「shape defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Quadrangular pyramidal-shape recesses 2 being similar to the crystal defect and having a different size, are arranged and formed by anisotropically etching on an Si wafer 1 having Miller indices (110).例文帳に追加

面指数が（１１０）であるＳｉウエハ１に結晶欠陥に近似し大きさを異にした四角錐形凹所２が異方性エッチングで配列形成されている。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a display element in which an uneven shape is uniformly formed on a continuous plastic substrate with large area without causing a defect in peeling.例文帳に追加

連続した大面積のプラスチック基板上に、剥離不良を生じることなく凹凸形状を均一に形成する表示素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

When the coloring material is injected to the part from which the defect is removed by ink jet, injection and drying are repeated to perform correction with a high shape precision.例文帳に追加

欠陥が除去された部位にインクジェットにより着色材料を吐出させる際、吐出と乾燥を繰り返すことで、形状精度良く修正することが可能となる。 - 特許庁

The silicon carbide monocrystal wafer has at its specific direction end a working defect portion whose total area size is small or whose shape is asymmetric and notch-form.例文帳に追加

ウェハの特定の方位端に総面積の小さい加工欠損部、あるいは非対称な形状を有するノッチ状の加工欠損部を有する炭化珪素単結晶ウェハ。 - 特許庁

When a defect exists inside the substrate 1, the scattered light received by the light-receiving part 32 formed by bundling the plurality of optical fibers has a cross shape widened longitudinally and laterally.例文帳に追加

基板１の内部に欠陥が存在する場合、複数の光ファイバーを束ねた受光部３２で受光された散乱光は、縦横に広がった十字形状となる。 - 特許庁

To obtain a formed article free from working defect and having excellent shape accuracy by softening the areas to be subjected to large working deformation in advance prior to press forming.例文帳に追加

プレス成形に先立って大きな加工変形を受ける部位を予め軟質化しておくことにより、加工欠陥がなく形状精度の良好な成形品を得る。 - 特許庁

To prevent a film unit from buckling and causing a discharge defect at the time of scraping out of a claw member by pressing the film unit of the lowermost layer to an arcuate shape by a unit supporting projection.例文帳に追加

ユニット支持突起により最下層のフイルムユニットを円弧状に押圧することでクロー部材の掻き出し時フイルムユニットが座窟して排出不良となることを防止する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor which can securely suppress occurrence of a shape defect of an element separation region at the periphery of the end of an active region.例文帳に追加

活性領域の端部周辺における素子分離領域の形状不良の発生を確実に抑制しうる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technology for detecting defects with high accuracy, or a technology for supporting defect detection, regardless of a surface shape of an inspection object to be subjected to visual inspection.例文帳に追加

外観検査を行う検査対象の表面形状によらず、高い精度で欠陥を検出する技術または欠陥の検出を支援する技術を提供する。 - 特許庁

To prevent a shape defect of an insulating film and fluctuation of height of the insulating film due to etching-back of the insulating film buried in a groove formed in a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板に形成した溝内に埋め込んだ絶縁膜のエッチバックによる絶縁膜の形状不良や絶縁膜の高さのばらつきを防ぐことができる。 - 特許庁

Thus, the coefficients of friction on the operation side and the drive side can be made equal and the meandering of the rolled stock 6, breakage by the meandering and defect in shape are prevented.例文帳に追加

これにより、操作側と駆動側の摩擦係数を同じにでき、圧延材６の蛇行及び蛇行による絞り込み、形状不良などを防止することができる。 - 特許庁

Thus, the reduction of a bump electrode 9 due to defect in shape of the stress relaxation layer 5 can be prevented, and the bump electrode can be formed as multi-terminals as a result.例文帳に追加

これにより、応力緩和層５の形状不良に起因するバンプ電極９の減少を防止することができ、バンプ電極の多端子化を図ることができる。 - 特許庁

To provide a defect inspecting technology capable of observing or inspecting a sample by distinguishing a contrast resulting from a shape from another contrast resulting from a potential condition.例文帳に追加

形状に起因するコントラストと電位状態に起因するコントラストとを区別して観察あるいは検査することが可能となる欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁

Thus, proportion of the presence of the crystal defect 4b by the growth of a GaN film 4 can be reduced by patterning the mask 3 into the shape of dots.例文帳に追加

