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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > test and setの意味・解説 > test and setに関連した英語例文

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test and setの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 788



例文

An interval (width of a plating resist 32) W1 to W6, between the test terminals in each group and the wiring patterns 12a in the other group adjacent thereto, is set to decrease, in this order.例文帳に追加

各グループ内のテスト端子Ta〜Tfと他の隣接するグループ内の配線パターン12aとの間の間隔(めっきレジスト32の幅)W1〜W6は、この順に減少するように設定される。 - 特許庁

When the CPU 10 executes an analysis support program, the CPU 10 reads out the values set in RAM 30 etc., and outputs the read-out values to the outside through a test output port 71.例文帳に追加

そして、CPU10が解析支援プログラムを実行すると、RAM30等に設定された値を読み出し、読み出した値をテスト専用出力ポート部71を介して外部に出力する。 - 特許庁

The optimum pressure on the high pressure side for each heat sink inlet temperature is based on data obtained by a prior test and is set in a controller 42 in advance.例文帳に追加

各々のヒートシンク入口温度に対する最適な高圧側圧力は、事前の試験で得られたデータに基づいており、かつ制御装置(42)に予設定されている。 - 特許庁

A gap C between the air intake straightening duct 10 with a predetermined shape and the engine E is set 0.05-0.2 time of an engine inlet diameter to perform the ground test for the engine E.例文帳に追加

所定形状の吸気整流ダクト10とエンジンEとの隙間Cをエンジン入口直径の0.05倍〜0.2倍としてエンジンEの地上試験を行うものである。 - 特許庁

例文

A failure-undetected point in which a calculation value representing a weighting result exceeds a set value is selected among the failure-undetected points, and a test point is inserted into the failure-undetected point (S25).例文帳に追加

故障未検出ポイントの中から、重み付けの結果を表す算出値が設定値を超える故障未検出ポイントを選択し、その故障未検出ポイントに対してテストポイントを挿入する(S25)。 - 特許庁


例文

To provide a semiconductor device for initializing using a test mode the output of a level adjustment circuit erroneously set up when the power supply is turned on, and adjusting the output of the level adjustment circuit at a high speed to a regular setting value that is a target level.例文帳に追加

電源投入時において誤って設定されたレベル調整回路の出力を、テストモードを用いて初期化し、目標レベルである正規の設定値へと高速に調整する半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fixture for a peel strength testing machine which can surely and easily set a test piece for the peel strength testing machine for testing the peel strength of a sealed part which is formed by sealing a part of overlapped 2 pieces of film members.例文帳に追加

重ねた2枚のフィルム状部材の一部をシールしたシール部の剥離強度を試験する剥離強度試験機に対して、試験片を的確かつ容易にセットすることができる剥離強度試験機用治具を提供する。 - 特許庁

A controller 20 issues an instruction to a light source controller 28 to set minimum light source luminance, and issues an instruction to an image processing part 24 to project a test image including a character string.例文帳に追加

制御部20は、光源制御部28に指示をして光源輝度を最小輝度に設定させるとともに、画像処理部24に指示をして文字列を含んだテスト画像を投写させる。 - 特許庁

The testing program includes a category weighting table 25 having a statistic weighting ratio, reference weighting ratio, an upper limit value and a lower limit value, which are set to each category obtained by classifying test cases.例文帳に追加

テストケースを分類したカテゴリに対して、統計重み付け比率、基準重み付け比率、上限値、下限値が設定されたカテゴリ重み付けテーブル25を設けた。 - 特許庁

例文

To provide a method for regenerating a gasket deformed by compression set due to long-time test at about 100°C so as to be again mounted on another HDD and tested.例文帳に追加

100℃程度の温度で長時間試験に供され圧縮永久変形したガスケットを再度他のHDDに装着して試験を行ない得るように再生する方法を提供すること。 - 特許庁

例文

In the sealing material 10, the arithmetic mean roughness of a sealing face is in a range of 0.4-0.7 μm and the measurement value in the 180°peeling adhesive force test of the sealing face is set to 0.15 N/25 mm or less.例文帳に追加

またシール材10は、シール面の算術平均粗さが、0.4〜0.7μmの範囲にあり、該シール面の180度引き剥がし粘着力試験の測定値が、0.15N/25mm以下に設定されている。 - 特許庁

According to the method, the ground is bored by pressing ground earth around a pile head into the peripheral ground, or a well is bored in the ground by using a casing, and then a sampler is set in the well, followed by calculating an N value for penetration test.例文帳に追加

