「generated defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The defect density generated by a lattice mismatching is reduced, and the defect distribution can be distributed.例文帳に追加

格子不整合によって発生する欠陥密度を減少させ、欠陥分布を分散させることができる。 - 特許庁

To provide a leak defect detecting method capable of detecting easily the leakage defect generated inside a pixel.例文帳に追加

容易に画素内に発生するリーク欠陥を検出可能なリーク欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

Also, a waveform part of large defect is detected from the full-wave rectification signal, and a defect compensation pulse for compensating and adding a defect time of the large defect is generated.例文帳に追加

また全波整流信号からラージ・ディフェクトの波形部分を検出し、そのラージ・ディフェクトのディフェクト時間を補償加算するためのディフェクト補償パルスを生成する。 - 特許庁

To detect a defect such as a crack generated on a weld bead.例文帳に追加

溶接ビードに発生している亀裂等の欠陥を検出すること。 - 特許庁

Since the pixel defect information is corrected starting from one having the highest defect level or a latest detection time, defect pixels can be corrected efficiently even when a defect pixel is generated anew.例文帳に追加

従って、新たに画素欠陥が発生しても欠陥レベルの大きいものから、或いは検出時期の新しいものから補正されるため、効率的に欠陥画素を補正することができる。 - 特許庁

To provide a system for specifying a defect-origin device, the system specifying a device which is an origin of defect generation when detecting a defect generated on a substrate.例文帳に追加

基板に発生した欠陥を検出した際、該欠陥の発生原因となっている装置を特定する欠陥原因装置特定システムを提供する。 - 特許庁

To reproduce correctly recorded signals even when a defect is generated on an optical disk.例文帳に追加

欠陥が生じても記録した信号を正しく再生できるものとする。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DEFECT GENERATED IN FINE PATTERN ON SUBSTRATE例文帳に追加

基板上の微細パターンに発生した欠陥修正方法と修正装置 - 特許庁

When a deformation change is generated in the structure 2 having a defect, the periphery of the defect is deformed due to stress concentration generated at the periphery, and the light emitting film on the surface is also deformed.例文帳に追加

欠陥が在る構造体２に歪みの変化が生じると、欠陥周辺に応力集中が起きて歪み、該表面の発光膜も歪む。 - 特許庁

After an inspection is performed, the controlling part 14 compares defect information generated during inspection with defect information generated during inspection of un underlying layer of the substrate so that the underlying layer generates target defect information which identifies a defect occurred on the uppermost layer except an overlapping defect which overlaps the defect.例文帳に追加

検査が行われた後、制御部１４は、その検査時に生成された欠陥情報と、基板の下層レイヤーの検査時に生成された欠陥情報とを比較し、前記下層レイヤーが欠陥と重複する重複欠陥を除いて前記最上層レイヤー上に発生した欠陥を識別する注目欠陥情報を生成する。 - 特許庁

To provide a display and a defect detecting method in which a pixel defect generated in a pixel is easily detected.例文帳に追加

画素内に発生する画素欠陥を容易に検出可能な表示装置、および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

Additionally a defect transfer property onto the exposure substrate of defect seed generated at a pattern connection section or the like can be reduced.例文帳に追加

さらに、パターンつなぎ部などに生じた欠陥種の露光基板上への欠陥転写性を低減することができる。 - 特許庁

To provide a nondestructive defect detection device for a thin sheet capable of detecting a defect generated on the thin sheet in a short time, and detecting even a fine defect generated on the thin sheet.例文帳に追加

薄板に発生した欠陥を短時間で検出することができるとともに、薄板に発生している微細な欠陥までも検出することが可能な薄板の非破壊欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a steel sheet defect inspection device capable of identifying the kinds of defects generated on a surface and in a surface layer, a defect generated in an inside, and a hole defect.例文帳に追加

本発明は、表面及び表層に発生する欠陥、内部に発生する欠陥、及び穴欠陥の種類を識別することが可能な鋼板欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A linear mirror surface defect is generated, when the semiconductor crystal wafer is cleaned with wafer.例文帳に追加

ライン状の鏡面欠陥は、半導体結晶ウェハの水洗時に発生する。 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR RESIDUAL STRENGTH OF CIRCULAR STEEL PIPE MEMBER WITH GENERATED DEFECT ON CROSS SECTION例文帳に追加

断面に欠損を生じた円形鋼管部材の残存強度の評価法。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting an irregular defect such as fish eye generated in a film having light transmission, and capable of conducting effectively defect determination containing height information of the defect.例文帳に追加

