「process Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a visual inspection method and a visual inspection device for a tape carrier for a semiconductor device executing visual inspection on a line of a production process, without increasing the number of workers and an in-process inventory.例文帳に追加

作業人員や仕掛在庫を増やすことなく、製造工程ライン中で外観検査が実施できるようにした半導体装置用テープキャリアの外観検査方法および外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

In a board inspection method, various information generated in an inspection process is stored in inspection results database 21 of a management server 2 together with good/failure determination results, and an image used in an automatic visual inspection is stored in an image database 22.例文帳に追加

管理サーバ２の検査結果データベース２１には、良／不良の判定結果とともに検査の過程で生じた各種情報が蓄積され、画像データベース２２には、自動外観検査に使用された画像が蓄積される。 - 特許庁

To provide a tablet inspection device and a PTP packing machine capable of rapidly improving inspection accuracy and inspection efficiency in an appearance inspection of tablets at a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の外観検査に際し、検査精度や検査効率の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection method and surface inspection device capable of improving the accuracy for detecting a defect such as unevenness existing in a surface of an inspecting object without complicating the inspection process and the constitution of the inspection device.例文帳に追加

検査工程および検査装置の構成を複雑化させることなく、検査対象物の表面に存在する凹凸などの欠陥を検出する精度を向上させることができる表面検査方法および表面検査装置を提供する - 特許庁

To provide an inspection system for time sequentially displaying a series of medical treatment process and inspection result of a patient, and for performing the unitary confirmation of the inspection result history or medical treatment effect of the patient even when a sudden inspection order is issued.例文帳に追加

突然の検査オーダが発行された場合にも、患者の一連の治療経過と検査結果とを時系列に表示し、患者の検査結果履歴や治療効果を一元的に確認できる検査システムを提供。 - 特許庁

This semiconductor element 101 is equipped with a nonvolatile storage element 102 for holding writably and readably manufacture data in each manufacturing process of the semiconductor element, inspection data at the probe inspection time, and inspection data at the shipping inspection time.例文帳に追加

半導体素子の製造工程ごとの製造データ、プローブ検査時の検査データおよび出荷検査時の検査データを書き込み読み出し可能に保持する不揮発性記憶素子１０２を半導体素子１０１に備える。 - 特許庁

To provide a program execution method and programming environment for an inspection device, allowing intelligible expression of a flow of processing in an inspection process and contents of inspection to an individual inspection target, and allowing easy execution and editing.例文帳に追加

検査工程の処理の流れと、個々の検査対象に対する検査の内容をわかりやすく表現し、容易に実行及び編集することが可能な検査装置のプログラム実行方式及びプログラミング環境を提供する。 - 特許庁

If the server determines that the image inspection process is not executed yet, the server transmits an image inspection permission signal for permitting the start of image inspection and the medical image data DT1 to the image inspection device 3.例文帳に追加

このとき、未検像であると判定した場合には、検像の開始を許可する検像許可信号と医用画像データＤＴ１とを検像装置３に送信する。 - 特許庁

To provide a solder inspection method, a board inspection system, and a solder inspection machine that highly accurately distinguish whether the condition of solder is proper or not by applying a different inspection criterion depending on the condition of a portion to be inspected as of before a reflow process is performed.例文帳に追加

リフロー工程を実施する前の検査対象部位の状態の違いによって異なる検査基準を適用することにより、はんだ付け状態の適否を精度良く見分ける。 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND INSPECTION SYSTEM FOR TIRE MOLD SIDE PLATE, DECISION METHOD AND DECISION SYSTEM FOR THE TIRE MOLD SIDE PLATE, AND INSPECTION METHOD AND INSPECTION SYSTEM FOR TIRE MOLD PROCESSING PROCESS例文帳に追加

タイヤ金型サイドプレートの検査方法および検査装置、タイヤ金型サイドプレート種類の判定方法および判定装置、タイヤ金型加工工程の検査方法および検査装置 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suppressing complication of processing in inspection, and improving inspection accuracy, while preventing a smear phenomenon, in defect inspection in a manufacturing process of a PTP sheet, and a PTP packaging machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良検査に際し、スミア現象を防止しつつ、検査に際しての処理の複雑化を抑制し、検査精度の向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device easily and quickly operated by hand in the field or on the site of a manufacturing process and efficiently and accurately carrying out an ultrasonic inspection of an inspection object, and to provide an ultrasonic probe device and an ultrasonic inspection method.例文帳に追加

