「sample of」に関連した英語例文の一覧と使い方(95ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a new method and a device capable of observing with sufficient accuracy an internal defect or an internal structure of a sample without depending on the thickness or the material king of the sample.例文帳に追加

試料の厚さや材料種類などに依存することなく、前記試料の内部欠陥や内部構造を十分な精度で観察することができる新規な方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In the kit, a sample migration body 210 which comprises at least a sample introduction part 202 and a judgment part 204 is contained, a plurality of kinds of fixed- phase antibodies are contained, and at least one kind of a mobile-phase antibody is contained.例文帳に追加

このキットは、少なくとも試料導入部と判定部とを有する試料泳動体と、複数種類の固定相抗体および少なくとも１種類の移動相抗体とを包含する。 - 特許庁

With a ratio between the filterability of the sample water and the filterability of the clarified water at that time, the pollution degree for the separation membrane of the membrane separation device due to the water-soluble polymers contained in the sample water is evaluated.例文帳に追加

この時の試料水の濾過性と清澄水の濾過性との比をもって、試料水に含まれる水溶性高分子による膜分離装置の分離膜に対する汚染度を評価する。 - 特許庁

First, a commercial PCB and/or a standard sample are measured by using a gas chromatographic system for actual measurement used for measurement of an unknown sample, to thereby measure the retention times of the proper number of the PCB isomers.例文帳に追加

まず、未知の試料の測定に用いる実測定用ガスクロマトグラフィシステムを用いて、コマーシャルＰＣＢ及び／または標準試料を測定して、適宜な数のＰＣＢ異性体の保持時間を測定する。 - 特許庁

A plurality of primary beams are formed from a single electron source, and charge of a sample is controlled by at least one primary beam, and at the same time, inspection of the sample is conducted by using another primary beam.例文帳に追加

単一の電子源から複数本の一次ビームを形成し、少なくとも一本の一次ビームで試料の帯電を制御し、同時に、これとは別の一次ビームを用いて試料の検査を行う。 - 特許庁

To provide an analyzing apparatus capable of analyzing the stereoscopic structure of a sample such as a bio-molecule in a solvent such as water even when the sample is fixed on the surface of a light reflecting substrate.例文帳に追加

生体分子等の試料が光を反射する基板の表面に固定されている場合でも、水等の溶媒中における試料の立体構造を解析可能な分析装置を提供すること。 - 特許庁

To improve operability of an operator in relation to a control system and a control method of an electron beam device for monitoring an image of a sample by radiating an electron beam to the sample.例文帳に追加

本発明は、電子ビームを試料に照射しその画像を観察する電子ビーム装置の制御システムおよび電子ビーム装置の制御方法に関し、操作者の操作性を向上することを目的とする。 - 特許庁

A table 26 is provided in which a plurality of sets of combinations of observation magnification and interlaced scanning line number under which charges are not generated on a sample when scanning by electron beam on the sample with the observation magnification are stored.例文帳に追加

観察倍率とその観察倍率で試料上を電子ビーム走査した時に試料に帯電が発生しない飛び越し走査線数の組み合わせが複数組記憶されたテーブル２６を設ける。 - 特許庁

The imaging method includes acquiring a plurality of images corresponding to overlapping fields of view at a plurality of sample distances using an imaging device having an objective and a stage for holding a sample to be imaged.例文帳に追加

本方法は、対物レンズと、撮像される試料を保持する台とを有する撮像装置を使用して複数の試料距離で重複する視野に対応する複数の画像を収集することを含む。 - 特許庁

In order to reconstruct the boundary from of a sample structure constructed by piling up several kinds of materials, the borderline of the sample structure extracted from the TEM images is inversely projected on a 3D space.例文帳に追加

数種の材料を積み重ねて構築された試料構造の界面形状再構築を目的とし、TEM像から抽出したの試料構造の境界線を３次元空間に逆投影する。 - 特許庁

This method measures the locations of alignment marks created on first and second sample shot groups of a substrate, calculates the locations of all shots including the first and second sample shot groups and settles them for substrate exposure.例文帳に追加

基板の第１及び第２のサンプルショット群に形成されたアライメントマークの位置を計測し、第１及び第２のサンプルショット群を含む全ショットの位置を算出、位置決めして、基板を露光する。 - 特許庁

To provide a pretreatment system for preventing lowering of the pretreatment capability of a sample, such as dilution of a sample, in a clinical test that uses biological samples, and also to provide an operation method therefor.例文帳に追加

