「shape defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an inspection method for inspecting a dot-shape defect, a line shape defect, a defect in unevenness of luminance and the like in the stage of an active matrix substrate.例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の段階で、点欠陥、線欠陥、輝度むら欠陥などを検査することができる検査方法を提供すること。 - 特許庁

In an analytical database 9, defect-shape recognized data obtained by a defect-shape recognition part 8 and defect shape data obtained by the generation part 11 are stored.例文帳に追加

解析データベース９には不良形状認識部８によって得られた不良形状認識済みデータと不良発生部１１によって得られた不良形状データとが蓄積される。 - 特許庁

An image of the detected defect is supplied to a defect classification means (36), and the defect is classified based on the shape or the brightness distribution of the image of the defect.例文帳に追加

検出された欠陥の画像は、欠陥分類手段（３６）に供給され、欠陥画像の形状及び輝度分布に基づいて欠陥が分類される。 - 特許庁

In this defect detection method of the elongate member, the external defect, the surface defect and the internal defect of the elongate member 1 having the fixed sectional shape are detected.例文帳に追加

断面形状が一定の細長部材１の外形欠陥、表面欠陥及び内部欠陥を検出する細長部材の欠陥検出方法。 - 特許庁

An image of a detected defect is supplied to defect classifying means (36), and the defect is classified based on a shape of the defect image and brightness distribution.例文帳に追加

検出された欠陥の画像は、欠陥分類手段（３６）に供給され、欠陥画像の形状及び輝度分布に基づいて欠陥が分類される。 - 特許庁

In a determining step S5, the shape of the crystal defect is obtained based on the high-magnification inspecting image so as to determine whether the crystal defect is the void or the particle by whether the shape is a circular shape or an unspecified shape other than the circular shape.例文帳に追加

判定ステップＳ５は、高倍率検査画像に基づいて結晶欠陥の形状を求め、円形か円形以外の不定形状かで結晶欠陥がボイドかパーティクルかを判定する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT DETECTION BASED ON SHAPE FEATURE例文帳に追加

形状特徴に基づく欠陥検出の方法及び装置 - 特許庁

METHOD OF MEASURING SHAPE AND POSITION OF DEFECT IN TRANSPARENT MATERIAL例文帳に追加

透明材料中の欠陥の形状及び位置の計測方法 - 特許庁

When a defect is observed during the defect inspection, defect information such as a position, a size and a shape of the defect is recorded, and a data such as the number of the defects is displayed.例文帳に追加

欠陥検査中に欠陥を発見した場合、その欠陥の位置や大きさ、形状などの欠陥情報を記録し欠陥数などのデータを表示する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING SHAPE DEFECT OF PLATE MATERIAL HAVING INTERNAL SPACE例文帳に追加

内部空間を有する板材の形状欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

Each photovoltaic cell defect is classified according to defect types and a shape of the dark region is compared with the defect types (S50), and the presence or absence of the defect is determined to determine whether the photovoltaice cells are good or not.例文帳に追加

太陽電池セルの欠陥をタイプごとに分け、暗部の形状を各タイプと比較して解析し（Ｓ５０）欠陥の有無を判定し、太陽電池セルの良否判断を行う。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for automatically discriminating between the shape of an inspected part and a defect as to defect inspection using a radiation image.例文帳に追加

放射線画像を用いた欠陥検査において、被検査部位の形状と欠陥を自動的に区別することのできる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To accurately detect the defect of the surface of a spherical transparent body, such as a glass ball, regardless of the shape of the defect.例文帳に追加

例えばガラス玉などの球状透明体表面の欠陥を、その欠陥の形状によらず正確に検出する。 - 特許庁

visual defect in which the shape and size of an ocular image differ in the two eyes 例文帳に追加

両眼の視覚上の像の形や大きさに差違があるという視覚欠損 - 日本語WordNet

The shape is corrected by filling a shape defective part 2 with optical material 3 when the defect of the surface shape of the lens 1 is based on the shape of a recessed part.例文帳に追加

