「generated defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To eliminate an influence of a pseudo-defect generated by an error in a pattern inspection condition to enhance the sensitivity of pattern inspection.例文帳に追加

パターン検査条件の誤差により発生する疑似欠陥の影響を排除してパターン検査の感度を高めること。 - 特許庁

To provide a diagnostic system for identifying the defect of a device by analyzing a data file generated by a device.例文帳に追加

装置によって生成されたデータファイルを分析することによって、装置の欠陥を識別する診断システムを提供する。 - 特許庁

A position where a defect is generated in an image pickup sensor 101 is identified based on signal levels of the transferred charges D1-Dm.例文帳に追加

転送される電荷Ｄ１〜Ｄｍの信号レベルに基づいて、撮像センサ１０１の不良発生位置を特定する。 - 特許庁

To provide a paper cup appearance inspection device capable of detecting a shape defect generated on a top curled part of a paper cup.例文帳に追加

紙カップのトップカール部に発生する形状不良を検出することができる紙カップ外観検査装置の提供。 - 特許庁

To provide a full mold casting method, with which a carbon defect is not generated and the fall-down of coating is prevented.例文帳に追加

本発明は、炭素欠陥を生じさせず、かつ塗型の崩落を防止したフルモールド鋳造法を提供すること。 - 特許庁

To provide refrigerant piping structure for a refrigeration unit capable of preventing surely a defect of brazing material plugging from being generated.例文帳に追加

ロウ詰まり不良の発生を確実に防止することができる冷凍装置の冷媒配管構造を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which minimizes degradation of perception in the portion where the defect is generated and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

不良発生部位の視感低下を最小化する液晶表示装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

In these UV curing treatment steps, exposure is carried out with 500-2,000 mJ and no alignment defect is generated.例文帳に追加

これらの紫外線硬化処理では、５００〜２０００ｍＪで露光が行われており、配向不良が生じることはない。 - 特許庁

When the resin layer has a two-layered structure wherein the rugged surface is formed at a lower layer part and an upper layer part is flattened, an adhesion defect and a pattern defect of a rugged film are easily generated.例文帳に追加

この樹脂層が、下層部に凹凸を形成し、上層部に平坦化を持たせた二層構造の場合、凹凸膜の密着性およびパターン不良などが発生しやすい。 - 特許庁

To provide a repairing method of a defective part (especially of a wiring for a signal) of a switching element array substrate by which neither a point defect nor a linear defect is generated when display is performed and to provide its substrate structure.例文帳に追加

表示の際に点欠陥も線欠陥も発生させない、スイッチング素子アレイ基板の不良箇所（特に信号用配線の）の修復方法およびその基板構造を提供する。 - 特許庁

In a data analytical mechanism 21 inside an EWS for device analysis, a defect generation part 11 generates in a pseudo manner defect shape data assumed to be generated in the actual semiconductor device.例文帳に追加

データ解析用ＥＷＳ内のデータ解析機構２ａにおいて、不良発生部１１は、実際の半導体デバイスに発生すると想定される不良形状データを擬似的に発生する。 - 特許庁

When a defect exists in the area to be inspected, the scattered light 7 generated by the defect is collected by means of a Schwarzs child optical system 8 and an enlarged image is formed on a two-dimensional image detector 9.例文帳に追加

被検査領域中に欠陥があると、それにより発生する散乱光７を、シュバルツシルト光学系８で捕集し、２次元画像検出器９の上に拡大結像する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a liquid crystal display element in which an antireflective film of excellent quality can be formed while a defect (foreign matter) causing a display defect by deteriorating image quality is less generated.例文帳に追加

画像品質を劣化させ表示欠陥となるディフェクト（異物）の発生の少ない良好な品質の反射防止膜を形成できる液晶表示素子の製造方法を提供する - 特許庁

To obtain an imaging device which can obtain single image data which prevents complete absence of brightness information by recovering brightness information at a position of a defect image element even if a defect image element is generated.例文帳に追加

欠陥画素が生じても、欠陥画素の位置での輝度情報を回復して、輝度情報が完全に欠損することを防いだ単一画像データを取得可能な撮像装置を得る。 - 特許庁

To provide a method for detecting a surface defect capable of detecting precisely the defect generated on the surface of a cast slab when a steel is continuously cast without overlooking during the continuous casting.例文帳に追加

鋼の連続鋳造時に鋳片表面に発生する欠陥を、連続鋳造中に見逃すことなく精度良く検出することのできる表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

Since defect data are composed of a counted value of signals, information amounts are reduced and inconvenience in derivation and transmission of defect data is never generated even when many defects are detected in a short time.例文帳に追加

また、ディフェクトデータは信号のカウント値であるため情報量が少なく、短時間に多数のディフェクトが検出されても、ディフェクトデータの導出や伝送に不具合が生じることがない。 - 特許庁

