「test and set」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a digital line circuit testing system for a 2W multifunctional telephone set which makes a test for a digital line circuit for a 2W multifunctional telephone set to be unmanned and automated and shortens test time.例文帳に追加

２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路の試験の無人化、自動化、試験時間の短縮化を期す２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路試験方式を提供すること。 - 特許庁

The 1st state is set to the storage means 19 first to test the accuracy of analog/digital conversion and when the result of test is defective, the 2nd storage state is set to the storage means 19 and the accuracy of analog/digital conversion is tested again.例文帳に追加

最初に記憶手段１９を第１の記憶状態としてＡ／Ｄ変換精度をテストし、不良であった場合には記憶手段１９を第２の記憶状態として再テストする。 - 特許庁

In the test time shortening processing, the time shortening device 22 performs the processing of interchanging the execution sequence of test items of the test program 50 so that an average execution time on conforming items may become in ascending order on the basis of both test execution time set in advance corresponding to each test described in the test program 50 and the probability of occurrence of defective units.例文帳に追加

この試験時間短縮処理は、時間短縮装置２２が、試験プログラム５０に記述されている各試験に対応する、予め設定された試験実行時間と、不良品発生確率とに基づいて、良品に対する平均実行時間を昇順となるように試験プログラム５０の試験項目の実行順序を入れ替える処理である。 - 特許庁

This simulation system includes: a test result database storing test result data set with an output result of a tested device (DUT) model to a prescribed test item; and a framework operating the test plan program.例文帳に追加

シミュレーションシステムは、所定のテスト項目に対する被試験デバイス（ＤＵＴ）モデルの出力結果を設定した試験結果データを格納する試験結果データベースと、テストプランプログラムを動作させるフレームワークとを備える。 - 特許庁

Since it is not necessary to put these test tubes 12 in the test tube carriage 10 in an oriented states, the test tube can easily and promptly be put in compared with conventional technique wherein the oriented test tube is previously set in a special case.例文帳に追加

試験管１２を試験管搬送装置１０に整列状態で投入する必要がないため、予め専用ケース内に整列した試験管をセットしていた従来技術に比べ、試験管の投入をより容易かつ迅速に行うことができる。 - 特許庁

Then, when registration processing of the test form data is performed, the test form data is stored only in a folder for which registration of the test form data has been permitted, and the test form data for which another folder has been set as a distribution destination folder is registered in an error folder.例文帳に追加

そして、テスト帳票データの登録処理を行う際には、テスト帳票データの登録を許可したフォルダにのみテスト帳票データを保存し、それ以外のフォルダが配信先フォルダとなっているテスト帳票データはエラーフォルダに登録する。 - 特許庁

To determine the offset data, the test data can be written to the test track with a write clock calibration delay set to zero, the test data can then be read from the test track and the first difference can be subtracted from the second difference to determine the offset value for the write clock calibration delay.例文帳に追加

オフセット値を決定するには、書込みクロック較正遅延を０に設定してテスト・データをテスト・トラックに書き込み、次いで、テスト・データをテスト・トラックから読み取り、第２の差から第１の差を引いて、書込みクロック較正遅延のオフセット値を決定すればよい。 - 特許庁

Without using a constant test sequence at all times when a test pattern to be set in a shift register at the test is scanned in and the results of the test to be observed are scanned out, by limiting clock phases to be effective in each shift step into one, the problem of the skews are avoided.例文帳に追加

テスト時のシフトレジスタに設定するテストパタンをスキャンインしたり、観測すべきテスト結果をスキャンアウトする際に、常に一定のシフトシーケンスを用いるのではなく、各シフトステップで有効とするクロック相を１つに限定することで、スキューの問題を回避する。 - 特許庁

The logic chip (2) is provided with a data storage circuit (22) for holding test data at a test mode, and the test data supplied through a data input/output terminal (6) in response to a test data set command are stored in the data storage circuit (22).例文帳に追加

ここにおいて、ロジックチップ（２）は、テストモード時にテストデータを保持するデータ記憶回路（２２）を備え、テストデータセットコマンドに応答してデータ入出力端子（６）を介して供給されるテストデータを、データ記憶回路（２２）に格納する。 - 特許庁

