「sample of」に関連した英語例文の一覧と使い方(93ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR DECIDING REAL TIME COMPOSITION OF SOLID-STATE SAMPLE AS FUNCTION OF DEPTH IN IT例文帳に追加

試料内の深さの関数として固体試料の組成を実時間決定するための方法および装置 - 特許庁

A sampling sample holding bag 11 is inserted inside of a hollow of the hollow cylindrical boring pipe 2.例文帳に追加

中空円筒状削孔管２の中空内部には、採取試料収容袋１１を挿入してある。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method suitable for verifying the location of an area of interest within a sample.例文帳に追加

サンプル中の対象領域の位置を検証するのに好適な装置および方法を提供すること。 - 特許庁

The part of the supporting film holder 51A of the support film 38 to which the observed sample 26 is adhered, protruding from the bottom surface of the supporting film holder 51A, or a part of it, is pinched with a pair of tweezers and is mounted on a observed sample mounting part formed on the tip of the body 9A in a sample holder.例文帳に追加

観察試料２６が付着された支持膜体３８の、支持膜体ホルダー５１Ａの底面からはみ出した部分又はその一部をピンセットで摘み、載置台３３上に置かれている試料ホルダの本体９Ａの先端部に形成されている観察試料取り付け部に、該支持膜体３８をセットする。 - 特許庁

In the input of measurement request, a plurality of requests for the same measurement item can be requested to one sample.例文帳に追加

測定依頼の入力の時、一試料に対し、同じ測定項目を複数個依頼できるようにした。 - 特許庁

To provide a plasma processing device with improved accuracy or reliability of a temperature of a sample to be processed.例文帳に追加

処理される試料の温度の精度あるいは信頼性を向上させたプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

In order to achieve the object, this invention provides a method of measuring the potential distribution on the sample by an electrostatic potentiometer for measuring the potential on the sample while the sample carried in by a carry-in mechanism of a charged particle beam passes.例文帳に追加

上記目的を達成するために本発明では、荷電粒子線の搬入機構によって搬入される試料の通過中に、試料上の電位を測定する静電電位計によって試料上の電位分布を計測する手法を提案する。 - 特許庁

In such a system that sample-holding is used in recording and the gain of photodetector signal is lowered in recording, a reproducing level during a recording operation is not sample-held, but the signal of the recording level during the recording operation is sample-held to generate the servo signal.例文帳に追加

記録時に、サンプルホールドを用い、かつ記録時に光検出器信号のゲイン下げる様なシステムにおいては、記録動作中の再生レベルをサンプルホールドするのではなく、記録動作中の記録レベルの信号をサンプルホールドしてサーボ信号を生成する。 - 特許庁

By using the dielectric material, the inner surface 102a of the sample holder (well 102) with which the liquid sample 11 contacts is prevented from being charged, thereby preventing defective dropping of the liquid sample 11 due to the charge.例文帳に追加

導電性を有する材料を用いたことにより、試料保持部（ウェル102）の、液体試料11が接触する内側面102ａにおける帯電を防止することができ、該内側面102ａの帯電による液体試料11の滴下不良を防ぐことができる。 - 特許庁

To provide a method for finding a minute sample scattered widely on a substrate in a short time and provide a method for securely moving the sample to an arbitrary position on the substrate by a probe of a scanning probe microscope with reduced damages of the probe and the sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

The electron beam device 1 is used equipped with a primary optical system 10 irradiating electron beams on the surface of the sample, and a secondary optical system 30 forming images of the sample surface by detecting secondary electron beams emitted from the sample surface.例文帳に追加

試料表面に対して前記電子ビームを照射する一次光学系１０と、前記試料表面から放出される二次電子を検出して試料表面の画像を形成する二次光学系３０とを備えた電子線装置１を使用する。 - 特許庁

The trigger monitor site 12 obtain a relative deviation time as to the input time of the trigger signal TG_n as a delay sample number and informs each of the sound output sites 20_n about delay sample number information denoting the delay sample number.例文帳に追加

トリガ監視サイト１２は、これらのトリガ信号ＴＧ_ｎの入力時間についての相対的なずれ時間を遅れサンプル数として求め、この遅れサンプル数を示す遅れサンプル数情報を、各音声出力サイト２０_ｎに対して通知する。 - 特許庁