生体試料を用いた臨床検査の分野において、サンプルの希釈をはじめとするサンプル前処理の処理能力を低下させないための前処理システムおよびその動作方法を提供する。 - 特許庁

On the basis of equally distributed sample output points among the sample output points SOP, a plurality of representative input points RIG in the RGB color space of the input image data are selected.例文帳に追加

そして、サンプル出力点ＳＯＰのうち均等に分布するものに基づいて、入力画像データＩＧＤのＲＧＢ色空間における複数の代表入力点ＲＩＧを選択する。 - 特許庁

To provide a sensor chip of SPR angle detection device for accurately detecting a resonance angle by preventing air from being mixed even in the case of a small amount of sample and supplying the sample to a glass substrate.例文帳に追加

少量の試料であっても空気の混入を防止してガラス基板上に供給し、その共鳴角を正確に検出することができるＳＰＲ検出装置のセンサーチップの提供。 - 特許庁

By installing one vacuum valve 7 in the way of exhaust route 6 from an exhaust pump 5 to a sample chamber 3, the degree of vacuum of the sample chamber 3 and an electron gun chamber 1 is individually adjusted.例文帳に追加

本発明は排気ポンプ５から試料室３への排気経路６の途中に一つの真空バルブ７を設けることで試料室３と電子銃室１の真空度を個別に調整するものである。 - 特許庁

This TEM FIB sample of a solid material is made very thin by irradiation of a sample surface alternately on its both sides with an ion beam in a step of a post-treatment, without being contaminated and destructed.例文帳に追加

固体材料のＴＥＭ ＦＩＢ試料は、汚染および破壊されることなく、後続処理のステップのイオンビームを用いた試料表面の交互の側での打込みによって、非常に薄くされる。 - 特許庁

Then, the intensity of the scattered light 7 is detected by the scattered light intensity detector 46, and the position of the sample 2 is detected from an image forming position (light receiving position) of the S-polarized light 7s by the sample position detector 49.例文帳に追加

そして、散乱光強度検出器４６では散乱光７の強度を検出し、試料位置検出器４９ではＳ偏光７ｓの結像位置（受光位置）から、試料２の位置を検出する。 - 特許庁

To provide a micro-part X-ray measuring device capable of stably measuring a component of a micro-part even if the element of a substrate (base) with a sample to be mounted thereon and an element contained in the sample are identical.例文帳に追加

試料が搭載される基板（基材）の元素と、試料に含まれる元素が同一でも、安定して、微小部分の成分計測が可能な微小部Ｘ線計測装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic analyzer capable of securing easily proper dispensation accuracy, reducing a sample dummy, and preventing complication of sucking/discharging operation of a sample.例文帳に追加

適切な分注確度を確保することが容易となり、試料ダミーを少量とすることが可能となり、また、試料の吸引及び吐出動作の複雑化を防止することが可能な自動分析装置を提供する。 - 特許庁

The whole bottom face of the TEM sample 3 contacts with the attaching face 2a, since both the bottom face of the TEM sample 3 and the attaching face 2a of the attaching table la are inclined by the same angle.例文帳に追加

このとき、ＴＥＭ試料３の底面及び取付台１ａの取付面２ａがともに同角度に傾斜しているため、ＴＥＭ試料３の底面の全面が取付面２ａに接触している。 - 特許庁

To provide a charged particle beam apparatus capable of observing and evaluating a surface of a sample in a state free from charge-up over the whole sample, and to provide a manufacturing method of a semiconductor device using the apparatus.例文帳に追加

試料全体にわたりチャージアップのない状態で試料表面の観察及び評価を可能にした荷電粒子線装置及び該装置を使用した半導体デバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁

In one exemplary embodiment of a method for determining the concentration of the analyte in the sample includes detecting a presence of the sample in an electrochemical sensor including two electrodes.例文帳に追加

サンプル中の分析物の濃度を定量するための方法の一例示的実施形態では、この方法は、２つの電極を含む電気化学センサーにおいてサンプルの存在を検出することを含む。 - 特許庁

The excitation current ΔIobj of the objective lens is converted into an acceleration voltage ΔV of an electron beam getting incident upon the sample, and the acceleration voltage of the electron beam getting incident upon the sample is changed by the acceleration voltage ΔV.例文帳に追加

