| 意味 | 例文 |
precision testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 211件
The layout of the test pattern is optimized such that the print medium may be consumed at the minimum when printing the test pattern or the maximal measurement precision may be obtained from the test pattern.例文帳に追加
テストパターンのレイアウトはテストパターンのプリントで可能な限り少ない量のプリント媒体しか消費しないように、あるいはテストパターンから得られる測定結果の精度を最大にするように最適化する。 - 特許庁
To provide a load testing system capable of performing a load test of a skeleton inexpensively with high precision.例文帳に追加
低コストでかつ高精度で躯体の載荷試験を行うことができる載荷試験システムを提供すること。 - 特許庁
To provide an optical reagent format for small volume samples improving the efficiency and precision of an optical sample test.例文帳に追加
光学試料試験の効率及び精度を高め得る少量試料用光学試薬フォーマツトを提供する。 - 特許庁
To shorten adjustment time of IQ offset of a quadrature modulator, to attain higher precision and to reduce test costs.例文帳に追加
直交変調器のIQオフセットの調整時間を短縮し、高精度化を達成し、テストコストを低減する。 - 特許庁
To reduce time and cost relating to the testing process by improving the uniformity and the precision of the burn-in test conditions and widening the testing items executable during a burn-in test.例文帳に追加
バーンイン試験条件の均一性と精度を高め、バーンイン試験中に行うことのできる試験項目の幅を広げ、検査工程に係る時間と費用を削減する。 - 特許庁
To provide a test facilitation circuit capable of carrying out a desired test for a semiconductor device outputting an analog signal in response to parallel data, and specifically capable of carrying out the test using a digitizer of low precision.例文帳に追加
パラレルデータに応じたアナログ信号を出力する半導体装置の所望の試験を容易に行う、具体的には、精度が低いデジタイザを使用して行うことを可能とする試験容易化回路を実現する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus which can perform a test with high precision, without causing decreases in testing accuracy, even when performing a test of a DUT having different clock delays for each application of a test signal.例文帳に追加
試験信号を印加する度にクロック遅延が異なるDUTを試験する場合であっても、試験精度の低下を招くことなく高い精度で試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To obtain an ultrasonic flaw detector constituted so as to discriminate between the echo from the flaw present in the vicinity of the surface of a test target and the echo from the flaw extending into the test target from the surface of the test target to achieve the enhancement of the precision of an inspection result.例文帳に追加
試験体表面近傍にあるきずからのエコーと、試験体表面から試験体内部へ延びているきずからのエコーを識別し、検査結果の精度向上を図った超音波探傷装置を得る。 - 特許庁
To provide a semiconductor test apparatus capable of diagnosing timing precision in a short time without using a diagnostic board.例文帳に追加
診断ボードを使用せずに短時間でタイミング精度診断をすることが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
To provide a supporting device for making possible to conduct a high precision dynamic balancing test for a rotor without a journal.例文帳に追加
ジャーナルを備えていないロータに対し、高精度の動釣合い試験ができるようにする支持装置を提供すること。 - 特許庁
To efficiently perform a comparative test with high-precision concerning an object article which is not observed as a whole only by one plane.例文帳に追加
1平面では全体の観察が行えない対象物品について、高精度で高能率な比較検定を行う。 - 特許庁
Precision is not sacrificed because the optimum waiting time can be set automatically, and the test time is shortened.例文帳に追加
自動的に最適な待ち時間を設定できるので、精度を犠牲にすることなく、試験時間を短縮することができる。 - 特許庁
To provide a semiconductor device in which large current characteristic of high precision can be obtained by a probe test using a low current.例文帳に追加
低電流によるプローブテストにより高精度の大電流特性を得ることのできる半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide an optical time-domain reflectometry (OTDR) system capable of performing a precision OTDR test by suppressing the fading noise.例文帳に追加
