「generated defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To decide whether the defect generated on the surface of a substrate is the defect that arises from the defect existing on a prescribed pattern or not, in the substrate which is manufactured so that a repeated pattern is transferred on the major surface.例文帳に追加

主面に、繰り返しパターンが転写されて製造される基板において、その表面に生じる欠陥が、所定パターンに存在する欠陥に起因した欠陥であるか否かを確定する。 - 特許庁

In the image display panel restoration method, whether a defect is being generated in pixels is inspected and, when a defect is being generated in the inspected pixels, the pixel having the defect is restored, by irradiating the part to be restored of the pixel having the defect with a circularly-polarized laser beam from the outside of a first polarizing plate or a second polarizing plate.例文帳に追加

画像表示パネルの修復方法は、画素に欠陥が生じているかどうか検査し、検査した画素に欠陥が生じている場合、円偏光のレーザ光を第１偏光板または第２偏光板の外側から欠陥が生じている画素の修復個所に向けて照射し、欠陥が生じている画素を修復する。 - 特許庁

To easily test the quality of a plasma display panel by detecting a corona discharge generated by a defect.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの品質を容易に試験することができる試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

Then, the control part controls a defect correction part which executes correction of the defects by utilizing the generated object.例文帳に追加

そして、生成したオブジェクトを利用して欠陥の修正を実行する欠陥修正部を制御する。 - 特許庁

A defect extraction part 5 extracts defects on the object to be inspected through the use of generated images.例文帳に追加

欠陥抽出部5は、生成された画像を用いて被検査対象物上の欠陥を抽出する。 - 特許庁

Accordingly, any defect or scratch which causes the deterioration of a manufacturing yield of a semiconductor device is not be generated.例文帳に追加

よって、半導体装置の製造歩留りの低下を引き起こす、欠陥若しくはスクラッチが発生しない。 - 特許庁

To improve accuracy in detection for an image defect that is generated in an image formed by an image forming apparatus.例文帳に追加

画像形成装置にて形成された画像に発生した画像欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To suppress a spot defect from being generated by preventing a pixel electrode from being broken throughout a manufacturing stage for a liquid crystal.例文帳に追加

液晶の製造過程を通して画素電極の破損を防止し、点欠陥の発生を抑制する。 - 特許庁

To suppress a wrinkle-like facial defect generated on a polymer film immediately after the polymer film is released from a substrate.例文帳に追加

支持体から剥離した直後のポリマーフィルムに発生するシワ状の面状故障を抑制する。 - 特許庁

To automatically and surely detect a deformation defect of a hit trace, flaw or warp generated on a hoop.例文帳に追加

フープ材に発生した打痕、きずまたは反りなどの変形不良を自動でかつ確実に検出すること。 - 特許庁

To prevent the defect of shrinkage cavities easy to be generated upon continuous casting for an alloy steel comprising ≥5 mass% Cr.例文帳に追加

Crを５mass%以上含有する合金鋼の連続鋳造時に発生し易い引け巣欠陥を防止する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which properly prevent a development defect generated by additives to toner.例文帳に追加

トナーの外添剤により発生する現像不良を適切に防止する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To prevent display defect of a liquid crystal display device caused by static electricity generated at so-called rubbing.例文帳に追加

いわゆるラビング時に発生する静電気が原因となる液晶表示装置の表示不良を防止する。 - 特許庁

Subsequently, an RTA treatment is performed to recover the crystal defect generated by ion implantation.例文帳に追加

その後に、イオン注入によって発生した結晶欠陥の回復のためのＲＴＡ処理を行う。 - 特許庁

A defect image of a repeated pattern in a multilayer substrate and a reference image are obtained, difference images between the obtained defect image and the reference image are generated by a control unit included in a defect correction device.例文帳に追加

多層基板における繰り返しパターンの欠陥画像と参照画像を取得し、欠陥修正装置が備える制御部により、取得された前記欠陥画像と前記参照画像の差分画像を生成する。 - 特許庁

To provide a simple defect inspection device and a defect inspection method for performing defect inspection on a substrate by using diffraction beams generated from a repetitive pattern of further fine intervals without shortening the wavelengths of illumination beams.例文帳に追加

照明光の波長を短くしなくても、さらに微細なピッチの繰り返しパターンから発生する回折光を利用して、基板の欠陥検査を行える簡易な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for defect inspection, capable of inspecting a defect generated on the surface of a workpiece at high speed with high accuracy.例文帳に追加

被検査物の表面上に発生する欠陥を、高速に、かつ、高精度に検査することのできる欠陥検査装置及び欠陥検査方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a method and a device for surely detecting a very small defect generated in the end face of the stacked belt ring and simultaneously automatically detecting the size of the defect as well.例文帳に追加

