「tem」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

There is a possibility that distortion may restrain a resolution of the TEM when especially performing the 3D reconstruction of a feature by using a tomography.例文帳に追加

当業者が知っているように、特に、トモグラフィを用いて特徴の３Ｄ再構成を行うときに、歪は、ＴＥＭの分解能を制限する可能性がある。 - 特許庁

When a TEM image observed on the fluorescent plate 11 is photographed by using a photographic film 12, the fluorescent plate 11 is retreated from the electron beam optical axis O.例文帳に追加

蛍光板１１上で観察されたＴＥＭ像を写真フィルム１２で撮影するときには、蛍光板１１が電子線光軸Ｏ上から退避される。 - 特許庁

The metallic nickel particulates produced thereby have an average particle diameter of 1-50 nm based on TEM observation.例文帳に追加

この方法により生成される金属ニッケル微粒子は、ＴＥＭ観察に基づく平均粒子径が１ｎｍ〜５０ｎｍの範囲内にあることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a progressive waveform slot array antenna constituted of a feeding waveguide in a TEM mode capable of efficiently transmitting and receiving circular polarization.例文帳に追加

円偏波の送受信を効率的に行うことが可能なＴＥＭモードの給電導波路で構成される進行波形スロットアレーアンテナを提供することである。 - 特許庁

In a high-voltage TEM, many more Bragg reflections are excited simultaneously when a specimen is illuminated near a low-indexed zone axis. 例文帳に追加

高圧電子顕微鏡では、試料が低次指数の晶帯軸の近くで(電子ビームで)照射されるとき、より多くのブラッグ反射が同時に励起される。 - 科学技術論文動詞集

The tissue structure has the structural characteristic in which the crystal structure substantially exclusive of a graphite structure does not substantially exist, the diffraction lines belonging to the metal Si and Si compound by the pattern analysis using an X-ray diffraction method are not detected and the granular structure is not identifiable by the observation of a transmission type electronmicroscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM) の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

To provide a method capable of simply and efficiently manufacturing various ultra-thin segments such as a sample for transmission type electron microscope (TEM) observation in a short time and at a low cost.例文帳に追加

透過型顕微鏡（ＴＥＭ）観察用試料等をはじめとする各種超薄切片を、短時間、低コスト、簡便かつ効率的に製造し得る方法の提供。 - 特許庁

When a TEM (transmission electron microscope) image is photographed at each testpiece tilted angle, the image is photographed by changing the defocus amount Δf into a plurality of defocus amounts Δf_1, Δf_2, Δf_3.例文帳に追加

各試料傾斜角度においてＴＥＭ像を撮影する際、デフォーカス量Δｆが複数のデフォーカス量Δｆ_１，Δｆ_２，Δｆ_３に変えられて像撮影が行われる。 - 特許庁

The part 42, which combines both of the resonators 40 and 41 by the TEM mode, has a cut-off frequency higher than that of each of them.例文帳に追加

導波管結合部４２は誘電体共振器４０，４１の両者をＴＥＭモードで結合するが、これらの各々より高い遮断周波数を有している。 - 特許庁

To provide an advertisement distributing server by which the needs of a user is instantaneously grasped to easily change a sales strategy such as the sales items and a quantity of each tem.例文帳に追加

ユーザのニーズを瞬時に捉えることができ、これにより販売品目、数量の対応等販売戦略の変更が容易となる広告配信サーバを提供する。 - 特許庁

To provide a complex electron capable of obtaining accurate correspon dence between the SEM/STEM image and TEM image.例文帳に追加

本発明は複合電子顕微鏡に関し、ＳＥＭ／ＳＴＥＭ像とＴＥＭ像との対応を正確にとることができる複合電子顕微鏡を提供することを目的としている - 特許庁

To shorten a time required for the analysis of a multiple-conductor coupling line constituted of a TEM line, and to more easily perform the analytic processing than a conventional manner.例文帳に追加

ＴＥＭ線路からなる多導体カップリング線路の解析に要する時間を短縮し、その解析処理を従来に比べ容易に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide an information technology means from a management plan level, into which the change of an industrial structure is integrated, to a small and middle-scaled enterprise in an inexpensive Internet utilization sys tem.例文帳に追加

中小企業者に、産業構造の変化を組み込んだ経営計画レベルからの情報技術化手段を低コストのインターネット活用方式で提供する。 - 特許庁

To provide a high-frequency module which can convert an electromagnetic wave of a TE mode into an electromagnetic wave in a balanced TEM mode without adjustment, and can be easily miniaturized.例文帳に追加

