「test and set」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

When the STAB program is set to be dinamically patched according to the module tests while a test target program is loaded to a debugger, a plurality of module tests can be carried out while loaded the debugger, and consequently, test man-hours can be reduced.例文帳に追加

テスト対象プログラムをデバッガにロードした状態で、モジュールテストに合わせてスタブプログラムをダイナミックにパッチ設定することで、デバッガにロードした状態で複数のモジュールテストが可能となるため、テスト工数が削減できる。 - 特許庁

When a test instruction signal is inputted to a test mode terminal TT, an output from a selector SE2 is set up as the pass number of a pass number register group REP1, its clock pass is selected by the selector SE1 and a memory clock MC is supplied to an SDRAM 2.例文帳に追加

テスト指示信号がテストモード端子ＴTへ入力されたときは、セレクタＳＥ2の出力をパス番号レジスタ群ＲＥP1のパス番号とし、そのクロックパスをセレクタＳＥ1に選択させてメモリクロックＭＣをＳＤＲＡＭ２へ供給する。 - 特許庁

The multiple terminals include an upper end face located on a same plane and, when a test object is disposed on the electric connection device, a set of terminals including at least two terminals of the terminals come into contact with respective electrodes of the test object having the plurality of electrodes.例文帳に追加

前記多数の端子は、同一面内に位置する上端面を備え、前記電気的接続装置に被検査体が配置されると、前記端子のうち少なくとも２つの端子を含む一組の端子が、それぞれ、複数の電極を備える被検査体の各電極に接触する。 - 特許庁

To implement charge-discharge tests of high accuracy, the current value detected is allowed to approach to a constant current set value efficiently in a controller 31 for charge-discharge test controlling a DC power source apparatus 13 and an electronic load apparatus 14 for implementing charge-discharge test for an object to be tested.例文帳に追加

被試験物の充放電試験を行うために、直流電源装置１３および電子負荷装置１４を制御する充放電試験用コントローラ３１において、効率よく定電流設定値に近づけ、高精度の充放電試験を実施する。 - 特許庁

Thus, since the test data containing at least one 14T mark are recorded in an optical disk, when the test data are reproduced during the setting of optimal recording power, at least one longest mark is contained, even at any recording power, and the target value of an running OPC is surely set.例文帳に追加

これにより、少なくとも１つの１４Ｔマークを含むテストデータを光ディスクに記録するので、最適記録パワーを設定する際にテストデータを再生すると、どの記録パワーにおいても最長マークが少なくとも１つは含まれており、ランニングＯＰＣの目標値を確実に設定できる。 - 特許庁

A test input signal is given to the functional block due to the setting into the register in the input signal region, and the functional block performs testing operations, so that a test output signal outputted from the functional block is set as output data in a register in an output signal region.例文帳に追加

前記入力信号領域におけるレジスタへの設定により機能ブロックにテスト入力信号が与えられ、機能ブロックがテスト動作することにより機能ブロックから出力されたテスト出力信号が出力信号領域におけるレジスタに出力データとして設定される。 - 特許庁

By applying such test voltage at two steps that the current at two steps where target transfer current is held up and down flows to the primary transfer roller 54Y and measuring the voltage and current characteristic, the test voltage is set in a range narrower than the maximum and minimum range of the specified voltage, and transfer current is appropriately and precisely set.例文帳に追加

目標転写電流を上下に挟む二段階の電流が流れるような二段階の試験電圧を一次転写ローラ５４Ｙに印加して電圧電流特性を測定することで、規定電圧の最大最小範囲よりも狭い範囲に試験電圧を設定して、転写電流を適正かつ精密に設定する。 - 特許庁

Among the photographing conditions calculated by fluoroscopy, an optical gain or sensitivity set to an X-ray detector 30 is lowered by a prescribed rate α, the test photographing is performed and an X-ray image obtained by that test is displayed on a monitor 60 as a test photographing image corrected by calculation to a prescribed image level.例文帳に追加