積層ベルトリングの端面に生じた微小な傷も確実に検出することができ、また、同時に傷の大きさも自動的に検出できる方法と装置を提供する。 - 特許庁

To repair/eliminate a casting defect and a defect in structure, which are likely generated inside a metal member, without deteriorating a shape and dimensional precision of a metal member.例文帳に追加

金属部材の内部で生じている可能性がある鋳造欠陥や組織不良を金属部材の形状・寸法精度を低下させることなく補修し改善する。 - 特許庁

To provide an image defect correction apparatus which makes a white vertical line invisible that is generated by a point defect of a vertical CCD while suppressing the deterioration of substantial resolution.例文帳に追加

垂直ＣＣＤの点欠陥により発生する白縦線を、実質的な解像度の低下を抑えつつ目立たなくすることができる画像欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a black defect correction method for correcting a black defect generated in a transparent conductive film without damaging a base and a peripheral region.例文帳に追加

透明導電膜に存在する黒欠陥を、下地や周辺部位へのダメージ無く修正することが可能な黒欠陥修正方法を提供することが課題である。 - 特許庁

To measure with higher accuracy iron concentration in a silicon wafer without influence of a defect resulting from oxygen even in the case of the silicon wafer where the defect resulting from oxygen is generated in higher density.例文帳に追加

酸素起因欠陥が高密度に発生したシリコンウェーハであっても、酸素起因欠陥に影響されずに、シリコンウェーハ中の鉄濃度を高精度に測定する。 - 特許庁

To provide a repair method for a stencil type reticle capable of correcting a white defect part or black defect part generated in a transfer pattern formed by an electron beam scattering body.例文帳に追加

電子線散乱体によって形成された転写パターンに生じた白欠陥部又は黒欠陥部を修正できるステンシル型レチクルのリペア方法を提供する。 - 特許庁

Thereafter, pattern data optimized for the defect inspecting machine are generated from the pattern data according to the divided region determined according to a defect inspecting machine file format.例文帳に追加

その後、この図形データから欠陥検査機用のファイルフォーマットで決まる分割領域に合わせて、改めて、前記欠陥検査機用に最適化した図形データを生成する。 - 特許庁

To provide an image signal processor for correcting a pixel defect by highly accurately detecting a pixel defect which is generated during an operation with the secular change of an imaging element.例文帳に追加

撮像素子の経年変化により動作中に発生する画素欠陥を高精度に検出して画素欠陥の補正を行う画像信号処理装置を提供すること。 - 特許庁

An output signal generated by the detection thereof is stored as an image signal, the stored image is compared in a calculation part 29 and a defect determination part 30, and a defect is determined.例文帳に追加

検出されたその出力信号は画像信号として記憶され、記憶された画像は演算部２９及び欠陥判定部３０で比較され、欠陥が判定される。 - 特許庁

To enable the correction of black defect in which also the riverbed is not generated in the practical throughput by combining a defect correcting device using an ion beam and an atomic force microscope(AFM).例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置と原子間力顕微鏡(AFM)を組み合わせることで、実用的なスル−プットでリバーベッドも無い黒欠陥修正を可能にする。 - 特許庁

To provide a dressed building plate capable of not making a defect position conspicuous and easily repairing it even if the defect is generated on a design pattern formed by ink jet coating.例文帳に追加

インクジェット塗装により形成された意匠模様に欠陥が生じてもこの欠陥箇所を目立たず容易に補修することが可能な化粧建築板を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection apparatus for a cylindrical inspection target, which can inspect a defect generated on the surface of the cylindrical inspection target by a simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成で円筒形被検査体の表面に発生する欠陥を検査できる円筒形被検査体の表面欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The photonic crystal has a first defect forming a resonator 110, a second defect forming a waveguide path 120 through which light generated from the resonator is taken out, and a third defect forming a heat radiation part 130 emitting heat generated from the resonator to the outside.例文帳に追加

該フォトニック結晶は、共振器１１０を形成する第１の欠陥、該共振器で発生した光を外部へ取り出す導波路１２０を形成する第２の欠陥および該共振器で発生した熱を外部へ放出する放熱部１３０を形成する第３の欠陥を有する。 - 特許庁

To detect a welding defect existing in a weld line generated at the time of producing a electro-resistance-welded tube with high precision.例文帳に追加

電縫管の造管時に発生した溶接線に存在する溶接欠陥を高精度で検出すること。 - 特許庁

To improve picture recognition by preventing visible defect in a panel due to carets generated in scribing or suction holes.例文帳に追加

