「generated defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

The method and device inspect the defect generated in the outward appearance of the object to be inspected through the image processing and the defect is detected by comparing image data at respective inspection points of the object to be inspected with a specific mean value.例文帳に追加

検査対象物の外観に生じている欠陥を画像処理により検査する欠陥検出方法及び欠陥検出装置であって、検査対象物の各検査ポイントにおける画像データを、所定の平均値と比較することにより欠陥を検出するものである。 - 特許庁

In this way, the surface defect which becomes problems so that defects are caused by working in the succeeding working stage by the rolling deformation can not be generated and the products made of the bar material which is excellent in the surface quality which deals with the severe warranty of the surface defect in the late years can be provided.例文帳に追加

それにより、圧延変形によって後続の加工工程で加工欠陥を引き起こすような問題となる表面疵が発生えず、近年の厳しい表面疵保証にも対応できる表面品質の優れた条材製品を提供することが可能となる。 - 特許庁

As a result, the errors due to the intrinsic defect signal can be reduced as far as possible and when the reproduced RF signal is inputted into the AGC circuit, the transient response of AGC generated due to a low-frequency or DC component before and behind the defect signal can be reduced.例文帳に追加

これにより、本来の欠陥信号によるエラーを極力低減することができ、ＡＧＣ回路に再生されたＲＦ信号が入力される場合、欠陥信号の前後の低域またはＤＣ成分が原因で発生するＡＧＣの過渡応答を抑制することができる。 - 特許庁

When a defect 3 such as a lattice defect or the like in a material 2 to be measured is detected and evaluated by utilizing position annihilation for generating γ-rays from a positron as it annihilates, X-rays are radiated toward the material 2, and a pulse positron group is generated in the material 2.例文帳に追加

消滅する際のポジトロンがγ線を生じさせる陽電子消滅を利用して被測定物２内における格子欠陥などの欠陥３を検出し評価する際、Ｘ線を被測定物２に照射して被測定物２内にてパルスポジトロン群を発生させる。 - 特許庁

To provide an inexpensive magnetic flaw detection apparatus having a simple structure and detecting a location and a depth of an internal defect etc. of a thickness decrease etc. of a piping material caused by a pin hole defect, corrosion, etc. generated in a crack, a welding part, etc. in a test object.例文帳に追加

簡単な構成で、被試験体における亀裂や溶接部等で生成されるピンホール欠陥、腐食等によって生じる配管材の肉厚減少等の内部欠陥などの位置、深さを検出できる簡単、安価な磁気探傷装置を提供することが課題である。 - 特許庁

Then, based on the stored sample data, an offset signal for offsetting an influence of the control signal based on a false error signal obtained within a prescribed time corresponding to the delay in detecting the defect is generated, and such an offset signal is outputted immediately after the defect is detected.例文帳に追加

そして、記憶されたサンプルデータに基づいて、ディフェクトの検出遅れに相当する所定時間内に得られる偽のエラー信号に基づく制御信号の影響を打ち消すためのキャンセル信号が生成され、かかるキャンセル信号がディフェクトの検出直後に制御信号として出力される。 - 特許庁

To provide an automatic analyzer for extracting easily a measured result obtained using a consumable with a defect-generated production lot number, out of the consumables used in the analyzer, and for preventing the consumable having the defect lot number from being used for analysis hereafter.例文帳に追加

分析装置で使用する消耗品のうち、欠陥が発生した製造ロット番号のものを使用して得られた測定結果を容易に抽出するとともに、該欠陥ロット番号を有する消耗品の以降の分析への使用を防止することができる自動分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk wherein an appearance defect generated when disk substrates are stuck to each other can be simply eliminated at a low cost and to provide a molding method of a disk substrate for the optical disk.例文帳に追加

ディスク基板を貼り合わせる際に発生する外観不良を低コストで簡易に解消することができる光ディスクおよび光ディスク用ディスク基板の成形方法を提供する。 - 特許庁

Coating/developing equipment 1 provided with a development processing unit for subjecting development processing to a wafer W is provided with an inspection device 48 for detecting a defect generated in the wafer W.例文帳に追加