透視によって算出した撮影条件のうち、Ｘ線検出器３０に設定される光学ゲインまたは感度を、所定の比率αだけ下げてテスト撮影を行ない、これにより得られるＸ線画像が、所定の画像レベルになるように計算により補正したテスト撮影画像としてモニタ６０に表示する。 - 特許庁

Test data is recorded in the inner peripheral trial writing areas of an optical disk from an optical pickup side by a plurality of test recording power values, and a recording power value is set for an inner periphery OPC according to recording power value characteristics obtained from an asymmetry value for each test recording power value obtained from its reproduced signal.例文帳に追加

光ピックアップ側から光ディスクの第１記録層の内周試し書き領域に対して複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録し、その再生信号から求めたテスト記録パワー値毎のアシンメトリ値から得られる記録パワー値特性に応じて内周ＯＰＣでの記録パワー値を決定する。 - 特許庁

Parameters required for operating the IC tester are sequentially set up to a register in a test header using the normal built-in software using the built-in software built in a pin electronics 1 of the test head 12 according to a test program 30 created by a user, and a parameter management system 34 saves the normal parameters as reference parameters 44.例文帳に追加

ユーザの作成したテストプログラム３０に従って、テストヘッド１２のピンエレクトロニクス１８に組み込まれている組み込みソフトウェアを用いて、テストヘッド内のレジスタに、ＩＣテスタの駆動に必要なパラメータを、正常な組み込みソフトウェアを用いて順次設定し、パラメータ管理システム３４は、この正常なパラメータを、リファレンスパラメータ４４として保存する。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

When this test information management server 20 receives a value of each parameter to be set in use environment of the software component from a client computer 13-1 to 13-3, the test information management server 20 creates test patterns for combinations between the values of the relevant parameters, and transmits them to the client computer 13-1 to 13-3.例文帳に追加

テスト情報管理サーバ２０は、ソフトウェア部品の使用環境において設定する予定のそれぞれのパラメータの値をクライアントコンピュータ１３−１〜１３−３から受け付けた場合に、関連性のあるパラメータの値の組み合わせについてのテストパターンを作成して当該クライアントコンピュータ１３−１〜１３−３に送信する。 - 特許庁

In the network comprising bridges each provided with ports for transmitting/receiving Ethernet frames on the basis of a series of the IEEE 802 standards, a set of test frames passing through all physical lines is generated, the bridge A(F) transmits a test frame and the bridge F(A) receives the test frame to confirm the connectability.例文帳に追加

一連のＩＥＥＥ８０２標準に基づくイーサネットフレームを送受信するポートを備えたブリッジから構成されるネットワークにおいて、すべての物理回線を通過する試験フレームの集合を生成し、ブリッジＡ（Ｆ）から試験フレームを送信し、ブリッジＦ（Ａ）が試験フレームを受信することにより接続性を確認する。 - 特許庁

In receiving an image captured by a sensor, a reflectance spectrum for a test surface is decomposed into a linear combination of reflectance spectra of a set of test targets, and a coefficient vector calculated in this decomposition is used to predict a response of an imaging sensor to the test surface, where a plurality of such predicted responses include human skin tone detection.例文帳に追加

センサによって取得された画像を受け取る際に、試験用表面の反射率スペクトルを試験用目標のセットの反射率スペクトルの線形組合わせに分解し、この分解において計算された係数ベクトルが試験用表面に対する画像センサの応答を予測するために用いられ、複数のそのような予測応答が人間の皮膚の色調の検出を含んでいる。 - 特許庁

In the optical disc recording reproducing device that records a test signal in a trial writing area set in a disc 3 and sets a laser output by reproducing the recorded test signal, a reproduction operation of the test signal recorded in the trial writing area is conducted with the more increasing number of laser outputs than an usual reproduction operation.例文帳に追加

