「test and set」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

(2) A notifying manufacturing business operator who intends to take the test set forth in the preceding paragraph shall, pursuant to the provision of the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, submit a specified measuring instrument for testing, construction drawings and other relevant documents to said designated verification body. 例文帳に追加

２　前項の試験を受けようとする届出製造事業者は、経済産業省令で定めるところにより、試験用の特定計量器及び構造図その他の書類を当該指定検定機関に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(3) The Minister of Health, Labour and Welfare, a prefectural governor, or a registered conformity assessment body shall, when receiving a written application set forth in the preceding paragraph, collect test samples, pursuant to an Ordinance of the Ministry of Health, Labour and Welfare. 例文帳に追加

３　厚生労働大臣若しくは都道府県知事又は登録検査機関は、前項の申請書を受理したときは、厚生労働省令で定めるところにより、試験品を採取するものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The carbon compound layer consists of a chromium metal layer, an inclined layer which is a composite layer consisting of chromium and carbon, and plastic deformation hardness by the microhardness test of the carbon compound layer is set to 15-58 GPa.例文帳に追加

この炭素化合物層は、クロム金属層と、クロムと炭素とから成る複合層である傾斜層と、炭素から成る炭素成分層とにより構成し、この炭素化合物層の微小硬さ試験による塑性変形硬さを、１５〜５８ＧPaとする。 - 特許庁

If an error scenario exists, a solution to a set of symbolic constraints is obtained, and the solution is mapped back to a source code to obtain an error trace and a test case.例文帳に追加

エラーシナリオが存在する場合、一組のシンボリック制約に対する解が取得され、この解は、エラートレース及びテストケースを取得するためソースコードにマッピングされる。 - 特許庁

Also, reference voltage and verification voltage can be set, after a semiconductor memory is manufactured, also by a program test circuit for calculating reference voltage and verification voltage.例文帳に追加

また、参照電圧および検証電圧を算出するプログラム試験回路によっても、半導体メモリの製造後に参照電圧および検証電圧を設定できる。 - 特許庁

A strength control signal from the outside and a test switching signal are inputted to an analogue switch 411 set between the variable resistor VR1 and the amplifier 242.例文帳に追加

外部からの強度制御信号および試験切替信号が、可変抵抗器ＶＲ１と増幅器２４２との間に設定されたアナログスイッチ４１１に入力される。 - 特許庁

A plurality of test patterns having the same on pixel density and a different relative position to a pattern detection matrix are outputted and a pulse width corresponding to a code is set such that their densities are equalized.例文帳に追加

オン画素密度が同じで、パターン検出マトリクスとの相対位置が異なる複数のテストパターンを出力し、それらの濃度が同じになるように、コードに対応するパルス幅を設定する。 - 特許庁

A VDP 109 executes an alpha test process and an alpha composition process using alpha values set in respective pixels in image data, and gradually changes the images of ornament symbols with gradation during the variable display.例文帳に追加

また、ＶＤＰ１０９が、画像データの各画素に設定されたアルファ値を用いてアルファテスト処理やアルファ合成処理を実行し、可変表示中に飾り図柄の画像をグラデーションをつけて段階的に変化させる。 - 特許庁

The test print 2 is formed (S105), the relation of the laser output and the density is obtained from the density information obtained in the step S106 (S107) and gamma conversion characteristics are set (S108).例文帳に追加

テストプリント2を形成し(S105)、ステップ106で得られた濃度情報からレーザ出力と濃度との関係を求め(S107)、ガンマ変換特性を設定する(S108)。 - 特許庁

To provide a test device for dynamic tests for combustion engines, which is advantageously connected to a control device where set values relating to transitions of a rotational frequency and rotation torque are adjusted and controlled by an electric driving/load device.例文帳に追加

有利には、電気式の駆動・負荷機器が回転数と回転トルクの推移に関する設定値を調整、制御する制御機器と接続された、燃焼式動力機関の動力学的な試験課題のための試験装置である。 - 特許庁

The calibration light source is then installed in a client test apparatus and operated at the fixed power level in order to collect the full spectrum power distribution and generate a second data set.例文帳に追加

