「tem」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The mail client 3 decodes the encoded distributed pieces at gathering of the distributed pieces sent from the TEM server 2, and restores the attached file from the decoded distributed pieces and the sent pieces without encoding.例文帳に追加

メールクライアント３は、ＴＥＭサーバ２から送られた分散片が揃った時点で、暗号化された分散片を復号し、復号した分散片と暗号化されずに送られた分散片とから添付ファイルを復元する。 - 特許庁

A bond is formed between the sample 1 and the manipulator 10 by melting or sublimating a part of the sample material outside the area to be observed in the TEM and freezing the material to the manipulator 10.例文帳に追加

サンプル物質のうち、ＴＥＭにて観察される領域の外側の一部を溶解あるいは昇華させ、且つ該物質をマニピュレータ（１０）に凍結させることにより、サンプル（１）とマニピュレータとの間に接合が形成される。 - 特許庁

To provide a data communication device, a data communication sys tem, and a storage medium which make it possible to efficiently use applications by allowing slave machines to share application programs of a master machine.例文帳に追加

本発明の課題は、親機のアプリケーションプログラムを複数の子機が共有することにより、アプリケーションを効率的に利用することを可能としたデータ通信装置、データ通信システム、及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

At the construction of the three-dimensional image, the image data stored in the image memory 15 are transmitted to a CRT 20 and the TEM images photographed under the defocus amount Δf_1, Δf_2, Δf_3 are displayed on the CRT 20.例文帳に追加

３次元像構築にあたっては、画像メモリ１５に記憶された画像データがＣＲＴ２０に送られ、デフォーカス量Δｆ_１，Δｆ_２，Δｆ_３のもとで撮影されたＴＥＭ像がＣＲＴ２０上に表示される。 - 特許庁

To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。 - 特許庁

To provide a cathode luminescence specimen holder to easily perform cathode luminescence analysis by using an existing transmission electron microscope (TEM) and a spectroscopic analyzer using the cathode luminescence specimen holder.例文帳に追加

既設の透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）を用いてカソードルミネッセンス分析を容易に行うことを可能とするカソードルミネッセンス用試料ホルダ、及び該カソードルミネッセンス用試料ホルダを用いた分光分析装置を提供する。 - 特許庁

The texture structure thereof has the texture characteristics that the metal Si and Si compound cannot be observed by X-ray diffraction and the granular texture cannot be observed by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、Ｘ線回折によって金属ＳｉおよびＳｉ化合物が観察されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えたものである。 - 特許庁

This improved TEM comprises a correction system completely placed between an objective system lens and the phase plate, and uses lenses of the corrector to form a magnified image of a diffraction plane on the phase plate.例文帳に追加

改善されたＴＥＭは、対物系のレンズ及び位相板の間に完全に置かれた補正系を具備すると共に、位相板における回折平面の拡大された像を形成するために補正器のレンズを使用する。 - 特許庁

An integration circuit 17 extracts the TEM images of the same test piece inclination angles from the inclined image series S_1, S_2, ... S_m, and integrates these and obtains the integrated image for every test piece inclination angles θ_1, θ_2, ... θ_n.例文帳に追加

積算回路１７は、傾斜画像シリーズＳ_１，Ｓ_２，…Ｓ_ｍから同じ試料傾斜角度のＴＥＭ像を抽出してそれらを積算し、試料傾斜角度θ_１，θ_２，…θ_ｎごとに積算像を取得する。 - 特許庁

To provide a wafer inspection device which can achieve high-speed, high-resolution visual test of semiconductor wafer and consistently prepares samples for TEM observation or various analyses with high accuracy of position from the area where any foreign material or defect exists.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

The sample is fixed by the abutment part 302a, the side surface holding member 302b and the back surface holding member 303, and since the abutment part works as a positioning stopper, insertion length of the TEM sample 103 can be fixed.例文帳に追加

この当接部３０２ａと側面保持部材３０２ｂと裏面部保持部材３０３により試料が固定され、位置決めストッパーとしての役割を果たすので、ＴＥＭ用試料１０３の挿入長を一定にすることができる。 - 特許庁