杭頭部周辺の地盤土砂を側方地盤に圧入して、地盤を削孔し、あるいはケーシングを使用して竪孔を削孔し、その削孔内にサンプラーをセットしてN値を算出する。 - 特許庁

When head drops continue equal to or more than a prescribed number for every test of a disk or the rate of the drop occurrence becomes equal to or more than a set value, an alarm is outputted and the replacement of the GH head is urged.例文帳に追加

そしてヘッド墜落がディスク各1枚の試験毎に所定回数以上連続したり、墜落発生率が規定値以上になるとアラームを出し、当該GHヘッドの交換を促す。 - 特許庁

Test piece 5 is formed by cutting the multiple layer tube formed by extrusion molding in specified width and in specified length by using a simple cutting device 10 set in a production process.例文帳に追加

押出成形により形成された複層チューブを生産工程内に設置された簡易切断装置10を用いて、所定幅の長尺に切断することにより試験片5が作成される。 - 特許庁

The image processor has a means for performing HS and when a test pattern is read in, the microstep division number of an optical motor is set with a value different from that for normal image reading.例文帳に追加

HSを行う手段を有する画像処理装置において、テストパターンを読み込む際に、光学系モータのマイクロステップの分割数を通常の画像読み込みと異なる設定値にする事を特徴とする画像処理装置。 - 特許庁

When used in an IC tester for measuring voltage by rapidly changing over multiple terminals, the voltage can be correctly measured, and it is not necessary to wait for the temperature of the package to be set constant, whereby a test time can be reduced.例文帳に追加

高速で多数の端子を切り替えて電圧を測定するICテスタに用いると正確に電圧を測定でき、またパッケージの温度が一定になるのを待つ必要がないので、試験時間を短縮できる。 - 特許庁

(5) A simulation line length is set to a request transmission distance, a coexisting transmission test is performed by the line combination selected in 4, and the transmission quality of the existing transmission line at the time of coexisting transmission is measured.例文帳に追加

(5)模擬回線長を要求伝送距離に設定し、4で選定した回線組み合わせにより共存伝送試験を実施し、共存伝送時の既存の伝送回線の伝送品質を測定する。 - 特許庁

Accordingly, even in the normal mode, the other master device is never affected by the switching to the test mode, and the data of the highly competitive memory are set, whereby the performance of the plurality of master devices can be improved.例文帳に追加

ノーマルモード時においても、テストモードとの切替で他方のマスターデバイスに影響を与えることがなく、競合が多いメモリのデータを置いておくことで、複数マスターデバイスのパフォーマンスの向上を図ることができる。 - 特許庁

One set of the test rollers 9a, 9b is brought into contact with the wheels 12 is a substantially zero load state, and side slip of the wheels 12 is detected.例文帳に追加

前記一方の組のテスト用ローラ9a,9bを前記車輪12に略零荷重状態で接触させ、前記車輪12のサイドスリップを検出する。 - 特許庁

A test computer 51 determines a set value of write current as a function of temperature for every head element section 12 from relation with write current and error rate.例文帳に追加

本発明の一実施形態において、テスト・コンピュータ51は、ライト電流とエラー・レートとの関係から、ヘッド素子部12ごとに温度の関数としてのライト電流の設定値を決定する。 - 特許庁

When beverage is discharged, a discharge test is executed in the start of the discharge of syrup S, and the duty of a rotor driving motor 430M is set as the optimal driving condition based on the result.例文帳に追加

飲料を送出するにあたってシロップSの送出開始時に送出テストを実施し、その結果に基づく最適駆動条件として回転子駆動モータ430Mのデューティを設定する。 - 特許庁

The recording device corrects the transfer amount at the time when the sheet material gets out from the transfer roller and the pinch roller on the basis of the correction amount set in accordance with the result of recording of the test pattern.例文帳に追加

このテストパターンの記録結果に応じて設定される補正量に基づいて、シート材が搬送ローラーおよびピンチローラーから外れる際の搬送量を補正する。 - 特許庁

Reading is started (step 10), the line sensor is moved as shown by an arrow Y (step 108) to make a first scan (step 110), and a read signal of a test pattern is analyzed to set reference (step 112).例文帳に追加

読み取りを開始し(ステップ100)、ラインセンサを矢印Y方向に移動し(ステップ108)、第1のスキャンを行い(ステップ110)、テストパターンの読取信号を解析し、基準を設定する(ステップ112)。 - 特許庁

The fracture toughness test piece 20 follows the ASTM standard, has a cut 21 in the center, and is set to have a prescribed stress enlargement factor.例文帳に追加

破壊靭性試験片20はASTM規格に倣っており、中央部に切欠21を有し、所定の応力拡大係数を持つように設定されている。 - 特許庁

A data inversion circuit 15 stores an effect that bit inversion data which can specify inversion of write data bit by bit to a test object address and a data section 13 are set up by a CPU 18.例文帳に追加