ディスク３に設けられている試し書き領域にテスト信号を記録し、記録されたテスト信号を再生することによりレーザー出力を設定するように構成されている光ディスク記録再生装置において、試し書き領域に記録されたテスト信号の再生動作を通常の再生動作を行うレーザー出力より増大させたレーザー出力にて行う。 - 特許庁

At the burn-in time, the scan chain 11 is set in the enable state, based on a scan enable signal, and the scan chain 21 is set in the disenable state, based on the scan enable signal and a memory test start signal; and stress is applied simultaneously to the user logic circuit 10 by the scan test, and to the memory 40 by BIST.例文帳に追加

バーンイン時には、スキャンイネーブル信号に基づきスキャンチェーン１１がイネーブルに設定されると共に、スキャンイネーブル信号及びメモリテスト開始信号に基づきスキャンチェーン２１がディスイネーブルに設定され、ユーザロジック回路１０はスキャンテストにより、メモリ４０はＢＩＳＴにより同時にストレス印加される。 - 特許庁

The tray 1 includes a box-like tray body 1A with an opened upper face, and a lot of holes 5 for test tube insertion drilled on one of a pair of facing side plates of the tray body 1A, and functions as the tray when horizontally set, and as the test tube stand when vertically set.例文帳に追加

本発明のトレイ１は、上面が開口した箱状のトレイ本体１Ａと、該トレイ本体１Ａの対向する一組の側面板の一つに試験管差込用孔５を多数穿設して成り、トレイ本体１Ａを横置きにしたときにはトレイとして機能し、縦置きにしたときには試験管立てとして機能するようにしている。 - 特許庁

Thus, correspondence data CD for specifying a correspondence relation between each test ink amount set and the graininess index GI over the whole printer gamuts and a correspondence relation between each test ink amount set and the graininess index GI on which a variation characteristic of the graininess index GI in accordance with variations in the ink amount is reflected can be obtained.例文帳に追加

これにより、プリンタガマットの全域にわたる各テストインク量セットと粒状性指数ＧＩとの対応関係であり、かつ、インク量の変動に応じた粒状性指数ＧＩの変動特性が反映された各テストインク量セットと粒状性指数ＧＩとの対応関係を規定した対応データＣＤを得ることができる。 - 特許庁

(3) Upon receiving the application set forth in the preceding paragraph, the Institute or a juridical person registered under the provision of paragraph (1) shall, as provided for by Ordinance of the Ministry of Internal Affairs and Communications, conduct a test of a machine or tool, etc. subject to inspection for which the application has been filed, based on the technical specifications prescribed in paragraph (2) of the preceding Article, and give notice of the test result to the person who has filed the application set forth in the preceding paragraph, with its opinions on such result attached thereto. 例文帳に追加

３　協会又は第一項の規定による登録を受けた法人は、前項の申請があつたときは、総務省令で定めるところにより、前条第二項に規定する技術上の規格に基づき、当該申請に係る検定対象機械器具等についての試験を行い、その試験結果に意見を付してこれを前項の申請をした者に通知しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

This management table 35 compares a bad block allowable total number optionally set to a bad block allowable total number value setting register with the total number of the bad blocks of the test which a bad block total number counter counts, and when a counter value reaches the allowable limit, a flag of upper limit of the bad blocks is set and the test failure is determined.例文帳に追加

この管理テーブル３５は、バッドブロック総数許容値設定レジスタに任意に設定されたバッドブロック総数の許容値とバッドブロック総数カウンタによりカウントされるテストのバッドブロックの総数とを比較し、カウンタ値が許容値に達した際にバッドブロック数上限フラグを立てテストフェイルとする。 - 特許庁

Under the condition that five kinds of tests are supposed to be conducted for the third sample from the head of a sample rack 21, when an error indicating a shortage of the sample occurs at the third test, an analysis status flag of "under inspection/abnormal" is set for the test, and an analysis status flag of "under inspection/normal" is set for the tests therebefore.例文帳に追加

