命化ができる。 - 特許庁

A moving speed of the substrate W, and a current supplied to an electron gun 40b and an acceleration voltage applied to the electron gun 40b are also adjusted to values corresponding to each substrate W.例文帳に追加

また、基板Ｗの移動速度、電子銃４０ｂに与える電流および電子銃４０ｂに与える加速電圧についても、基板Ｗに応じた値に調整される。 - 特許庁

To relieve stress generated under an influence of an electron barrier layer, to lower a threshold current without affecting a light distribution by the electron barrier layer, and to suppress a decrease in reliability.例文帳に追加

電子バリア層の影響で発生した応力を緩和し、電子バリア層により光分布に影響を与えず、しきい電流を低下させ、かつ信頼性の低下を抑制する。 - 特許庁

To provide a field emission type electron source and its manufacturing method whereby it is possible to establish a large emission current, a high electron emitting efficiency, and a less spread of the energy distribution of emitted electrons.例文帳に追加

エミッション電流が大きくて電子放出効率が高く、放出電子のエネルギ分布の広がりが小さな電界放射型電子源およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a field emission type display device having a matrix for specifying electron emission positions, while preventing the flow of a current in a fine wire with the emission of electrons from the electron source.例文帳に追加

電子源からの電子放出にともなう電流を微細配線に流さないように電子放出箇所を特定するマトリクスを構成した電界放出型表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cathode-ray tube or an electron gun having excellent spot characteristic while obtaining the cathode current of the electron gun at a low cathode driving voltage and while preventing the influence of the spherical aberration.例文帳に追加

電子銃のカソード電流を低いカソード駆動電圧で得ると共に球面収差の影響を受け難くしスポット特性の良好な陰極線管又は電子銃を得る。 - 特許庁

To correctly measure the emission current of an electron source required for performing performance evaluation, product quality determination and corrective drive of the electron source.例文帳に追加

電子源の性能評価、および良品不良品判断、および補正駆動等を行う際に必要とされる電子源の放出電流値を正確に測定することを可能とする。 - 特許庁

The electron beam lithography system using a variably shaped beam is equipped with electron beam detectors 130 and 131 used for measuring the amount of current of the variable shaped beam, and the current values measured corresponding to the beam sizes of the variably shaped beam are fed back to the exposure time of an electron beam so as to solve the problem.例文帳に追加

可変成形ビームを用いる電子ビーム描画装置において、可変成形ビームの電流量を計測するための複数の電子ビーム検出器１３０、１３１を有し、可変成形ビームの複数のビームサイズに応じて計測された電流値を、電子ビームの露光時間にフィードバックすることにより解決する。 - 特許庁

Voltage is supplied from the voltage supply unit 3 to the electrodes of the electron gun 100, the current detection unit 4 detects leakage current, and the control unit 5 evaluates leakage current by using, as an offset, the detection data preserved in the current preservation unit 6 and controls the voltage applied to between the electrodes, in which way conditioning of the electron gun 100 is carried out.例文帳に追加

そして、電子銃１００の電極に電圧供給部３から電圧を供給し、電流検出部４がリーク電流を検出し、制御部５が電流保存部６に保存された検出データをオフセットとして用いてリーク電流を評価し、電極間に印加する電圧を制御し、電子銃１００のコンディショニング処理を行うようにする。 - 特許庁

To provide a means of adjusting positions and shapes of an electron- emitting part precisely with a low-forming current in a manufacturing method of the electron-emitting part, which includes a forming process through current- carrying treatment into a conductive film.例文帳に追加

導電性膜への通電処理を経て、導電性膜に電子放出部を形成する工程を有する電子放出素子の製造方法において、その電子放出部の位置と形状を精度良く低電流制御する方法を提供する。 - 特許庁

A conditioning apparatus 30 for an electron gun 100 comprises a voltage supplying unit 11, a voltage adjusting unit 12 for adjusting an output voltage of the voltage supplying unit 11, and a current detecting unit 13 for detecting a leakage current between electrodes of the electron gun 100.例文帳に追加

電子銃１００のコンディショニング装置３０は、電圧供給部１１、電圧供給部１１の出力電圧を調整する電圧調整部１２、電子銃１００の電極間のリーク電流を検出する電流検出部１３を備える。 - 特許庁

The currents are amplified by respective preamplifiers 4, 8, a tunnel voltage corresponding to the tunnel current is outputted from a differential amplifier 7, and a secondary electron voltage corresponding to the secondary electron current is outputted from the differential amplifier 10.例文帳に追加

これらの電流はそれぞれプリアンプ４、８により増幅され、差動増幅器７からはトンネル電流に対応したトンネル電圧が出力され、差動増幅器１０からは二次電子電流に対応した二次電子電圧が出力される。 - 特許庁

A non-conductive part is provided inside the chuck electrode 501 to electrically shield the axis of an electron beam from a region generating a large eddy current, whereby leakage of the generated eddy current can be prevented to the axis of an electron beam.例文帳に追加

吸着用電極５０１の内部において、大きな渦電流を発生する領域と電子ビーム軸との間を、電気的に遮断する不導体部を設けることにより、発生した渦電流が電子ビーム軸に到達しないようにする。 - 特許庁

To provide a method for measuring a beam current of an electron-beam plotting apparatus capable of measuring the current density of an electron beam while carrying out the on-line operation.例文帳に追加

本発明は電子ビーム描画装置のビーム電流検出方法に関し、オンライン動作させながら、電子ビームの電流密度を測定することができるようにした電子ビーム描画装置のビーム電流測定方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