ＴＥモードの電磁波を平衡型のＴＥＭモードの電磁波に無調整で変換して出力でき、しかも小形化の容易な高周波モジュールを提供する。 - 特許庁

To illustrate, a sample 34 placed at the end 20 of a sample holder 7 can be maintained at a temperature of liquid nitrogen in a low temperature TEM (transparent electron microscope) as its embodimenet.例文帳に追加

例えば、低温ＴＥＭ（透視型電子顕微鏡）において、試料ホルダ７の末端２０に配置される試料３４が、例えば、液体窒素の温度に維持され得る。 - 特許庁

Further, image signals from the TV camera selected by the control software are inputted into a computer 13 through a TV source 11 and a TEM image interface 15.例文帳に追加

また、コントロールソフトウェア２４により選択されたＴＶカメラからの画像信号は、ＴＶ電源１１、ＴＥＭ像インターフェース１５を介してコンピュータ１３内に入力される。 - 特許庁

To extract a frozen hydrated sample for TEM (transmission electron microscope) inspection, such as a vitrified biological sample, from a substrate and to attach the sample to a manipulator.例文帳に追加

ＴＥＭ（透過型電子顕微鏡）検査のために、例えばガラス化した生体サンプル等の凍結した含水サンプルを基板から抽出し、該サンプルをマニピュレータに取り付ける。 - 特許庁

In the obtained composite, the silica particles of 5-50 nm are uniformly dispersed in the observation of transmission electron microscope (TEM), and both bending and tensile strengths are remarkably improved.例文帳に追加

得られたコンポジットをＴＥＭで観察したところ５ｎｍ〜５０ｎｍのシリカ粒子が均一に分散しており、曲げ強度、引張強度とも大幅に向上した。 - 特許庁

To provide a sample holder for focused ion beam machining observation device capable of holding a minute sample piece on a stage kept horizontal without fail, when it is extracted from the sample of FIB machining and processed into the sample for TEM, and capable of holding the stage in a direction without fail.例文帳に追加

FIB加工で試料から、微小な試料片を摘出し、TEM用試料に加工する際に、摘出した前記微小試料片を水平に保たれた前記試料台に確実に固定することが可能であり、前記試料台を一定の方向に確実に固定することが可能な集束イオンビーム加工観察装置用試料ホールダを提供する。 - 特許庁

Further, a polyolefin resin in which the difference (Tem-Tim) between an extrapolation melting starting temperature Tim and an extrapolation melting finishing temperature Tem obtained by a DSC is 35°C or higher is used as the one side surfaces of the films and a strong welded portion 16 and a weak welded portion 17 with different heatseal strength each other are formed in the easily removable seal portion 11.例文帳に追加

また、上記フィルムの一方側表面として、ＤＳＣにより求められた補外融解開始温度Ｔｉｍと補外融解終了温度Ｔｅｍとの差（Ｔｅｍ−Ｔｉｍ）が３５℃以上であるポリオレフィン系樹脂を用い、易剥離シール部１１中に、互いにヒートシール強さが異なる強融着部１６と弱融着部１７とを形成する。 - 特許庁

This process is repeatedly carried out, and the image data of the inclined image series S_2, S_3, ... S_m constituted of the TEM images I(θ_1), I(θ_2), ... I(θ_n) are stored in the image memory 16.例文帳に追加

このような処理が繰り返し行われ、ＴＥＭ像Ｉ（θ_１），Ｉ（θ_２），…Ｉ（θ_ｎ）で構成される傾斜画像シリーズＳ_２，Ｓ_３，…Ｓ_ｍの画像データが、画像メモリ１６に記憶される。 - 特許庁

To provide a method for preparing samples for TEM observation and capable of processing a large amount of powder between 1-100 μm or sub-micron powder, at one time, in a short time period.例文帳に追加

一度に多くのミクロン以上〜１００μｍ以下の粉末、またはサブミクロンの粉末を短時間に加工することのできるＴＥＭ観察用試料作製方法を提供する。 - 特許庁

Thus, the resonance of the TE mode of a 1/4 wavelength is generated in an axial length direction and an attenuation pole is generated by combining the resonance of the TE mode and the resonance of a TEM mode.例文帳に追加