このように、マスク３をドット状にパターニングすることによって、ＧａＮ膜４の成長による結晶欠陥４ｂの存在する割合を減少させることができる。 - 特許庁

Based on the tip shape of the extracted etching residues, residues (due to, for example, a crystal defect, dust, etc.) other than etching residues due to the watermark are excluded.例文帳に追加

抽出したエッチング残渣の先端形状に基づき、ウォーターマークに起因したエッチング残渣以外の（例えば結晶欠陥やゴミなどに起因した）残渣を除外する。 - 特許庁

The wafer 5 inside a sample observation space 8 is moved to a wafer observation position by the stage 7, and observation of surface shape and foreign materials, defect inspection, etc., are then performed.例文帳に追加

試料観察室８内のウェハー５はステージ７によってウェハー観察位置に移動され、表面形状や異物観察および欠陥検査などが行われる。 - 特許庁

To provide a printed circuit board not only restraining shape defect of a concave portion but also expanding applications of the concave portion, and to provide a method of manufacturing the printed circuit board.例文帳に追加

凹部の形状不良などを抑制できるだけでなく、凹部の用途を拡大し得るプリント基板及びそのようなプリント基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a can body inspection device and a can body inspection method capable of inspecting exactly a defect of a shape generated in a can body formed with unevenness in a side face.例文帳に追加

側面に凹凸が形成された缶体に生じる形状の欠陥を的確に検査することが可能な缶体検査装置及び缶体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a light shielding film for display device which is high in black density, has a high light shielding performance, suppresses occurrence of residue, unevenness, moire and an edge shape defect in development, and attains a clear image display of high contrast.例文帳に追加

黒濃度が高く、高度の遮光性能を有し、現像残渣やムラ、モアレ、エッジ形状の不具合の発生を抑え、高コントラストで鮮明な画像表示を可能とする。 - 特許庁

To prevent ink flow defect due to overflow of adhesive to bond a lower block 41 and an upper block 42 and due to incorrect shape of flow pass in an ink jet head 1.例文帳に追加

インクジェットヘッド１において、下部ブロック４１と上部ブロック４２とを接着する接着剤のはみ出しや流路形状の不具合によるインクの流通不良を防止する。 - 特許庁

This bone prosthetic material 1 is so used as to fill a single osseous defect site with a plurality of bone prosthetic materials and each bone prosthetic material 1 has a pellet shape.例文帳に追加

本発明の骨補填材１は、１つの骨欠損部に複数個を充填して使用されるものであり、各骨補填材１は、それぞれペレット状をなしている。 - 特許庁

To rapidly and accurately evaluate the XYZ coordinate position and shape of a defect existing in a transparent material, such as lens material composed of metal fluoride single crystal.例文帳に追加

金属フッ化物単結晶からなるレンズ硝材などの透明材料中に存在する欠陥のＸＹＺ座標位置及びその形状を迅速にかつ正確に評価する。 - 特許庁

Consequently, effect of not causing shape defect of the concave portion is achieved.例文帳に追加

よって、圧着の際に、プリプレグを構成する熱硬化性樹脂が凹部内へ流出することを防止し、その結果として、凹部の形状不良を引き起こさないという効果がある。 - 特許庁

To restore a restorable three-dimensional shape defect to secure a storage medium wherein a normal image is formed as a product for improving productivity.例文帳に追加

修復可能な三次元的な形状欠陥を修復することで、正常な画像が形成された記録媒体を成果物として確保して、生産性を向上させる。 - 特許庁

To provide a display device for which a more practical method for correcting a defect is easily and certainly applied and the method for correcting the defect by omitting a drawing process of an insulating film, preventing another short-circuitting in a wiring drawing process, making a drawn pattern a simple shape and preventing a wiring performance from lowering when correcting the defect.例文帳に追加

絶縁膜の描画工程を省略し、配線の描画工程で新たな短絡の発生を抑止し、描画パターンを単純な形状として欠陥修正による配線性能の低下を防止して、より実用的な欠陥修正を容易且つ確実に行うことを可能とする表示装置及び欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus capable of shortening an imaging tact as further as possible when detecting a defect in a plane display panel such as a liquid crystal panel in which pixels of a plurality of colors constituting a picture element are arranged in a matrix shape through pixel displacement.例文帳に追加