ウエハＷに対して現像処理を施す現像処理ユニットを具備した塗布現像処理装置１に，ウエハＷに生じた欠陥を検出する検査装置４８を備える。 - 特許庁

To provide a hydrogen separating body in which defect such as separation/crack are hardly generated even if heat cycle is added thereto and which can be preferably used even at a high temperature for a long time.例文帳に追加

熱サイクルを加えても水素分離層に剥離・亀裂等の欠陥が発生し難く、高温条件下での使用や長期間使用に好適な水素分離体を提供する。 - 特許庁

To provide a mechanism for improving the defect of a generated image at the time of automatically generating the three-dimensional image when aerial sightseeing service is provided on the Internet.例文帳に追加

空中遊覧サービスをインターネット上でビジネスを行う場合に、自動的に３次元画像を生成するときの、生成画像の欠陥を改良する仕組みをインターネットを用いて提供する。 - 特許庁

To provide an aluminum alloy die-casting component in which the reduction of production cost can be achieved, and which is produced at high strength and high quality even if a casting defect is generated.例文帳に追加

製造コストの低減化を図ることができ、鋳造欠陥が生じていても高強度、高品質で製造することができるアルミニウム合金ダイカスト鋳物部品を提供する。 - 特許庁

The liquid crystal display device provided with the large auxiliary capacitance is obtained, wherein a leakage defect between the semiconductor layer 20 for the auxiliary capacitance and the auxiliary capacitance line 21 is not generated and the aperture ratio is not reduced.例文帳に追加

補助容量用半導体層20と補助容量線21とのリーク不良を起こさず、開口率が低下せず、大きな補助容量を備えた液晶表示装置を得る。 - 特許庁

To appropriately discover an irregularity defect, or the like generated on the surface of a body to be inspected having roughness in the degree of visible light, and to apply the method suitably to a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁

To provide such a structure that an RFID can not be easily detached and the defect of an RFID tag is not easily generated in manufacture or in use in a game token including the RFID tag.例文帳に追加

ＲＦＩＤタグを内包した遊戯用代用貨幣において、ＲＦＩＤが容易に取り外せず、かつ、製造時や使用時にＲＦＩＤタグの不良が発生し難い構造を実現する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor laser device capable of suppressing a defective product from being distributed in a market by positively removing a crystal-defect section thereof generated by the adhesion of particles.例文帳に追加

パーティクルの付着によって発生する結晶欠陥部を積極的に除去して、市場への不良流出を抑制できる半導体レーザ素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the leakage of water from the inside of a baffle blanket to a plasma side along a crack even if the crack is generated and advances due to material defect and deterioration in a casting.例文帳に追加

鋳物内で材料欠陥及び材料劣化による亀裂が発生及び進展したとしても、その亀裂に沿ったバッフルブランケット内からプラズマ側への水漏れを防止する。 - 特許庁

To reduce a compressive stress, which is generated in a semiconductor substrate in the vicinity of a grooved element isolation region, and to suppress the generation of a crystal defect.例文帳に追加

溝型素子分離領域近傍の半導体基板に発生する圧縮応力を低減して、結晶欠陥の発生が抑制される半導体装置とその製造方法とを提供する。 - 特許庁

The second sector scanning image information 201 in the orthogonal direction including image information of the defect is generated, based on a reflecting echo signal acquired by the second sector scanning.例文帳に追加

その欠陥の画像情報を含む、交差する方向における第２セクタ走査画像情報２０１を、第２セクタ走査にて得られる反射エコーの信号に基づいて作成する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a resin component wherein appearance defect due to gas such as haze of a surface, color irregularity, crack of a surface, voids and whitening of a surface are hardly generated in a molded article.例文帳に追加

表面の曇り、色むら、表面の亀裂、ボイド、表面の白化等の、ガスに起因する外観欠陥が、成形品に発生しにくい樹脂製部品の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a bar core for casting which is suitable for form a venting hole and of which deformation is little, in which a cast defect is hardly caused by generated gas and which has good workability.例文帳に追加

排気孔等を形成するのに適し、変形が少なく、発生ガスによる鋳造欠陥が生じにくく、かつ作業性の良好な鋳造用の棒状中子を提供する。 - 特許庁

Even when a part of the processing means fails, the position where the surface defect is generated can be partly specified from information obtained by not failing processing means.例文帳に追加

