「generated defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

There is also provided a molded body having reduced viscosity derived from the amount of the acid component, improved in peelability from a metallic roll and also improved in defect such as foaming being generated when molded.例文帳に追加

酸成分の量に由来する粘度を下げ、金属ロールとの剥離性の改善し、且つ成形の際に生じる発泡等の不具合も改善された成形体。 - 特許庁

At this time, as all memory cells 11 are in a non-selection state, when short circuit defect is not caused, a short circuit current is not generated independently of contents of the memory cells 11.例文帳に追加

この時、すべてのメモリセル１１は非選択状態であるので、短絡不良が無ければこのメモリセル１１の内容に拘らず短絡電流の発生はない。 - 特許庁

To well recognize defect when a crack is generated in a solder ball with a package using the solder ball such as a BGA package and CSP mounted on an equipment.例文帳に追加

ＢＧＡパッケージやＣＳＰなどの半田ボールを用いたパッケージが機器に実装された状態にて、半田ボールにクラックが入ったときの欠陥を良好に認識する。 - 特許庁

Since noise is as large as N×1 pixels, this electron beam type inspecting device removes a detection pattern and a defect of N×1 by judging them to be generated by noise.例文帳に追加

電子線式検査装置において、ノイズがＮ×１画素の寸法であることに着目して、Ｎ×１の検出パターン、欠陥をノイズにより生じたものと考え削除する。 - 特許庁

To provide a semiconductor chip, that has a PLL circuit with improved yield that can relieve the semiconductor chip, even when a defect is generated in the PLL circuit, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

ＰＬＬ回路に不良が発生しても半導体チップを救済でき、歩留まりを向上できるＰＬＬ回路を有する半導体チップおよびその製造方法を得る。 - 特許庁

To provide a piezoelectric vibration device capable of obtaining stable characteristics by preventing an insulation defect while relaxing stress generated on a piezoelectric diaphragm.例文帳に追加

圧電振動板に発生する応力を緩和しつつ、絶縁不良を防止して、安定した特性を得ることができる圧電振動デバイスを提供することを目的とする。 - 特許庁

In the yoke, distortion generated at a rounding work is released by the grooves 2 while following to the metal 11, and a bending inclination defect is eliminated and the yoke is improved in the circularity and inner/outer diameter accuracy.例文帳に追加

ヨークは芯金１１に倣いつつ溝２によって曲げ加工時の歪みが解放され、曲げ癖が除去されてヨークの真円度や内外径精度が向上する。 - 特許庁

To achieve a method and an apparatus for easily and accurately detecting such defect as fatigue cracks that are generated at a fillet-welding section using ultrasonic waves.例文帳に追加

本発明は、隅肉溶接部に発生する疲労き裂等の欠陥を超音波を用いて、簡便、かつ、高精度に検出する方法およびその装置をを実現する。 - 特許庁

To coat a substrate with a vertical alignment layer without defects and to simply release it, when a defect is generated in a method for manufactur ing a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置の製造方法に関し、垂直配向膜を欠陥なく塗布するとともに、欠陥が発生した場合には、簡単に垂直配向膜を剥離する。 - 特許庁

To provide a light emitting element which has neither a bonding defect nor a void generated on the side of an electrode having small area when bump-bonded to a mounting substrate etc., and a method of making the light emitting element.例文帳に追加

実装基板等とのバンプ接合時に面積の小さな電極側で接合不良やボイドが生じることのない発光素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a high-quality semiconductor substrate free from an interwiring short circuit, disconnection and the defect of a switching element due to static electricity generated during a manufacturing process and an electrooptical device.例文帳に追加

製造工程中に発生する静電気による配線間短絡、断線及びスイッチング素子欠陥のない高品質の半導体基板及び電気光学装置を得る。 - 特許庁

To provide a packaged body processing device capable of quickly specifying a unit when a defect is generated on the unit for holding a packaged body and processing the same.例文帳に追加

包装体を保持し加工を施すユニットに不具合が発生したときに、このユニットを迅速に特定できる包装体処理装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a tire vulcanization method capable of effectively suppressing buckling generated in the reinforcing material of the reinforcing member in a bead part to improve the flow defect of a rubber, and an apparatus therefor.例文帳に追加

ビード部における補強部材の補強材に生じる座屈を効果的に抑制し、ゴム流れ不良を改善することが可能なタイヤ加硫方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To measure, effectively in a short time, an internal defect or a surface flaw generated in the diameter direction or the like by an ultrasonic inspection method relative to the side part of a rotor inspection object.例文帳に追加