Fading Noiseを十分に抑えて、精度の高いOTDR試験を行うことのできるOTDR装置を提供する。 - 特許庁
To detect a load functioning on a test piece to be broken by an impact, with high precision by suppressing mixing of a noise.例文帳に追加
衝撃によって破壊される試験片60に作用する荷重を、ノイズの混入を抑えて高い精度で検出する。 - 特許庁
To eliminate the use of positioning activity during test, while making it possible to inspect defects at marginal part of glass plate with high precision.例文帳に追加
ガラス板縁部における欠点を高精度に検査することを可能としつつ、検査時の位置決め作業を不要とする。 - 特許庁
To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.例文帳に追加
プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁
The light emission substrate 1003 is provided with: a pixel region 110 having bank regions 220 and light emission regions 230 divided by the bank regions 220; a droplet material spotting precision test region 210 disposed besides the pixel region 110; function layers disposed on the light emission regions 230; and a spotting precision test layer 226 disposed on the droplet material spotting precision test region 210.例文帳に追加
本発明の発光用基板1003は、バンク領域220およびバンク領域220によって区画された発光領域230を有する画素領域110と、画素領域110以外に設けられた着弾精度試験用領域210と、発光領域230に設けられた機能層と、着弾精度試験用領域210に設けられた着弾精度試験用層226と、を備える。 - 特許庁
To reduce test time by reducing idle time generated by warm-up when starting a semiconductor test equipment, and to improve test yields by preventing measurement precision from being deteriorated by a temperature drift.例文帳に追加
半導体試験装置の起動時におけるウォームアップによって発生する無駄な時間を短縮することで試験時間の短縮を図ると共に、温度ドリフトに起因する測定精度の悪化を防止し試験歩留まりの改善を図る。 - 特許庁
To conduct a tolerance against identical code succession with a clear criterion and high measurement precision without using any complicated circuit in an identical code succession tolerance testing device which conducts a test with test data including a specific identical code succession tolerance test pattern.例文帳に追加
所定の同符号連続耐力テストパターンを含む試験データで試験を行う同符号連続耐力試験装置に関し、判定基準が明確であり測定精度の高い同符号連続耐力試験を複雑な回路を用いずに行う。 - 特許庁
A target test piece is fixed, and a flight member is discharged at a predetermined speed from a high-precision flight member discharging device which is to collide with the test piece for measuring the time history of the deformation quantities of the respective parts of the test piece at collision.例文帳に追加
対象とする試験片を固定し、飛翔体を高精度飛翔体発射装置から前記試験片に所定速度で発射して衝突させ、衝突時の試験片各部の変形量の時刻歴を計測する。 - 特許庁
To provide a test method of side slip or the like of a vehicle and its testing device having a simple formation and a small size, capable of improving test precision by releasing before the test an initial stress of wheels loaded on a test roller, being manufactured inexpensively, and improving its service life.例文帳に追加
テスト用ローラに乗り込んだ車輪の初期応力を試験前に解放し、試験精度の向上を図るとともに、構成が簡単で小形かつ安価に製作でき、その寿命の向上を図れるようにした、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁
To provide an air cleaning device and its test system capable of cleaning the air, and executing a leakage test having high precision and reliability on the cleaning state of the air.例文帳に追加
空気を浄化することができ、かつ空気を浄化する状態について精度及び信頼性の高いリークテストを実施することができる空気浄化装置及びその試験システムを提供する。 - 特許庁
To provide a peel testing apparatus for performing 90° peel test with high precision at a low cost and capable of corresponding, even in another peel test that includes a new testing method which has not been developed thus far.例文帳に追加
90度剥剥離試験を低コストで高精度に行うと共に、従来にない新たな試験方法を含むその他の剥離試験にも対応可能な剥離試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid phase-type thermal shock test device capable of eliminating the fluctuation of thermal stress to add to an object to be measured and implementing an original thermal shock test with high precision and reproducibility.例文帳に追加