データ反転回路15は、CPU18により検査対象アドレスとデータ部13への書込みデータのビット毎に反転を指定できるビット反転データとが設定されると記憶する。 - 特許庁

Process parameters are measured by calf or on-chip built-in test on a set of selected chips on a wafer, and the result is memorized in a memory element in each chip.例文帳に追加

ウェハ上の選択された1組のチップ上でカーフまたはオンチップ組込試験によりプロセス・パラメータが測定され、その結果が各チップ内の記憶素子に記憶される。 - 特許庁

A test signal set so as to give a specific and individual change predetermined in accordance with the direct current voltage state of the communication path corresponding to the control instruction is transmitted to the communication path from the communication controller.例文帳に追加

通信制御装置から、当該制御命令に対応して被試験通信路の直流電圧状態に予め定められた特定個別の変化を与えるように設定されている試験信号を、当該被試験通信路に送出する。 - 特許庁

A first test determination part 151 takes questions corresponding to a question number and a question version specified by random numbers, as questions to be set when determining the examinee to take an examination for the first time.例文帳に追加

初回試験判定部151は、受験者が初回受験であると判定した場合、乱数により特定した問題番号問題バージョンに対応する問題を出題問題とする。 - 特許庁

The test data so set as to have the values which reach X, Y and Z respectively in total is stored at the head addresses plus a, b, c or d.例文帳に追加

先頭番地にa、b、c、dをプラスした番地には、それぞれ合計した値がX、Y、Zとなるように設定されたテストデータが記憶されている。 - 特許庁

Before carrying out a test, an operator uses the personal computer to previously display a failure detection rule input screen and to set a failure detection rule dialogically.例文帳に追加

作業者は、試験に先立って、パーソナルコンピュータを使用して、予め異常検出ルール入力画面を表示して、異常検出ルールを対話形式で設定する。 - 特許庁

To provide an optical information recording apparatus which can reduce a frequency of test writing, and set a suitable wright strategy corresponding to various linear velocities.例文帳に追加

試し書きの回数を低減し、かつ、様々な線速度に対応した適切なライトストラテジを設定することができる光情報記録装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The illumination section 12 having the "σ" set at 1 or more illuminates the measurement chart "ob" so that transmitted light generates the zero-order and odd-order diffraction light to be imaged on an imaging surface "im" of a CCD11 with a test lens L0.例文帳に追加

σを1以上に設定している照明部12により計測チャートobを透過照明して発生する0次及び奇数次の回折光は、被検レンズL0によりCCD11の撮像面imに結像される。 - 特許庁

A reversible image recording medium is set, and density is measured by recording a test image for measuring the density under specified image recording conditions before a specified image is recorded (steps 100-106).例文帳に追加

可逆性の画像記録媒体をセットし、記録すべき所定画像を記録する前に濃度測定用のテスト画像を所定の画像記録条件で記録して濃度測定する(ステップ100〜106)。 - 特許庁

To provide a common output setting circuit of an LCD driver to easily set a common output state in a short time according to a test, and a setting method therefor.例文帳に追加

短時間で容易に試験に応じたコモン出力状態を設定することのできるLCDドライバのコモン出力設定回路及び設定方法を提供する。 - 特許庁

The selector 24 connects a specified functional block to input/output terminals 18 according to these selecting signals, and a test of the functional block according to the set operation mode is performed.例文帳に追加

セレクタ24は、これら選択信号に応じて所定の機能ブロックを入出力端子18と接続し、設定された動作モードに応じた機能ブロックのテストが行なわれる。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device capable of automatically and quickly giving the amplitude of a servo motor rotary shaft angle to be set in conducting a test with a constant range of fluctuations in force that is applied to a work.例文帳に追加

ワークに加える力の変動幅を一定に揃えて試験を行う際に設定されるべきサーボモータの回転軸の角度の振幅を自動的且つ速やかに得ることのできる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pole switch made in such a structure that an AC voltage-withstanding test can be made on it before being set in a power distribution system at a site even after a lightning arrester is incorporated, and a degraded one can be detected.例文帳に追加

避雷器を内蔵した後においても現地で配電系統に設置する前にAC耐電圧試験を実施できる機構にし、劣化した柱上開閉器を判別できるように図った柱上開閉器を提供する。 - 特許庁

When roll paper 220 for issuing detailed slip is set, a detailed slip issuing device prints a test pattern TP on roll paper 220 by a print head 218, and decides the suitability of print by a mark detecting sensor 212.例文帳に追加

明細票発行装置は、明細書発行用のロール紙220がセットされると、印字ヘッド218によって、ロール紙220にテストパターンTPを印刷し、マーク検知センサ212で印字の適否を判定する。 - 特許庁