Because the terahertz light generated by the defect part 2 can be resonated within the defect part 2, the intensity of the terahertz light outputted from the terahertz light source 1 to the outside can be amplified.例文帳に追加

欠陥部２が発生したテラヘルツ光を欠陥部２内で共振させることができるから、テラヘルツ光源１から外部に出力されるテラヘルツ光の強度を増幅することができる。 - 特許庁

Since the brightness inversion parts 8, 9 are generated when the border 6 passes on the irregularity defect 7 on the surface of the test body 1, the irregularity defect 7 can be determined easily as the movement of the images.例文帳に追加

検体１の表面の凹凸欠陥７では、境界６の通過時に明暗反転部８，９が生じるので、画像の動きとして凹凸欠陥７を容易に判断することができる。 - 特許庁

Both a noise generated in the vicinity of a surface of a thin steel plate 1 and a signal generated by an internal defect 8 are detected thereby from the probe 5a.例文帳に追加

これにより、渦流プローブ５ａからは、薄鋼板１の表面近傍から発生するノイズと共に、内部欠陥８によって発生する信号が検出される。 - 特許庁

A defect is detected which is generated in a wafer on which a pattern is formed, and positional relationships between a coordination system for indicating a defect position used by an inspection equipment 1 for outputting the position where the detected defect is generated and a coordination system used in the design data of the pattern are set in multiple ways (steps S3 and S4).例文帳に追加

パターンが形成されたウェハに発生した欠陥を検出し、検出した欠陥の発生位置を出力する検査装置１が使用する欠陥位置を指し示すための座標系と、パターンの設計データにおいて使用される座標系と、の間の位置関係を複数設定する（ステップＳ３、Ｓ４）。 - 特許庁

An opening defect 503 generated by a change of the structure of an austenite-based stainless steel 501 into a sensitive structure 502 is irradiated with a laser beam 4 by scanning, and a molten layer 505 is formed at the opening defect 503 and the defect is closed.例文帳に追加

オーステナイト系ステンレス鋼５０１の組織が鋭敏化組織５０２に変化したことにより発生する開口欠陥５０３に対し、レーザ光４を走査しながら照射することにより、開口欠陥５０３に溶融層５０５を形成して封止する。 - 特許庁

To disclose a semiconductor memory device and a redundancy method of this device, by which a defect of a memory cell generated in a package level can be repaired.例文帳に追加

パッケージレベルで発生したメモリセルの不良をリペアできる半導体メモリ装置及びその装置のリダンダンシ方法を公開する。 - 特許庁

To provide a device for manufacturing a recessed member capable of restraining a defective from being generated, by preventing an uneven thickness defect.例文帳に追加

偏肉不具合を防止することにより、不良品の発生を抑制することができる凹状部材の製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of stably manufacturing a ferroelectric capacitance element in which a coverage defect is not generated when a contact hole is formed.例文帳に追加

コンタクト孔形成時にカバレッジ不良の発生のない、強誘電体容量素子の安定な製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a molding defect from being generated in a molded article, and to sufficiently shorten a molding cycle.例文帳に追加

成形品に成形不良が発生するのを防止することができ、成形サイクルを十分に短くすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a method of repairing a display panel for repairing a defect generated on the display panel during a manufacturing step.例文帳に追加

発明は、製造工程の際に、ディスプレーパネル上に発生される不良をリペアするためのディスプレーパネルのリペア方法に関する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for detecting a defect of tube seal by which no poor seal is generated.例文帳に追加

本発明は、シール不良が生じないようにしたチューブシール不良の検出方法及びチューブシール装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a film inspection device capable of detecting accurately a defect generated on a film during manufacture.例文帳に追加

本発明の目的は、製造時にフィルムに生じた欠陥を精度良く検出できるフィルム検査装置を提供することにある。 - 特許庁

Thus, voltage stress is generated between the bit line BL1 and the peripheral circuit or the like, and a defect is made conspicuous.例文帳に追加

これにより、ビット線ＢＬ１と周辺回路等との間に電圧ストレスを生じさせ不良を顕在化させることができる。 - 特許庁

To prevent defect from being generated which is caused by fluctuation of actual cavity vol. when the end part of a weather strip is molded in a mold.例文帳に追加

ウェザーストリップ２６，２７の端部を型成形する際に、実際のキャビティ容積のばらつきによる不良発生を防止する。 - 特許庁

In particular, to provide a formed part, in which a surface defect part is perfectly hidden by pile decoration even if a surface defect of blow hole, etc., is generated, and having excellent external appearance quality.例文帳に追加

とくに、巣穴などの表面欠陥が発生していたとしても、パイル加飾により表面欠陥の箇所が完全に隠蔽され、大変優れた外観品質を有する成形品を提供する。 - 特許庁

The nitride semiconductor layer 5 has low-defect parts including the lateral growth region and high-defect regions including through transpositions D_1 and D_2 which are generated on the top of the openings 4B and in assembled parts M.例文帳に追加