サンプルラック２１の先頭から３番目のサンプルについて５種類のテストを行うように受け付けられていたが、３番目のテストでサンプル不足のエラーが発生すると、そのテストについては「検査中／異常」の分析状態フラグが立てられ、それ以前のテストについては、「検査中／正常」の分析状態フラグが立てられる。 - 特許庁

The print controller comprises a means for setting a set value including a value concerning the number of rows to be deleted of unnecessary data, a means for generating row data consisting of more rows than the maximum deleting number of rows which can be set by the setting means as test print data, and a means for transmitting the test print data thus generated to a printer.例文帳に追加

不要データの削除行数に関する値を含む設定値を設定する設定手段と、設定手段において設定可能な最大削除行数以上の行数から成る行データを、テスト印刷データとして生成するテスト印刷データ生成手段と、生成したテスト印刷データを印刷装置へ送信するテスト印刷データ送信手段と、を備えたものである。 - 特許庁

After software of approved test mode contents are downloaded from a learning contents site by accessing a learning server 3 with a mobile telephone set 2 through the Internet 4, the access to the learning server 3 is quit and learning problems in an approved test mode are solved within a certain time by using the mobile telephone set 2.例文帳に追加

携帯電話２からインターネット４を介して学習サーバ３にアクセスし、学習コンテンツサイトから認定試験モードコンテンツのソフトウェアをダウンロードした後、学習サーバ３とのアクセスを切断して携帯電話２から認定試験モードの学習問題をある時間以内に実行する。 - 特許庁

In a method for injecting grout in bedrock cracks under a saline groundwater environment, after a water test is conducted in a grout hole, fresh water of a predetermined quantity set based on the water test result is additionally injected, and then specifications of grout are set to inject a proper amount of grout at a proper pressure into cracks of a bedrock to which fresh water has been additionally injected through the grout hole.例文帳に追加

塩水系地下水環境下の岩盤亀裂に注入されるグラウト注入方法であって、グラウト孔からの水押し試験後に、水押し試験結果に基づき設定された所定水量の清水の追加注入を行い、その後、グラウト仕様の設定を行い、グラウト孔から清水が追加注入された岩盤亀裂内に適正注入圧、注入量のグラウト注入を行う。 - 特許庁

When the central management device 6 adds a parameter history information identifier to the parameter to be transmitted to the data communication device 7, the data communication device 7 is designed to call to the target phone number set in the parameter, in response to the test request, and to add the parameter history information identifier set in the parameter to the transmission data to be transmitted at the test communication.例文帳に追加

中央管理装置６がデータ通信装置７へ送信するパラメータにパラメータ履歴情報識別子を付加する場合には、データ通信装置７は、テスト要求に応答して、設定したパラメータ中の発呼先電話番号へ発呼し、テスト通信時に送信するデータに設定したパラメータ中のパラメータ履歴情報識別子を付加する。 - 特許庁

After color balance adjustment, color pixels 8a to 8d formed at four corners of a display area Z of a display unit 2, out of a plurality of color pixels 8 formed in the display area Z are caused to emit light with high luminance for a set test time, and average emission luminance of the color pixels 8a to 8d immediately after the set test time is measured.例文帳に追加

色バランス調整を行った後に、表示ユニット２の表示エリアＺに形成された複数のカラー画素８のうち、該表示エリアＺの四隅に形成されたカラー画素８ａ〜８ｄを設定検査時間、高輝度で発光させて、設定検査時間直後のカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度を測定した。 - 特許庁

The optical disk record reproducing device is structured so that a laser output can be set by recording a test signal to a trial writing area placed on the disk, where the test signal is recorded by varying the laser output to the trial writing area and then the laser output is set by recognizing the record characteristics of the recorded signal.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録することによりレーザー出力を設定することが出来るように構成された光ディスク記録再生装置において、試し書き領域へレーザー出力を変化させてテスト信号を記録し、記録された信号の記録特性を認識することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