To provide an inspection device, capable of performing the visual inspection of a semiconductor at a high speed with high resolution and uniformly preparing a sample for TEM observation and various analyses, with high position accuracy, from a region where foreign matters or defects exist.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

Retreating amount L1 of the tatami facing 1 of the rear surface 13 to the tatami facing 1 of the front surface 10 of the two tatami mats becomes L1', L1" by laying of tem into the tatami horizontal member, and the two tatami mats are compressed to each other at the rail parts 12b, 12c.例文帳に追加

畳イ、ロの表側１０の畳表１に対する裏側１３の畳表１の後退量Ｌ_1は、畳寄せに敷き込むことでＬ_1’、Ｌ_1”となり、畳イと畳ロとがカマチ部１２ｂ、１２ｃで互いに圧縮される。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of consistently manufacturing a sample for appearance inspection of a semiconductor wafer in high speed and high resolution and for TEM observation or various analyses from an existing part of foreign matters or defects, with high positioning accuracy.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

The standard sample for the charged particle beam containing different two samples for magnification or dimension calibration, and the charged particle beam device using the standard sample are formed, in a TEM, an STEM (scanning transmission electron microscope), or an SEM for observing a sample by using electrons transmitted through it.例文帳に追加

本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To arrange an electron microscope and a sample so that the distance therebetween is optimum, in a device which prepares a thin sample by focused ion beam for use in observation by a transmission electron microscope (TEM) and removes a damaged layer on the sample surface using a gaseous ion beam at a low acceleration voltage.例文帳に追加

集束イオンビームでＴＥＭ観察用の薄片化試料を作製し、低加速電圧の気体イオンビームで試料表面のダメージ層を除去する装置において、電子顕微鏡と試料とを最適な距離に配置すること。 - 特許庁

A magnetic resonance imaging apparatus compares feature points of the corpus callosum and feature points FS_i of standard models CC1-CC3 of the corpus callosum in templates TEM-TEM3, and identifies to which of the standard models CC1-CC3 the corpus callosum belongs.例文帳に追加

脳梁の特徴点と、各テンプレートＴＥＭ〜ＴＥＭ３の脳梁の標準モデルＣＣ１〜ＣＣ３の特徴点ＦＳ_ｉとを比較し、脳梁が、標準モデルＣＣ１〜ＣＣ３のうちのどの標準モデルに属するかを識別する。 - 特許庁

After performing a secret distribution process to the attached file sent from the mail client 1, the TEM server 2 performs an encoding process to one of distributed pieces and transmits the distributed pieces to the mail client 3 with a different timing for each piece.例文帳に追加

ＴＥＭサーバ２は、メールクライアント１から送られた添付ファイルに対して秘密分散処理を行った上で、分散片の１片に暗号化処理を行ない、分散片を１片ずつタイミングを変えてメールクライアント３に送信する。 - 特許庁

To facilitate a diameter change, an exchange, and mounting and dismounting of an orifice arranged above and below a sample chamber (an incident side and an emitting side of an electron beam) in a charged particle beam device such as a transmission electron microscope (TEM).例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）等の荷電粒子線装置において、試料室の上下（電子線の入射側及び出射側）に設置される絞り（オリフィス）の口径変更、交換、着脱が容易に行えるようにする。 - 特許庁

The device for preparing a plane TEM sample comprises a glow discharge emission spectral analysis (GDS) device part 102 and an ion milling device part 103, and sets a control program corresponding to a specific element contained in a sample 5 comprising a multilayer film.例文帳に追加

平面ＴＥＭ試料作製装置はグロー放電発光分光分析（ＧＤＳ）装置部１０２とイオンミリング装置部１０３とを備え、多層膜からなる試料５に含まれる特定元素に対応した制御プログラムを設定する。 - 特許庁

To provide a machining method that uses a glass probe for secure retention after thin-piece finish machining, and at the same time carries out transport and placement onto mesh for stably creating a sample for TEM observation.例文帳に追加