窒化物半導体層５には、横方向成長領域を含む低欠陥部分と、開口部４Ｂの上部と会合部Ｍに発生する貫通転位Ｄ_1 ，Ｄ_2 を含んだ高欠陥領域とが存在する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detecting device, capable of accurately detecting display defects, such as voltage cause defects which can be generated in image, when a voltage is applied to an image display device.例文帳に追加

画像表示デバイスに電圧を印加した際に画像内に生成し得る電圧要因欠陥等の表示欠陥を精度よく検出できる欠陥検出方法、および欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detector for easily removing pseudo defect images generated by vibration, or the like and for preventing the erroneous detection of pseudo defects.例文帳に追加

本発明は、振動等により生じた擬似欠陥画像を容易に除去することが出来、擬似欠陥の誤検出を防止出来る欠陥検出装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁

A virtual movement distance is specified based upon the detected pixel defect position and a 1st pixel defect correction table is generated based upon the 1st image and the specified virtual movement distance.例文帳に追加

そして、上記検出された画素欠陥位置に基づき仮想の移動距離を特定し、上記第１の画像と上記特定された仮想の移動距離に基づき第１の画素欠陥補正テーブルを生成する。 - 特許庁

To provide a continuous line for correcting a defect in a color filter with which a defect generated in a color filter substrate is efficiently corrected and generation of defective products is suppressed.例文帳に追加

カラーフィルタ基板に生じてしまった欠陥を効率よく修正することができ、また、不良品の発生を極力低く抑えることができるカラーフィルタ欠陥修正一貫ラインを提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an electrooptical device capable of suppressing an appearance defect generated when an insulating film is formed using a liquid phase process and suppressing a display defect caused thereby.例文帳に追加

液相法を用いて絶縁膜を形成する際に発生する外観不良を抑制し、これに起因する表示不良の発生を抑制することができる電気光学装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

At least either of a wafer parameter as a settable inspection information and a sensitivity parameter of a defect inspection device is generated from the design information of a semiconductor wafer, and incorporated into a recipe for defect inspection.例文帳に追加

半導体ウェーハの設計情報から、設定可能な検査情報であるウェーハパラメータと欠陥検査装置の感度パラメータとの少なくともいずれかを生成して欠陥検査のためのレシピに組み込む。 - 特許庁

To eliminate a shadow by an end part of a screw part to reduce confusion with a defect image caused by the generation of the shadow, and to precisely inspect the presence of a defect, even in case of the small defect such as a small bubble, foreign matter and small chip generated in the end part of the screw part.例文帳に追加

ねじ部の端部による影を無くして、その影が生じることによる欠陥画像との紛らわしさを低減し、ねじ部の端部に生ずる小さい気泡や異物や小さい欠けなどの小さい欠陥でも、その有無を精度良く検査できるようにする。 - 特許庁

A crystal defect formed in the drift region 4 includes a crystal defect of a trap level generated by performing termination processing to the crystal defect formed in a region of <0.2 eV in an energy difference from the center of a band gap.例文帳に追加

ドリフト領域４内に形成されている結晶欠陥には、バンドギャップの中心からのエネルギー差が０．２ｅＶ未満の領域内に形成されている結晶欠陥を終端処理することにより生じるトラップ準位の結晶欠陥が含まれている。 - 特許庁

Thus, even when an alignment defect is generated by these lock members 10 and 11, since most of alignment defects generate in the non-pixel area, the recognition as the image defect is reduced and as a result, the generation of the image defect can be suppressed.例文帳に追加

したがって、これらの係止部材１０，１１によって配向欠陥が発生したとしても、ほとんどの配向欠陥は非画素領域Ｃにて生じることから画像欠陥として認識されることは少なく、結果的に画像欠陥の発生を抑制できる。 - 特許庁

When any defect is generated in the poster, the posting status management server extracts the poster whose defect has been generated and the information of the reading device by using the information transmitted by the reading device and the poster status database, and notifies a status monitor terminal of the result.例文帳に追加

掲出物に不備が発生した場合には、掲出状態管理サーバは読取装置が送信する情報と掲出物状態データデータベースを利用して不備が発生した掲出物及び読取装置の情報を抽出し、状態監視端末に通知する。 - 特許庁

One method includes classifying defects on a specimen using inspection data generated for the specimen combined with defect review data generated for the specimen.例文帳に追加

一方法は、試料のために生み出された検査データを、この試料のために生み出された欠陥レビューデータと組み合わせたものを使用して、この試料上の欠陥を分類することを含む。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for detecting the disturbance of a cycle generated in the cyclic structure of a semiconductor device by image comparison.例文帳に追加

半導体装置の周期的な構造に生じる周期の乱れを画像比較によって検出する欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for repair work guarantee capable of inspecting efficiently even if a defect is newly generated by repair of a defective component.例文帳に追加

不具合部品の改修により新たに不具合が生じても効率的に検査できる改修作業保証装置を提供する。 - 特許庁