絵素を構成する複数色の画素がマトリクス状に配列された液晶パネルなどの平面表示パネルにおける欠陥を画素ずらしによって検出する場合に、撮像タクトを可及的に短縮することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide an object-shape evaluating device which properly performs congruence transformation on a measurement point group and a reference point group and reducing a defect incorrect detection caused by mold correction, when detecting a defect on the basis of the shift between the reference point group and the measurement point group.例文帳に追加

測定点群と基準点群との合同変換が適正に行われるとともに、基準点群と測定点群とのずれから欠陥を検出する際に型修正に起因する欠陥誤検出が低減される物体形状評価装置を提供する。 - 特許庁

Then, when an inspector adjusts the threshold of the amount of feature of a section 2 for adjusting the threshold of the amount of feature on the screen, the shape of the model expressed by the defect model image is changed on the screen so that the defect model image is included in the range of the threshold after adjustment.例文帳に追加

そして、検査者が、画面上の特徴量閾値調整部２の特徴量の閾値が調整した時には、欠陥モデル画像が調整後の前記閾値の範囲に含まれるように前記欠陥モデル画像が表すモデルの形状を画面上で変化させる。 - 特許庁

To provide an electric resistance welded steel pipe for an oil supply pipe, which can be worked to a desired shape of the oil supply pipe without generating any serious defect such as crack even under a severe working condition such as a complicated shape and large elongation.例文帳に追加

複雑形状であるとか、伸び率が大きい等の厳しい加工条件であっても、割れ等の重大な欠点を発生させることなく所望の給油管形状に加工することができる給油管用電縫鋼管を提供すること。 - 特許庁

To develop and provide a technique which can unlimitedly enhance the value (the range of uses and the merit of cost) of MDM which has an improved quality but has a defect not having a shape, by giving a shape as minced meat.例文帳に追加

品質が向上してきたとは言え、その形を持たないＭＤＭの欠点に対して、挽肉としての形を与えることによってその価値（用途の幅やコストメリット）を限りなく増大せしめることのできる技術を開発し提供すること。 - 特許庁

The wafer appearance inspection device 201 includes: a measuring stage 205; a monitor camera 203 for imaging a surface shape of a wafer 204 placed on the stage; and a control computer 202 for executing detection processing of surface shape defect of the wafer 204.例文帳に追加

ウェーハ外観検査装置２０１は、測定ステージ２０５と、その上に載置されたウェーハ２０４の表面形状を撮像するモニタカメラ２０３と、ウェーハ２０４の表面形状欠陥の検出処理を実行する制御用コンピュータ２０２を備える。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting a loop material capable of quickly specifying a formation position of a specific shape site on the whole circumference of a loop material and of forming a condition in which the presence of a defect on the specific shape site can be inspected.例文帳に追加

ループ材の全周における特異形状部位の形成位置を迅速に特定し、この特異形状部位における欠陥の有無を検査することができる状態を迅速に形成することができるループ材検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device wherein detection sensitivity and throughput are improved by optimizing shape of illumination when detecting a defect such as foreign matter generated in a production process for forming a pattern on a substrate to manufacture a target object, and to provide a method therefor.例文帳に追加

基板上にパターンを形成し対象物を製作して行く製造工程で発生する異物等の欠陥を検出する際に、照明の形状を最適化することにより、検出感度およびスループットを向上する欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

By having a structure in which a perfect Cr shading part is a self-alignment type, a dicing mark part is a Cr recessing type and a pattern part is a HT pattern, the resist shape on the wafer after photomask pattern exposure can be improved and the defect detection sensitivity in the photomask defect inspection can be sufficiently obtained.例文帳に追加

完全Ｃｒ遮光部はセルフアライン型、ダイシングマーク部はＣｒ後退型、パターン部はＨＴパターンという構造を有することにより、フォトマスクパターン露光後のウェーハ上のレジスト形状を良好にし、かつフォトマスク欠陥検査時における欠陥検出感度を十分に得ることができる。 - 特許庁

A technique of imaging a hologram surface shape is provided for detecting a hologram film defect in hologram products and after the aluminum deposition process, which are the lighting method for imaging using coaxial epi-illumination, a hologram image acquisition method, and the hologram defect extraction method.例文帳に追加

ホログラム製品およびアルミニウム蒸着工程後におけるホログラムフィルム欠陥検出のためのホログラム表面形状の画像化手法であって、同軸落射照明を用いることを特徴とする画像化用照明方法、ホログラム画像取得方法、およびホログラム欠陥抽出方法である。 - 特許庁