本発明の課題は、薄片化仕上げ加工の後ガラスプローブを用いて確実に保持すると共にメッシュ上に移送載置してＴＥＭ観察用の試料を安定して作成することができる加工法を提供することである。 - 特許庁

To provide an antenna device consisting of a slot antenna using a parallel flat plate type conductor capable of transmitting and receiving electromagnetic waves of horizontally polarized type using such a slot shape as excited by TEM waves transmitted between parallel flat plates.例文帳に追加

平行平板状導体を用いたスロットアンテナにおいて、平行平板の間を伝わるＴＥＭ波により励振されるようなスロット形状を用いて、水平偏波の電磁波の送受ができるアンテナ装置を提供する。 - 特許庁

To enable additional processings in FIB system, while observing with high magnification and high resolution by separating a thin piece processed on an wafer with FIB equipment from the wafer, and in order to observe with TEM equipment, it is integrated to a grid with adhesion.例文帳に追加

ＦＩＢ装置でウエハー上に加工された薄片をウエハーから分離してＴＥＭ装置で観察するため、グリッドに接着一体化し、高倍率高分解能で観察するとともにＦＩＢ装置での追加工を可能とする。 - 特許庁

The invention proposes that a diffraction pattern is formed by a stationary beam (200) having a diameter a little bit lager than a crystal, and, as a result, the TEM without a STEM unit can be used.例文帳に追加

当該発明は、結晶と比べてわずかにより大きい直径を備えた静止のビーム（２００）で回折パターンを形成することを提案するが、それの結果としてＳＴＥＭユニット無しのＴＥＭは、使用されることができる。 - 特許庁

To provide a defocusing amount measuring method in which defocusing amount can be stably measured by eliminating image movement which is not caused by electron beam tilting with respect to a defocusing amount measuring method of a TEM.例文帳に追加

本発明はＴＥＭのデフォーカス量測定方法に関し、電子線傾斜によらない像移動を無くしてデフォーカス量を安定に測定することができるようにしたデフォーカス量測定方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To sample quickly a slice specimen processed for analyzing by observation, instrumental analysis or the like by means of TEM or STEM, a foreign matter or a defect existing on the surface of a semiconductor wafer or the like or inside thereof.例文帳に追加

本発明の目的は、半導体ウェハ等の表面や内部にある異物や欠陥などをＴＥＭもしくはＳＴＥＭで観察や分析など解析するために加工された薄片試料を迅速に採取することに関する。 - 特許庁

To provide an electron microscope holder having high X-ray detection efficiency even in an EDX analysis by an X-ray analyzer of a low angle for extracting a sample for TEM observation in cross section produced by the FIB processing and to provide a spacer for use therefor.例文帳に追加

ＦＩＢ加工により作製した断面ＴＥＭ観察用試料の、低取り出し角のＸ線分析器によるＥＤＸ分析においても、高いＸ線検出効率を有する電子顕微鏡ホルダー及びこれに用いるスペーサーを提供する。 - 特許庁

A shield case 2, having ground pin holes 1 bored at equal spacings into the topside, is mounted on a board 3, and ground pins 4 are inserted in the ground pin holes 1 on function block partitions, thus making tem connectable to a ground on the board 3.例文帳に追加

上面に等間隔で複数開けられたアースピン穴１を有するシールドケース２が基板３上に取り付けられ、機能ブロック仕切り上のアースピン穴１にはアースピン４が差し込まれており、基板３上のアースと接続できる状態となっている。 - 特許庁

A gap 112 is specified between the channel 102A and the channel 102B and in a 'TEn 0' mode, in which (n) is an odd number, an electromagnetic wave is propagated along with the axial line of a waveguide but in a 'TEm 0' mode, in which (m) is an even number, the electromagnetic wave is suppressed.例文帳に追加

ギャップ１１２は、チャンネル１０２Ａとチャンネル１０２Ｂとの間に規定され、ｎが奇数のＴＥｎ，０モードで電磁波を導波管の軸線に沿って伝搬するが、しかし、ｍが偶数のＴＥｍ，０モードで電磁波を抑制する。 - 特許庁