By driving the speaker by the test signal for sound volume adjusting by an addition signal of a sinusoidal wave of a single frequency set with relation of an integer frequency ratio, and by detecting output from the speaker by an average value of a signal level of each frequency component, the sound volume by the test signal for measurement is set.例文帳に追加

本発明は、周波数が整数比の関係に設定された単一周波数の正弦波信号の加算信号による音量調整用のテスト信号によりスピーカを駆動して、各周波数成分の信号レベルの平均値によりこのスピーカからの出力を検出して計測用のテスト信号による音量を設定する。 - 特許庁

Set times Ta1 and Ta2 consider jitter generated on the belt by contact and separation operation in contact and separation and secure transfer of the normal images and transfer braking of the test pattern.例文帳に追加

設定時間Ｔa1、Ｔa2は、接離時に接離動作によりベルトに発生するジッタを考慮し、通常画像の転写とテストパターンの転写制動を確保する。 - 特許庁

When measurements of the left and right blanks of the test print image are inputted from the operating section 32, correction values of the left and right blanks are calculated based on the difference between the measurements of the left and right blanks and the set values and then stored in a storage means.例文帳に追加

その後、テスト印刷画像の左右余白の測定値が操作部３２から入力されたとき、左右余白の測定値と設定値との差に基づき左右余白の補正値を算出し、記憶手段に記憶させる。 - 特許庁

First and second cameras 1 and 2 for respectively picking up the images of two reference lines R1 and R2 attached to the test piece are set to a prescribed interval D, the focus distance is fixed and the image of one of the reference lines R1 and R2 is picked up respectively.例文帳に追加

試験片に付された２本の標線Ｒ1,Ｒ2をそれぞれ撮像する第１および第２のカメラ１,２を所定の間隔Ｄに設定すると共に、その焦点距離はを一定に揃えて前記標線の一方をそれぞれ撮像する。 - 特許庁

To provide a specimen testing vessel set and a specimen testing kit capable of using a test strip simply and safely, and capable of preventing a specimen extract from being diffused when stored and carried.例文帳に追加

テストストリップを簡便且つ安全に使用することができ、保存および持ち運び時に検体抽出液の拡散を防止可能な検体試験容器セットおよび検体試験キットの提供。 - 特許庁

A plate-like test-piece 1 in the end part of which a notch 6 is formed is set to a side bend testing machine and, by making it break by imparting in-plane tension and bending, and strain, a strain gradient and strain concentration in the broken part are measured.例文帳に追加

板端部に切欠き６が形成された板状試験片１をサイドベンド試験機にセットし、板面内の引張および曲げを与えて破断させ、破断部のひずみとひずみ勾配とひずみ集中とを測定する。 - 特許庁

Portable and independent POTS/data filter and a splitter device bridge/connect a line without interrupting data between a pair of a test set and a copper wire (chip and ring) of a dealer.例文帳に追加

本発明の携帯可能な、独立型のＰＯＴＳ／データフィルタ及びスプリッタ装置は、一対の業者の試験セットと銅線（チップ及びリング）の間で、データに割り込むことなくライン橋絡接続させる。 - 特許庁

In the test device 400, a measuring bar 430 moves forward on a predetermined orbit on the touch pad 10, and inputs a measured value outputted from the touch pad 10 to a computer device, and compares the measured value with a set value preliminarily set in the computer device, and discriminates the successful and unsuccessful touch pad 10.例文帳に追加

検査装置４００は、測定棒４３０がタッチパッド１０上で所定の軌跡を進んで、タッチパッド１０から出力された測定値をコンピュータ装置へ入力し、且つコンピュータ装置に予め設定された設定値と比較し、合格と不合格のタッチパッド１０へ選別する。 - 特許庁

The output buffers 15a and 16a are configured so as to be controlled during normal operation by a coincidence detection signal DET obtained by detecting coincidence between a set signal SET and the most significant bit MSB of an address signal ADR bonded and to be controlled during test operation by a signal resulting from decoding the set signal SET.例文帳に追加