そして、対物レンズの励磁電流ΔIobjを試料に入射する電子ビームの加速電圧ΔＶに換算し、試料に入射する電子ビームの加速電圧をΔＶだけ変更する。 - 特許庁

To provide an objective enabling an operator to surely recognize the contact of the edge of the objective with a sample or the state change of the sample with simple constitution, and a microscope equipped therewith.例文帳に追加

簡単な構成で対物レンズの先端と試料との接触又は試料の状態変化を確実に認識することができる対物レンズ及びその対物レンズを備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Deviation between the rotation axis 10a of the rotation means 10 and a tip position of the probe 20 is calculated as a vector based on the coordinates measured and the coordinate of the assistance sample 30 measured before the assistance sample is moved.例文帳に追加

その測定した座標と補助試料３０の移動前に測定した座標とに基づいて、回転手段１０の回転軸１０ａとプローブ２０の先端の位置とのずれをベクトルとして求める。 - 特許庁

The total reflection of the incident light 14 generates oozing light on the side of the sample solution between the electrodes 6, 8, and a region shown by the symbol 18 is affected by the oozing light, and its reflection light intensity is detected by a photodetector, whereby absorbance and index of the sample solution 4 can be obtained.例文帳に追加

電極６，８間では入射光１４の全反射により試料溶液４側に染み出し光が発生し、符号１８で示される領域にその染み出し光の影響が及ぶ。 - 特許庁

A servo-motor 23 is controlled for feeding the sample 10, based on the discrimination signal of the partition, and an image processor 31 is controlled to photograph the image of the cut face of the sample 10.例文帳に追加

分割区分の識別信号に基づいて、サーボモータ２３を制御して試料１０の送り出しを行うとともに、画像処理装置３１を制御して試料切断面の画像撮影を行う。 - 特許庁

The sample 1 is cut to a block shape in a chamber of a focused ion beam (FIB) device, the sample block (bulk) 4 is taken out of vacuum and is brought into contact with a glass probe 5 set at the tip of a manipulator to be supported.例文帳に追加

集束イオンビーム装置のチャンバ内で試料１をブロック状に切り出し、その試料ブロック（バルク）４を真空外に取り出して、マニピュレータの先端にセットしたガラスプローブ５に接触させて支持する。 - 特許庁

The ionizing efficiency of the sample component is not reduced even if a part of He exciting species is discharged together with He since the ionizing of the sample components is dominantly contributed to exciting light from the plasma.例文帳に追加

試料成分のイオン化はプラズマからの励起光の寄与が支配的であるため、ＨｅとともにＨｅ励起種の一部が排出されてしまっても試料成分のイオン化効率は下がらない。 - 特許庁

The inside of the sample chamber 1 is vacuated by means of a vacuum exhausting device 10, while pulse laser beams 5 from a laser beam source 4 are converged by means of a converging lens 7 and made to irradiate the sample 3.例文帳に追加

試料室１内は真空排気装置１０により真空排気され、また試料３にはレーザ光源４からのパルスレーザ光５が収束レンズ７により集光されて照射される。 - 特許庁

To obtain a sample cartridge for high temperatures capable of being used approximately at temperatures of 1600°C or more, containing the high steam pressure of a sample, being formed lightly in weight, and being relatively easily and inexpensively manufactured.例文帳に追加

１６００℃以上の高温で使用でき、試料の高い蒸気圧を封じ込むことができ、かつ軽量化が可能であり、比較的容易かつ安価に製造可能な高温用試料カートリッジを提供する。 - 特許庁

To provide a method for controlling the supply of a sludge sample by which a constant weight of the sample sludge is supplied even if the sludge properties are varied when the water content and ignition loss of the sludge are measured.例文帳に追加

汚泥の含水率や強熱減量を計測するに際して、汚泥性状が変動しても一定重量の汚泥試料を供給できる汚泥試料供給量制御方法を提供する。 - 特許庁

To realize a technique for preparing rapidly a cross section sample preventing the generation of burrs to the utmost at precise cutting of a soft metal material and capable of rapidly introducing a cross section sample into an FIB device.例文帳に追加

軟質金属材料を精密切断するに際し、できるだけバリ発生を防止するとともに、速やかにＦＩＢ装置等に導入できる、迅速な断面試料作製技術を提供する。 - 特許庁

A weight change Xo of a sample in heating is measured by means of a thermal balance (process A), while gas constituents generated in heating the sample are qualitatively analyzed by means of a mass spectrometer (process B).例文帳に追加