これにより軸長方向に１／４波長のＴＥモードの共振を生じさせて、このＴＥモードの共振とＴＥＭモードの共振との合成により減衰極を生じさせる。 - 特許庁

As a result of observing the section of the wafer by a TEM, it is confirmed that the dislocation (defect) of GaN of a first nitride semiconductor layer is not propagated to a second nitride semiconductor layer.例文帳に追加

ウェハーの断面をＴＥＭで観察した結果、第一窒化物半導体層のＧａＮの転位（欠陥）が第二窒化物半導体層に伝播していないことが確認された。 - 特許庁

1. In the case of an identification beacon installed pursuant to the prescription under subitem (a) 2, or in the case where it is located in juxtaposition with another aerodrome, etc., it shall be installed in the location prescribed under sub-tem (a) 1 in order to verify the identity of said aerodrome, etc. 例文帳に追加

（一）　イ（二）により設置するもの又は隣接して他の空港等がある場合に当該空港等の同一性を確認するためイ（一）の位置に設置するものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In the inequalities, d_50x1 is the average major axis (maximum aspect diameter) in μm of the platy particle obtained by the TEM image and Sw is the BET specific surface area (m^2/g) obtained by the nitrogen absorption method.例文帳に追加

但し、ｄ_50ｘ１：ＴＥＭ写真より求めた板状粒子の平均長径（定方向最大径）（μｍ）、Ｓｗ：窒素吸着法によるＢＥＴ比表面積（ｍ^2 ／ｇ） - 特許庁

This stage is constituted of a versatile stage 3, a support member 4 for supporting the stage 3, a driving means 5 for driving the support member 4, and a TEM holder 7 provided in the support member 4.例文帳に追加

汎用ステージ３と、汎用ステージ３を支持する支持部材４と、支持部材４を駆動する駆動手段５と、支持部材４に設けられたＴＥＭホルダ７と、で構成する。 - 特許庁

To enhance stability of a TEM sample contacting on an attaching face, and to reduce an influence affected by a characteristic X-ray from the attaching table resulting from a scattered electron beam.例文帳に追加

取付面上に接触されたＴＥＭ試料の安定性が高く、散乱電子線に起因する取付台からの特性Ｘ線による影響も少ないＴＥＭ試料取付台を得る。 - 特許庁

When a failure pat is detected, a sample region including the failure part is picked up by microsampling method and a sample piece thus picked up is sliced to obtain a sample for TEM observation.例文帳に追加

不良部が検出されたら、該不良部を含む試料領域をマイクロサンプリング法により摘出し、この摘出試料片を薄片化加工してＴＥＭ観察用サンプルとする。 - 特許庁

The fish-bone type carbonaceous microfiber body has a graphite crystal structure having a fish bone-like arrangement structure in the fiber axis direction in a transmission electron microscope (TEM) image.例文帳に追加

グラファイトの結晶構造が透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）画像において、繊維軸方向に魚骨状配列構造を有したフィッシュボーン型炭素質微細繊維状体である。 - 特許庁

To provide a device for processing ion beam capable of making a sample suitable for use for a TEM without using a shielding plate.例文帳に追加

本発明はイオンビーム加工装置に関し、ＴＥＭに用いて好適な試料を遮蔽板を使用せずに作製することができるイオンビーム加工装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

A problem with such a magnetron is that there is capacitive coupling between a cathode and the output coupler 51, which can lead to the coaxial TEM mode propagating along the cathode.例文帳に追加

こうしたマグネトロンに関連する問題は、カソードと出力カプラ５１との間に容量結合があることであり、そのことが、カソードに沿って伝播する同軸のＴＥＭモードをもたらし得る。 - 特許庁

To form a section on a desired position of a semiconductor device having a fine structure without impairing the original section shape, and to enable section analysis by a SEM, a TEM or the like.例文帳に追加

本来の断面形状を損なうことなく、微細構造を有する半導体装置の所望位置に断面を形成し、ＳＥＭあるいはＴＥＭ等による断面解析を可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can securely TEM-observe a breakdown voltage abnormal part of a gate oxide film in gate oxide film breakdown voltage evaluation TEG, and to provide an evaluation analyzing method of the device.例文帳に追加

ゲート酸化膜耐圧評価用ＴＥＧにおけるゲート酸化膜の耐圧異常箇所を、確実にＴＥＭ観察できる半導体装置、及び、その評価解析方法を提供すること。 - 特許庁

Through such a configuration, the cavity and the conductor rod 4 configure a semi-coaxial resonator in a quasi-TEM mode and the cavity and a dielectric core 3 configure a resonator in a quasi-TM mode.例文帳に追加