出力バッファ１５ａ、１６ｂは、通常動作時には、ボンディング設定された設定信号ＳＥＴとアドレス信号ＡＤＲの最上位ビットＭＳＢの一致検出で得られた一致検出信号ＤＥＴで制御され、テスト動作時には、この設定信号ＳＥＴをデコードした信号で制御するように構成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus which can set sufficient waiting time for each unit and simplify the contents of a program and time and effort for creating it.例文帳に追加

各ユニットに対して十分な待ち時間を設定することが可能になるとともにプログラムの内容および作成の手間を簡略化することができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

The test signal 5 is reproduced before and after the information signal 2 is recorded by the recording head 3, and this reproduced output is detected by a detecting circuit 10 and compared with a preliminarily set level by a comparison circuit 11.例文帳に追加

記録ヘッド３で情報信号２を記録する前後に前記テスト信号５を再生し、その再生出力を検波回路１０で検波し比較回路１１であらかじめ設定されたレベルと比較する。 - 特許庁

Since the simulator controlling computer 8 sets the conditions and controls, the conditions can be easily set and modified and the test can be easily performed.例文帳に追加

シミュレータ制御用コンピュータ８によって条件の設定及び制御を行うので、条件の設定や変更が容易で、試験を容易に行うことができる。 - 特許庁

The test patterns are read, detection rates and average concentration of embedded additional information in relation to the respective large dot patterns are obtained, and a large dot pattern wherein the values thereof are set in reference ranges and closest to ideal values is determined (S107).例文帳に追加

それらのテストパターンを読み、それぞれの大ドットパターンに関して埋め込まれた付加情報の検出率と平均濃度を求め、それらの値が基準範囲にありかつ理想値に最も近い大ドットパターンを決定する（Ｓ１０７）。 - 特許庁

In the JIS-RDI test, regulated in the JIS M 8720, the blending amount of CO is fixedly set to 30 vol% and further, and mixed gas of CO, CO_2 and N_2 having CO_2 concentration of 5-50 vol%, is used as the reducing gas when estimating the reduced powderizing amount.例文帳に追加

JIS M 8720に規定されたJIS-RDI試験において、COの配合量を30vol％一定とし、さらに、CO_2濃度５〜50vol％の範囲のCO、CO_2、およびN_2混合ガスを、還元粉化量評価時の還元ガスとして用いる。 - 特許庁

After the display is given, it is determined whether a document has been set with a pressure plate opened and an empty space left between the test pattern and the original point of the document table and the start button has been depressed.例文帳に追加

表示後、圧板を開けた状態で、テストパターンと原稿台の原点の間に隙間をあけた状態で原稿をセットし、スタートボタンが押下されたか否かが判断される。 - 特許庁

To provide a laser power adjusting method and an optical recording and reproducing apparatus in which optimum laser power can be set smoothly and appropriately with less number of times of test writing.例文帳に追加

少ない試し書き回数にて円滑且つ適正に最適レーザパワーを設定できるレーザパワー調整方法および光記録再生装置を提供する。 - 特許庁

A distribution test for compressed voice data is conducted after system installation and the like, and one or two optimal compression ratios that match the system's installation environment and the position of a client device are set.例文帳に追加

システムの設置後などに圧縮音声データの配信テストを行って、その設置環境やクライアント装置の位置に応じた最適な圧縮率を１つ又は２つ設定する。 - 特許庁

A test roller 17 is rotated at a rotating speed Vo to provide specified slip ratios S_+ and S_- to the web at two positive and negative points by drivers 21 and 22 with the conveying speed V of the web 11 set constant.例文帳に追加

ドライバ２１、２２により、ウエブ１１の搬送速度Ｖを一定として、ウエブに対して正負の二点で一定のスリップ率Ｓ_＋、Ｓ_−を与えるような回転速度Ｖ_０でテストローラ１７を回転させる。 - 特許庁