In this case, mutual positions of the incident side slit, the spectroscopic object sample, or a condensing lens positioned between the incident side slit and the spectroscopic object sample are adjusted, to thereby form a focus of auxiliary light on the spectroscopic object sample.例文帳に追加

ここで、入射側スリット、分光対象試料、または入射側スリットと分光対象試料との間に位置する集光レンズの、相互の位置を調整することにより、分光対象試料上に上記補助光の焦点を形成する。 - 特許庁

To provide a simple and compact gas-liquid separator constituted so as not only surely perform gas-liquid separation corresponding to the condition of a sample, but also to humidify the sample with a low dew point corresponding to the condition of the sample, and to provide an analyzer that uses it.例文帳に追加

試料の条件に対応し気液の分離を確実に行うとともに、露点の低い試料には試料の条件に対応した加湿を行うことができる、簡易かつコンパクトな気液分離器およびそれを用いた分析装置を提供すること。 - 特許庁

Alternatively, a face lower than that on which a sample is placed is installed by providing level difference on the sample board, and an opening bottom face of the ion capturing port having the width and the height equal to or more than the spread of the generated ions is installed lower than the face on which the sample is loaded.例文帳に追加

または、試料台に段差をつけて試料の積載された面よりも低い面を設け、生じたイオンの広がり以上の幅および高さをもつイオン取り込み口の開口部底面を、試料の積載された面よりも低く設置する。 - 特許庁

To provide a sample holder, capable of carrying out high-sensitivITY X-ray detection and of attaching to and detaching from a sample and an X-ray detector in an electron beam device conducting an X-ray analysis, by having electron beams irradiated on a sample.例文帳に追加

試料に電子線を照射してＸ線分析を行なう電子線装置において、高感度のＸ線検出を行なうと共に、試料とＸ線検出器の装置への脱着を簡易に行なうことのできる試料ホルダを提供する。 - 特許庁

In the film forming device unit 131, a preceding sample is manufactured prior to lot production, and the preceding sample is subjected to measurement of the refractive index of a hole injection layer formed in the preceding sample in an inspection device 21, and the measurement data is transmitted to an inspection server 22.例文帳に追加

成膜装置部１３１では、ロット生産に先行して先行サンプルが作製され、先行サンプルは、検査装置２１において、先行サンプルに形成されたホール注入層の屈折率が測定され、当該測定データが検査サーバ２２に送られる。 - 特許庁

In order to solve the above problem, this invention provides a method of measuring the potential distribution on the sample by an electrostatic potentiometer for measuring the potential on the sample while the sample carried in by a carry-in mechanism of a charged particle beam passes.例文帳に追加

上記目的を達成するために本発明では、荷電粒子線の搬入機構によって搬入される試料の通過中に、試料上の電位を測定する静電電位計によって試料上の電位分布を計測する手法を提案する。 - 特許庁

A secondary electron 18 emitted from a sample 14 surface by irradiation of a primary electron beam 2 is drifted from the sample surface toward an electric field supply electrode 11 by an electric field made by a plurality of electrodes arranged in the sample room.例文帳に追加

一次電子ビーム２の照射によって試料１４表面から放出された二次電子１８は、試料室内に配置された複数の電極の作る電界によって、試料表面から電界供給電極１１に向かってドリフトする。 - 特許庁

To provide a protector for an analytical sample, that is a protector of a sample for analyzing a minute specific place on a certain surface, and that allows the sample to be processed in a state that contamination or state change does not occur even on an outermost surface of an analytical target place.例文帳に追加

一定面の微小な特定箇所を分析する試料用の保護具において、分析対象箇所の最表面にも汚染や状態変化が生じない状態で試料を加工出来る分析用試料の保護具を提供する。 - 特許庁

Sample liquid comprising only a solvent not including a sample component is measured in the same measurement condition ahead of measurement of a target sample, and the data obtained by the measurement are stored in a storage part 24 corresponding to the retention time and the mass number.例文帳に追加