By using a transfer film on which an absorption layer absorbing laser beam wavelengths of a laser correction system is laminated as a thin film shape, the absorption layer 15 is thermally transferred on the black defect 10, the laser beam of the laser correction system is applied to the thermally transferred absorption layer and the black defect is corrected.例文帳に追加

１）レーザ修正装置のレーザ光の波長を吸収する吸収層が薄膜状に積層された転写フィルムを用いて、黒欠陥１０上に吸収層１５を熱転写し、２）熱転写した吸収層にレーザ修正装置のレーザ光を照射し、黒欠陥を修正すること。 - 特許庁

Disclosed is the stencil mask defect inspecting method and device which irradiates the stencil mask obliquely with linear parallel light and measures the shape of the opening 8 using a non-reflection image of an image obtained by imaging surface reflected light, so as to inspect a defect of the opening 8.例文帳に追加

ステンシルマスクに対して斜め方向から線状平行光を照射し、表面反射光を撮像した撮像画像における非反射像により開口部の形状を測定することにより開口部の欠陥を検査するステンシルマスク欠陥検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a resist composition, a resist layer, an imprint method, a pattern forming body, and their associated technique in which there is not a peel-off defect or a pattern defect over the whole pattern forming body, a pattern shape and a remained film are uniform, and productivity is improved for short peel-off time.例文帳に追加

パターン形成体の全面にわたって、剥離不良やパターン不良がなく、パターン形状及び残膜を均一なものとし、短い剥離時間で生産性を向上させるレジスト組成物、レジスト層、インプリント方法、パターン形成体、及びこれらに関連する技術を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a coating method and a coating device of a resin composition, which reduces the generation of the soiling of the tip of a nozzle, the cobwebbing of the resin composition or coating shape defect due to the scattering, or the like, in a coating process of the resin composition to decrease unsoldering defect in the post process.例文帳に追加

樹脂組成物の塗布工程におけるノズル先端の汚れ、樹脂組成物の糸引き、飛び散り等による塗布形状不良の発生を低減し、後の工程における未はんだ不良等を低減させることができる樹脂組成物の塗布方法および塗布装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect marking method and device for a sheet like product capable of positively detecting a marking applied to a defect portion of a sheet like product in a latter process and suppressing deterioration of a yield when cutting the sheet like product and cutting out a partition portion of a certain shape.例文帳に追加

シート状製品の欠陥部分に施されたマーキングを後工程で確実に検出でき、さらにシート状製品をカットして一定の形状の区画部分を切り出す際に、歩留まりの低下を抑制することができるシート状製品の欠陥マーキング方法および装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a highly reliable semiconductor device having resistance to external stress and electrostatic discharge while reducing thickness and size, or a semiconductor device for preventing defect in shape and characteristics due to external stress or electrostatic discharge in a manufacturing process, to manufacture a semiconductor device with a high yield.例文帳に追加

薄型化及び小型化を達成しながら、外部ストレス、及び静電気放電に耐性を有する信頼性の高い半導体装置を提供することを目的の一とする。 - 特許庁

To allow measurement even when a shape of a concrete structure is complicated, or even when a micro defect exist in its inside, and to enhance also measuring precision.例文帳に追加

コンクリート構造物の形状が複雑な場合、あるいは内部に微小な欠陥があるような場合でも測定を可能とし、しかも測定精度が高い構造物の診断方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a structure for producing a casting, in which the structure for producing a casting having excellent moldability even if the shape is complicated, and capable of reducing the gas defect of a casting.例文帳に追加

複雑な形状であっても成形性に優れ、鋳物のガス欠陥を低減可能な鋳物製造用構造体を製造できる、鋳物製造用構造体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting a shape defect of patterned media, enabling inspection of the whole area throughout the total number of patterned media manufactured in the order of one sheet per a few seconds.例文帳に追加

数秒／枚程度で生産されるパターンドメディアを全面を全数に亘って検査することを可能にするパターンドメディアの形状欠陥検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method and a surface detect inspecting apparatus of a plate that can also detect hairline-like, shallow scratches existing in the radial shape from the focus of a camera.例文帳に追加

カメラの焦点から放射状に存在するヘアライン状の浅い疵をも検出できる板材の表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