次に、校正光源は顧客の試験装置に設置され、全スペクトルパワー分布を収集するために一定のパワーレベルで運転され、第２のデータセットを生成する。 - 特許庁

To prevent the rapid opening and closing of a valve which is erroneously caused by the stick of the valve and the malfunction of an interlock mechanism (in particular, the lag of the time set to a timer) during a valve test.例文帳に追加

弁テスト中に、弁のスティック、インターロックの誤動作（特に、タイマー設定時間のズレ）により誤って起こりうる弁の急閉，急開を防止することにある。 - 特許庁

In an execution mode, an actual vehicle driving test or simulation is performed by the driving condition set by the condition setting part 2 and an initial vehicle parameter, and data processing is performed by the data processing part 4.例文帳に追加

実行モードでは、条件設定部２で設定した走行条件や初期車両パラメータで実車走行試験又はシミュレーションを行い、データ処理部４でデータ処理する。 - 特許庁

In this control unit 10 having a plurality of input terminals and output terminals, an ordinary control mode and a test mode having shorter signal output time than the ordinary control mode are set as the control mode.例文帳に追加

複数の入力端子及び出力端子を備えた制御ユニット１０に、その制御モードとして、通常制御モードと、この通常制御モードよりも信号出力時間などが短いテストモードとを設定する。 - 特許庁

A control computer 7 and a control unit 8 access to a simulation test server 4, according to instructions received from a simulation terminal 2, and upload the control information set up in own unit.例文帳に追加

制御用計算機７および制御装置８は、シミュレーション端末２より受け付けた指示に従い、シミュレーションテストサーバ４にアクセスし、自装置に設定されている制御情報をアップロードする。 - 特許庁

To set tests of a plurality of kinds of IC's by a simple operation, and to perform the tests automatically, concerning an automatic test method and a program of the IC.例文帳に追加

本発明はＩＣの自動試験方法及びプログラムに関し，複数の品種のＩＣの試験を簡単な操作により設定して自動的に試験を実行できることを目的とする。 - 特許庁

A technology is disclosed that independent states of a test by the external tester, BIST, and BISR are set in accordance with the another instruction signal and performed automatically.例文帳に追加

本発明は別途の命令信号に応じて外部テスタによるテスト、ＢＩＳＴ及びＢＩＳＲの独立的な状態を設定して自動に行なう技術を開示する。 - 特許庁

To arbitrarily set pressure amplitude and a pressure change rate of pulsation and to highly accurately generate the pulsation in an apparatus for evaluating durability by applying a test liquid of a pulsation state to a pressure apparatus.例文帳に追加

圧力機器に対し試験用流体を脈動状態で作用させて耐久性を評価するものにおいて、脈動の圧力振幅や圧力変化率を任意に設定でき、その脈動を高精度で発生させる。 - 特許庁

A set of first and second time-dependent material aging effect parameters is determined by shifting and matching the series of relaxation test data between respective pairs out of the plurality of material property tests.例文帳に追加

１セットの第１および第２時間依存材料経時変化効果パラメータは、一連のリラクセーション試験データを複数の材料特性試験のうちのそれぞれのペア間でシフトさせて一致させることによって、決定される。 - 特許庁

Radiation and vertical sweeping of the test audio beam with the set horizontal directivity is successively executed for each channel, and a vertical radiation angle of sounds is obtained for each channel.例文帳に追加

設定した水平指向性で試験音声ビームを放射して垂直掃引することをチャンネル毎に順次行って、音声の垂直放射角度をチャンネル毎に求める。 - 特許庁

Thus, the wrong set of the test mode during user's normal use can be prevented, and stability of the operation of the device and improvement in the security protection of the user program can be realized.例文帳に追加

これによって、ユーザが通常の使用中に誤ってテストモードに入ることを防止でき、半導体装置の動作の安定性及びユーザプログラムの機密保持性の向上を実現できる。 - 特許庁

The quantity of initial unit cement, the quantity of a unit coarse aggregate and a polymer admixture are set in predetermined quantities, and the quantity of unit water is changed within a specified range, thus preparing a test piece.例文帳に追加

初期単位セメント量、単位粗骨材量、ポリマー系混和材を一定量とし、単位水量を所定範囲で変化させて供試体を作成する。 - 特許庁

To easily store a large number of cords having different lengths such as a testing wiring cord by integrating a storage box and a winder in a set and to quickly wind the cord after completion of the test.例文帳に追加

収納ボックスと巻取り装置とをセットにすることで、試験用配線コードのように長さの異なる多数のコードを容易に収納することができると共に、その試験終了後には、迅速に巻き取る。 - 特許庁

A VDP 109 executes an alpha test or alpha blending using alpha values set in pixels for image data, and a decoration symbol images are gradually and stepwisely changed during variable display.例文帳に追加

また、ＶＤＰ１０９が、画像データの各画素に設定されたアルファ値を用いてアルファテスト処理やアルファ合成処理を実行し、可変表示中に飾り図柄の画像をグラデーションをつけて段階的に変化させる。 - 特許庁

The shape and dimension of a test piece 1 is set to a shape and a dimension resonating to the vibration of the amplitude magnifying horn 8 caused by the driving of the torsion vibration converter 7.例文帳に追加

試験片１の形状，寸法を、ねじり振動コンバータ７の駆動による振幅拡大ホーン８の振動に共振する形状，寸法とする。 - 特許庁

A test print 1 is generated (S101), a correction coefficient Ka of a contrast potential for forming an image is optimized based on density information obtained in the step S102 (S103), and a grid potential and a development bias potential are set to obtain the contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

A test print 2 is generated (S105), and a relation between a laser output and the density is obtained, based on the density information which is obtained in the step S106 (S107) to set a gamma-conversion characteristic (S108).例文帳に追加

テストプリント2を形成し(S105)、ステップ106で得られた濃度情報からレーザ出力と濃度との関係を求め(S107)、ガンマ変換特性を設定する(S108)。 - 特許庁

After a wafer test is performed by measuring the delay time (0.25S) at (N-4) stage, fuses are blown out selectively by laser trimming and a delay time is set at a desired value among 0.25S, 0.5S, 1.0S, 2.0S and 4.0S.例文帳に追加

（Ｎ−４）段目の遅延時間（０.２５Ｓ）の測定によりウェハーテストを行った後、レーザトリミングによりヒューズを選択的に切断することにより、遅延時間を０.２５Ｓ、０.５Ｓ、１.０Ｓ、２.０Ｓ、４.０Ｓのうち、所望の値に設定する。 - 特許庁

A polishing profile is measured for each of the plurality of test substrates and a polishing time is calculated for each polishing parameter set which minimizes the difference between a predicted substrate profile and a desired substrate profile.例文帳に追加

該複数のテスト基板の研磨プロファイルをそれぞれ測定し、予測基板プロファイルと所望基板プロファイル間の差を最小とする各研磨パラメータセットについて研磨時間を計算する。 - 特許庁

A test print 1 is formed (S101), a correction coefficient Ka of a contrast potential in image formation is optimized by density information obtained in step S102 (S103), and a grid potential and a development bias potential are set to obtain a contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

This bending test device has a fixed frame body 3 set and fixed, and a movable frame body 6 supported by the fixed frame body 3 via a hinge member 4 turnably around a support shaft 5.例文帳に追加

設置固定される固定枠体３と、固定枠体３にヒンジ部材４を介してその支軸５回りに回動操作自在に支持された可動枠体６とを備える。 - 特許庁

Words characteristic to an analytical method, an element and characteristic X-ray species, and other analytical condition are extracted from the mail or a general test file by a character sequence retrieving method for normal expression or the like, to be set as the analytical condition.例文帳に追加

正規表現などの文字列検索方法により、メールや一般のテキストファイルから分析方法、元素と特性Ｘ線種、その他分析条件に特徴的な単語を抽出し分析条件として設定する。 - 特許庁

A test voltage is applied to a transfer roller (S302a), a current flowing between the transfer roller and a photoreceptor drum is detected (S302b), and a set resistance value is calculated (S303).例文帳に追加

転写ローラに試験電圧を印加して（Ｓ３０２ａ）転写ローラと感光体ドラムとの間に流れる電流を検知し（Ｓ３０２ｂ）、設定抵抗値を算出する（Ｓ３０３）。 - 特許庁

To create an optimal schedule in consideration of a constraint condition in which "for some testing devices, different kinds of components can be set and tested together using the same testing device, the same tool and the same test condition".例文帳に追加

「一部の試験装置については、同一の試験装置、同一の治具、同一の試験条件で、異なる種類の部品をセットにして一緒に試験を行うことが可能」といった制約条件を考慮して、最適なスケジュールを作成する。 - 特許庁

An exclusive connecting terminal is arranged like a land-shaped stage or lattice for improving peel strength, and connecting land outline dimension width is set as a testable land size so that the dual use of a test terminal and the connecting terminal can be realized.例文帳に追加

ピール強度を向上させる為に専用接続端子をランド形状の階段配置、又は、格子配置にして、接続ランド外形寸法幅をテスト可能なランドサイズとしてテスト端子、接続端子の兼用化できる構造とした。 - 特許庁

Information of a connection destination set in another connection system of dial-up connection or the like is displayed and if there are a plurality of destinations, a user selects any one of them and stores it as test connection destination information.例文帳に追加

ダイヤルアップ接続のような他の接続システムで設定している接続先情報を表示し、複数ある場合にはそれらの中からユーザに選択させ、試験接続先情報として記憶する。 - 特許庁

A prescribed times of training of the motor skill and a test on its master degree are defined as one set, and four sets are performed with 60 second breaks therebetween.例文帳に追加

所定回数の運動技能の訓練および習得度に関するテストを１セットとし、間に６０秒間の休憩を挟みながら４セット行う。 - 特許庁

Thus, the block acoustic stop mode and the check mode are set so that wiring test between the receiver for residence and the shared part speaker can be attained without ringing the speaker of the receiver for residence.例文帳に追加

このように、地区音響停止モードと点検モードを設定することで、住戸用受信機のスピーカを鳴動させることなく住棟用受信機と共用部スピーカとの間の配線試験を行うことができる。 - 特許庁

A test print 1 is formed (S101), the correction coefficient Ka of the contrast potential of image formation is optimized by density information obtained in a step S102 (S103) and a grid potential and a development bias potential are set so as to obtain the contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

To provide an image forming device, an image forming method, and program which can simply set a correction value for reducing density unevenness and can correct the quantity of light by little test printing.例文帳に追加

濃度ムラを低減する補正値を簡便に設定することができ、少ないテスト印刷で光量を補正することのできる画像形成装置、画像形成方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

The performance of reading out and comparing the data can be set in a test operation selecting part 2 after resuming the power supply to the memory 9, and this setting is effective even after resuming the power supply to the memory 9.例文帳に追加

メモリ９への給電再開後にデータの読出および比較を行うことを試験動作選択部２に設定することができ、この設定はメモリ９への給電再開後も有効である。 - 特許庁

To automatically always set a master station and a slave station to optimal states, regardless of procedures taken when changeover from the state of all terminals being out of operation to an operating state and a local station test are performed.例文帳に追加

自局試験及び全端子休止状態から運用状態に切換える際の手順に関係なく、主・従局の設定を常に最適な状態に自動設定したい。 - 特許庁

Then the optical disk recording and reproducing device performs actual recording operation recording information on the optical disk 2 by the power set by the test recording operation and recording light of the recording compensation parameters.例文帳に追加

そして、光ディスク記録再生装置は、テスト記録動作で設定したパワー及び記録補償パラメータの記録光により、光ディスク２に情報を記録する本番記録動作を行う。 - 特許庁

A PWM signal for a test based on switching frequency and a duty ratio previously set is output to a switching element (120), and predetermined low DC voltage is supplied from a DC power supply part 46 (122).例文帳に追加

予め定められたスイッチング周波数及びデューティ比となっているテスト用ＰＷＭ信号をスイッチング素子に出力し（１２０）、所定の低電圧の直流電圧を直流電源供給部４６から供給させる（１２２）。 - 特許庁

For this reason, the test pattern can be set in all the function blocks 1a-1d, without changing the connection between the LSI tester and the semiconductor device, and the power supply current of the plurality of function blocks 1a-1d can be measured, in a short time.例文帳に追加

そのため、ＬＳＩテスタと半導体装置との接続を変更することなく、全ての機能ブロック１ａ〜１ｄにテストパターンを設定でき、複数の機能ブロック１ａ〜１ｄの電源電流を短時間で測定できる。 - 特許庁