スクライブの際に発生するカレットや吸着孔によるパネル表示不良を防ぎ、画像認識を改善する。 - 特許庁

To reduce the time required for a test by specifying a defect part generated in a memory part of a semiconductor storage circuit.例文帳に追加

半導体記憶回路のメモリ部で発生した不良箇所を特定し、テストに要する時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a hetero structure substrate wherein a crystal defect layer is hardly generated in an epitaxial growth layer.例文帳に追加

エピタキシャル成長層に結晶欠陥層が生じにくい、ヘテロ構造基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁

As this result, even if the V line defect exists in an image, the wrong control information can be prevented from being generated.例文帳に追加

その結果、Ｖライン傷が画像に存在する場合でも、誤った制御情報の生成を防止できる。 - 特許庁

To provide a liquid crystal panel and the like capable of reducing a defect generated when resin is used for a light shielding film.例文帳に追加

遮光膜に樹脂を利用した場合の不具合を低減可能な液晶パネル等を提供することである。 - 特許庁

The clay is used for repairing the crack and defect generated in the earthenware in the course of manufacture or for shape modification thereof.例文帳に追加

この粘土を製作中の陶器に生じたひび割れ、欠損の補修又は造形変更に使用する。 - 特許庁

PROGRAM, METHOD, AND SYSTEM FOR DETECTING CRACK DEFECT GENERATED ON STRUCTURE例文帳に追加

構造物に形成されたひび割れ欠陥検出プログラム、ひび割れ欠陥検出方法及びひび割れ欠陥検出システム - 特許庁

This structure prevents a defect from being generated in the amorphous silicon power generating film 3 due to a recess.例文帳に追加

このため、凹部を起源とする非晶質シリコン発電膜３中の欠陥の発生を防止することができる。 - 特許庁

To positively solve a defect generated around an internal conductor in a multilayer ceramic substrate having the internal conductors.例文帳に追加

内部導体を有する多層セラミックス基板において、内部導体周囲に生ずる欠陥を確実に解消する。 - 特許庁

By this method, an error caused by a defect signal formed in a period of HS-HE is reducible to the utmost since a defect processing signal G for improving the detected defect signal is arranged so as to be generated for a period longer than that of the detection signal of the defect.例文帳に追加

本発明では、検出されたディフェクト信号を改善するためのディフェクト処理信号Ｇを、ディフェクトの検出信号Ｄの期間より長い期間だけ生成するようにしたので、ＨＳ〜ＨＥの期間でなるディフェクト信号によるエラーを極力低減することができる。 - 特許庁

When a defect is detected, a defect contour is extracted from the generated image data, the extracted defect contour is reflected in the pattern data of a semiconductor integrated circuit, and a first drop recipe is prepared based on the pattern data which has the defect contour reflected therein.例文帳に追加

欠陥が検出されたとき、前記生成された画像データから欠陥輪郭を抽出して、前記抽出した欠陥輪郭を前記半導体集積回路のパターンデータに反映させ、前記欠陥輪郭が反映されたパターンデータに基づいて第１ドロップレシピを生成する。 - 特許庁

The defect repair method in a flat membrane for water treatment includes a step of pressing a defect part to seal a defect hole by compression, with regard to the defect generated on the surface of the flat membrane manufactured by coating a material containing an organic polymer as a main component on the surface of a flat substrate.例文帳に追加

平面状基材の表面に有機高分子を主成分とする物質を塗布して製造した平膜の表面に発生した欠点に対して、該欠点部を圧着して、欠点孔を圧縮により密閉する水処理用平膜上の欠点補修方法。 - 特許庁

To provide a method of correcting a defect of a color filter, in which a white defect part in a colored layer of the color filter is corrected by selectively making a correction fluid stay in the white defect part so that a color blend or a projection is not generated newly, and to provide an apparatus for correcting the defect of the color filter.例文帳に追加

カラーフィルタの着色層における白欠陥を修正する方法において、修正液を白欠陥部に選択的に残すことができ、従って新たな混色や突起を発生させることの無い修正方法および修正装置を提供すること。 - 特許庁

Further, the 1st image is moved by the virtual movement distance according to the detected pixel defect position and a 2nd pixel defect correction table is generated based upon the 1st image which is moved and the pixel defect position.例文帳に追加

更に、上記検出された画素欠陥位置に基づき上記第１の画像を上記仮想の移動距離だけ移動し、上記移動された第１の画像と上記画素欠陥位置に基いて第２の画素欠陥補正テーブルを生成する。 - 特許庁