これにより、一部の処理手段に故障が生じても、故障が生じていない処理手段から得られる情報から、表面欠陥の生じた位置を部分的に特定することが可能となる。 - 特許庁

The CL detector 14 detects cathode luminescence light generated from the crystal defect at an inspection spot by irradiating the inspection spot of the semiconductor substrate 2 with the electron beam.例文帳に追加

ＣＬ検出器１４は、半導体基板２の検査箇所に電子線が照射されることによって検査箇所の結晶欠陥から発生したカソードルミネッセンス光を検出する。 - 特許庁

The crimping defect determination data forming method for determining acceptability of crimping treatment has non-defective product processing data and defective product generated processing data, stored beforehand in a terminal crimping device 21.例文帳に追加

圧着処理の良否を判定するための圧着不良判定データ作成方法は、端子圧着装置２１に良品用加工データと不良品発生用加工データが予め記憶される。 - 特許庁

When this light source is heated, light of a wavelength corresponding to the transition between sub-bands is generated, and this light is taken through the defect 23 in the direction vertical to the slab 21.例文帳に追加

この熱輻射光源を加熱すると、サブバンド間遷移に対応する波長の光が生じ、その光は点状欠陥２３からスラブ２１に垂直な方向に取り出される。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device capable of reducing a liquid crystal orientation defect which may be generated at the boundary between a transmission display region and a reflection display region and improving the contrast.例文帳に追加

透過表示領域と反射表示領域との境界に生じる液晶配向不良を低減して、コントラストを向上可能な液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection method and device capable of discriminating an unevenness generated on an inspected object surface from a deposit for detecting only the harmful unevenness precisely as a defect.例文帳に追加

被検査対象物表面に生じる凹凸と付着物とを識別し、有害である凹凸のみを欠陥として高精度に検出可能な検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an optical film dissolving a recessed mark which is a dotwise defect generated by a cooling roll during forming an optical film by a molten extrusion method.例文帳に追加

溶融押出法により光学フィルムを成形する際に冷却ロールによって発生する、点状欠陥である凹状痕を解消する光学フィルムの製造方法を提供すること。 - 特許庁

To improve wear resistance of a small-diameter member, by avoiding defect and damage of a coated hard material in an edge part due to plasma generated in a forming process of the coating hard material process, and by maintaining adhesion of a film.例文帳に追加

被覆硬質材の形成プロセスで発生するプラズマによるエッジ部での被覆硬質材の欠陥やダメージを回避し、密着性を維持し、小径部材の耐摩耗性を改善する。 - 特許庁

To provide a detector for detecting the occurrence of a defect due to damage generated in an image pickup element such as a CCD image pickup device during its operation and the image pickup device provided with the detector.例文帳に追加

この発明は、ＣＣＤ撮像デバイス等の撮像素子が、稼働中に損傷し欠陥が生じたのを検出する検出装置及びそれを搭載した撮像装置を提供する。 - 特許庁

To implement a highly sensitive defect inspection method in a pattern inspection apparatus by reducing the effect of the unevenness of the brightness of a pattern generated from the variation of the film thickness and the scattering of the pattern width.例文帳に追加

パターン検査装置において、膜厚の違いやパターン幅のばらつきなどから生じるパターンの明るさむらの影響を低減して、高感度な欠陥検査を実現する。 - 特許庁

The contact probe is allowed to serve as a nondefective even when a defect is generated in the plunger 1, by replacing the plunger with a normal one, because the plunger is easily attached and detached.例文帳に追加

プランジャー１は簡単に着脱出来るためプランジャーに不良が生じた場合も該プランジャーを正規の品に取り代えることによりコンタクトプローブを良品にすることが出来る。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a polarizing plate at low cost while preventing a pore defect from being generated in an adhesive layer when laminating an optical film to a polarizing film via an adhesive.例文帳に追加

偏光フィルムに接着剤を介して光学フィルムを貼合する際、接着剤層における気泡欠陥を抑制しつつ、安価に偏光板を製造しうる方法を提供する。 - 特許庁

A removing circuit pattern memory 105 stores an image Qc showing the circuit pattern of an object to be inspected as an area where a false defect is easy to be generated and the other area.例文帳に追加