光透過性を有するフィルムに生じたフィッシュアイ等の凹凸状の欠陥検出および欠陥の高さ情報を含んだ欠陥判定を有効に行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Defect position information including sign information for showing signs combined with the reference home position M and defect coordinate information showing the calculated defect coordinates are generated.例文帳に追加

基準となった原点Ｍと組合せをなす記号を示す記号情報と、算出した欠陥座標を示す欠陥座標情報とを含む欠陥位置情報を生成する。 - 特許庁

To provide a line defect inspection method capable of detecting highly accurately even a line defect generated from linearly-aligned pixels having respectively a defect on a part in each pixel.例文帳に追加

画素内の一部に欠陥を有する画素が線状に並んで生じる線欠陥をも高精度に検出することができる線欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To reproduce defect management information from a defect management area in time shorter than the time required by a conventional defect information reproducing method by eliminating the track jump of the program searching of the defect management area generated at the time of reproducing the defect management information from a plurality of adjacent defect management areas.例文帳に追加

近接する複数の欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生する際に、発生していた欠陥管理領域の頭出しのトラックジャンプを削除し、従来の欠陥情報再生方法よりも短い時間で、欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生する。 - 特許庁

To prevent the reduction of manufacturing yield and reliability due to a fatal defect (line display defect) generated when a short circuit is generated between a gate and a drain (or source) of a transistor.例文帳に追加

トランジスタのゲートとドレイン（またはソース）間に短絡が生じた場合に致命欠陥（線表示欠陥）となることによる製造歩留および信頼性の低下を防止する。 - 特許庁

Accordingly, the defect correction method of the defective part is generated based on the position information, characteristic information, defect classification, and substrate design information of the defective part so as to make the defect correction by operating a defective correction mechanism 4 based on the generated defect correction method.例文帳に追加

そして、欠陥部位の位置情報、特徴情報、欠陥種別及び基板設計情報に基づいて欠陥部位の欠陥修正方法を生成し、生成された欠陥修正方法に基づき欠陥修正機構４を動作させて欠陥修正を行う。 - 特許庁

To provide a defect discrimination device and a defect discrimination method capable of effectively discriminating a kind of an irregularity defect which has generated on a surface of a sheet-like material with light permeability, and a sheet-like material which has been discriminated for defect.例文帳に追加

光透過性を有するシート状物表面に生じた凹凸欠陥の種類を効果的に判別できる欠陥判別装置、欠陥判別方法、及び欠陥判別されたシート状物を提供する - 特許庁

For a linear defect (V line defect) generated on an image due to defect on the vertical CCD of an imaging element (CCD), the imaging apparatus can detect an offset component equivalent to the defect level to perform correction.例文帳に追加

撮像装置では、撮像素子(ＣＣＤ)の垂直ＣＣＤ上の欠陥に起因して画像上で生じるライン性の傷(Ｖライン傷)に対して、例えば傷レベルに相当するオフセット成分を検出して補正を行える。 - 特許庁

While reading out the image data from the image memory 20 and detecting image defects by a defect detector 24, a defect information that displays the position of the detected defect is generated, and is memorized by a defect information memory 26.例文帳に追加

画像メモリ部２０から画像データを読み出して欠陥検出部２４で画像欠陥を検出するとともに、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成して欠陥情報メモリ部２６に記憶する。 - 特許庁

To solve the problem that crystalline defect is readily generated in the single crystal of a ZnO compound semiconductor.例文帳に追加

ＺｎＯ系化合物半導体の単結晶中には結晶欠陥が生じやすい。 - 特許庁

To stop defect of connection between a cam-like plate and a lock gear and to prevent abnormal sound from being generated.例文帳に追加

カム状板とロックギヤとの接合不良を阻止し、かつ、異音の発生を防止する。 - 特許庁

To prevent the defect generated at an array substrate when a resin film is thermo-compressed.例文帳に追加

樹脂フィルムを熱圧着する際に、アレイ基板に不具合が起きることを防止する。 - 特許庁

PROTECTIVE STRUCTURE AND METHOD FOR BLOCKING PROPAGATION OF DEFECT GENERATED IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス内で発生した欠陥の伝搬を阻止する保護構造および方法 - 特許庁

A defect information storage unit 310 stores defect information on a defective pixel having a large offset of a pixel signal generated by an imaging device.例文帳に追加

欠陥情報記憶部３１０は、撮像素子で生成される画素信号のオフセットが大きい欠陥画素の欠陥情報を記憶する。 - 特許庁

To automatically put defect marks on chips that are located around a defective chip, when a continuous defect distribution is generated in measurement of a wafer.例文帳に追加

