「test and set」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST TOOL SET AND SURGICAL KIT例文帳に追加

試験具セットおよび手術用キット - 特許庁

COMPRESSION DEVICE FOR TEST PATTERN SET, ITS METHOD AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパタンセット圧縮装置、方法及び記録媒体 - 特許庁

TEST SET FOR ELECTRONIC DEVICE, AND TERMINAL USED THEREFOR例文帳に追加

電子装置のテストセット及びそれに用いられる端子 - 特許庁

With a start bit set in the test start register, the test control circuit starts a test operation of the CPU with the test circuits, accumulates test results, and resets the CPU and the internal circuits in response to the completion of the test operation.例文帳に追加

テスト起動レジスタにスタートビットがセットされて、テスト制御回路は、テスト回路によるＣＰＵなどのテスト動作を起動しテスト結果を蓄積し、テスト動作の終了に応答してＣＰＵと内部回路をリセットする。 - 特許庁

test and [ evaluate conditional expressions using a set of rules based on the number of arguments. 例文帳に追加

test および [ は、引き数の数に基づいた規則の集合を用いて条件式を評価します。 - JM

To set arbitrary operation mode information to a plurality of CR during a test and to reduce a test cost.例文帳に追加

試験時に複数のＣＲに任意の動作モード情報を設定するとともに試験コストを削減する。 - 特許庁

The test piece subjected to the calcium corrosion test is set in a constant-temperature and constant-humidity environment, and a plurality of test piece images are photographed at intervals of time.例文帳に追加

カルシウム腐食法の試験片を恒温恒湿環境内におき、時間間隔をあけて複数の試験片画像を撮影する。 - 特許庁

A program is set by using the setters 1A, 1B, 1D as test patterns, and when the noise test is started, the test pattern is generated automatically.例文帳に追加

設定器１Ａ，１Ｂ，１Ｄを試験パターンとしてプログラム設定し、ノイズ試験開始には試験パターンを自動的に発生する。 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST SET FOR SCANNING METHOD 3 WEIGHT RANDOM BUILT-IN SELF-TEST AND SCANNING METHOD BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテストのテストセット生成方法、スキャン方式ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

To provide a call-connection test program that achieves an efficient test, facilitates an engineer in charge of testing a call connection to perform the test, and allows the engineer to flexibly set the test conditions, and a test terminal.例文帳に追加

試験を効率化でき、試験担当技術者が試験を行いやすく、柔軟に試験の条件を設定できる呼接続試験プログラムおよび試験用端末を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit that can set a test mode and input a test signal after setting the test mode even if a terminal to be used only in the test mode is not provided in a semiconductor package.例文帳に追加

半導体パッケージにテストモード時にのみ使用される端子を設けなくても、テストモードの設定及びテストモード設定後のテスト信号入力ができるテスト回路を提供する。 - 特許庁

In a load moving test apparatus 1, a test piece 2 is also moved along a running direction along with the rotational driving of a test wheel 51, and, by the combination of the motions of both of them, for example, the relative speed of the test wheel 51 to the test piece 2 is set to a wide range.例文帳に追加

試験車輪５１の回転駆動と共に供試体２も走行方向Ｌに沿って移動させ、両者の運動の組合せによって、例えば試験車輪５１の供試体２に対する相対速度を広い範囲で設定する。 - 特許庁

To easily set a test condition of respective test processes and to simplify building-up of a test flow of a retesting when controlling the test flow including a plurality of test processes.例文帳に追加

複数のテスト工程を含んだテストフローを管理する場合に、やり直しテストのテストフローの作成を簡単化し、また各テスト工程のテスト条件の設定を容易にする。 - 特許庁

If no same test process existed in the past, the test conditions are stored in the test condition memory section 13 from a test condition set section 14, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in the implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理がなければ、その試験条件を試験条件設定部１４から試験条件記憶部１３に記憶させて試験処理を実行し、この試験処理終了後、実行状況記憶部１５にその試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

TEST METHOD RELATED TO TURBINE FOR DRIVING WATER SUPPLY PUMP AND GENERATOR SET例文帳に追加

給水ポンプ駆動用タービンに関する試験方法および発電設備 - 特許庁

``Atomic'' test-and-set, grab the lock if it is not set,and return True, otherwise, return False. 例文帳に追加

ロックがセットされていなければ獲得して True を返します。 それ以外の場合にはFalseを返します。 - Python

The test pattern has a first set of working zones and a second set of working zones.例文帳に追加