The electrons emitted from the electron emission element 14 are captured by the collector electrode of the amplifying part 16, which induces a collector current Ic flowing between the collector electrode 20 and the electron emission element 14, and amplification is performed by the collector current Ic.例文帳に追加

電子放出素子１４から放出された電子が、増幅部１６のコレクタ電極で捕獲されることによって、コレクタ電極２０と電子放出素子１４間にコレクタ電流Ｉｃが流れ、このコレクタ電流Ｉｃによって増幅が行われる。 - 特許庁

To provide an electron emission element capable of obtaining a sufficient emission current, reducing scattering of an electron beam on a side wall of an opening, reducing a beam diameter of an emission electron, and maintaining a beam diameter as a pixel to be small, and enabling to manufacture easily.例文帳に追加

十分な放出電流を得ることができ、開口側壁での電子ビームの散乱を軽減し、放出電子のビーム径を小さくし、また、画素としてのビーム径を小さく保つことができ、且つ容易に製造し得る電子放出素子を提供する。 - 特許庁

The image forming device is formed in combination of an electron source furnished with a plurality of electron emitting elements in which the electron emission part is formed through a current carrying process with a low voltage and an image forming member in which an image is formed when it is irradiated with electrons emitted by the electron source.例文帳に追加

電極間に強電界を発生する電極突起を予め設けておき、低電圧での通電処理により電子放出部を形成した電子放出素子を複数配置した電子源と、該電子源から放出された電子の照射により画像を形成する画像形成部材とを組み合わせて画像形成装置とする。 - 特許庁

The primary electron optic system includes not less than two pairs of quadrupole electrodes 6 for adjusting the irradiation area 8 of the primary electron beams, not less than one pair of polarizers 7 for scanning the primary electron beams, and a Faraday cup for measuring the current density of the primary electron beams.例文帳に追加

一次電子光学系は、一次電子線の照射領域８を調整するための２組以上の四重極電極６、一次電子線を走査するための１組以上の偏向器７、走査信号を発生する発信器、及び一次電子線の電流密度を測定するためのファラデーカップを含む。 - 特許庁

Of the electron emitter manufacturing method, temperature of the base material for the electron emitters 10 is raised to 700°C or more inside a vacuum film forming chamber 32, carbon-containing gas is decomposed by direct current plasma, and then, a carbon film 42 having electric field electron emission performance is formed on the surface of the base material to manufacture an electron emitter 44.例文帳に追加

本電子エミッタ製造方法は、真空成膜室３２内で上記電子エミッタ用基材１０の基材温度を７００℃以上に昇温し炭素含有ガスを直流プラズマで分解し該基材表面に電界電子放出性能を有する炭素膜４２を成膜して電子エミッタ４４を製造する。 - 特許庁

This sampler is equipped with a device for generating an electron beam by irradiating a light signal to a negative-electrode cathode, a deflecting electrode for deflecting a generated electron beam, a sampling slit for partly transmitting the deflected electron beam, and an electric charge detection means for detecting the amount of electric charge (or integrated current) of the transmitted electron beam.例文帳に追加

光信号を陰極カソードに照射して電子ビームを発生させる装置と、発生した電子ビームを偏向する偏向電極と、偏向された電子ビームの一部を透過させるサンプリングスリットと、透過した電子ビームの電荷量（又は積算電流）を検出する電荷検出手段を備えている。 - 特許庁

To provide an electron emission source for FED in which high vacuum is not necessary and which is stably operated in low voltage and high current, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

高真空を必要とせず、低電圧大電流で安定動作する、ＦＥＤ用の電子放出源を提供する。 - 特許庁

To maintain a state after control by easily controlling a current period phase of a single-electron transistor with a simple configuration.例文帳に追加

単電子トランジスタの電流周期位相の制御を簡単な構成で容易に行い、制御後の状態が保持されるようにする。 - 特許庁

To provide a multi-charged particle writing system capable of measuring a current of each electron beam accurately and capable of exposing a desired pattern.例文帳に追加

各電子ビームの電流を正確に測定でき、所望パターンを露光できるマルチ荷電粒子線描画装置を提供する。 - 特許庁

To provide a field electron emission element, in which a large emission current is obtained at a low voltage, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

低い電圧において大きな放出電流を得る電界電子放出素子および、その作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an emitter for electron gun, capable of reducing variations of current density immediately after being manufactured.例文帳に追加

製造直後における電流密度の変動を低減することのできる電子銃用のエミッタ製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the lowering of the maximum drain current in MIS-HEMT wherein a gate recess portion is formed penetrating through a 2DEG (two-dimensional electron gas) layer.例文帳に追加

ゲートリセス部が2DEG（２次元電子ガス)層を貫通して形成されたMIS-HEMTにおいて、最大ドレイン電流の低下を防止する。 - 特許庁

To cure a radiation curable resin by flat electron beam of stable and controllable beam current.例文帳に追加

平面ビーム状で安定かつ制御容易な電子ビーム電流値で、放射線硬化型樹脂の硬化が行なえるようにすること。 - 特許庁

To provide a thin film transistor with LDD structure and its manufacturing method which can reduce hot electron effects, current leak, and punch through.例文帳に追加

ＬＤＤ構造を有する薄膜トランジスタとその製造方法において、ホットエレクトロン、電流リーク、及びパンチスルーの低減を図る。 - 特許庁

To provide an original plate exposure beam recording device and method free from loss of an electron beam current and having high throughput with high accuracy.例文帳に追加

電子ビーム電流のロスが無く、高精度でスループットの高い、原盤露光用ビーム記録装置及び記録方法の提供。 - 特許庁