The carbon electrode containing a metal element has a content of the metal element, in a region where particles with a size of 5 nm or more containing the metal element are not observed in observation with a TEM, of 5 at% or more to carbon.例文帳に追加

金属元素を含有する炭素電極であって、ＴＥＭで観察したときに、金属元素を含む粒径５ｎｍ以上の粒子が観測されない領域における金属元素の含有量が、炭素に対して５ａｔ％以上である、炭素電極。 - 特許庁

Since magnetic fields are coupled so that the direction of the magnetic field of the first waveguide and that of the magnetic field of the second waveguide are matched with each other in an H plane, mode conversion between the TEM mode and another mode can be excellently performed between the waveguides.例文帳に追加

第１の導波路と第２の導波路との磁界の方向を、Ｈ面内において一致させて磁界結合するようにしたので、各導波路間において、ＴＥＭモードとその他のモードとのモード変換を良好に行うことができる。 - 特許庁

Since magnetic fields are coupled so that the direction of the magnetic field of the first waveguide and that of the magnetic field of the second waveguide are matched with each other in an E plane, mode conversion between the TEM mode and other modes is excellently performed between the waveguides.例文帳に追加

第１の導波路と第２の導波路との磁界の方向を、Ｅ面内において一致させて磁界結合するようにしたので、各導波路間において、ＴＥＭモードとその他のモードとのモード変換を良好に行うことができる。 - 特許庁

To provide metal nickel particle powder made of fine metal nanonickel particle which has a mean particle diameter obtained according to TEM (Transmission Electron Microscope) of ≤30 nm, and which has satisfactory dispersibility in a solvent, and has sintering temperature suppressed to low.例文帳に追加

ＴＥＭにより求まる平均粒子径が３０ｎｍ以下の微細な金属ナノニッケル粒子からなる粉末であって、溶媒中での分散性が良好であり、かつ焼結温度を低く抑えることが可能な金属ニッケル粒子粉末を提供する。 - 特許庁

The upper surface 1A1 of the fitting part 1A and a wall surface 41A of a bottom wall 41 around the opening part 42 of a TEM cell 4 are constituted, in such a way as to be flush with the fitting part 1A of the metal frame 1 fitted into the opening part 42.例文帳に追加

金属枠１の嵌合部１Ａを開口部４２に嵌合させた状態で、嵌合部１Ａの上面１Ａ１と、ＴＥＭセル４の開口部４２の周囲の底壁４１の壁面４１Ａとは同一面をなすように構成されている。 - 特許庁

The thin section of test piece is pulled toward the tip of the probe for sampling and holding by electrostatic attraction, and reverse voltage is given between them when loaded on the TEM sample pedestal to generate repulsive force between them, so that the test piece are to be easily removed from the probe.例文帳に追加

静電引力によってプローブ先端に薄片試料を引き寄せて採取、保持し、ＴＥＭ試料台に載置する際は逆電圧を与えることで両者の間に斥力を生じさせ、容易に試料をプローブから離脱させる。 - 特許庁

Thus, a resonance frequency in a spurious mode, such as a TE101 mode, is shifted toward a lower frequency band so as to cause the resonance frequency to shift in the spurious mode from a frequency band requiring attenuation, such as around a second order higher harmonic wave band in a TEM mode that is an operating mode.例文帳に追加

これによりＴＥ_101モード等のスプリアスモードの共振周波数を低域側へシフトさせて、使用モードであるＴＥＭモードの２次高調波付近などの、減衰を必要とする帯域からスプリアスモードの共振周波数をずらせる。 - 特許庁

Dielectric cores 3, into which conductor bars 4 are inserted, are mounted into a cavity body 1, a TEM mode by a cavity and conductor bars and a TM mode by the cavity, the dielectric cores 3 are coupled, and dual-mode resonators RW are installed.例文帳に追加

キャビティ本体１内に、導体棒４が挿通する誘電体コア３を設けて、キャビティおよび導体棒によるＴＥＭモードと、キャビティおよび誘電体コアによるＴＭモードとを結合させて、２重モード共振器ＲＷを設ける。 - 特許庁