フィールドや製造工程の現場で簡単かつ手軽に手動操作でき、検査対象物の超音波検査を効率的よく正確に実施できる超音波検査装置、超音波プローブ装置、超音波検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method, performing an inspection for the process confirmation for a structure in a micro-machine, the inspection for electric characteristic and the inspection for mechanical characteristic in non-contact state.例文帳に追加

マイクロマシンにおける構造体の工程確認の検査、電気特性の検査及び機械特性の検査を非接触で行う検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

This waste water treatment system comprises a pretreatment process 100, a biological treatment process 101, a microbial culture process 102, a filtration treatment process 103, a membrane treatment process 104, and an inspection process 105.例文帳に追加

廃水処理システムは、前処理工程１００、生物処理工程１０１、微生物培養工程１０２、濾過処理工程１０３、膜処理工程１０４、検査工程１０５とから構成されている。 - 特許庁

The waste water treatment system comprises a pretreatment process 100, a biological treatment process 101, a microorganism culture process 102, a filter treatment process 103, a membrane treatment process 104, and an inspection process 105.例文帳に追加

廃水処理システムは、前処理工程１００、生物処理工程１０１、微生物培養工程１０２、濾過処理工程１０３、膜処理工程１０４、検査工程１０５とから構成されている。 - 特許庁

In a minute defect inspection process, an inspection bias voltage is applied between the anode electrode 11 and the insulation breakdown detecting electrode 31.例文帳に追加

そして，微小欠陥の検査では，アノード電極１１と破壊検出電極３１との間に検査バイアスを印加する。 - 特許庁

The receiver outputs signals synchronously with an inspection process step, and displays the positions of the containers based on a fixed inspection position.例文帳に追加

レシーバは検査手順のステップと同調して信号を発生し、固定検査位置に対する容器の位置を表示するようになっている。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method capable of performing a plurality of inspections continuously and accurately with a simple process and a simple constitution.例文帳に追加

簡単な工程及び構成で、複数の検査を連続して正確に行うことができる検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

The wafer inspection device performs inspection to a wafer and a chip to be inspected from the skip judging result in the process C.例文帳に追加

ウェハ検査装置はスキップ判定結果から検査すべきウェハ、チップに対して検査を実施する（工程ｃ）。 - 特許庁

Subsequently in the wiring process, the visual inspection system 3 performs visual inspection every time when a wiring layer is formed by a wiring pattern.例文帳に追加

続いて、配線工程において、配線パターンによる配線層を形成する毎に、外観検査装置３による外観検査を行う。 - 特許庁

The defective part inspection and the ion conductivity inspection can be selected by turning the connection of the electric circuit on or off, and can be conducted in a continuous process.例文帳に追加

欠陥部検査とイオン伝導性検査は、電気回路の接続をオフまたはオンすることで選択でき、また連続する工程で検査できる。 - 特許庁

When a serviceman instructs printing with an inspection command by a panel operation, it is also judged that the inspection process is under operation.例文帳に追加

また、サービスマンがパネル操作により、検査コマンドで印刷を指示した場合も、検査工程であると判断する。 - 特許庁

To realize a treatment device before wafer inspection capable of improving analysis precision further by devising a drying means used in a treatment process before inspection.例文帳に追加

検査前処理工程で行われる乾燥手段を工夫して、分析精度を更に向上できるようにしたウエハ検査前処理装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and a semiconductor inspection method for accurately estimating the characteristics of defects generated in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造工程で発生した欠陥の特性を正確に推定することのできる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate storing container for improving productivity in a substrate inspection process, and also to provide a substrate inspection apparatus including the substrate storing container.例文帳に追加

基板検査工程の生産性を向上させる基板収納容器と、これを具備した基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a bag body inspection apparatus and a method for manufacturing a bag body, which reduce a time required for an inspection process.例文帳に追加

検査工程で要する時間を短くすることができる袋体検査装置及び袋体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a plating inspection apparatus for performing a stable inspection by managing a trend of plating quality in a plating manufacturing process.例文帳に追加

めっき製造工程におけるめっき品質を傾向管理することによって、安定した検査を行うめっき検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR VISUAL INSPECTION OF ELECTRONIC COMPONENTS AND RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR ENABLING COMPUTER TO PERFORM VISUAL INSPECTION PROCESS RECORDED THEREIN例文帳に追加