ウエハ測定で連続的な不良分布が発生した時、不良チップ周辺に自動的に不良マークができるようにすること。 - 特許庁

To make it possible to take action against a defect before the defect is generated concerning operation performed in an image forming apparatus.例文帳に追加

画像形成装置で行われる動作について不具合が発生する前に、当該不具合に対する対応を採ることを可能にする。 - 特許庁

To provide a thin film transistor matrix and a defect repairing method thereof wherein a defect in a pixel can be easily repaired to a normal pixel even when the defect is generated in the pixel in a manufacturing process.例文帳に追加

製造過程において画素内で欠陥が発生しても、容易に正常画素に修復することができる薄膜トランジスタマトリクス及びその欠陥修復方法を提供する。 - 特許庁

Places, when the logic defects have generated can be narrowed down by defect dictionary analysis by defect diagnosis of a semiconductor IC, and thereby the accuracy of the current leakage defect analysis is increased.例文帳に追加

論理不良の発生箇所は、半導体集積回路の故障診断における故障辞書解析によって絞り込むことができ、それによって電流リーク不良解析の的確化を図る。 - 特許庁

When a reflection wave signal is generated by the defect and detected, two types of defect detecting gates are provided, the number of gates for detecting the reflection wave signal generated by the defect and exceeding a threshold value is found, and the location of the defect relative to the central face in thick can be determined.例文帳に追加

欠陥に基づく反射波信号を検出する際に、２種類の欠陥検出ゲートを設け、しきい値を超える前記欠陥に基づく反射波信号を検出したゲート数を求め、欠陥が板厚中心面に対してどちら側の鋼板内に存在するのかの判別を可能にした。 - 特許庁

When a quality defect is generated, search in the intellectual database 20 is performed to select an open box having the same volume with the open box, wherein the defect is generated, or a combination of the open boxes.例文帳に追加

品質不具合が発生すると、知的データベース２０を検索して品質不具合が発生した無蓋ボックスと同一体積となる無蓋ボックスあるいはその組合せを選択する。 - 特許庁

Meanwhile, the output data of a defect are generated by using fundamental defect data 114, the material constant data 113 and the device parameter 115 (123A).例文帳に追加

一方、基本欠陥データ１１４、材料定数データ１１３、装置パラメータデータ１１５を用いて欠陥の出力データを作成する（１２３Ａ）。 - 特許庁

The reference chip is compared with the pattern of the inspection chip, and a defect generation place where a pattern defect can be easily generated is specified in the layout (S3 to S5).例文帳に追加

リファレンスチップと検査チップのパターンを比較し、レイアウト内においてパターン欠陥が生じやすい欠陥発生箇所を特定する（Ｓ３〜Ｓ５）。 - 特許庁

To enhance productivity by detecting a defect generated in the preceding process by inline test and reducing time loss incident to investigation of the cause of defect.例文帳に追加

インライン検査で前行程での不良を検出し、不良原因究明に伴う時間ロスを低減することにより生産性を高める。 - 特許庁

To reduce a marking defect by discharging the burnt soot generated in laser beam marking.例文帳に追加

レーザマーキング時に発生する燃焼煤を速やかに排出して、マーキング不良を低減させる。 - 特許庁

Namely, frequency distribution being a relation between a defect parameter value and the number of the defects is generated and displayed.例文帳に追加

つまり、欠陥パラメータ値と欠陥数の関係である度数分布を作成し、表示する。 - 特許庁

To positively solve a defect generated, e.g. around internal conductors in a multilayer ceramic substrate.例文帳に追加

多層セラミックス基板において、例えば内部導体周囲に生ずる欠陥を確実に解消する。 - 特許庁

If a irregularity defect 7 exists, brightness inversion parts 8, 9 are generated when the border 6 passes.例文帳に追加

凹凸欠陥７が存在すると、境界６が通過する際に明暗反転部８，９が生じる。 - 特許庁

Using these parameters, a waveform record file is generated to keep a deviation crest factor emulation defect selectively positioned in the defect serial data pattern.例文帳に追加

これらパラメータを用いて波形記録ファイルを発生し、偏差クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥が欠陥シリアル・データ・パターン内に選択的に位置決めされる。 - 特許庁

A surface of the skin layer 2a is free from an ununiform defect of a spot-like protrusion or local hardened part generated when wet-film-formed, by removing the ununiform defect.例文帳に追加

スキン層２ａの表面には、湿式成膜時に生じたスポット状の凸部ないし局所的な硬質化部の不均質な欠点が除去されている。 - 特許庁