熱天秤により加熱した際の試料の重量変化Ｘ_０を測定するとともに（工程イ）、試料を加熱した際に発生するガス成分を質量分析装置により定性分析する（工程ロ）。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus, capable of measuring the temperature properties of a semiconductor sample, without limiting the movement ranges of a sample stage, and to provide a probe device with a temperature control device.例文帳に追加

試料ステージ及びプローブ装置の移動範囲が温度制御装置によって制限されることなく半導体試料の温度特性測定を行うことができる不良検査装置を提供する。 - 特許庁

An analytical sample 10 is contained in the recess 2 of a supporting substrate 1a and secured thereto while touching the surface 10a of the analytical sample 10 tightly to the bottom face of the recess 2.例文帳に追加

支持基板１ａの凹部２内に分析試料１０を収容して、分析試料１０の表面１０ａを凹部２の底面に密着させて、分析試料１０を支持基板１ａに固定する。 - 特許庁

In the length measuring method for the sample in which the length of a length measuring object on the sample is measured, the length measured value of the length measuring object obtained on the basis of a secondary signal is corrected by a value related to a beam diameter size value.例文帳に追加

試料上の測長対象の測長を行う試料の測長方法において、二次信号に基づいて得られた測長対象の測長値をビーム径寸法値に関する値で補正する。 - 特許庁

The specific gravity of an unsolidified state from a sample with specified cement milk injected in the pile hole of the construction field (fine sand of N-value 40), and compressive strength after the sample is solidified, are measured and made to correspond to each other (Fig.4).例文帳に追加

構築現場（Ｎ値４０の細砂）の杭穴に一定のセメントミルクを注入した試料から固まらない状態の比重と、試料の固化後の圧縮強度を測定して対応させる（図４）。 - 特許庁

To provide a sample object constitution member capable of constituting the sample object with which the reflection on an undesirable surface of detection light of an autofocusing device is suppressed.例文帳に追加

観察に悪影響を与えることなく、ＡＦ装置の検出光の不所望な面での反射が抑えられた標本体を構成することを可能にする標本体構成部材を提供する。 - 特許庁

To stably observe the surface of a sample without changing a state of a probe and a state of the sample surface when making the probe scan to measure tunnel current.例文帳に追加

探針を走査させてトンネル電流の測定を行なうときに、探針の状態及び試料表面の状態を変化させることなく、安定した試料の表面観察を行なうことができるようにする。 - 特許庁

As a result, the scanning electron microscope image of a sample 4 is displayed on the screen of a cathode-ray tube 17, and the X-axis bright line and the Y-axis bright line showing the moving direction of the sample 4 are displayed.例文帳に追加

この結果、陰極線管１７の画面上には、試料４の走査電子顕微鏡像が表示されると共に、試料４の移動方向を示すＸ軸輝線、Ｙ軸輝線が表示される。 - 特許庁

To provide a questionnaire method and system, allowing verification of whether or not a sample group of a questionnaire target represents a population, and allowing extraction of the sample group from the population without deviation.例文帳に追加

アンケート対象のサンプル集団が母集団を代表しているか否かを検証でき、さらには母集団からサンプル集団を偏りなく抽出できるアンケート方法およびシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a standard plating film sample which enables determination of or quantify the presence of the element to be inspected in the plating film on a base material, and to provide a novel inspection technique of the plating film that uses the standard plating film sample.例文帳に追加

基材上のメッキ膜中の検査対象元素の有無の判定や定量を可能にする標準メッキ膜試料およびこの試料を用いた新規なメッキ膜の検査技術を提供する。 - 特許庁

To provide a concentration measuring device capable of measuring the concentration of a measuring sample, even for a mixture that contains a component having an infrared absorption spectrum that interferes with a specified wavelength of the measurement sample.例文帳に追加

被測定試料の特定波長と干渉する赤外吸収スペクトルを有する成分を含む混合物であっても、被測定試料の濃度を測定することができる濃度測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide new technique to decrease deviation in an imaging position caused by movement of a sample in the microscopic images of the sample to be picked up respectively under illuminating light of different wavelength regions.例文帳に追加

異なる波長域の照明光の下で各々撮像される標本の顕微鏡画像において当該標本の移動により生じる撮像位置のズレを低減させる新たな手法を提供する。 - 特許庁