A semiconductor memory related to this semiconductor integrated circuit has a degeneration test mode and it is provided with a degeneration test circuit performing the degeneration test via a data terminal set in accordance with a designation signal and by a combination of data lines set in accordance with the designation signal.例文帳に追加

この発明に係る半導体記憶装置は、縮退テストモードを有し、指定信号に応じて設定されたデータ端子を介して、さらに、指定信号に応じて設定されたデータ線の組み合わせで、縮退テストを行う縮退テスト回路を設けている。 - 特許庁

The horizontal lines have gradation values set in advance at each horizontal stripe test pattern, and the vertical lines have gradation values set in advance at each vertical stripe test pattern.例文帳に追加

横縞テストパターン毎に予め設定された階調値によって前記横ラインが形成され、前記縦縞テストパターン毎に予め設定された階調値によって前記縦ラインが形成されている。 - 特許庁

At the first step, the mode selection signal of every other component module is set to an output test mode, and the mode selection signal of the component module therebetween is set to an input test mode.例文帳に追加

第１ステップでは、１つおきの成分モジュールのモード選択信号を出力テストモードへセットし、それらの間の成分モジュールのモード選択信号を、入力テストモードへセットする。 - 特許庁

The test result setting part 10 tests one code clone in the detected code clone set, and sets test case numbers to the tested source code lines to indicate that the entire code clone set has been tested.例文帳に追加

テスト結果設定処理部10は、検出したコードクローンセットの内１つのコードクローンをテストし、テストされたソースコード行にテストケース番号を設定してコードクローンセット全体がテストされたことを表示する。 - 特許庁

An air conditioner 22 is set within a test dwelling house 2 housed within an environmental test room 11 that is a space which can be set to an optional temperature and humidity condition.例文帳に追加

任意の温湿度条件に設定することが可能な空間である環境試験室１１内に収容された試験住宅２内に、エアコン２２を設置する。 - 特許庁

The test device transmits a command to a bus 30 at a side of a key telephone master set 20 connected to telephone sets 25, 26 and receives its reply to test the master set 20.例文帳に追加

電話機２５，２６に接続されたボタン電話主装置２０側のバス３０にコマンドを送り、それに対する応答を受けて主装置２０を試験する。 - 特許庁

When the state or the set conditions of a printer are varied, an image for test print is formed based on the state or the set conditions of an apparatus and printed at the test print.例文帳に追加

プリンタの状態や設定状況が変化した場合に、装置の状態や設定状況を元にして、テストプリントのための画像を作成しておき、それをテストプリント時に印刷する。 - 特許庁

The determining means 3 halts the test until the monitored temperature of the element 1 reaches a set temperature and transmits a signal to renew the test to an electric power impressing circuit 4 at the time it reaches the set temperature.例文帳に追加

判定手段３は、モニタされた素子温度が設定温度に達するまで試験を停止し、設定温度に達した時点で電力印加回路４に試験再開の信号を送る。 - 特許庁

When the molding conditions are set, a set value for each of N kinds of molding conditions is set, a molding test of a plurality of shots is done based on the same condition, and a test molding is repeated in which a molding test of a plurality of shots is done based on a changed set value with respect to at least one molding condition.例文帳に追加

成形条件出しに際し、Ｎ種類の成形条件に対してそれぞれ設定値を設定して同じ設定値のもとで複数ショットの成形テストを行い、続いて少なくとも１つの成形条件について変更された設定値のもとで複数ショットの成形テストを行うというテスト成形を繰り返し行う。 - 特許庁

In the ozone exposure test method, the flow rate of air is measured during an ozone exposure test, for example, by a flowmeter 2 to control a blower 3 and the flow rate per minute of air circulating through a test tank 1 is set to more than 5% of the inner volume of the test tank 1 and the fluctuation width of the flow rate is controlled to 10% or less of the set value.例文帳に追加

オゾン暴露試験中、例えば、流量計２により流量を測定して、送風機３を制御して、試験槽１内を循環する気体流量が、毎分の流量を試験槽１の内容積の５倍以上に設定し、その流量変動幅を設定値の１０％以内に制御することを特徴とするオゾン暴露試験方法である。 - 特許庁