被測定対象物に加える熱ストレスの変動を無くし、本来の熱衝撃試験を正確で且つ高い再現性で実施できる液相式熱衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a peel testing apparatus performing a 90° peel test with high precision at low cost and capable of corresponding, even for another peel test, including a new testing method which has not been developed thus far.例文帳に追加
90度剥剥離試験を低コストで高精度に行うと共に、従来にない新たな試験方法を含むその他の剥離試験にも対応可能な剥離試験装置を提供する。 - 特許庁
To realize the same display quality as that of a plasma display panel in a product state as a display device, and carry out a test with high precision in carrying out a lighting test of the plasma display panel.例文帳に追加
プラズマディスプレイパネルの点灯検査を行う際に、表示装置として製品化された状態のプラズマディスプレイパネルと同等の表示品位を実現し、高精度の検査を行うようにする。 - 特許庁
To improve precision of an operation test by increasing Coulomb force that can be generated by simply adding an antiphase oscillation circuit.例文帳に追加
逆位相発振回路を付加するだけで発生できるクーロン力を増大させて動作試験の精度を向上させること。 - 特許庁
To provide a delay fault simulation method capable of evaluating the quality of a delay fault test sequence with a higher precision.例文帳に追加
遅延故障検査系列の品質をより高精度に評価することのできる遅延故障シミュレーション方法を提供する。 - 特許庁
To provide a wiring board for IC test which performs electrical inspection at precision with a narrow (small) pitch and small diameter pad.例文帳に追加
狭(小)ピッチ・小径パッドを対象とした電気検査を精度よく行うことができるIC試験用配線板の提供。 - 特許庁
To provide a tire failure detector of excellent precision capable of enhancing workability when changing setting for a test tire.例文帳に追加
検知精度がよく、かつ試験タイヤの設定変更時の作業性を向上することが可能なタイヤ故障検知装置を提供する。 - 特許庁
To enhance measuring precision for an electric characteristic test, without bringing two contacts into contact with chip electrodes of a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置のチップ電極に2本のコンタクトを接触させずに電気的特性試験の測定精度を向上させる。 - 特許庁
To improve the precision of an airtightness and leakage test by preventing pressure variation with temperature from being misdecided.例文帳に追加
温度変化による圧力変動の誤判定を防止して、気密・漏洩試験の精度を向上できる自記圧力計を提供する。 - 特許庁
To provide a quick and precise recording power adjusting method by which optimal recording power can be obtained with high precision by a single test write operation.例文帳に追加
1回の試し書きで高い精度で最適記録パワーが得られ、短時間且つ高精度の記録パワー調整方法を提供する。 - 特許庁
To provide a material characteristic evaluation device capable of enhancing evaluation precision in material characteristic evaluation such as a hardness test.例文帳に追加
硬さ試験等の材料特性評価における評価精度をより向上させることができる材料特性評価装置を提供する。 - 特許庁
To enhance a judging precision of an adjustment test pattern in adjustment of a tilting amount or alignment of an ink delivering section in a printing apparatus.例文帳に追加
印刷装置におけるインク吐出部の傾き量又はアライメントの調整において、調整用テストパターンの判定精度を高める。 - 特許庁
To provide a D/A converter and an operation testing method thereof that can shorten a test time without using a high-precision voltmeter.例文帳に追加
高精度な電圧計を使用することなくテスト時間の短縮を図ることができるD/Aコンバータ及びその動作テスト方法を得る。 - 特許庁
To measure the transmissivity distribution of a lens under test quickly and with high precision in a transmissivity measuring method and apparatus.例文帳に追加
透過率測定方法および装置において、被検レンズの透過率分布を迅速かつ高精度に測定することができるようにする。 - 特許庁
COLOR FILTER AND ITS MANUFACTURING METHOD, LIQUID DROP STICKING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR THE COLOR FILTER AND ITS MANUFACTURING METHOD, SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION AND ITS MANUFACTURING METHOD, LIQUID DROP MATERIAL STICKING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR THE SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION AND ITS MANUFACTURING METHOD, MEASURING METHOD FOR LIQUID DROP MATERIAL STICKING PRECISION, ELECTROOPTIC DEVICE, ELECTRONIC EQUIPMENT, AND METHOD AND DEVICE FOR FILMING例文帳に追加