テストパターンはワーキング・ゾーンの第１セットと、ワーキング・ゾーンの第２セットとを有する。 - 特許庁

PORTABLE TELEPHONE SET TERMINAL, AND PERIPHERAL DEVICE FOR ACOUSTIC TEST FOR THE PORTABLE TELEPHONE SET TERMINAL例文帳に追加

携帯電話機端末、および携帯電話機端末の音響試験用周辺装置 - 特許庁

The CPU 10 transmits 32 pieces of test data included in one set of test data sequentially to a data bus, and makes an image write section 17 output a set of output images formed from the one set of test data.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、１組のテストデータに含まれる３２個のテストデータを順次データバスに伝送させて、１組のテストデータから形成される１組の出力画像を画像書込み部１７に出力させる。 - 特許庁

To separately set a multibit test mode standardized by LEDEC, to set concurrently a special test mode not standardized by LEDEC and the multibit test mode to satisfy a specification, and to shorten a test time for a special test out of the specification.例文帳に追加

JEDEC で標準化されているマルチビットテストモードを単独で設定でき、JEDEC で標準化されていない特殊テストモードとこのマルチビットテストモードを同時に設定できるようにして規格を満たすと共に規格外の特殊テストのテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁

Out of one or a plurality of test case candidates generated by a conventional method and one or a plurality of test case candidates selected from the set of input test cases, test cases having the highest score are added to the set of output test cases (716).例文帳に追加

従来手法によって生成されたひとつ又は複数のテストケース候補と、入力テスト・ケースの集合から選択されたひとつまたは複数のテストケース候補のうち、最もスコアが高いものを出力テスト・ケースの集合に追加する（７１６）。 - 特許庁

When receiving a test printing command, a test printing control part 38 determines test printing contents to be implemented from the command and the set contents stored in the logo setting storage part 37a and the logo test printing setting storage part 37b.例文帳に追加

テスト印刷制御部３８は、テスト印刷指令を受けて、指令と、ロゴ設定記憶部３７ａとロゴテスト印刷設定記憶部３７ｂとに記憶された設定内容とから、実行するテスト印刷内容を決定する。 - 特許庁

When the tire for the laboratory test generates a breakdown in the same tire component with that for the real car test, and the physical property of the tire component shows the same level with the threshold, the predetermined condition is set as a laboratory test condition for the test tire.例文帳に追加

ラボ試験のタイヤが実車試験と同じタイヤ構成部材に破壊が発生し、該タイヤ構成部材の物性値が閾値と同じレベルを示す場合に予め設定した条件を試験タイヤのラボ試験条件とする。 - 特許庁

The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20.例文帳に追加

被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。 - 特許庁

Test data obtained by combining the test data of respective items are prepared from these information and set up in a work table 13 and the output of a form is verified based on the set test data.例文帳に追加

そして、それらの情報から各項目のテストデータが組み合わされたテストデータがワークテーブル１３に設定され、設定されたテストデータに従って帳票の出力の検証が行われる。 - 特許庁

A test pattern area where a test pattern is formed is set on an intermediate transfer belt 4, and a reference area is set in an area where a test pattern is not formed.例文帳に追加

中間転写ベルト４上に、試験パターンが形成される試験パターン領域が設定されるとともに、試験パターンが形成されない領域において、基準領域が設定される。 - 特許庁

In the calibration of overlay property, position error data of a first set is obtained by carrying out the exposure of a first substrate (S1) during a first test exposure sequence using a test structure of the first set and measuring the test structure (S2).例文帳に追加

オーバレイ特性のキャリブレーションにおいて、第１基板を、第１セットのテスト構造を用いて第１テスト露光シーケンスの露光（Ｓ１）しテスト構造を測定（Ｓ２）して第１セットの位置誤差データを得る。 - 特許庁

To obtain a photographing condition and to set it without test exposure to a test object and independently of a method for radioscopic control.例文帳に追加

被検体に対しテスト曝射を行うことなく、また、透視制御の方法に依存することなく撮影条件を求めて設定する。 - 特許庁

To provide a fatigue tester having a simple structure, easy to set a test piece and capable of performing a high-speed and high-precision fatigue test.例文帳に追加

簡素な構造で供試体のセッティングが容易であり、高速且つ高精度の疲労試験を行うことができる疲労試験機を提供する。 - 特許庁

A modulation frequency of the test light 11 is set on the outside of a signal band of communication light 10, and a frequency of a communication signal and that of a test signal are multiplexed.例文帳に追加

また、試験光１１の変調周波数を通信光１０の信号帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重する。 - 特許庁

(2) The license examination set forth in the preceding paragraph (hereinafter referred to as the "license examination") shall consist of a paper test and a skill test or either of them. 例文帳に追加

２　前項の免許試験（以下「免許試験」という。）は、学科試験及び実技試験又はこれらのいずれかによつて行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The test server selects the test questions numbered correspondingly to the generated random numbers from the questions stored in the database, and prepares the questions to be set.例文帳に追加