この構造により、キャビティと導体棒４とで半同軸共振器の準ＴＥＭモードの共振器を構成し、キャビティと誘電体コア３とによって準ＴＭモードの共振器を構成する。 - 特許庁

This shifter 100 can be implemented by using a strip line, micro-strip, or coplanar waveguide transmission line structure supported by a voice or a substrate, or another pseudo TEM transmission line structure.例文帳に追加

本発明は、空隙あるいは基板によって支持されたストリップライン、マイクロストリップ、あるいはコプラナー導波路伝送線路構造あるいは他の擬似ＴＥＭ伝送線路構造を用いてインプリメントされうる。 - 特許庁

This resonator is caused to function as a multi-mode dielectric resonator of a TM mode and a TE mode by the dielectric core 3 and is caused to function as a TEM-mode resonator by the center conductor 4 and the cavity.例文帳に追加

誘電体コア３によってＴＭモードとＴＥモードの多重モード誘電体共振器として作用させ、中心導体４とキャビティとによってＴＥＭモードの共振器として作用させる。 - 特許庁

To provide a selected area aperture plate, a manufacturing method of the same and the like, in which a fine pore can be formed while maintaining mechanical strength, and which is suitable for observing a selected area electron diffraction image of a TEM.例文帳に追加

機械的強度を維持しつつ微細孔を形成することができ、ＴＥＭの制限視野電子回折像観察に好適な制限視野絞りプレート及びその製造方法等を提供する。 - 特許庁

Whether the compressor operation frequency Hz is 10 Hz or more and less than 20 Hz and whether the discharge pressure saturation temperature T cm is larger than 1.25×Tem+25 or not are determined.例文帳に追加

圧縮機運転周波数Ｈｚが１０Ｈｚ以上、かつ２０Ｈｚ未満であるか否か、吐出圧力飽和温度Ｔｃｍが１．２５×Ｔｅｍ＋２５よりも大きいか否かを判定する。 - 特許庁

The observing sample-surface 150 of the TEM sample is adhered to the fixing plate main surface 130 of the sample fixing plate 110 by tungsten 160 (tungsten deposition).例文帳に追加

試料固定板１１０の主面である固定板主面１３０上には、ＴＥＭ試料１４０の観察面である試料観察面１５０がタングステン１６０により接着（タングステンデポジション）される。 - 特許庁

This TEM FIB sample of a solid material is made very thin by irradiation of a sample surface alternately on its both sides with an ion beam in a step of a post-treatment, without being contaminated and destructed.例文帳に追加

固体材料のＴＥＭ ＦＩＢ試料は、汚染および破壊されることなく、後続処理のステップのイオンビームを用いた試料表面の交互の側での打込みによって、非常に薄くされる。 - 特許庁

To constitute a quadruple or more multi-mode resonator by easily equalizing a resonance frequency in the multiple mode resonance of a dielectric resonator and a frequency in the quasi-TEM mode of a semi-coaxial resonator.例文帳に追加

誘電体共振器の多重モードの共振周波数と半同軸共振器の準ＴＥＭモードの周波数を容易に揃えられるようにして、４重モード以上の共振器を構成する。 - 特許庁

To correct surface inclination errors of an observation sample, in the installation of the sample on FIB processing sample stand, with high accuracy, in the manufacture of the sample for TEM for thinning a plate by the FIB processing.例文帳に追加

ＦＩＢ加工による薄板化を行うＴＥＭ用観察試料の作製において、ＦＩＢ加工試料台への試料設置における試料表面の傾斜誤差を精度高く補正する。 - 特許庁

Accordingly, the sample for observation observable by TEM or FIB can be acquired from the observation object 2 taken out, before reaching a prescribed baking temperature after start of baking.例文帳に追加

このようにすることで、焼成開始後、所定の焼成温度に到達する前に取り出した観察対象物２を、ＴＥＭやＦＩＢで観察することが可能な観察用試料とすることができる。 - 特許庁

Consequently, a contrast transfer function of the TEM according to the present invention is considered to be equal to that of a single-sideband microscope at low frequencies and that of a normal microscope at high frequencies.例文帳に追加

結果として、この発明に従ったＴＥＭのコントラスト伝達関数は、低い周波数でシングルサイドバンドの顕微鏡のもの及び高い周波数については正常な顕微鏡のものに等しいことになる。 - 特許庁