「shape defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for detecting a shape defect of a molded article capable of detecting a defect on a lower surface of the molded article with high accuracy, and detecting general deformation such as a warpage of the molded article.例文帳に追加

成形品の下面の欠陥を精度高く検出することができ、しかも成形品の反りなどの全体的な変形についても検出することができる成形品の形状欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

Thus, the irradiation angle of the light to the lens 2 is varied and the lens 2 is imaged, so that the scattered light image of the defect can be clearly captured regardless of the shape, size, kind, or the like of the defect.例文帳に追加

このように、レンズ２に対する光の照射角度が変化されてレンズ２が撮像されるため、欠陥の形状や大きさ、種類等によらず、欠陥の散乱光像を明確に捉えることが可能となる。 - 特許庁

On a rear surface side of the substrate 10 there is formed an n side electrode 23 of a geometrical shape that covers the surface of the low defect region 10A, and intermittently covers the surface of the high defect region 10B.例文帳に追加

この基板１０の裏面側には、低欠陥領域１０Ａの表面を覆うと共に、高欠陥領域１０Ｂの表面を断続的に覆う、幾何学的な形状のｎ側電極２３が形成されている。 - 特許庁

By using laser annealing which is a relatively low temperature process, only the minute defect of the surface of the mold can be annealed, so that only the minute defect can be corrected without deforming the pattern shape of the mold.例文帳に追加

比較的低温プロセスであるレーザアニールを用いることで、モールド表面の微小欠陥のみをアニールが可能となり、モールドのパターン形状を変形させることなく、微小欠陥のみを修復することが出来る。 - 特許庁

A joining defect of a flip-chip bump and a shape defect of fine wiring, which do not cause a disconnection, can be detected, so stress during secondary mounting and a disconnection resulting from long-period use can be detected in advance.例文帳に追加

断線には至らないが、フリップチップバンプの接合不良や微細配線の形成不良を検出することができるので、２次実装時のストレスや長期使用で発生する断線を事前に検出することができる。 - 特許庁

To provide an optical inspection method of a sheet-like transparent body which can detect surely a shape defect mainly concerned with unevenness.例文帳に追加

シート状透明体の欠陥検査方法において、凹凸を主とした形状欠陥を確実に検出する光学的検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a switch gear easily manufacturable by reducing the size of its whole shape and by remarkably reducing defect rates of cast components.例文帳に追加

全体形状の縮小化を図るとともに、注型部品の不良率を大幅に低減させ、簡易に製作できるスイッチギアを提供する。 - 特許庁

To suppress defect of shape resulting from fusion of adjacent cylindrical lenses in a lens sheet formed by using, for example, ultraviolet curable resin.例文帳に追加

例えば紫外線硬化樹脂を用いて作成されるレンズシートにおいて、隣接するシリンドリカルレンズの融着による形状不良を抑制する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND APPARATUS FOR PROTRUDED PART OF OBJECT HAVING THE PROTRUDED PARTS OF THE SAME SHAPE AT SPECIFIED PITCH ALONG CIRCULAR ARC例文帳に追加

円弧に沿って所定ピッチで同一形状の突出部を形成された物品の突出部の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

To suppress the shape change of an electrode even if a defect is generated in a portion relating to operation for suppressing the shape change of the electrode after the shutdown of power generation and continue the use of a fuel cell.例文帳に追加

発電停止後の電極の形態変化を抑制するための動作に係る部位に不具合が発生したとしても、電極の形態変化を抑制しつつ燃料電池の使用を継続可能にする。 - 特許庁

To provide a three dimensional measurement device which provides an information of a defect of shape of a product and an obstacle avoidance, by measuring a shape of an object and a distance to the object for a short period of time and using a low cost device.例文帳に追加

物体の形状や物体までの距離を、短時間で更に安価な装置で計測し、製品の形状不良や障害物回避の情報を提供する３次元計測装置。 - 特許庁

To provide an electroformed part which does not cause damage, deformation or the like in electroforming dies, and has high dimension accuracy, little defect of shape, and a reliable fine shape.例文帳に追加