This DDR SDRAM is provided with a test mode entry signal generating circuit making a test mode entry signal TMODE a 'H' level in accordance with that a first command CMDA, a second command CMDB, a test mode entry set command TMESA, a third command CMDC, and a test mode register set command TMRSA are inputted continuously synchronizing with a rise edge of a clock signal CLK.例文帳に追加

このＤＤＲ ＳＤＲＡＭは、第１コマンドＣＭＤＡ、第２コマンドＣＭＤＢ、テストモードエントリセットコマンドＴＭＥＳＡ、第３コマンドＣＭＤＣ、およびテストモードレジスタセットコマンドＴＭＲＳＡがクロック信号ＣＬＫの立上がりエッジに同期して連続的に入力されたことに応じてテストモードエントリ信号ＴＭＯＤＥを「Ｈ」レベルにするテストモードエントリー信号発生回路を備える。 - 特許庁

A tester processor 10, when conducting a test consisting of a plurality of test items on a semiconductor device 100, reads failure distribution data including the frequency of failure of each test item from a failure distribution data storage part 12 at first, sets the order of execution of each test item in a decreasing order of failure frequency, and executes each test item in the set order thereafter.例文帳に追加

テスタプロセッサ１０は、半導体装置１００に対して複数のテスト項目からなる試験を行う際に、まずフェイル分布データ格納部１２から各テスト項目のフェイル頻度が含まれるフェイル分布データを読み出して、フェイル頻度が高い順番に各テスト項目の実行順番を設定しており、その後、この設定した順番で各テスト項目を実行する。 - 特許庁

In the house apparatus A, a CPU 21 has a function as a detecting means of detecting whether the test means 35 receives the test signal within a previously set test time after sending out the test signal, and reporting that a contact of a relay constituting the transmission line to the voice communication device 1 has abnormality when the test signal is not received.例文帳に追加

住戸機Ａは、試験手段３５が試験信号を送出した後、予め設定されている試験時間に試験信号を受信したか否かを検出し、試験信号を受信しなかった場合には、通話装置１との間の伝送線路を構成するリレーの接点に異常があることを通知する検出手段としての機能をＣＰＵ２１に有する。 - 特許庁

When a signal at a prescribed speed is sent out from the signal generator 41 to the cable 40 and also a signal in a prescribed frequency band, S, is transmitted from the test set 2 to the mobile phone 3, noise radiated from the cable 40 and the signal S from the test set 2 are received in the mobile phone 3, and the receiver sensitivity is measured by the test set 2.例文帳に追加

所定速度の信号を信号発生器４１からケーブル４０に送出すると共に、所定周波数帯の信号Ｓをテストセット２から携帯電話機３に送信すると、ケーブル４０から輻射するノイズとテストセット２からの信号Ｓとが携帯電話機３に受信され、その受信感度が、テストセット２によって測定される。 - 特許庁

Further, for each of all set combinations, a test quantity Score of upper and lower eye positions is calculated (step S6), and an eye position (upper eyelid position and lower eyelid position) is determined using the upper eyelid candidate position and face part lower position candidate with the smallest test quantity Score of the calculated test quantities Score (step S7).例文帳に追加

さらに、設定されたすべての組み合わせについて、それぞれ目の上下位置の検定量Scoreを計算し（ステップＳ６）、計算された検定量Scoreの中で、最小検定量Scoreの上まぶた候補位置及び顔部品下位置候補を用いて、目の位置（上まぶた位置、下まぶた位置）を決定する（ステップＳ７）。 - 特許庁

And in the disk test apparatus 10, when test results of the error rate and the side erase performed under these conditions are NG(fail), the format conditions are relaxed and new format conditions are set to the disk apparatus 20, and the test is performed again under these relaxed format conditions.例文帳に追加

そして、ディスク試験装置１０は、かかるフォーマット条件下で実施したエラーレートやサイドイレーズの試験結果がＮＧであった場合には、フォーマット条件を緩和してディスク装置２０に新たなフォーマット条件を設定し、この緩和されたフォーマット条件下で試験を再び実施する。 - 特許庁