To provide a sample preparation device for a large diameter wafer, equipped with an introduction means of a TEM holder capable of preventing pressure increase in a vacuum vessel and contamination, for fixing a sample piece having the size of several μm, enabling quick observation, and having a sample chamber having a small volume.例文帳に追加

真空容器内の圧力の増加や汚染が無く数μｍの試料片が固着されるＴＥＭホルダの導入手段を備え、迅速な観察を可能とする試料室容積が小さい、大口径ウエハ用の試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To perform TEM observation and secondary particle image observation in an identical observing position by irradiating an observed surface formed by a focused ion beam with a charged particle beam to form an observed image and then thin-processing to make transparent while supporting the observed surface.例文帳に追加

集束イオンビームで形成した観察面に荷電粒子ビームを照射し、観察像を取得し、観察面を保持したまま、さらに透過可能になるように薄片化加工を行うことで、同一観察位置のＴＥＭ観察と二次粒子像観察を図ること。 - 特許庁

To accurately perform sampling work of a sample piece performed after the sample piece is formed by focusing ion beam in the atmosphere at a low cost by a simple method, to realize the high magnification observation of TEM and to also enable the additional processing of the sample piece.例文帳に追加

集束イオンビームによる試料片作成後に行われる試料片のサンプリング作業を、大気中下で簡易な手法により低コストで的確に行うことができ、しかも、ＴＥＭの高倍率観察を実現でき、試料片の追加工も可能にする。 - 特許庁

To provide a method capable of performing film thickness control set by FIB processing without a processing recipe for film thinning, and performing simply fine processing of a TEM sample or the like by a skill in some degree, and a system for executing the method.例文帳に追加

本発明の課題は、薄膜加工の加工レシピなしでも、ＦＩＢ加工で設定した膜厚制御を行い、有る程度のスキルがあれば、簡単にＴＥＭ試料などの微細加工を行うことが出来る方法と、それを実行するシステムを提示することにある。 - 特許庁

The advantage of the method according to the invention is that the TEM without a scanning unit can be used, and also that the entire crystal obtains the diffraction pattern, while the volume of the diffraction does not depend on the orientation of the crystal when being illuminated.例文帳に追加

当該発明に従った方法の利点は、走査するユニット無しのＴＥＭが、使用されることができると共に、全体の結晶が、回折パターンを得る一方で、照明される際に、回折のボリュームが、結晶の配向に依存するものではないというものである。 - 特許庁

To provide a TEM capable of memorizing a plurality of conditions regarding each of three modes in an MDS in order to reduce electron beam damage of a sample, carrying out repetition work simply, and setting the optimum condition according to the sample and purpose arbitrarily.例文帳に追加

試料の電子線損傷を低減するためのＭＤＳにおける三つのモードのそれぞれについて複数の条件を記憶して、繰り返し作業を簡単に行うと共に、試料や目的に応じて最適な条件を任意に設定できるＴＥＭを提供する。 - 特許庁

A TEM cell 29b is used as an antenna to be used for an on-vehicle communication system in which a frequency of radio waves to be output from a communication means is set to a shut-off frequency or lower of a waveguide in a case an opening frame of a vehicle is regarded as the waveguide.例文帳に追加

信手段から出力される電波の周波数を、車両の開口部枠を導波管と見立てた場合に、該導波管の遮断周波数以下に設定した車載用通信システムに用いられるアンテナとして、ＴＥＭセル２９ｂを用いる。 - 特許庁

To realize sure information transmission and easy handling, in an analyzer including SEM and TEM devices which is used in off-line inspection separated from a semiconductor fabrication line and for which transmission of information and a reasonable handling means become problematic.例文帳に追加

半導体製造ラインから外れたオフライン検査となり、情報の伝達や合理的な取り扱い手段が問題となっているＳＥＭ，ＴＥＭ装置を含む分析装置において、確実な情報伝達，容易な取り扱いを実現することを目的とする。 - 特許庁