本発明は、電鋳元型の損傷、変形などを無くし、寸法精度が高く、形状不良の少ない、信頼性の高い微細な形状を有する電鋳部品を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device for detecting a flaw by an ultrasonic wave, capable of facilitating display-alignment of three-dimensional detection data and three-dimensional shape data and of quickly distinguishing defect echo from shape echo, and a method therefor.例文帳に追加

３次元探傷データと３次元形状データの表示位置合わせを容易にし、欠陥エコーと形状エコーの識別を迅速にできる超音波探傷装置及び方法を提供することにある。 - 特許庁

This device has a function capable of adjusting automatically arrangement of an optical system by sorting to form a database, each relation between each defect shape and arrangement of the optical system capable of detecting the shape with high sensitivity.例文帳に追加

本発明は、欠陥形状とその形状を高感度に検出可能な光学系の配置との関係をデータベース化しておき、さらに光学系の配置を自動で調整できる機能を有する。 - 特許庁

As a result, a detection range (a light receiving range) is lengthwise longer, resulting in representing the change in the widthwise contrast of the PS plate 10 larger and realizing in the exact detection of a defect part R even when the defect part has a shape of a longitudinal streak continuous in a conveying direction.例文帳に追加

このため、検出範囲（受光範囲）が縦長になり、ＰＳ版１０の幅方向のコントラストの変化が大きく出るため、搬送方向に連続した縦筋のような欠陥部Ｒであっても、正確に検出できる。 - 特許庁

To provide an inspection method for a ceramic structure, capable of not only knowing a position and a size of an internal defect of the ceramic structure but also grasping an accurate position, shape and size of the internal defect, nondestructively and easily in a short time.例文帳に追加

非破壊、簡便且つ短時間で、セラミック構造体の内部欠陥の位置や大きさが分かるだけでなく、内部欠陥の正確な位置や形状及び大きさも把握することができるセラミック構造体の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a fiber-reinforced resin molding which can easily mold a molding having a complex shape without a defect such as a void.例文帳に追加

空隙等の欠陥の無い複雑な形状を有する成形体を容易に成形できる繊維強化樹脂成形体の製造方法を提供する。 - 特許庁

Here, a processing defect or dust sticking of the nozzle storage hole 27 can be detected from an external shape of the light leaking to above the nozzle storage hole 27.例文帳に追加

ここで、前記ノズル収納穴２７の上方に漏れてくる光の外形から、ノズル収納穴２７の加工不良やゴミ付着を検出することができる。 - 特許庁

To prevent a double matrix type electrooptical device from having a display defect in striped pattern by contriving the shape of scanning lines.例文帳に追加

２重マトリクス方式の電気光学装置において、走査線の形状を工夫することにより、縞模様状の表示不良が生じるのを防止する。 - 特許庁

To provide a method for molding a glass element capable of obtaining a glass gob free from defect on the surface and having good shape-accuracy to be used for a glass mold method.例文帳に追加

ガラスモールド法に用いられるような、表面に欠陥が無く、形状精度のよいガラスゴブを得ることが可能となるガラス素子の成形方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device where cost reduction of an element separation forming process, stabilization of a shape and suppression of a defect are performed simultaneously.例文帳に追加

素子分離形成工程の低コスト化と形状の安定化及び欠陥の抑制を両立する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

According to this, the shape of the colored layer after drying and curing can be improved to suppress a defect such as reflection unevenness or reflection stripe, and the yield can be thus improved.例文帳に追加

これにより、乾燥硬化後の着色層の形状が改善され、反射ムラや反射スジ等の欠陥の発生が抑制され、歩留まりが向上する。 - 特許庁

To provide a method for efficiently producing a zeolite film having no defect and a uniform thickness on a supporter having complicated shape or a supporter having a large area.例文帳に追加

複雑な形状の支持体や大面積の支持体に欠陥のない厚さが均一なゼオライト膜を効率よく製膜できる方法を提供する。 - 特許庁

To effectively measure a surface shape of a phase defect existing on an exposure mask, and contribute to improvement of production efficiency of the exposure mask.例文帳に追加

露光用マスク上に存在する位相欠陥の表面形状を効率的に測定することができ、露光用マスクの生産効率向上に寄与する。 - 特許庁

To provide a hollow-shaped power transmission shaft with which stable strength is obtained because there are no defect in a surface shape and no decarburized layer which cause the drop in strength.例文帳に追加