目的試料の測定に先立って、試料成分を含まない溶媒のみの試料液を同一測定条件でもって測定し、それにより得られたデータを保持時間と質量数とに対応付けて記憶部２４に格納しておく。 - 特許庁

The cutting die for the tape for the semiconductor package includes the die 3 supporting a sample 4, and a punch 1 for cutting the sample supported on the die, with the cutting plane of the punch having a predetermined shear angle relative to the cut plane of the sample.例文帳に追加

半導体パッケージ用テープの切断金型は、試料４を支持するダイ３及びこのダイに支持されている試料を切断するポンチ１とを具備し、前記ポンチの切断面は、前記試料の切断面に対して所定のシャー角を有している。 - 特許庁

To provide a technique capable of transferring surely a TEM sample to a fixing block by a probe of a manipulator, while observation-confirming a cut-separated condition by an SIM image, in a method for cutting out and preparing the TEM sample from a sample main body by an FIB device.例文帳に追加

試料本体からＴＥＭ試料をＦＩＢ装置によって切り出して作成する方法において、切り離し状態をＳＩＭ像で観察確認しながら、マニピュレータのプローブによって確実に固定台まで移送できる手法を提示する。 - 特許庁

According to this constitution, when the surface of the sample is to be scanned by a probe for measuring the sample with the probe, either the surface-direction fine positioning mechanism or the moving mechanism will be used, and thereby the surface characteristics of the sample are measured.例文帳に追加

上記の構成で、探針で試料を測定するために探針で前記試料の表面を走査するとき、表面方向微動機構と、移動機構のうちいずれか一方が使用され、これにより試料の表面特性が測定される。 - 特許庁

To provide paint color sample cards which peculiarize the differences in the color development characteristics of analogous primary colors so as to enable not only a skilled person but an ordinary person to relatively easily discriminate the colors and a paint color sample book formed by putting together a plurality of the paint color sample cards to one.例文帳に追加

熟練者でなくても、比較的容易に色の判別ができるように、類似の原色の発色特性の違いを際立たせた色見本カード及び複数枚の色見本カードを１つに纏めた色見本帳を提供する。 - 特許庁

To perform measurements at high sensitivity, even in the case where surface deflection occurs at rotation of a support, in a physiological sample discriminating apparatus for irradiating a physiological sample with a light while rotating the support for supporting a trace amount of the physiological sample for detecting.例文帳に追加

微量な生体サンプルを支持する支持体を回転させながら、この生体サンプルに光を照射して検出をおこなう生体サンプル判別装置において、支持体の回転時に面ぶれが生じた場合でも、高感度に測定可能とする。 - 特許庁

To provide a highly precise measurement method of a sample position with which a focusing position and the sample position are measured with high precision and in a wide range even at the time of fluorescent image observation without a loss with respect to a biotic example not resistant to light irradiation, etc. and a sample with low reflectivity.例文帳に追加

光照射等に弱い生物標本や低反射率の試料に対して合焦位置および試料位置を蛍光像観察時にも損失無く高精度で広範囲に計測できる試料位置高精度計測法を提供する。 - 特許庁

To provide an analysis device for accurately measuring a constituent in a sample by accurately detecting the concentration of a reactive substance that is generated by reaction with the sample regarding the device for measuring the concentration or quantity of a specific constituent in the material sample.例文帳に追加

素材試料中の特定成分の濃度または量を測定する装置に関して、試料との反応によって発生する反応物質の濃度を正確に検出し、試料中の正確な成分測定を行う分析装置を供給する。 - 特許庁

This analyzer is equipped with: a plurality of cells 2 for storing the sample; liquid paths 3 for introducing liquid into the cells; an irradiation means for irradiating the sample stored in the plurality of cells 2 with the terahertz wave; and a detection means for detecting a response from the sample.例文帳に追加

試料が収容される複数のセル２と、セル２に液体を導入する液路３と、複数のセル２に収容された試料にテラヘルツ波を照射する照射手段と、試料からの応答を検出する検出手段とを備えた。 - 特許庁

Thus, whichever sample on the sample plate 2 is analyzed, distance (d) between the upper surface of the sample and an ion extraction electrode 9 is maintained fixedly, thus dispensing with variations in flight distance and making the operation of an ion extraction electric field equal.例文帳に追加