回転体被検査物の側面部に対する超音波探傷方法で径方向等に生じた内部欠陥や表面傷を短時間で効率よく測定する。 - 特許庁

To prevent a defect of folding around a ruled line from being generated and to improve appearance in a method for manufacturing a corrugated fiberboard box by processing a flat sheet-like corrugated fiberboard sheet.例文帳に追加

平板状の段ボール板を加工して段ボール箱を製造する方法において、罫線の周辺で折り曲げ不良の発生を防止して見映えを向上させる。 - 特許庁

As a result, generated defect information can be effectively rearranged by performing quick reinitialization without certifying a disk, thereby the performance of a drive system can be improved.例文帳に追加

これにより、ディスクを検定せず、速い再初期化を行うことによって、発生した欠陥情報を効果的に整理できるので、ドライブシステムの動作を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a can body inspection device and a can body inspection method capable of inspecting exactly a defect of a shape generated in a can body formed with unevenness in a side face.例文帳に追加

側面に凹凸が形成された缶体に生じる形状の欠陥を的確に検査することが可能な缶体検査装置及び缶体検査方法を提供する。 - 特許庁

The second protective layer overlie on the first protective layer after any defect generated during the formation of the first protective layer is removed by applying plasma to the first protective layer.例文帳に追加

第１の保護層にプラズマを印加して第１の保護層の形成時に発生する欠陥を除去した後，第２の保護層が第１の保護層上に積層される。 - 特許庁

To provide a highly luminous display panel wherein a reduction in aperture ratio is minimized while light leakage of the display panel is prevented and a flicker defect caused by a kickback voltage is not generated.例文帳に追加

表示パネルの光漏れを防止しながらも、開口率減少を最少化して、キックバック電圧によるフリッカー不良が発生しない高輝度の表示パネルを提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display where alignment defect generated due to the formation of a columnar spacer, when an alignment layer is subjected to rubbing treatment, is prevented, and display quality is enhanced.例文帳に追加

柱状スペーサを形成したことで生じるラビング処理時の配向不良を防止し、さらに表示品位を向上させた液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To prevent a defect such as a crack from being generated when press-bonding an FPC to a device after transferred to a flexible substrate having flexibility such as a plastic film substrate.例文帳に追加

プラスチックフィルム基板などの柔軟性を有するフレキシブル基板に転写後のデバイスに対してＦＰＣを圧着する際、クラック等の不良発生を防止する。 - 特許庁

A second interlayer insulation layer 7, the pixel electrodes 9a and an alignment layer 16 are flatly formed compatibly with the upper surface of the first interlayer insulation layer 4 and no alignment defect is generated.例文帳に追加

第２層間絶縁膜（７）、画素電極（９ａ）、配向膜（１６）は、第１層間絶縁膜（４）上と整合的に平坦に形成され、配向不良が生じることはない。 - 特許庁

To solve the problem of a defect in blow holes generated by the ionization of nitrogen in the air even in the case remote welding is performed using a laser beam having a long focus.例文帳に追加

長焦点のレーザビームを用いてリモート溶接する場合であっても、大気中の窒素が電離することに起因して発生するブローホール不良の問題を解消する。 - 特許庁

After that, in order to recover point defect leading to a cause of TED which is generated with the ion implantation of indium, anneal by RTA treatment is performed at a primary temperature.例文帳に追加

その後、インジウムのイオン注入で発生したＴＥＤの原因となる点欠陥を回復させるため、第１の温度でＲＴＡ処理によるアニールを行う。 - 特許庁

To provide a rework measurement system for measuring the result of a work for countermeasures against any defect generated in a manufacturing process (that is, a rework process).例文帳に追加

製造工程内で発生している不良対策作業（即ちリワーク工程）の作業実績を測定することができるリワーク測定システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an element which prevents a crystal defect due to damage generated during etching processing from propagating to an active layer by a current conducting operation and has a long operation lifetime.例文帳に追加

エッチング加工時に生じた損傷による結晶欠陥が、通電動作によって活性層に伝播することを防ぎ、動作寿命の長い素子を提供する。 - 特許庁

To suppress generation of lamination defects and the enlargement of area of lamination defect which are generated by continuing the supply of electric power, in a silicon carbide bipolar semiconductor device.例文帳に追加