強度低下の原因となる表面形状欠陥や脱炭層がなく、安定した強度が得られる中空状動力伝達シャフトを提供する。 - 特許庁

To detect a shape defect projecting on a boundary part between each front/rear surface and a chamfered part, forming an end face relating to a disk member.例文帳に追加

ディスク部材について，表裏各面と端面を形成するチャンファ部との境界部分において突起した形状欠陥を検出することができること。 - 特許庁

To provide a positive resist composition having excellent sensitivity and resolution, hardly generating development residue or development defect and exhibiting excellent shape of pattern profile.例文帳に追加

感度、解像力が優れ、現像残査又は現像欠陥の発生が抑制され、更にパターンプロファイルの形状も優れたポジ型レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection method and device capable of detecting a shape defect in a barrier rib of a PDP and capable of determining quality thereof, with high precision, in a short time.例文帳に追加

短時間で高精度にＰＤＰの隔壁の形状不良を検出し良否判定ができる検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and method capable of detecting a defective part difficult to be detected in a prior art, irrespective of a shape and a directivity thereof.例文帳に追加

従来検出が困難であった欠陥部について、その形状や方向性に関係なく検出可能な欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

A pinhole position or a beam size is adjusted automatically so as to acquire the optimum arrangement of the optical system based on the database with respect to an input defect shape.例文帳に追加

入力した欠陥形状に対してデータベースに基づき、最適な光学系の配置になるよう自動的にピンホール位置、ビームサイズの調整が行われる。 - 特許庁

To determine data of three-dimensional shape of a face turned to a predetermined direction while minimizing restraint of a subject and reducing the defect of a half mirror.例文帳に追加

被験者をできるだけ拘束せず、ハーフミラーの持つ欠点を低減しつつも、所定の向きの顔の三次元形状のデータを求めることができるようにする。 - 特許庁

To provide an electron beam measuring technique for inspecting the shape, dimensions, presence of an defect, and the like in regard to a pattern formed on a sample through a multiple exposure method.例文帳に追加

多重露光法により試料上に形成されたパターンの形状、寸法、または欠陥の有無等の検査を行う電子ビーム測定技術を提供する。 - 特許庁

To surely detect defect by image processing even if work to be inspected is a flexible product having a considerable change in shape.例文帳に追加

検査対象のワークが、形状の変化が大きい柔軟な製品であっても、画像処理による欠陥検出を確実に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a method for correcting a defect of a photomask capable of acquiring an excellent cross-sectional shape at the edge part of a pattern of an absorption layer or a light blocking layer after dark defect correction, a method for manufacturing a photomask using it, and a photomask defect correction device for performing the method.例文帳に追加

本発明は、黒欠陥修正後、吸収層または遮光層のパターンの端部にて良好な断面形状が得られるフォトマスクの欠陥修正方法、およびそれを用いたフォトマスクの製造方法、それを実施するためのフォトマスクの欠陥修正装置を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide an appearance inspecting apparatus having the function of detecting an uneven defect and the function of detecting a pattern defect (minute defect) in a color filter or the like, from image data acquired by photographing a substrate such as the color filter or the like having a pattern shape by using an optics and a photographing system with high resolutions.例文帳に追加

カラーフィルタ等のパターン形状を有する基板を解像度の高い光学系と撮像系を用いて撮像した画像データより、カラーフィルタ等のパターン欠陥（微細欠陥）を検出する機能とムラ欠陥を検出する機能とを兼ね備えた外観検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device and a method for shape inspection which can surely detect a dimensional insufficiency and can determine it as a defect when the shape and dimensions of an inspection object are smaller even by a little than prescribed ones.例文帳に追加

被検査体が所定の形状および寸法よりもわずかでも小さい場合には寸法不足を確実に検出して欠陥であると判定できる形状検査装置および形状検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a welding method and a welding apparatus capable of simultaneously controlling a heat source mode and a bead shape, preventing any shape defect and solving a metallurgical problem in a melt welding such as an arc welding and a laser beam welding.例文帳に追加

アーク溶接、レーザ溶接などの溶融溶接において、熱源形態やビード形状制御や形状欠陥防止と冶金的問題を同時に解決できる溶接方法及び溶接装置を提供する。 - 特許庁

To provide a turbine disk of a gas turbine engine having such a shape that changes empty air stream due to a profile shape of a conventional disk slot abruptly and capable of overcoming defect such as pressure loss of an inlet caused by an inlet.例文帳に追加