これにより、サンプルプレート２上のどのサンプルを分析する場合にも、サンプル上面とイオン引き出し用電極９との間の距離ｄが一定に保たれ、飛行距離のばらつきがなくなるとともにイオン引き出し電場の作用も同じになる。 - 特許庁

An addition circuit 4 adds the output waveform sample of the difference signal waveform sample generating circuit 2 to the output predictive signal waveform sample of the waveform-decoding/extension circuit 3, superposing them in the same positional relation with a coding operation, and thus output signals are obtained.例文帳に追加

加算回路４は、差分信号波形サンプル生成回路２の出力波形サンプルと波形復号・延長回路３の出力予測信号の波形サンプルとを符号化のときと同じ位置関係で重ね合わせて加算し、出力信号を得る。 - 特許庁

In order to achieve the objective, this invention provides a method of measuring a potential distribution on the sample by an electrostatic potentiometer for measuring the potential on the sample while the sample carried in by a carry-in mechanism of a charged particle beam passes.例文帳に追加

上記目的を達成するために本発明では、荷電粒子線の搬入機構によって搬入される試料の通過中に、試料上の電位を測定する静電電位計によって試料上の電位分布を計測する手法を提案する。 - 特許庁

To provide an observing system for biological sample and method for observing the same accurately observing fluorescence intensity, etc., of the biological sample on real time and reducing damage to the biological sample by alleviating effects of external environment.例文帳に追加

生体試料の蛍光強度などを正確、かつ、リアルタイムに測定できるとともに、外部の環境の影響を緩和することにより、生体試料へのダメージを低減できる生体試料観察システムおよび生体試料の観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a powder measuring device capable of supplying stably a powder sample to a measuring part by preventing clogging or deposition of the powder sample in a suction line for supplying the powder sample collected from a manufacturing process to the measuring part.例文帳に追加

製造プロセス中から採取した粉体試料を測定部に供給する吸引ラインにおける粉体試料の詰まりや堆積等を防止し、測定部に粉体試料を安定して供給することのできる粉体測定装置を提供する。 - 特許庁

The surface of the sample 10 is covered with a resistance film 42 having a prescribed electric resistance value, the sample 10 is irradiated with the charged particle beam 2, and secondary charged particles or the like generated from the surface of the sample are detected by the detection part 18.例文帳に追加

試料１０の表面が所定の電気抵抗値を有する抵抗膜４２により被覆され、荷電粒子ビーム２が試料１０に照射され、試料表面から発生される二次荷電粒子等が検出部１８により検出される。 - 特許庁

The sample 101 is driven to an x direction at an xy stage 11 for sample driving, and the punching die 4 is driven to a y direction so as to correct an error of the linearity of the xy stage 11 for sample driving at an xy stage 5 for punching die driving.例文帳に追加

試料１０１は、試料駆動用ｘｙステージ１１でｘ方向に駆動され、抜型４は、抜型駆動用ｘｙステージ５で試料駆動用ｘｙステージ１１の直線性のブレを補正するようにｙ方向に駆動される。 - 特許庁

An iterative process is used to generate at least two data sets of transmitted and/or backscattered values for each sample, and the data sets for each sample are processed to determine at least one property of the sample.例文帳に追加

反復過程が、それぞれのサンプルに対する透過及び／後方散乱した値の少なくとも２つのデータセットを生成するために用いられ、それぞれのサンプルに対するデータセットが、サンプルの少なくとも１つの性質を決定するために処理される。 - 特許庁

A protector of an analytical sample is placed on a plate-shaped analytical sample, and comprises: a tub-shaped body; and a re-peelable adhesion part that encloses an outer bottom of the tub-shaped body, and that is air-tightly joined to the analytical sample.例文帳に追加

板状の分析用試料に載置される分析用試料の保護具であって、桶状体と、この桶状体の外側底部を囲繞し、前記分析用試料と気密に接合する再剥離が可能な接着部と、を備えるものとする。 - 特許庁

A stream of samples acquired by the sensor over time is sequentially stored in a buffer, and the oldest sample is discarded and the newest sample is stored, when the buffer is full, such that the buffer forms a window of the sample sliding forward in time.例文帳に追加