発生した乱数に対応する問題番号の試験問題をデータベースに記憶した問題の中から選択し、出題する問題として設定する。 - 特許庁

To provide a lighting device in which a test mode can be set easily, and the test can be performed efficiently in a short time.例文帳に追加

容易にテストモードとすることができ、短時間で効率よくテストを行うことができる照明装置を提供する。 - 特許庁

A test mode register 5 is set to a test mode, a semiconductor integrated circuit device 1 is made a voltage force mode and the prescribed voltage is forced.例文帳に追加

テストモードレジスタ５をテストモードに設定して、半導体集積回路装置１を電圧フォースモードにし、所定の電圧をフォースする。 - 特許庁

To perform an effective ECC functional test by program in which all data patterns can be set only for test object address data and ECC data.例文帳に追加

検査対象アドレスのデータとＥＣＣデータだけについて全データパターンを設定できプログラムによる有効なＥＣＣ機能検査を実行する。 - 特許庁

Each test inside the test group is sequentially started in the set order, and simulation is executed.例文帳に追加

テスト群内の各テストは、この設定された順番で順次起動され、シミュレーションが実施されていく。 - 特許庁

Firstly, the main unit 30 becomes an active unit, applies test signals to the cable 32 under test and makes a set of measurements.例文帳に追加

最初は、主ユニット30が能動ユニットとなって、被試験ケーブル32に試験信号を印加するとともに一連の測定を行う。 - 特許庁

The disk access system, the length of test data and the data pattern are set as parameters at the time of performing the operation test.例文帳に追加

動作テストを行う際のパラメータとして、ディスクアクセス方式、テストデータ長及びデータパターンを設定させる。 - 特許庁

The contents of the test are set to the unit of the disk objective for the test, and the setting of access timing with respect to the plural disks is also allowed.例文帳に追加

テスト内容は、テスト対象のディスク単位に設定し、また、複数のディスクに対するアクセスタイミングも設定可能である。 - 特許庁

It is so input and set from the operation display panel part 1 that useless data is deleted in accordance with the test conditions among the data of the test result.例文帳に追加

試験結果のデータのうち試験条件に応じて不用なデータがあればデリートするものとして操作表示パネル部１から入力設定する。 - 特許庁

A control means 14 having an in-circuit test function 11, a function test function 12 and a communication test function 13 and collectively controlling the operations of these test functions and the operation procesure thereof according to the test program set in a circuit board is provided.例文帳に追加

インサーキットテスト機能１１と、ファンクションテスト機能１２と、通信テスト機能１３とを一体に備え、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段１４とを備える。 - 特許庁

A control circuit 4 for controlling an operation mode in the test for the logic circuit 2 and the DRAM 3 is provided on the same chip mounted with the logic circuit 2 and the DRAM 3, a scanning test mode is set in the burn-in test in the logic circuit 2, a burn-in test mode is set therein in the DRAM 3.例文帳に追加

ロジック回路２とＤＲＡＭ３が搭載される同一チップ上に、これらの試験時の動作モードを制御するためのコントロール回路４を設け、バーンイン試験時には、ロジック回路２についてはスキャン試験モードに設定させ、ＤＲＡＭ３についてはバーンイン試験モードに設定させる。 - 特許庁

A first measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a first test signal from the test signal source 10, and a second measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a second test signal obtained by shifting the first test signal by a known frequency value.例文帳に追加

試験信号供給源１０からの第１試験信号を周波数分析装置２０に供給して第１測定データを測定すると共に、第１試験信号を既知の周波数だけシフトした第２試験信号を周波数分析装置２０に供給して第２測定データを測定する。 - 特許庁

In this test mode register circuit, test functions to which conventional test modes are divided into each element are allotted to the decoder circuit 60 as a set address value, and each test mode is realized by multi- selecting a plurality of test mode register circuits.例文帳に追加

この試験モード登録回路においては、従来の試験モードを各要素に分けた試験機能がデコーダ回路６０に設定されたアドレス値として割当てられており、複数の試験モード登録回路を多重選択することにより各試験モードを実現する。 - 特許庁

A test controlling device 20 performs a test while using at least one tested circuit in the lot as a sample, and on the basis of the result of the test on this sample, a test on a tested circuit other than the sample is omitted as to the test item for which the allowance information is set by the condition setting part 10.例文帳に追加

試験制御装置２０は、ロット内の少なくとも１つの被試験回路をサンプルとして試験し、このサンプルに対する試験結果に基づいて、条件設定部１０により許可情報が設定された試験項目の、サンプル以外の被試験回路に対する試験を省略する。 - 特許庁