炭化珪素バイポーラ型半導体装置において、通電を続けることにより生じる積層欠陥の発生および積層欠陥の面積拡大を抑制すること。 - 特許庁

In a surface defect inspecting apparatus for optically inspecting the surface of an object 11, a condensing point of laser beam is formed in the vicinity of the surface of the object and scanned on the surface of the object in a concentric circular state and a change in the quantity of light generated by a surface defect is detected to judge the surface defect by a signal processor 21.例文帳に追加

対象物１１表面を光学的に検査する表面欠陥検査装置であって、対象物表面近傍にレーザ光による集光点を形成し、集光点を対象物１１表面で同心円状に走査し、表面の欠陥によって発生する光量変化を検出して信号処理装置２１によって欠陥判定を行なう。 - 特許庁

Further, the crystal defect generated nearby the silicon wafer surface due to the injection energy in the silicon injection stage S2 can be removed by removing a surface layer portion where the defect is generated owing to the ion injection energy.例文帳に追加

また、洗浄・熱処理（工程Ｓ３）により評価対象元素であるＦｅもウェハ中へ均一に拡散させた後、イオン注入エネルギーにより欠陥が生じた表層部分を除去する（工程Ｓ４）ことにより、イオン注入工程Ｓ２において注入エネルギーによりシリコンウェハ表面近傍に生じた結晶欠陥を除去することができる。 - 特許庁

A program to be tested is tested, and defect information, including a test information number for indicating a test that resulted in rejection and defect phenomenon information for indicating a phenomenon generated by performing the test to the program to be tested, is created.例文帳に追加

試験対象プログラムに試験を行い、合否結果が不合格となった試験を表す試験情報番号、およびこの試験を試験対象プログラムに行うことによって生じる現象を表す欠陥現象情報を含む欠陥情報を作成する。 - 特許庁

If a defect is not generated under a state where both correction processing A and correction processing B are performed, content of the original image is simply approached even if any one of the correction processing A or correction processing B is reset and the possibility of generating a defect is low.例文帳に追加

補正処理Ａと補正処理Ｂの双方を実施した状態でディフェクトが発生していなければ、補正処理Ａと補正処理Ｂのいずれかを元に戻したとしても、それは原画像の内容に近づくだけであり、ディフェクトが発生する可能性は低い。 - 特許庁

To facilitate the selection of an image in which the feature of a defect is best reflected, in a defective image selecting device, a defective image selecting method and a defective image selecting system which are employed upon analyzing a defect generated in the manufacturing process of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハの製造工程において生じる欠陥を解析する際に用いられる欠陥画像選択装置、欠陥画像選択方法及び欠陥画像選択システムにおいて、最も欠陥の特徴がよく映っている画像を選び出すことを容易とする。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display wherein a display defect such as color unevenness and a conduction defect are eliminated, generated by expansion and contraction of a conductive resin provided between a substrate on which a counter electrode is formed and a circuit substrate supplying potential to the counter electrode.例文帳に追加

対向電極が形成された基板と該対向電極に電位を供給する回路基板間に設けられた導電性樹脂の伸縮によって発生する色ムラ等の表示不良及び導通不良を無くした液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To solve the serious problems that the laser repairing method which corrects a defect and a residual defect of a photomask can hardly implement the uniform film deposition of large area and moreover, Cr particles generated at the time of laser transpiration restick to the surface of the substrate.例文帳に追加

フォトマスクの欠損欠陥、残留欠陥を修正するレーザリペア方法では、それぞれ大面積の均一な成膜が困難であり、またレーザ蒸散時に発生するＣｒが微粒子となり基板上に再付着すること大きな問題となっている。 - 特許庁

To surely mark a defect position so as to encircle a defect of pressing flaw, scratch, etc., generated in rolling and to easily identify presence/absence and the defective positions of a steel plate in visual inspection.例文帳に追加

圧延時に生じた押し疵や擦り疵等の欠陥を囲むように欠陥位置を示すマーキングを鋼板表面に確実に施すことができ、この結果、客先での鋼板の目視検査時において、鋼板に存在する欠陥の有無および位置を容易に認識することができる。 - 特許庁

To avoid a failure due to a fact that a normal pixel erroneously detected from some reasons in the case of defect detection or a temporarily generated defective pixel are additionally registered as a defective pixel by realizing optimal control of additional registration regarding detected defect data.例文帳に追加