時間経過とともにセンサにより取得されたサンプルストリームがバッファに順次保存され、バッファが時間的に前方にスライドするサンプルのウィンドウを形成するように、バッファが満杯のとき、最も古いサンプルが捨てられて新しいサンプルが保存される。 - 特許庁

The polarization (α)(an angle (α) from s-polarized light) of light irradiated to a sample of an object of defect detection is computed by substituting conditions of circuit patterns of the sample and an azimuth angle and an angle of incidence of irradiation light into a prescribed formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁

The sample atomization lead-in device lowers a memory effect by constructing whole or a part of the surface to which the sample or atomized sample contact by a hydrophilic material, and improves repeatability of atomization efficiency by making the sample quickly spread on the surface of the hydrophilic material to make up a uniform extra-thin liquid layer through making of the surface of the ultrasonic diaphragm hydrophilic.例文帳に追加

試料霧化導入装置は、試料及び霧化された試料が接触する表面の一部又は全部を親水性材料とすることによりメモリー効果を低減し、又、超音波振動板表面を親水性とすることにより、試料を親水性材料表面で直ちに広げ均一な極薄の液層とすることにより霧化効率の再現性を向上させる。 - 特許庁

In this sample introduction device 3, switching from introduction of the sample solution S to introduction of cleaning liquid W is performed at the point of time retroactive as long as a time required for the sample solution S to reach a mass analyzer 2 from a sample container 4 on the basis of the analysis finish point of time operated based on an analysis condition in the ICP mass analyzer 2.例文帳に追加

試料導入装置３によれば、試料溶液Ｓの導入から洗浄液Ｗの導入への切り替えは、ＩＣＰ質量分析装置２における分析条件に基づいて演算された分析終了時点を基準として、試料溶液Ｓが試料容器４から質量分析装置２に達するのに要する時間を遡った時点において行われる。 - 特許庁

The observation device used in observing a sample comprises a moving stage rotatable around a first axis of rotation, on which the sample is placed, a first microscope for observing the sample in case the first axis of rotation is at a first angle of rotation and a second microscope for observing the sample in case the first axis of rotation is at a second angle of rotation.例文帳に追加

試料を観察する観察装置において、第１の回転軸を中心に回転可能であり、前記試料を載置する移動ステージと、前記第１の回転軸が第１の回転角度の場合に、前記試料を観察する第１の顕微鏡と、前記第１の回転軸が第２の回転角度の場合に、前記試料を観察する第２の顕微鏡とを有することを特徴とする。 - 特許庁

The method of identifying the plastic material is composed of a step for detecting a sample spectrum by measuring a sample and detecting a reference spectrum of a substance belonging in a group to be referenced; a step for detecting the spectrum distance between the sample spectrum and the reference spectrum; a step for identifying the substance by making the sample correspond to a substance having the reference spectrum having the minimum spectrum distance to the sample spectrum.例文帳に追加

試料を測定して試料スペクトルを検出すると共に、参照するグループに属する物質の参照スペクトルを検出するステップと、試料スペクトルと参照スペクトルの間のスペクトル距離を検出するステップと、試料スペクトルと最小のスペクトル距離を有する参照スペクトルを有する物質に試料を対応させることで物質を識別するステップとを有するプラスチック素材の識別方法。 - 特許庁

This perpendicular tension type adhesion strength test machine for perpendicularly fixing the stud to the surface of the sample and performing a perpendicular tensile test has a cylindrical collet that receives the stud 1 that is arranged perpendicularly to a sample fixing position of a sample fixing plate 11 and perpendicularly fixed to the surface of the sample 10, clamps it with a constant load, and applies stress perpendicular to the sample 10 to the stud 1.例文帳に追加

試料の表面に垂直にスタッドを固定して垂直引張試験を行う垂直引張型密着強度試験機に於いて、試料固定板１１の試料固定位置に垂直に配置されて試料１０の表面に垂直に固定したスタッド１を受容すると共に一定加重でクランプし且つスタッド１に対し試料１０と垂直な方向の応力を加える筒状のコレットを備える。 - 特許庁