レンズ１の表面形状不良が凹部形状に基づく場合は形状不良部２に光学材料３を充填することにより形状修正を行う。 - 特許庁

The thermal oxide film is formed in a shape surrounding a defect in the silicon layer and reflecting or transcribing the defect.例文帳に追加

熱酸化膜は、シリコン層内の欠陥を取り囲み、当該欠陥を反映した又は転写した形状として形成される。 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING HIGH MAGNETIC FLUX DENSITY GRAIN ORIENTED SILICON STEEL SHEET SMALL IN DEFECT IN SHAPE例文帳に追加

形状欠陥の少ない高磁束密度方向性電磁鋼板の製造方法 - 特許庁

A defect detection means 84 compares the theoretical edge shape with the observed edge shape, and from a difference found by the comparison, detects a defect of the article to be inspected.例文帳に追加

欠損検出手段８４は、理論エッジ形状と実測エッジ形状とを比較することにより、その差分から円盤状の被検査物品の欠損を検出する。 - 特許庁

Each defect removed portion is brought into a recessed shape in a surface coating on the skin layer 2a.例文帳に追加

スキン層２ａの表面皮膜の欠点が除去された箇所が凹状になる。 - 特許庁

To provide a device and a method for mask correction which can quantitatively measure the shape of a defect formed on a photomask and correct the defect according to the defect shape.例文帳に追加

本発明は、フォトマスクに形成された欠陥の形状を定量的に測定し、該欠陥形状に基づいて欠陥を修正することができるマスク修正装置及びマスク修正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The defect classification means (36) includes first classification means (50) for identifying a defect image having a specific shape and second classification means (51) for identifying a punctate low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁

The defect classification means includes: a first classification means (50) of identifying an image of the defect having a specific shape; and a second classification means (51) of identifying the image of a punctate low-brightness defect and an image of a light-dark brightness defect.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁

The defect classifying means includes first classifying means (50) for identifying a defect image having a specific shape, and second classifying means (51) for identifying a punctiform low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁

To realize enhancing of the yield of a proper product in which a shape defect does not exist.例文帳に追加

形状欠陥が存在しない良品の歩留まり高めることができるようにする。 - 特許庁

The luminance distribution varies in accordance with kinds of defects, so the defect is classified from points of view of the shape and luminance distribution of the defect image.例文帳に追加

欠陥の種類に応じて、輝度分布が相違するので、欠陥画像の形状及び輝度分布の観点より欠陥を分類する。 - 特許庁

Then a defect rate of residual degenerartion FBM is collated with a defective shape discrimination rule, and a defective shape is specified.例文帳に追加

そして、残りの縮退ＦＢＭについての不良率を不良形状判定ルールと照合して不良形状を特定する。 - 特許庁

To easily manufacture a specimen with a defect for a nondestructive inspection, which has a crack-shape internal defect, without a special bonding device required.例文帳に追加

特殊な接合装置を必要とすることなく、簡単に亀裂状の内部欠陥を有する非破壊検査用有欠陥試験体を製作する。 - 特許庁

A defect detection circuit 35 detects a defect inside the substrate 1 from a shape characteristic of the scattered light received by the light-receiving part 32.例文帳に追加

欠陥検出回路３５は、受光部３２が受光した散乱光の形状的特徴から、基板１の内部の欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting apparatus capable of clearly capturing a scattered light image, regardless of the shape, the size, the kind and the like of defect.例文帳に追加

欠陥の形状や大きさ、種類等によらず、欠陥の散乱光像を明確に捉えることができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

WIDE FLANGE SHAPE EXCELLENT IN TOUGHNESS OF FILLET PART AND UT DEFECT RESISTING CHARACTERISTIC AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

フィレット部靭性および耐ＵＴ欠陥特性の優れたＨ形鋼およびその製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a contact hole excellent in accuracy of a shape, wherein aperture defect is eliminated.例文帳に追加

開口不良や形状の精度に優れたコンタクトホールを有する半導体素子の提供。 - 特許庁

To visualize a shape defect (existence of disconnection part, for example) in the contact part of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のコンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所の存在）を可視化する。 - 特許庁