If the range of this combination is stored in a PC 13 and the test piece voltage value and the acceleration voltage values of the electron gun are set within the range of the combination, the test piece can be inclined; and the systems which remove the charges of the three test pieces can be used simultaneously.例文帳に追加

この組合せの範囲をＰＣ１３に記憶させ、試料電圧値と電子銃の加速電圧値とを組合せの範囲内に設定すれば、試料の傾斜を行うことができ、３つの試料のチャージを取り除く方式を同時に使用することができる。 - 特許庁

In a preferable embodiment, at least five identical film-like test pieces are gathered, bundled and used as one set, and one edge section in the longitudinal direction is heat-sealed in order to integrate the set, and the set is held along the patch plate of the upper clamping tool.例文帳に追加

好ましい具体例として、同一フィルム試験片を、最低５枚を１組として収束し、長手方向の片方端部を熱融着し一体化させ、上部つかみ具の当て板に沿って挟持させる場合をあげることができる。 - 特許庁

In addition, xieperf provides a set of tests which can be used to validate the detection and transmission of XIE protocol request errors, such as FloMatch, FloValue, and so forth.Finally, xieperf provides a customizable demonstration program for XIE.A test is made up of three components executed in sequence - an initialization function, a test function, and an end function.例文帳に追加

最後に、xieperfは、カスタマイズ可能 なXIE のデモプログラムにもなる。 テストは順に実行される3つのコンポーネント、すなわち初期化関数、テスト関数、終了関数からなる。 - XFree86

A distance between the upper and lower holders is adjusted so that the counter value of the height counter 38 equals to an initial height of a springy test piece TP to set the test piece TP between the upper and lower holders 21 and 22.例文帳に追加

ばね高さカウンタ３８のカウンタ値がばね供試体ＴＰの初期高さとなるように上下保持具間の距離を調節し、上保持具２１と下保持具２２間にばね供試体ＴＰをセットする。 - 特許庁

To provide an in-band ringer by which a loopback test compensating a line loss from both the in-band ringer and an opposite in-band ringer can be executed and that can optically set the execution and the end of the loopback test.例文帳に追加

対向するインバンドリンガー双方から線路損失を補償した折り返し試験が実施出来、折り返し試験の実施、終了を任意に設定できるインバンドリンガーを提供することを目的とする。 - 特許庁

In this way, a plurality scenarios are not written in the same register in substantially the same timing, and consequently, unintended register setting is not set during each verification work and the test designer can design a test without taking register competition with the other test into consideration.例文帳に追加

これにより、複数のシナリオがほぼ同じタイミングで同一のレジスタに書き込まれることがなくなるので、それぞれの検証作業で意図しないレジスタ設定となることを回避することができ、テスト設計者は他のテストとのレジスタ競合を考えることなくテストを設計することができる。 - 特許庁

The time Q is defined as the total time of the conveyance time Q_1 of a test pattern from the exposure position of the test pattern to a sensor and the time Q_2 since the test pattern is detected by the sensor until the color shift correction value calculated based on the detection results is set for the system and reflected to image formation.例文帳に追加

時間Ｑを、テストパターンの露光位置からセンサまでのテストパターンの搬送時間Ｑ_1と、センサでテストパターンが検知されてから、検知結果に基づき算出される色ズレ補正値がシステムに対して設定され画像形成に反映されるまでの時間Ｑ_2の合計時間とする。 - 特許庁

When the start key of a final control element 16 is operated, set in a mode for recording a test pattern, the image data of a test pattern stored in an image memory 18 are read out, and the image data of the test pattern are recorded in two sheets of recording paper 73 and 74 in a recorder 15.例文帳に追加

テストパターンを記録するモードに設定されて、操作部１６のスタートキーが操作されると、画像メモリ１８に記憶しているテストパターンの画データが読み出されて、そのテストパターンの画データが記録部１５で記録紙７３，７４に記録される。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.例文帳に追加

Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、制御部１１は一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.例文帳に追加