除去回路パターン記憶部１０５には、検査対象物の回路パターンを、疑似欠陥が発生しやすい領域とそれ以外の領域とで示した画像Ｑｃが格納されている。 - 特許庁

To provide an inspection method of a pattern and an inspection device of the pattern capable of detecting accurately a defect even when an interference fringe (moire) is generated, and a manufacturing method of an electronic device.例文帳に追加

本発明は、干渉縞（モアレ）が発生しても、欠陥の正確な検出をすることができるパターンの検査方法、パターンの検査装置および電子デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal device wherein a zigzag defect is hardly generated even when a liquid crystal layer is constituted of a smectic liquid crystal, to provide a manufacturing method therefor and to provide an electronic instrument using the liquid crystal device.例文帳に追加

スメクティック液晶にて液晶層を構成した場合にも、ジグザグ欠陥の生じ難い液晶装置とその製造方法、及び該液晶装置を備えた電子機器を提供する。 - 特許庁

To prevent a serious defect from being generated on a disk-shaped magnetic recording medium by a disk driving device which records data on the disk-shaped magnetic recording medium.例文帳に追加

円盤状磁気記録媒体にデータを記録するディスクドライブ装置によってこの円盤状磁気記録媒体上に重大な欠陥が発生することを防止することができるようにする。 - 特許庁

Air is ejected from the air ejection means 60 towards the arm tip end while keeping suction defect generated and the starting end part 16a of the adhesive tape 16 droops from the sticking arm 32.例文帳に追加

吸着不良が発生して粘着テープ１６の始端部１６ａが貼付アーム３２から垂れ下がった状態で、エア吹出し手段６０からアーム先端に向けてエアが噴出される。 - 特許庁

A face 53a in a substrate side contacting with the semiconductor substrate in an element forming part is exposed by removing the semiconductor substrate, in a defect-generated wafer or chip.例文帳に追加

不良の発生したウェハまたはチップに対して、半導体基板を除去することにより、素子形成部における半導体基板と接していた基板側の面５３ａを露出する。 - 特許庁

The fisheye breakdown is generated in a metallic specimen by a fatigue test, and the type of defect that exists in risk volume and extremely causes fatigue breakdown is specified for measuring the dimensions.例文帳に追加

疲労試験により金属製試験片にフィッシュアイ破壊を生じさせ、危険体積中に存在する最も疲労破壊の原因となった欠陥の種類を特定し、その寸法を測定する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a polyester film of which the defect such as a scratch, a stickiness stain, a crater-shaped spot or the like to be generated in a stretching process is eliminated.例文帳に追加

本発明は、延伸工程で発生するスリ傷、粘着汚れ、クレータ状の斑点などの欠点が解消されたポリエステルフィルムの製造方法を提供せんとするものである。 - 特許庁

To provide a pinhole inspection device capable of detecting highly accurately a pinhole defect generated when manufacturing a folding sheet for folding granule or the like in a high temperature state.例文帳に追加

高温な状況下において粒体などを分包する分包シートを製造する際などに生じるピンホール欠陥を高精度で検出することができるピンホール検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic flaw detection method, capable of satisfactorily detecting a flaw with S/N ratio, even if an electrical noise is generated or when something other than the defect exerting an influence on a leakage flux exists.例文帳に追加

電気的ノイズが発生したり、漏洩磁束に影響を与える欠陥以外のものが存在する場合にも、Ｓ／Ｎ比良く欠陥を検出できる磁気探傷方法を提供する。 - 特許庁

Thus the strain generated between the layer 14 and the layer 15 is alleviated by a grating constant difference and a thermal expansion coefficient difference, and the crystal defect such as dislocation or the like is suppressed.例文帳に追加

これにより、格子定数差および熱膨張係数差によりクラッド層１４とガイド層１５との間に生じる歪みが緩和され、転位などの結晶欠陥の発生が抑制される。 - 特許庁

To discover properly an irregularity defect or the like generated on the surface of an inspection object having roughness in the degree of visible light, and to apply the method suitably to a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