To manufacture the artificial defect of TBC(thermal barrier coating) with its thickness and shape changed and to obtain a defect detection limit in an actual machine.例文帳に追加

本発明は、ＴＢＣの人工欠陥を厚さや形状を変えて製作でき、実機における欠陥検出限界を求めることを課題とする。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection testing technique capable of evaluating a shape of a defect, even when a direction of the defect existing in a testing object 4 is unknown.例文帳に追加

試験体４に存在する欠陥の向きが不明である場合にも、欠陥の形状を評価することができる超音波探傷試験技術を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for speedily detecting a defect of a sheet material having a formation pattern such as a fine uneven shape on a surface with good reproducibility.例文帳に追加

表面に微細な凹凸形状等の地合パターンを有するシート材の欠陥を、迅速かつ再現性良く検査する方法を提供する。 - 特許庁

An observation of a region including the defect is performed by an atomic force microscope(AFM), and a shape of the defect and a pattern for alignment is extracted from an AFM image.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)で欠陥を含む領域の観察を行い、AFM像から欠陥の形状と位置あわせのためのパターンを抽出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of certainly detecting a defect such as foreign matter or the like having mixed in an object to be detected without being affected by the shape of the object to be detected or the position of the defect.例文帳に追加

検出対象の形状や、欠点の位置に影響されず、検出対象に混入している異物等の欠点を確実に検出することができる欠点検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a shape measurement device capable of highly precisely measuring the pattern shape and defect on a substrate applied with microfabrication.例文帳に追加

高い精度で、微細加工処理が施された基板上のパタン形状ならび欠陥を測定することが可能な形状測定装置を提供する。 - 特許庁

The recess and/or protrusion is formed in the shape not allowing generation of any crystal defect to the semiconductor layers 11, 13.例文帳に追加

凹部及／又は凸部は半導体層１１、１３に結晶欠陥を発生させない形状とする。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR ACQUISITION OF SHAPE INFORMATION AND APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加

形状情報取得装置、欠陥検出装置、形状情報取得方法および欠陥検出方法 - 特許庁

Thereby, even if the figure has the complicated shape, the template without defect can be easily produced.例文帳に追加

これにより、形状が複雑な図形であっても、不備のないテンプレートを簡単に作成することができる。 - 特許庁

To provide a fine needle shape projection which has, in particular, a most distal end formed into a micro sharp needle shape, by remedying transfer defect of the fine needle shape projection by injection molding.例文帳に追加

射出成形による微細針形状突起物の転写不良を改善し、特にその最先端部を、ミクロ的に鋭利な針形の形状にした微細針形状突起物を提供する。 - 特許庁

Then, changes in a shape can be grasped precisely and thus the kind of internal defect (gas cavity that is shape-changed by heat treatment and shrinkage cavity that is not shape-changed by heat treatment) can be determined precisely.例文帳に追加

形状変化を精度高く把握でき、ひいては内部欠陥の種類（加熱処理で形状変化するガス巣及び加熱処理で形状変化しない引け巣）を精度高く判定できる。 - 特許庁

An evaluation part 81 evaluates the presence of the defect in the inspection portion of the infrared cut-off filter 10, based on a digital image obtained therein, and records a state of the defect such as a position and a size a shape of the defect, in an HDD 82, when the defect exists.例文帳に追加

このとき得られるデジタルな画像をもとに、評価部８１は赤外カットフィルタ１０の検査部分に欠陥があるか否かを評価し、欠陥がある場合には、その欠陥の位置、大きさ、形状などの欠陥の状態をＨＤＤ８２に記録する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus, for the inspection of a defect, wherein the existence of the defect in even a weld in a nuclear reactor can be detected surely and the shape or the size of the defect can be found.例文帳に追加

原子炉の溶接部であってもその溶接部の欠陥の有無を確実に検出することができ、しかも、その欠陥の形状や大きさを求めることのできる欠陥検査方法と欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