制御部１１は、Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

A test rejection rate in every piece of standpoint information is calculated according to the screen quality evaluation standpoint information and screen test data information, and a defective factor is set larger or smaller for the standpoint information in which the test rejection rate is larger or smaller than a predetermined criterion, respectively.例文帳に追加

前記画面品質評価観点情報および前記画面テストデータ情報とを基に、観点情報毎のテスト不合格率を算出し、該テスト不合格率が予め定めた判定基準と比して大きい観点情報の不良係数を大きくし、小さい観点情報の不良係数を小さく設定するもの。 - 特許庁

A value of an internal row address signal bit is set from an address buffer 2 according to the test control signal, and operations of a row selecting circuit 3 and a bit line peripheral circuit 4 are controlled by a row system control circuit 10 with a test controlling function according to the test control signal.例文帳に追加

このテスト制御信号に従ってアドレスバッファ（２）からの内部ロウアドレス信号ビットの値を設定し、かつテスト制御信号に従ってテスト制御機能付行系制御回路（１０）が行選択回路（３）およびビット線周辺回路（４）の動作を制御する。 - 特許庁

To provide an electrochemical detection method of a detection substance, an electrochemical detection method of a test substance, an inspection chip, a detection set, a probe holding substrate and an electrode substrate which can successfully detect the test substance without depending on size of the test substance, and further reuse a working electrode.例文帳に追加

被検物質の大きさによらずに被検物質を良好に検出することができ、さらに作用電極の再利用を再利用することができる、検出物質の電気化学的検出方法、被検物質の電気化学的検出方法、検査チップ、検出セット、プローブ保持基板および電極基板を提供する。 - 特許庁

At the time of a test, a program data set circuit 15 can write a test pattern to the memory cell array 14 without passing through the shift register 12 by outputting set signals SA0, SA1 making forcedly the data latch circuit 13 a set state to the data latch circuit 13, and a transfer time of a test pattern can be omitted.例文帳に追加

テスト時に、プログラムデータセット回路１５は、データラッチ回路１３を強制的にセット状態にするセット信号ＳＡ０,ＳＡ１をデータラッチ回路１３に出力することによって、シフトレジスタ１２を介さずにテストパターンをメモリセルアレイ１４に書き込みでき、テストパターンの転送時間を省ける。 - 特許庁

In a shift mode of a scan pass test, the control signal dc is set to '1', the control signal dcn is set to '0', and the data receiving clocked inverter 23 is set to an off-state and separated from the node 25.例文帳に追加

スキャンパステストのシフトモード時には、制御信号ｄｃを“１”、制御信号ｄｃｎを“０”に設定し、データ取り込み用クロックドインバータ２３をオフ状態にしてノード２５から切り離す。 - 特許庁

Additional work is needed to more precisely define and set expectations for these two metrics, and to test their usefulness in field applications.例文帳に追加

これら2つのメトリックについて目標をより正確に設定し，現地適用におけるその有用性を試すため，さらなる研究が必要とされる。 - 英語論文検索例文集

Additional work is needed to more precisely define and set expectations for these two metrics, and to test their usefulness in field applications.例文帳に追加

これら2つのメトリックについて期待値をより正確に設定し，現地適用におけるその有用性を試すため，さらなる研究が必要とされる。 - 英語論文検索例文集

Additional work is needed to more precisely define and set expectations for these two metrics, and to test their usefulness in field applications.例文帳に追加

これら2つのメトリックについて期待値をより正確に設定し，現地適用におけるその有用性を試すため，さらなる研究が必要とされる。 - 英語論文検索例文集

Additional work is needed to more precisely define and set expectations for these two metrics, and to test their usefulness in field applications.例文帳に追加

これら2つのメトリックについて期待値をより正確に設定し，現地適用におけるその有用性を試すため，さらなる研究が必要とされる。 - 英語論文検索例文集

(4) Items to be tested, test methods and other matters necessary for the carrying-out of the growing tests set forth in paragraph (2) of this Article shall be specified by the Ordinance of the Ministry of Agriculture, Forestry and Fisheries. 例文帳に追加

４　栽培試験の項目、試験方法その他第二項の栽培試験の実施に関して必要な事項は、農林水産省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム