「test and set」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To present a test set suited to an examinee on a computer and to propose a method capable of estimating the ability of the examinee by this question setting method and also to enable the examinee to immediately obtain an result after the completion of an examination.例文帳に追加

コンピュータ上で受験者に適したテストセットを提示し、この出題方法によって、能力推定の方法を提案するとともに、試験終了後の結果を即時的に取得できるようにすること。 - 特許庁

After updating the built-in software, by re-executing the test program 30, the parameters set up using the built-in software being subject to newly debugging are set up to the register and compared with the reference parameters 44 saved in the past.例文帳に追加

組み込みソフトウェアの更新後、再び、テストプログラム３０を実行することにより、新たなデバッグ対象の組み込みソフトウェアを用いて設定されたパラメータをレジスタに設定し、これを過去に保存したリファレンスパラメータ４４と比較する。 - 特許庁

In a FCRAM, when receiving a mode register set detecting signal bMSET generated by a command detecting circuit and a detecting signal AILTC<;7>; of arbitrary one bit VA<;7>; of an address signal input, a mode register set or test mode entry is switched in accordance with a logic level of the signal AILTC<;7>;.例文帳に追加

FCRAM において、コマンド検知回路で生成されたモードレジスタセット検知信号bMSET とアドレス信号入力の任意の１ビットVA<7> の検知信号AILTC<7>を受け、信号AILTC<7>の論理レベルに応じてモードレジスタセットまたはテストモードエントリを切り換える。 - 特許庁

The capture section 20 variably sets the cycle position of a semiconductor device 11a from which the first data are collected, and gives execution instructions respectively corresponding to a plurality of test conditions set so that the cycle position is set differently.例文帳に追加

キャプチャ部２０は、第１のデータを収集する半導体デバイス１１ａのサイクル位置を可変に設定するとともに、サイクル位置の設定が異なるように設定された複数の試験条件のそれぞれに対応して実行指示を行う。 - 特許庁

At conservation inspection, variation of the facility state after the adjustment work of the electric switching machine is evaluated by setting set of measurement data D_4-D_6 immediately after the adjustment work to the reference group G_r and setting set of measurement data D_N-2-D_N after completion of the adjustment work to the test group G_t.例文帳に追加

保全検査時には、調整作業直後の測定データＤ_4，…，Ｄ_6の集合を基準グループＧ_rに設定し、調整作業終了後の測定データＤ_N-2，…，Ｄ_Nの集合を試験グループＧ_tに設定して電気転てつ機の調整作業後の設備状態の変化が評価される。 - 特許庁

At evaluation of adjustment, properness of adjustment work of the electric switching machine is evaluated by setting set of ideal measurement data D_1-D_3 until the adjustment work of the electric switching machine to the reference group G_r and setting set of measurement data D_4-D_6 after completion of the adjustment work to the test group G_t.例文帳に追加

調整評価時には、電気転てつ機の調整作業時までの理想的な測定データＤ_1，…，Ｄ_3の集合を基準グループＧ_rに設定し、調整作業終了後の測定データＤ_4，…，Ｄ_6の集合を試験グループＧ_tに設定して、電気転てつ機の調整作業の妥当性が評価される。 - 特許庁

The test circuit 30 outputs an output of the circuit block 10 set as a testing target without passing through the circuit block 20 and transmits an input value input without passing through the circuit block 10 to the circuit block 20 set as a testing target.例文帳に追加

テスト回路３０は、テスト対象として設定された回路ブロック１０の出力を回路ブロック２０を経由せずに出力すると共に、回路ブロック１０を経由せずに入力された入力値をテスト対象として設定された回路ブロック２０へ伝送する。 - 特許庁

When a test sheet is set in a print cutter (Yes in S1), the origin point of the cutter is detected (S2 to S3) by cutting a crop mark by the cutter and, when a sheet for cutting is set (Yes in S4), the origin point of the printing part is detected (S5 to S6).例文帳に追加

印刷切断装置で、試験用シートがセットされると（Ｓ１でＹｅｓ）、カッタにクロップマークをカットさせることによりカッタの原点位置を検出し（Ｓ２〜Ｓ３）、カッティング用シートがセットされると（Ｓ４でＹｅｓ）、プリント部の原点位置を検出する（Ｓ５〜Ｓ６）。 - 特許庁

When the disk 20 is set in the drive, the adjusting disk is discriminated from the identification information 21, respective parts of the drive are automatically adjusted by using the test data and adjustment values set when the drive is shipped from a plant are updated.例文帳に追加

この調整用ディスク２０をドライブにセットすると、識別情報２１から調整用ディスクであることが判別され、調整プログラムに従いテスト用データを用いてドライブ各部の調整が自動的に実行されて、工場出荷時の調整値が更新される。 - 特許庁

When an operator designates test print by operating an operating section 5, a CPU 1 reads in the set values of various setting items stored in an EEPROM 13 and generates bit map image data corresponding to the set values of various setting items.例文帳に追加

オペレータが操作部５を操作してテスト印字を指示すると、ＣＰＵ１は、ＥＥＰＲＯＭ１３に記憶されている各種設定項目の設定値を読み込み、各種設定項目の設定値に対応するビットマップイメージデータを生成する。 - 特許庁

(3) A verification mark to be affixed to the measuring instruments specified by the Cabinet Order set forth in Article 19, paragraph 1 or Article 106, paragraph 1 shall indicate the year and the month in which the verification test was conducted. 例文帳に追加

３　第十九条第一項又は第百十六条第一項の政令で定める特定計量器の検定証印には、その検定を行った年月を表示するものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Create, test, debug and deploy applications that will run on mobile phones, PDAs,set-top boxes, embedded systems literally billions of devices. 例文帳に追加

携帯電話、PDA、セットトップボックス、埋め込みシステムなど、事実上、数十億台ものデバイスで動作するアプリケーションを作成、テスト、デバッグ、および配備できます。 - NetBeans

The system profile includes a set of compatible vendor software components and a selected TOS for testing a particular hardware test module version.例文帳に追加

システムプロファイルは、１組の互換性のあるベンダソフトウェアコンポーネントと、特定のハードウェア試験モジュールバージョンを試験する選択されたＴＯＳとを含む。 - 特許庁

The toner concentration of the formed test toner image is detected by a toner concentration sensor (S240), and a control parameter for controlling a toner image forming operation is set based on the detected toner density (S250).例文帳に追加

そして、形成された試験用トナー像のトナー濃度をトナー濃度センサで検出して（Ｓ２４０）、検出されたトナー濃度に基づいてトナー像形成動作を制御する制御パラメータを設定する（Ｓ２５０）。 - 特許庁

This spectrophotometer 12 has a lens system for transmitting the radiation reflected from the test patch 31 to the photosensor D12, and a lens magnification ratio is set to about 1:1.例文帳に追加

この分光光度計１２は、前記テストパッチ３１からの反射された照射を前記光センサＤ１２に伝達するレンズ系を有しており、そのレンズ倍率比は約１：１である。 - 特許庁

A test using the pulse having the narrower pulse width than the system clock can be performed simply by monitoring the pulse having the pulse width set beforehand simply and accurately by an external tester.例文帳に追加

予め設定したパルス幅のパルスを簡便かつ正確に外部テスタでモニタすることにより、簡便に、システムクロックよりもパルス幅の狭いパルスを用いた試験を行うことができる。 - 特許庁

The output signal correction part 44 includes various circuit elements and can correct waveform of the analog signal 46 according to test items set by users.例文帳に追加

出力信号修正部４４は、様々な回路素子を含み、ユーザにより設定される試験項目に応じて、アナログ信号４６の波形を修正することができる。 - 特許庁

To recognize required burn-in test items and to set automatically a signal used for performing its item in individual semiconductor device having a non-volatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリを有する個々の半導体装置において、必要なバーンイン試験項目を認識し、その項目を実行するために用いられる信号を自動的に設定する。 - 特許庁

Calibration includes a calibration light source in a factory test apparatus operated at a fixed power level, and collecting the full spectrum power distribution of the calibration light source to generate a first data set.例文帳に追加

校正は、一定のパワーレベルで運転される工場の試験装置の校正光源と、第１のデータセットを生成するために校正光源の全スペクトルパワー分布を収集することとを含む。 - 特許庁

To attain a semiconductor test device capable of enhancing resolution of jitter analysis and flexibly corresponding to set a threshold value to determine L/H of an input signal.例文帳に追加

ジッタ解析分解能を高めるとともに、入力信号のＬ／Ｈを判定するための閾値設定に柔軟に対応できる半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

The layouts for DUT (device under test) formed on a semiconductor wafer for wafer tests include a first array DUT102, and a first pad set 104 formed adjacent to the first array.例文帳に追加

ウェハ・テスト用の半導体ウェハ上に形成されるＤＵＴ（被試験デバイス）用のレイアウトは、第１のアレイのＤＵＴ(102)と、その第１のアレイに隣接して形成された第１のパッド・セット(104)とを含んでいる。 - 特許庁

Therefore, the electron beam microscope comprises an interruption means for interrupting the electron beam irradiated to the test piece and an electron beam detector set on the interruption means.例文帳に追加

そのための構成として、本発明の電子顕微鏡は、試料への電子線を遮断する電子線遮断手段と、電子線遮断手段に設けられた電子線検出器を有する。 - 特許庁

By controlling the chip select signals in the first test wires, semiconductor chip operation is controlled by the column, and an operating mode is set for each of the semiconductor chips aligned in the X-direction.例文帳に追加

第１のテスト配線のチップセレクト信号を制御することにより、各列単位で半導体チップの動作を制御することができ、またＸ方向に整列する半導体チップ単位でその動作モードを設定することができる。 - 特許庁

In this case, output from the internal circuit 4 to a three-state control circuit 3 is set forcibly by state control circuits 5, 6, and various test operations to the output circuit 2 are performed.例文帳に追加

このとき、状態制御回路５，６により内部回路４からスリーステート制御回路３への出力が強制的に設定されて、出力回路２に対する各種テスト動作が行われる。 - 特許庁

First, a testing value of quantizing step width W_o is set, and a coding quantity of a base layer L_o is calculated by coding only the base layer using the test value W_o.例文帳に追加

まず最初に、量子化ステップ幅の試験値Ｗ_0 を設定し、それを使ってベースレイヤのみを符号化することで、ベースレイヤの符号量Ｌ_0 を算出する。 - 特許庁

A central database transmits operating information such as a program and data in response to the serial information to the test set that is inserted to the printed circuit board.例文帳に追加

中央データベースは、シリアル情報に応じてプログラム、データ等の動作情報を、プリント回路基板に挿入されるテストセットに送信する。 - 特許庁

The method and apparatus for testing the semiconductors are configured to classify useful data in a set of test results.例文帳に追加

本発明の様々な局面による半導体をテストするための方法および装置は、テスト結果のセットにおいて有効なデータを分類するように構成される。 - 特許庁

When any value is not set, or when the value should be changed for the test, a user designates the value so that a function for generating and executing the command of the debugger can be offered.例文帳に追加

値が未だ設定されていない場合や、テストのために値を換える必要がある場合には、ユーザがその場で値を指定することによって、デバッガのコマンドを生成し実行する機能を提供する。 - 特許庁

Deviation amount between the center of the image of the test chart 29 and a reference point previously set in the frame range is calculated based on an imaging signal from the imaging part 20.例文帳に追加

撮像部２０からの撮像信号に基づき、テストチャート２９の像の中心とフレーム範囲内に予め設定された基準点とのズレ量を算出する。 - 特許庁

When a test signal is corrected to a correction signal based on the correction level information and correction level information corresponding to the outputted correction signal is selected by the user, correction level information corresponding to the user is set.例文帳に追加

そして、該補正レベル情報に基づいてテスト信号が補正信号に補正され、出力された補正信号に対応する補正レベル情報が利用者等に選択されると、利用者等に対応した該補正レベル情報が設定される。 - 特許庁

The POTS/data filter and the splitter device can make a telephone call from the test set by POTS without interrupting the transmission of the digital data signal on the copper wire.例文帳に追加

ＰＯＴＳ／データフィルタ及びスプリッタ装置は、銅線上のデジタルデータ信号の送信を干渉することなく、試験セットからＰＯＴＳで電話をかけることが可能となる。 - 特許庁

Then, reproduction signals are generated by reproducing the test recording data, the waveform of the reproduction signals is evaluated and a cooling level at which a target asymmetry value is obtained is set as an optimum cooling level.例文帳に追加

そして、テスト記録データを再生して再生信号を生成し、再生信号の波形を評価し、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルを最適クーリングレベルとして設定する。 - 特許庁

To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.例文帳に追加

携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁

An angle calculated concerning each specific ECG test is compared with the reference set of an angle in order to judge in which of a standard ECG electrode arrangement, alternative electrode arrangement and a wrong electrode arrangement an electrode is placed.例文帳に追加

各特定のＥＣＧテストについて計算された角度は、電極が標準ＥＣＧ電極配置、代替電極配置、または誤った電極配置のいずれに置かれているかを判定するために、角度の基準セットと比較される。 - 特許庁

Command sequences are gradually traced back from the latest one to the ones before it from the command execution log acquired in the step S2 and the shortest sequence to perform the reproduction test is set in a step S4.例文帳に追加

ステップ４ではステップＳ２で取得したコマンド実行ログから、コマンドシーケンスを最新のものからそれ以前のものへ徐々に遡リ、再現試験を行うための最短シーケンスを設定する。 - 特許庁

In the clock generating apparatus, the plurality of characteristics set in the voltage controlled oscillator 16 are sequentially selected and a test voltage is provided by a voltage controller 18, thereby various oscillation characteristics being identified.例文帳に追加

このクロック生成装置では、電圧制御発振器１６に設定されている複数の発振特性が順次選択されて、電圧制御器１８により試験電圧が与えられることで各発振特性について同定される。 - 特許庁

To reduce the labor setting a proof printing mode (test copy mode) by a user and to prevent the forgetting to set in an image forming apparatus enabling a plurality of printing outputs with respect to inputted image data.例文帳に追加

入力した画像データに対して複数部のプリント出力が可能な画像形成装置において、ユーザーによるプルーフプリントモード（お試しコピーモード）を設定する手間を軽減するとともに設定し忘れを防ぐ。 - 特許庁

The travel mode is set to input the external condition into the tire in response to a frequency of the acceleration corresponding to the external condition, and the tire is rotated on a simulated road face, based on the travel mode, to test the abrasion of the tire.例文帳に追加

そして、外的条件が、その外的条件に対応する加速度の頻度に応じてタイヤに入力されるように走行モードを設定し、その走行モードに基づいて模擬路面上でタイヤを転動させてタイヤ摩耗を試験する。 - 特許庁

RTL function description data, a test bench, various restriction, synthetic restriction and a document corresponding to the set values of the parameters are obtained by the parameter correspondence list PL.例文帳に追加

パラメータ対応リストＰＬによって、このパラメータの設定値に対応したＲＴＬ機能記述データ，テストベンチ，各種制約，合成制約，ドキュメントが得られる。 - 特許庁

The address information is extracted from the CPAMA object by using a set of member functions, which test quality and assign a mobile station address object to other mobile station address object.例文帳に追加

アドレス情報は、ＣＰＡＭＡオブジェクトから、１組のメンバー機能を用いて取り出され、このメンバー機能は、品質をテストし、かつある移動局アドレスオブジェクトを、別の移動局アドレスオブジェクトに割り当てる。 - 特許庁

To provide a transforming device or the like, which transforms a test vector set so as to reduce differences of logical values occurring before and after scan capture about outputs of a scan cell contained in a full-scan sequence circuit.例文帳に追加

フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようにテストベクトル集合の変換を行う変換装置等を提供する。 - 特許庁

When a first selection button 2A is depressed after depression of an input test mode switch 8a and a set key 8e, the first selection button 2A outputs a depression signal.例文帳に追加

入力テストモードスイッチ８ａを押下した後、設定キー８ｅを押下し、第１選択ボタン２Ａを押下すると、第１選択ボタン２Ａは、押下信号を出力する。 - 特許庁

Hereafter, the memorized internal state is set as an initial value, and an RTL simulation executing part 250 executes RTL simulation in parallel at each verification period using a test pattern generated at each verification period.例文帳に追加

次に、記憶された内部状態を初期値とし、検証ピリオド毎に生成されたテストパタンを用いて、ＲＴＬシミュレーション実行部２５０がＲＴＬシミュレーションを検証ピリオド毎に並列に実行する。 - 特許庁

Setting means 14 and 15 set the software stored in the storage area 173 to be used when the received software is decided to satisfy the reference in this test.例文帳に追加

設定手段１４、１５が、この試験で、受信されたソフトウェアが基準を充たしていると判定された場合は、記憶エリア１７３に記憶されているソフトウェアを使用するように設定する。 - 特許庁

To provide an output data control device or the like enabling a user to set easily selection of data acquired from a test system, and an output form of the selected data.例文帳に追加

テストシステムから得られるデータの選択、および選択されたデータの出力形式を、ユーザが容易に設定可能な出力データ制御装置等を提供する。 - 特許庁