The speed within the recording speed in the case of completion of the test recording is displayed as a recommended speed or settable speed and the speed is made possible to be set as the recording speed of a main recording.例文帳に追加

該テスト記録終了時の記録速度範囲内の速度を推奨速度または設定可能速度として表示し、該速度を本記録の記録速度として設定可能にする。 - 特許庁

To improve exactness in the operation confirmation of a characteristic test and a client trouble characteristic analysis at slipping inspection or introduction of a set by directly confirming the switching time of a transmitting/ receiving signal.例文帳に追加

送受信信号のスイッチング時間を直接確認できるようにし、出荷検査やセット導入時での特性試験、顧客不具合特性解析の動作確認の正確性を向上させる。 - 特許庁

Each connector 10 is housed in a connector housing space 34 of the housing part 31 in positioning state, the jig 30 is set to a connector inspection device, and continuity test of terminal fittings 90 is carried out.例文帳に追加

収容部31のコネクタ収容空間34に各コネクタ10を位置決め状態で収容させて治具30をコネクタ検査装置にセットし、各コネクタ10に収容された端子金具90の導通検査を行う。 - 特許庁

The respective test items are associated with technical knowledge to be mastered, and a reference value of the number of achievements necessary for mastering the technical knowledge is set in the achievement storage part DB 2.例文帳に追加

各検査項目は修得すべき技術知に対応付けられており、実績記憶部DB2には当該技術知を修得するのに必要な実績回数の基準値が設定される。 - 特許庁

Even the portable telephone in a narrow sense is forcibly made to transmit radio wave for recognizing connection by arranging the test ID originator and, then, the alarm signal is transmitted to a telephone set by receiving the radio wave.例文帳に追加

テストIDの発信機を設けることによって、狭義の携帯電話にも接続確認の電波を強制的に送信させ、これらの電波を受けて電話器に警告信号を送信する。 - 特許庁

An intermediate value of an upper limit and a lower limit of the delay time by which a correct test data pattern is obtained is set in the delay time of the variable delay elements 134, 144.例文帳に追加

正しい試験データパターンが得られた遅延時間の上限及び下限の中間値を、可変遅延素子134、144の遅延時間に設定する。 - 特許庁

After the completion of the warp setting work, the kind of a woven fabric, weaving conditions, etc., including the warp tension are set in a memory part of a controlling device 2, and a test operation is performed.例文帳に追加

機仕掛け作業完了後、織物種類、経糸張力を含む製織条件等を制御装置2の記憶部に設定し、試し運転を行う。 - 特許庁

To provide a method by which a product dimension can be assumed in good accuracy from the set value of a rolling clearance for a rolling machine, and also, the setting value of the optimum rolling clearance at the adjustment of the rolling clearance after a test rolling can be calculated.例文帳に追加

圧延機のロール隙設定値から精度良く製品寸法を推定するとともに、試圧延後のロール隙調整時における最適なロール隙設定値を算出する方法を提案できるようにする。 - 特許庁

In an atmospheric corrosion test method, salt is deposited on an object to be tested, by spraying salt water in a space held under one condition set within a range of temperature of 0 to 60°C and relative humidity of 10 to 98%.例文帳に追加

大気腐食試験方法において、被試験体への塩分の付着を、温度0〜60℃、相対湿度10〜98%の範囲から設定した1つの条件に保持された空間での塩水噴霧により行う。 - 特許庁

The density of a 2nd test pattern is detected, and a waveform central value of the AC voltage is adjusted based on the detected density so as to set the highest image density (solid density) (S20 to S23).例文帳に追加

第2のテストパターンの濃度を検出し、検出された濃度に基づいて、最も濃い画像濃度(ベタ濃度)を設定するため上記交番電圧の波形中心値を調整する(S20〜S23)。 - 特許庁

A mode signal MOD is made 'H' and a test mode is set, an address decoder 1 is separated from a word line WLi, while adjacent word lines are connected each other through a switch circuit 10i including an inverter 12i.例文帳に追加

モード信号MODを“H”にして試験モードを設定し、アドレスデコーダ1をワード線WLiから切り離すと共に、隣接するワード線同士をインバータ12_iを含むスイッチ回路10_iを介して接続する。 - 特許庁

例文

Next, the test program is stored in a first address of a memory section which is provided in the semiconductor circuit and the argument set with the predetermined value is stored in a second address of the memory section.例文帳に追加

次に、前記テストプログラムを前記半導体回路内に設けられる記憶部の第1のアドレスに格納し、かつ、前記所定の値が設定された引数を前記記憶部の第2のアドレスに格納する。 - 特許庁

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