カラーフィルタおよびその製造方法、カラーフィルタ用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置、電子機器、成膜方法並びに成膜装置 - 特許庁
Furthermore, the slave unit 20 executes an RSSI test, transmits its result to the master unit 10 by radio and raises precision of the roll call by receiving an RSSI test result by the master unit 10.例文帳に追加
さらにスレーブ装置20はRSSI試験を実施してその結果をマスター装置10に無線送信し、マスター装置10でRSSI試験結果を受信することにより点呼の精度を高める。 - 特許庁
Therefore, without the need for manufacturing the test device (an iron bird) imitating the actual machine for testing the stiffness or the durability of a steering system of the aircraft, a test with high precision can be inexpensively carried out.例文帳に追加
これにより、飛行機の操縦系統の剛性や耐久性を試験するための実機を模した試験装置(アイアンバード)を作成することなく、低コストで高精度の試験を行うことができる。 - 特許庁
To provide a charged particle beam lithography method and a charged particle beam lithography apparatus, capable of performing lithography in a desired position of a test piece, by a method which performs height measurement of the surface of the test piece with high precision reducing the effect of an offset voltage of a light receiving element, and by performing the height measurement of the surface of the test piece with high precision.例文帳に追加
受光素子のオフセット電圧の影響を低減して、高精度で試料表面の高さ測定を行うことのできる方法と、高精度で試料表面の高さ測定を行うことにより、試料の所望の位置に描画することのできる荷電粒子ビーム描画方法および荷電粒子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁
To easily produce a test piece for calibration which can stably perform the calibration of a seam defect inspection machine with high precision.例文帳に追加
巻締め不良検査機の較正を高精度でかつ安定的に行うことを可能とする較正用試験片を容易に作成できるようにする。 - 特許庁
According to such a device test method, the electrical characteristics of the semiconductor device are tested with high precision without damaging the semiconductor device.例文帳に追加
このような素子試験方法によれば、半導体素子に損傷が与えられず、且つ半導体素子の電気的特性が高精度に試験される。 - 特許庁
To optimize the precision laser power, when performing disk-at-once recording by setting up a test recording area close to the recording position.例文帳に追加
ディスク・アット・ワンスによる記録において、記録場所に近接して試し書き領域を設定し、精度の良い記録レーザーパワーの最適化を行う。 - 特許庁
To provide a biological test device high in detection precision by separating a necessary biological signal from biological signals generated from a plurality of generation sources.例文帳に追加
複数の発生源からなる生体信号から必要な生体信号を分離することにより検出精度の高い生体検査装置を得る。 - 特許庁
To provide a test instrument for an optical element package which enable easy, efficient test operation and can perform high-precision testing, evaluation, or measurement by transmitting a high-frequency signal from a test signal generator as it is to an optical element package to be tested.例文帳に追加
試験操作を簡単かつ能率的に行え、試験信号発生器からの高周波試験信号を、そっくりそのまま、試験対象の光素子パッケージに伝送して、高精度の試験評価又は測定ができる、光素子パッケージの試験器具を提供すること。 - 特許庁
LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, METHOD OF MEASURING DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION, ELECTROOPTICAL DEVICE AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加
発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器 - 特許庁
To provide a composition for applying to a fitness test that supplies an accurate film thickness so as to find out a high-precision occlusal surface height in preparing a dental prosthesis and can be quickly removed after the test.例文帳に追加
歯科用補綴物作製時において精度の高い咬合面高さを得るために正確な皮膜厚さを提供することが可能であり、試適後には速やかに取り除くことが可能な適合試適用組成物を提供する。 - 特許庁
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