電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

Thus, the false defects can be accurately determined, the false defects detected in an inspection process are reduced, and hence the accuracy and efficiency of the inspection are improved.例文帳に追加

これにより、擬似欠陥が精度良く判別され、検査過程で検出される擬似欠陥が低減されて、検査の高精度化及び効率化が図られる。 - 特許庁

To provide an inspection system including a single rejector and a number of inspection machines using a pass/fail judgement process.例文帳に追加

単一の廃棄装置と合否判定プロセスを用いる多数の検査用機械とからなる検査システムを提供する。 - 特許庁

An inspection area detection signal showing a plurality of inspection areas to be inspected is formed in the moving process of the bonded state detection sensor 3.例文帳に追加

貼付状態検出用センサ３が移動する過程において検査実施すべき複数の検査エリアを示す検査エリア検出信号を生成する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of discriminating surface foreign matter, back foreign matter, inside foreign matter and a defective pixel with less inspection process time than hitherto.例文帳に追加

従来よりも少ない検査タクトで、表面異物と裏面異物と内部異物と不良画素とを識別することが可能な検査装置を実現する。 - 特許庁

When the order of the inspection product Q is not a divisor of the order (q), inspection failure is outputted and the process is ended.例文帳に追加

検査積Ｑの位数が位数ｑの約数でないときは検査不合格の旨を出力して処理を終了する。 - 特許庁

Furthermore, the sure inspection for existence of amalgam can be carried out in a short period of time without providing the additional inspection process period.例文帳に追加

さらに、検査工程時間を新たに設けることなく短時間で確実にアマルガムの有無を検査することができる。 - 特許庁

In the non-inspection mode (S29 and S30), the equalization process whose switching is instructed in the inspection mode is applied to the signal string.例文帳に追加

非検査モード（Ｓ２９、Ｓ３０）においては、検査モードにおいて切り替えが指示された等化処理が信号列に施される。 - 特許庁

To provide an inspection device for a three-dimensional image display device which can facilitate the display quality inspection of a three-dimensional image in its manufacturing process.例文帳に追加

製造過程での三次元画像の表示品位検査を容易化することができる三次元画像表示装置の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron-beam wafer inspection device capable of shortening a time required for subjecting a wafer to an inspection process.例文帳に追加

１個のウエハの検査処理に要する時間を短くすることができる電子線式ウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize an inspection device capable of obtaining stable results by automatizing the inspection process including organoleptic tests.例文帳に追加

官能検査を含む検査工程を自動化し、安定した結果をえることができる検査装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To simplify the process for inspecting a glass substrate used for a flat-panel display, and to enhance inspection accuracy and inspection speed.例文帳に追加

平面ディスプレーに用いられるガラス基板の検査工程を単純化させ、検査精密度及び検査速度を向上させることにある。 - 特許庁

A calculating part 117 reflects the same fault information in the auxiliary inspection question to complete an inspection question in the relevant organization process.例文帳に追加

計算部１１７において、同類不具合情報を予備監査質問に反映させて当該組織プロセスにおける監査質問を完成させる。 - 特許庁

This makes the probe inspection and the burn-in test executable at once to reduce the inspection process, compared with the conventional one.例文帳に追加

これにより、プローブ検査とバーンイン試験を同時に実施可能であり、従来に比較して検査工程の削減が可能である。 - 特許庁

To improve the efficiency of comprehensive operation by continuously inspecting workpieces which have reached an inspection means without interrupting an inspection process.例文帳に追加

検査手段に到達したワークに対し、検査工程を中断することなく連続的に検査を行なって、全体としての作業効率の向上を図る。 - 特許庁

In an electric inspection process S30, a probe is brought into contact with the main area part 21 and probe area part 44 to perform open circuit/shorted circuit inspection.例文帳に追加

電気検査工程Ｓ３０では、主領域部２１と探針領域部４４にプローブを接触させてオープン・ショート検査が行われる。 - 特許庁

To provide a fluid-tight inspection device having fluid-tight evaluation due to exhaust and fluid leakage inspection of piping in a fluid filling process after piping repair.例文帳に追加

配管補修後の充液過程における配管の排気及び漏液検査による液密性の評価が可能な液密性検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection apparatus capable of being easily and manually operated at the site of a manufacturing process and efficiently performing ultrasonic flaw detection inspection.例文帳に追加

製造工程の現場で簡単に手動操作でき、超音波探傷検査を効率的行なうことができる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