従来のディスクスロットの輪郭形状に起因する空気流を急激に変化させる形状の入口に起因するインレットの圧力損失等の欠点を克服するガスタービン・エンジンのタービンディスクを提供する。 - 特許庁

To provide a polylactic acid sprue for dental precision casting which uses polylactic acid of biomass plastics as an environment-friendly economic material, causes no harmful gas upon incineration, has a shape dealing with a tooth shape and a casting defect.例文帳に追加

地球にやさしいエコ素材でバイオマスプラスチックのポリ乳酸を使用し、焼却時有毒ガスを生じなく、歯の形状や鋳造欠陥に対応する形状となる、歯科精密鋳造用ポリ乳酸スプルーを提供する。 - 特許庁

To provide a method for retreating a flaw detection head and a flaw detection apparatus with which a surface flaw can be detected even if shape defect exits in a steel plate which is an object to be detected without breakage of the flaw detection head through contact of the shape defect portions with the surface flaw detection apparatus.例文帳に追加

探傷対象の鋼板に形状不良があっても、この形状不良部分と表面欠陥探傷装置とが接触して欠陥探傷ヘッドを破損することがなく表面欠陥の検出を行うことができる、欠陥探傷ヘッドの退避方法および欠陥探傷装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

This pattern defect inspection device detects a defect by comparing a detection image acquired by scanning patterns, which are sequentially arranged in the line direction at equal intervals on the object under inspection and provided with the same shape, by means of an image sensor with a reference image acquired by scanning the patterns arranged adjacently in the line direction and provided with the same shape.例文帳に追加

被検査物体上に行列方向に等間隔で連続的に配列された同一形状を有するパターンをイメージセンサを走査して得られる検出画像とその行列方向に隣接する同一形状のパターンを走査して得られる参照画像とを比較して欠陥を検出するパターン欠陥検査装置である。 - 特許庁

In a substrate defect checkup system or a substrate defect checkup method by which a substrate is mounted, conveyed to an examination area for examining the substrate, and photographed by irradiating the examination area with examining light to check up any defect in the substrate, the substrate is reformed into a curved shape and subjected to the examination using a plurality of optical checkup units arranged along the curved shape.例文帳に追加

本発明は、基板を載置し前記基板を検査する検査領域に搬送し、前記検査領域に検査光を照射して前記基板を撮像し前記基板の欠陥を検査する基板欠陥検査システムまたは基板欠陥検査方法において、前記基板を湾曲形状に矯正し、前記湾曲形状に沿って配置され複数の光学検査ユニットで前記検査を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a defect discrimination method capable of discriminating between a detected flaw signal and a noise signal generated from a complicated shape of an inspection object spot, when performing eddy current flaw detection of the inspection object spot on a complicated shape part having a shape changing three-dimensionally.例文帳に追加

３次元的に形状が変化する複雑形状部の検査対象箇所を渦電流探傷する場合において、検出される傷信号と検査対象箇所の複雑な形状によって生じる雑音信号を識別可能にする欠陥識別方法を提供する。 - 特許庁

The pattern shape of a wafer without any ground pattern is taken into the database of a pattern defect-inspecting machine as image data (S14) and is compared with the pattern shape of a wafer with the ground pattern, thus specifying a part where the failure in a pattern shape occurs and the exposure energy at that time (S15).例文帳に追加

下地パタンのないウェハのパタン形状を画像データとしてパタン欠陥検査機のデータベースに取り込み（Ｓ１４）、これと下地パタンを有するウェハのパタン形状を比較することによって、パタン形状の不良が発生する箇所およびそのときの露光量を特定する（Ｓ１５）。 - 特許庁

To provide an inspection method for shape defect or the like by which the defect of a printed wiring board or the like, especially a light transmission type electronic substrate, can be detected accurately, quickly and automatically through optical processing without paying attention to the deviation of a substrate, and to provide an inspection device.例文帳に追加

プリント配線基板等、特に光透過型電子基板の欠陥を、基板のずれを気にせずに光学的処理により高精度、迅速、かつ、自動的に検出することができる形状欠陥等の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