検出欠陥データに関する最適な追記登録制御を実現し、欠陥検出時に何らかの原因で誤って検出された正常画素あるいは一時的に生じた欠陥画素を欠陥画素として追加登録してしまうことによる不具合を回避する。 - 特許庁

To provide an oscilloscope for automobile inspection which can accurately measure an object to be inspected without depending upon the ability of an operator and easily specify an electric component where a defect is generated or electric component having a defect always in a short time.例文帳に追加

作業者の能力に依存することなく検査対象の的確な測定が可能で不良が発生した電気部品、或いは欠陥を持った電気部品が常に短時間で容易に特定できるようにした自動車検査用オシロスコープを提供すること。 - 特許庁

To provide a verifying method for verifying whether defect managing area(DMA) information is to be normally generated or updated after reinitialization while a defect list is removed without detection through disk recording/reproducing device and to provide a test device for performing the method.例文帳に追加

ディスク記録及び再生装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化後に、欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を正常に生成または更新するかを検証するための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を開示する。 - 特許庁

To provide a defect area management method for managing the defect area of an optical recording medium by which an error generated by containing the defective blocks contained in a spare area in a user area after formatting is prevented while maintaing compatibility with an existing system.例文帳に追加

既存の方式と互換性を維持しながら、フォーマッティング後、スペア領域の欠陥ブロックがユーザー領域に含まれて発生していたエラーを防止できるようにした、光記録媒体の欠陥領域を管理する欠陥領域管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an LSI inspection circuit capable of realizing inspection of an LSI operated with a low voltage at high speed, without being influenced by a capacity component and a resistance component added to an external terminal, and facilitating specification of a defect sport when a defect is generated in the LSI inspection.例文帳に追加

低電圧高速動作するＬＳＩの検査を、外部端子に付加される容量成分、抵抗成分の影響を受けずに実現し、ＬＳＩ検査で不良が発生した場合、不良個所の特定を容易にするＬＳＩ検査回路を提供する。 - 特許庁

To provide an optical member capable of suppressing a defect of appearance due to bubbles generated between the optical member and a transparent protective member, and to provide an image display device whose defect of appearance is suppressed by using the optical member.例文帳に追加

光学部材と透明保護部材の間に生じる気泡による外観上の不具合を抑制しうる光学部材を提供すること、及び、当該光学部材を使用することにより、前記外観不良が抑制された画像表示装置を提供すること。 - 特許庁

Consequently, even when the flattening insulating film 17 is formed in a heated state, large thermal stress is generated in neither the pixel electrode 9a nor the flattening insulating film 17, so a defect such as a hillock is hardly generated on the surface of the pixel electrode 9a.例文帳に追加

このため、加熱した状態で平坦化絶縁膜１７を成膜しても、画素電極９ａおよび平坦化絶縁膜１７に大きな熱応力が発生しないので、画素電極９ａの表面にヒロック等の欠陥が発生しにくい。 - 特許庁

To provide a quality inspection device and a quality inspection method for detecting a failure, even when overlapping of a punched product is generated, or when a defect called as a removal residue or a scum residue is generated in the punched product.例文帳に追加

打ち抜き加工品の重なりが発生した場合や、打ち抜き加工品に除去残り或いはカス残りと呼ばれる欠陥が発生した場合でも、それらの不具合を検出することが可能な品質検査装置及び品質検査方法を提供する。 - 特許庁

Since the surface of the steel sheet 101 is heated uniformly along the sheet-width direction by the bandlike laser 103, a temperature gets substantially uniform in a portion where no defect such as the surface flaw 102 exists, and a temperature change is generated in a portion where the defect exists, because of an influence thereof.例文帳に追加

鋼板１０１の表面は帯状のレーザ１０３によって板幅方向にライン状に均一に加熱されるので、表面疵１０２等の欠陥の存在しない個所では温度がほぼ均一になるのに対して、欠陥の存在する個所ではその影響により温度変化が生じる。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for detecting a ceramic surface layer zone defect which can simply and accurately examine a fine defect generated near surface after a ceramic material is mechanically worked and which can easily examine even at a working site.例文帳に追加

セラミックス材料の機械加工後の表面近傍部に発生する微細欠陥を簡単且つ高精度に検出することができ、加工現場でも容易に検査することができるセラミックス表層域欠陥の検出方法と、このような欠陥検出に用いる検出装置を提供する。 - 特許庁